【課題】原子番号の低い結晶材料或いはワークに用いられる短波長Ｘ線回折測定装置及びその方法を提供する。
【解決手段】その装置はＸ線管１と、入射絞り２と、テーブル４と、サンプルまたはワーク３の位置制限部分に用いられる位置制限受光スリット５、測角器７と、検出器６と、エネルギー分析器９とを備えており、Ｘ線管１と検出器６はサンプルまたはワーク３が置かれるテーブル４の両側に位置し、検出器６は回折透過Ｘ線の受光に用いられる。本発明の短波長Ｘ線回折透過方法によれば、サンプルまたはワーク３を破壊せずに、より厚い結晶材料サンプルまたはワーク３の異なる深さと異なる箇所のＸ線回折スペクトルを測定し、コンピュータ１０でデータ処理を行い、サンプル又はワーク３における各点の位相、残留応力等のパラメーター及びその分布を得ることができる。本発明は、操作が簡単で、測定時間が短いという利点を有し、正確で、かつ信頼できるＸ線回折スペクトルを得ることができる。 （もっと読む）

【課題】 パイプライン内を流動搬送される被検体に向けて照射されるＸ線の透過距離を均等に、且つ短くすることができ、被検体に混入している異物を確実に検出する。
【解決手段】 パイプライン１０内を流動搬送される被検体に所定の検出位置ＰにてＸ線を照射し、このＸ線の照射に伴って被検体を透過してくるＸ線を検出し、検出したＸ線の透過量に基づいて被検体における異物混入の有無を検出するＸ線異物検出装置１において、パイプライン１０は、少なくとも検出位置Ｐでパイプライン１０の断面形状が被検体を流動可能とする程度の扁平形状に押し潰されている。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線防護扉をその下側に設けた水平の旋回軸を中心として旋回させることによって開閉する方式を採用したＸ線透視装置において、そのＸ線防護扉の自重により発生するモーメントを有効に軽減させることのできるＸ線透視装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線防護扉Ｄの旋回軸Ｔｈとは別に、付勢手段によりその軸心を中心とするモーメントが付与されるモーメント付与軸１を設けるとともに、そのモーメント付与軸１に付与されたモーメントを、旋回軸Ｔｈに伝達する伝達機構２を設け、その伝達されたモーメントによりＸ線防護扉Ｄの自重により旋回軸Ｔｈの回りに発生するモーメントを相殺する構成の採用により、伝達機構２を適宜に設定することによって、Ｘ線防護扉Ｄの旋回角度による自重に起因するモーメントの変化と、モーメント付与軸１から伝達されるモーメントの変化を略一致させることを可能とする。 （もっと読む）

１つの電離粒子分析器は、１つの電離１次粒子源と、１つの荷電粒子検出器と、且つ、電離可能なガスを前記粒子源と前記検出器の間に有している。前記分析器は、更に、前記粒子源と前記検出器の間に位置する荷電粒子妨害装置を具えている。該荷電粒子妨害装置は、第１の構成において、荷電粒子の通過を妨げ、且つ非荷電粒子を通す様な電位に維持される様に準備されている。
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【課題】 試料を支持する試料板からの回折Ｘ線の影響を排除して、試料に関する正確なＸ線回折測定をできるようにする。
【解決手段】 単結晶試料板２１によって支持する試料ＳにＸ線を照射し、試料Ｓから発生する回折Ｘ線を２次元Ｘ線検出器２によって検出し、検出された回折Ｘ線の座標及び強度をＸ線読取り装置によって読み取り、そしてその読取り結果に基づいて演算を行って回折Ｘ線強度分布を求めるＸ線測定装置である。単結晶試料板２１から出る回折Ｘ線が２次元Ｘ線検出器２によって検出される座標位置を、回折Ｘ線強度分布の演算に寄与させないブランク領域として認識する。単結晶試料板２１からの回折Ｘ線がＸ線強度の演算に算入されないので、試料Ｓからの回折Ｘ線だけに関して正確にＸ線強度分布を求めることができる。 （もっと読む）