【課題】簡単な構成で６価クロムを定量分析できる蛍光Ｘ線分析装置などを提供する。
【解決手段】Ｘ線源４、発散スリット１１、分光素子６、受光スリット２０、検出器８、分光素子６と受光スリット２０および検出器８とを連動させる連動手段１０、ならびに、検出器８の測定結果に基づいて定量分析を行う定量分析手段１８を備えた走査型蛍光Ｘ線分析装置である。定量分析手段１８が、Ｃr −Ｋα線２２において強度が最大となるピーク分光角が６価クロムの含有率対クロム全体の含有率の比に応じて変化することに基づいて、６価クロムの含有率を算出する。発散スリット１１、分光素子６、受光スリット２０および検出器８の組合せとして分解能が相異なる複数の検出手段２３を備え、ピーク分光角の変化を検出する際に、クロム全体の含有率または強度を求める際に選択される検出手段２３Ａよりも分解能が高い検出手段２３Ｂが選択される。 （もっと読む）

【課題】日常の使用に適するＸ線回折計を提供する。
【解決手段】
軸まわりに回転可能であり、試料を取り付ける試料ステージ、前記試料ステージにおける試料にＸ線放射を向ける二重ピンホールコリメーター、前記試料によって回折されるＸ線を検出する検出器、及び、前記試料ステージ及び前記検出器の間に配置され、前記試料によって回折されたＸ線を前記検出器上に向ける分析器結晶、を含むＸ線回折計であって、前記分析器結晶及び前記検出器は、前記試料ステージの回転の軸と同軸である軸まわりに回転可能であるＸ線回折計を提供する。 （もっと読む）

【課題】１つの窓部と窓部を挟んで両側に連設された２つのＸ線遮蔽部とを一組とするＸ線シャッタ板を往復動させることにより、Ｘ線源の照射口を開閉してＸ線の照射の有無や照射時間を簡便に制御することができ、可動部が小型、軽量で省スペース性に優れるＸ線撮影用シャッタ機構の提供。
【解決手段】（ａ）窓部と、窓部を挟んで両側に連設された二つのＸ線遮蔽部と、を有するＸ線シャッタ板と、（ｂ）Ｘ線シャッタ板に連設されＸ線シャッタ板を往復動させＸ線源の照射口を開閉するシャッタ開閉機構と、を有し、照射口を開放する速度と照射口を閉塞する速度が等しい構成を備えている。 （もっと読む）

【課題】 湾曲分光結晶を用いるＸ線分光器において、分光結晶の有効回折領域のみを使用するようにして、分析に用いる特性Ｘ線の波長分解能、特性Ｘ線対バックグランド比の向上を図る。
【解決手段】 湾曲分光結晶３の表面位置からローランド円の内側方向に起立するＸ線遮蔽板Ａを設け、Ｘ線発生点Ｓから湾曲分光結晶３に向かう入射Ｘ線及び湾曲分光結晶３によって回折されＸ線検出器に向かう回折Ｘ線の一部をＸ線遮蔽板Ａにより遮蔽する。遮蔽される領域は入射Ｘ線の入射角θに応じて変化し、常に最適又はそれに近い湾曲分光結晶３上の有効回折領域を用いることができる。 （もっと読む）

【課題】
反射装置において、低角（０°近く）における表面反射率が高角における表面反射率より著しく大きい。
【解決手段】
反射装置であって、試料の表面に対して一定範囲の角度に渡って放射線を前記試料に照射するように構成された放射線源と、前記範囲の角度に渡って前記試料から反射された放射線を受け取るように配置され、前記放射線に応答する信号を生成するための検出アセンブリと、前記放射線を遮断するように調節可能に配置されたシャッターであって、前記範囲の角度の低角領域の放射線を遮断し、それによって前記範囲の高角領域の反射された放射線のみが前記アレイに到達できるようにする遮断位置と、前記範囲の低角領域の放射線が遮断されずに実質的に前記アレイに到達する開放位置とを有する、該シャッターとを含む。 （もっと読む）

【課題】
従来の有害元素分析法では、たとえばＸＲＦは、その精度（誤差３０％〜５０％）に問題があり、判定が困難な場合がある。また、Ｘ線のエネルギーが低いことから、その測定領域は固体試料表面の数十μｍに限定されることが問題である。それを解消するために試料を冷凍，粉砕等により一様化し、粉体状態で測定することがなされているが、その時点で非破壊の状態ではなくなる。また時間もそれだけかかる。
【解決手段】
本発明はＤＴ中性子発生管内に、二次元的に配列されたα線検出器アレイを備え、中性子発生管外部に、二次元的あるいは三次元的に複数の区画に分けられた試料収納部を備え、さらにα線・γ線同時計数回路，データ収集装置を備えている。α線検出器アレイのそれぞれの個別検出器は試料収納部の各区画と１対１に対応するように配置されている。 （もっと読む）

