【課題】フローティング状態にある高電圧側電池の絶縁異常を検出する絶縁異常検出装置に関し、簡単な回路構成で絶縁異常検出回路の自己診断を可能とする。
【解決手段】絶縁異常検出回路は、第１の端子が高圧側電池１０２に接続される第１のスイッチ１０８と、その第２の端子に接続され反対側が接地されている第１のカップリングコンデンサ１０９、検出抵抗１１０、および発振回路１１１の直列接続回路とを備える。自己診断回路は、第１のスイッチ１０８の第２の端子に接続される第２のスイッチ１１２と、それに接続され反対側が接地されている第２のカップリングコンデンサ１１３および自己診断抵抗１１４の直列接続回路とを備える。自己診断指令部１１５は、第１および第２のスイッチ１０８，１１２のオンまたはオフを制御する。フィルタ回路１１７、Ａ／Ｄ変換部１１８、および波高値算出部１１９は、検出抵抗１１０と第１のカップリングコンデンサ１０９の接続部分の信号波高値を算出して、絶縁異常の検出と絶縁異常検出回路の自己診断を行う。 （もっと読む）

【課題】絶縁板の主面または内部に実装された電子部品の接続検査を簡明化すること。
【解決手段】第１の電子部品が有する第１の電源端子に接続がされるための第１のランドパターンと、第２の電子部品が有する第２の電源端子に接続がされるための第２のランドパターンと、第１の電源端子を除くいずれかの端子に接続がされるための第３のランドパターンを含み、かつ第２の電源端子を除くいずれかの端子に接続がされるための第４のランドパターンを含み、かつ第３のランドパターンと第４のランドパターンとを電気的に接続するように絶縁板に設けられた配線部と、第１のランドパターンに電気的に接続して設けられた、少なくとも一部が主面上に存在する第１の電源リード部と、第２のランドパターンに電気的に接続して設けられた、少なくとも一部が前記主面上に存在し、かつ、第１の電源リード部とは電気的に分離して存在する第２の電源リード部とを具備する。 （もっと読む）

【課題】プローブを各電極に同時に接触させることが困難な検査対象部品についての検査を可能とする。
【解決手段】回路基板２の任意の２点間の電気的特性値Ｄｍを測定する測定部５と、この電気的特性値Ｄｍに基づいて２点間に実装されたコンデンサ１４を検査する処理部６とを備え、一方の電極１４ａが三端子レギュレータ２１の出力端子２１ｂに接続され、かつ他方の電極１４ｂが導体パターン３２に接続されたコンデンサ１４の検査に際し、測定部５は、三端子レギュレータ２１の作動用直流電圧にリップル除去率が基準値以下となる周波数の交流電圧を重畳させた測定信号Ｖｓを入力端子２１ａと導体パターン３２との２点間に供給した状態において、第１電気的特性値Ｄｍを測定し、処理部６は、この第１電気的特性値Ｄｍに基づいてコンデンサ１４を検査する。 （もっと読む）

【課題】プローブを各電極に同時に接触させることが困難な検査対象部品等についての検査を可能とする。
【解決手段】回路基板２の任意の２点間の電気的特性値Ｄｍを測定する測定部５と、この電気的特性値Ｄｍに基づいて２点間に実装されたコンデンサ１１〜１７を検査する処理部６とを備え、一方の電極１３ａがアナログスイッチ１８の一方の入出力電極１８ａに接続され、かつ他方の電極１３ｂが導体パターン３２に接続された第１部品としてのコンデンサ１３の検査に際し、測定部５は、アナログスイッチ１８の他方の入出力電極１８ｂと導体パターン３２との２点間の電気的特性値Ｄｍを測定し、処理部６は、アナログスイッチ１８をオン状態に移行させたときに測定部５によって測定される電気的特性値Ｄｍである第１電気的特性値Ｄｍ１に基づいてコンデンサ１３の電気的特性値Ｄｍを算出し、この電気的特性値Ｄｍに基づいてコンデンサ１３を検査する。 （もっと読む）

【課題】フライングキャパシタの放電開始時の放電電圧値をピークホールド回路によりホールドした際のホールド値が明らかに異常な値であった場合に、その原因を特定できるようにする。
【解決手段】マイコン１５で測定した読込用コンデンサＣａの充電電圧がゼロ（０Ｖ）であった場合に、読込用コンデンサＣａを放電させた後に電荷供給回路１７により読込用コンデンサＣａを所定の電位に充電したときと、その後に読込用コンデンサＣａをフライングキャパシタの放電回路から絶縁したときと、その後にフライングキャパシタの放電開始直後の放電電圧により読込用コンデンサＣａを充電したときに、それぞれ読込用コンデンサＣａの充電電圧をマイコン１５で測定するようにした。そして、各時点における読込用コンデンサＣａの充電電圧の測定値のパターンによって、絶縁状態検出ユニット１０の故障箇所を特定するようにした。 （もっと読む）

【課題】正常に機能しているフライングキャパシタに生じる静電容量変化とは区別して、静電容量変化を伴うフライングキャパシタの故障を検出すること。
【解決手段】フライングキャパシタＣ１の放電開始時に、読込用コンデンサＣａの充電電圧に基づいてフライングキャパシタＣ１の放電電圧ＶＤ１を測定する（ステップＳ１）。次に、放電開始から時間ｔ２が経過した時点で、読込用コンデンサＣａの充電電圧に基づいてフライングキャパシタＣ１の放電電圧ＶＤ２を測定する（ステップＳ３）。続いて、ステップＳ１で測定した放電電圧ＶＤ１とステップＳ３