【課題】 強度の弱いＸ線を試料に照射できるＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 試料４を照射する１次Ｘ線の強度が強すぎる場合、メッシュ７がＸ線管５と試料４の間に配置される。Ｘ線管５からの１次Ｘ線１５は、メッシュ７で吸収されて遮断される。すなわち、メッシュ７の金７ｃは全波長領域にわたってＸ線吸収係数が高い材料なので、１次Ｘ線１５はその金７ｃで吸収されて遮断される。メッシュ７の開口７ｄを通過した１次Ｘ線１５’が試料４を照射する。このように、Ｘ線管５からの１次Ｘ線はメッシュ７によりその強度が弱められて試料４を照射する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、Ｘ線分析を実施する装置に関する。
【解決手段】装置１は、Ｘ線管２と、被分析サンプルが設置された位置５のミクロ領域に、X線を焦点化する少なくとも１つのキャピラリレンズ４と、を有する。さらに装置１は、サンプルからの蛍光X線を検出する検出器6を有する。また装置１は、X線管２とキャピラリレンズ４との間の光路に設置された、少なくとも一つのエネルギー依存性フィルタ３を有する。このフィルタ３は、所定の閾値よりも小さなエネルギーを有するX線を実質的に遮蔽するように適合されている。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線検査手段近傍の搬送路カバーの下流側に選別装置を設置する必要を無くしてコンパクト化を図ることができ、かつ、前面側からのメンテナンス作業等も容易化することができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 コンベア１０と、Ｘ線検査手段２０と、検査領域より搬送方向下流側の所定搬送区間Ｄ２の搬送路１０ａを覆う開閉カバー３２と、検査手段の検査結果に基づいて被検査物を選択的に搬送路外に排出する選別排出機構４０と、排出された被検査物Ｗを収納する排出物収納ボックス５０とを備えたＸ線検査装置において、開閉カバー３２が開状態で所定搬送区間Ｄ２の搬送路１０ａの上面とその幅員方向前面側に開放する前面開放式であり、選別排出機構４０が開閉カバー３２の内方側に装備され、所定搬送区間Ｄ２の搬送路１０ａの幅員方向後方側に排出物収納ボックス５０が配置されている。 （もっと読む）

【課題】 被検査物を管理領域内のＸ線検査位置を通過させ、その間にＸ線検査するＸ線検査設備において、長尺の敷地を必要とせず、遮蔽扉が軽量化され、運転手の移動距離も少なくかつ監視要員数も削減できるＸ線検査設備を提供する。
【解決手段】 遮蔽壁６で囲まれ、入側遮蔽扉５ａと出側遮蔽扉５ｂとを有する管理領域３を有し、前記管理領域３に搬入された被検査物が、前記管理領域３内のＸ線検査位置１８を移動する間にＸ線検査されるＸ線検査設備１において、前記被検査物が前記入側遮蔽扉５ａを介して前記管理領域３内に搬入される搬入方向と、前記被検査物が前記出側遮蔽扉５ｂを介して前記管理領域３外に搬出される搬出方向との少なくとも一方が、前記被検査物が前記Ｘ線検査位置１８を移動する方向と異なる直線上にある。 （もっと読む）

器具から放射される透過性放射線により照射される表面から一定距離における周囲放射線レベルを減少するための、放射線遮蔽物およびそのための方法が、本出願において開示される。この遮蔽物は、照射される表面に当接する上記器具の端部に取り付けられる。この遮蔽物は、透過性放射線の伝搬方向に対して実質的に横方向にある面内に配置されており、かつその照射される表面に対して実質的に近接している、減弱物質製プラテンを有する。
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【課題】 物品を収納して搬送される箱の角部や側縁部あるいは物品の周縁部が繰り返して接触することによるＸ線漏洩防止部材の磨耗を防止すると共に、箱や物品がＸ線漏洩防止部材を押し退けてスムーズに通過することができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 シールドボックス内の搬入口及び搬出口に垂設されて、該搬入口及び搬出口を覆うＸ線遮蔽部３１を、左右両端及び略中央の柔軟部材３５…３５と略中央の柔軟部材３５の左右両側に隣接する金属部材３６，３６とで構成する。その場合、前記金属部材３６，３６を、上面が開口する箱Ｙに物品を収納した商品Ｇの前方角部が接触したり両側縁部が摺接したりする箇所に配設する。また、柔軟部材３５には、鉛を含有するゴム材料を、金属部材３６には、ゴム材料より若干厚みの薄いステンレス鋼を使用する。 （もっと読む）

【課題】 コンベアを容易に引き出すことができ、清掃性及びメンテナンス性に優れたＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 本体フレーム（２）と、搬送経路（Ｒ）の側方へのＸ線の漏洩を防止するＸ線漏洩防止カバー（３）と、それを回動支持する回転軸（２１）と、を備え、Ｘ線漏洩防止カバー（３）及び回転軸（２１）の最下端部を、コンベア（４１）を検査領域（Ｆ）外へ移動する移動手段（４３）を有する搬送機構（４）の最上端部よりも上方に位置させたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 面内回転を必要とする試料とスリットとを一体に支持して正確な測定を行うことができるＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線を発生するＸ線焦点Ｆと、試料Ｓを支持する試料ホルダ１７と、試料ホルダ１７に着脱可能に取り付けられると共にＸ線焦点Ｆから見て試料Ｓの前に配置されるマスクスリット１９を備えたマスク部材１８と、試料Ｓで回折したＸ線を検出するＸ線検出装置４と、Ｘ線光軸Ｘ０に対して直角であって試料Ｓを通るθ軸線を中心として試料ホルダ１７をθ回転させるθ回転装置５、１３と、θ回転した試料ホルダ１７をθ軸線に対して直角であってＸ線光軸Ｘ０と交差するβ軸線を中心として面内回転させるβ回転装置３７とを有するＸ線分析装置１である。 （もっと読む）

【課題】 試料からの微弱な散乱光を、超小角領域まで精度よく検出できる光散乱測定装置を提供する。
【解決手段】 レーザー光源１１と、レーザー光源１１からの光を集光する第１のレンズ１２と、ピンホールｄを有するピンホール板１３と、第１のレンズ１２からピンホールｄを介して入射した光を平行光にする第２のレンズ１４と、第２のレンズ１４から入射した平行光を検出器１７の検出面に備えられたビームストッパー１６で焦点を結ぶように集光する第３のレンズ１５とを設ける。また、ピンホールｄとビームストッパー１６とを光学的に共役な位置に配置する。 （もっと読む）

【課題】 干渉縞を確実に防止することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 天板１の長手方向Ｈ_HにＸ線グリッド４が往復移動しながら被検体の撮像を行う場合、駆動部５がＸ線グリッド４を回転させることで、そのＸ線グリッド４を天板１の短手方向Ｈ_Vにも往復移動可能になるようにする。つまり、長手方向Ｈ_Hに沿って金属ピース４ａの縞目が配置されるようにＸ線グリッド４に配設しつつ、長手方向Ｈ_HにＸ線グリッド４が往復移動しながら撮像すると、画像中の干渉縞を防止する。一方、短手方向Ｈ_Vに沿って金属ピース４ａの縞目が配置されるようにＸ線グリッド４を駆動部５によって長手方向Ｈ_Hから短手方向Ｈ_Vに回転させて往復移動させることで、短手方向Ｈ_Vに往復移動させた場合においても、干渉縞を確実に防止することができる。 （もっと読む）

対象物の画像を記録する為の走査方式の放射線検知装置であって、対象物と相互作用をした後、扇形イオン化放射線ビームに暴露される一次元検知器ユニット（４１）と、前記対象物の二次元画像を作成する為に反復して検知している間、対象物に対して一次元検知器ユニット（４１）及び扇形ビームを相対移動させるデバイス（８７，８８，８９，９１）と、反復検知を制御する為の制御装置を備える。一次元検知器ユニット（４１）は、イオン化放射線感応厚さｄｔを有し、厚さｄｔは、一次元検知器ユニットを照射する時には、扇形ビームの厚さよりも大きい。各々の一次元画像の暴露時間を短くし、且つ二次元画像の空間分解能を高くする為に、扇形ビームの一次元画像は、前記移動のｎ番目の長さ単位毎に記録される。ここで、ｎは、この長さ単位において扇形ビームの厚さのほぼ半分よりも小さくはなく、この長さ単位において一次元検知器ユニット（４１）のイオン化放射線感応厚さ（ｄｔ）より小さい。
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【課題】 軽元素の分析においてＳＮ比が十分に向上した蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。
【解決手段】 試料１に１次Ｘ線２を照射するＸ線源３と、試料１から発生する２次Ｘ線の通路４に配置され、分析対象の軽元素と同一の軽元素を含む分光素子７と、この分光素子７によって回折された２次Ｘ線４Ｄが入射される検出器１０とを備え、試料１から発生する２次Ｘ線の通路４における試料１と分光素子７との間に、分析対象の蛍光Ｘ線よりも短い波長のＸ線を除去する全反射ミラー５０からなるフィルタ素子５が配置されている。 （もっと読む）

Ｘ線光学装置は、光学装置と、Ｘ線ビームの一部を選択的に遮る調整可能なアパーチャとを含む。調整可能なアパーチャは、光学装置と試料との間に配置され、光学装置と一体化されるか、又は光学装置に近接して配置される。調整可能なアパーチャにより、ユーザがＸ線の収束を容易かつ効果的に調整できるようになる。このようにすることで、可能性のある測定をすべて考慮した最大収束を有する光学装置を使用し、アパーチャを調整して特定の測定に合わせた収束を選択することにより、Ｘ線光学装置の光束及び解像度を最適化することができる。
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【課題】 走査のため放射線源と検出器との間に物品を移動させるクレーンシステムに隣接して配置された放射線源および検出器を具備してなる放射線走査システムを提供する。
【解決手段】 放射線源および／又は検出器はクレーンシステムにより支持させても、あるいはその近傍に配置させてもよい。好ましくは、放射線源および検出器はクレーンシステムにより支持させるか、又はクレーンシステムにより画成される輪郭内に配置させる。この放射線走査システムは船舶運搬貨物などの運搬貨物を、船舶に対する積み下ろしの際に走査するのに特に適している。物品を検査する方法も同じく開示されている。
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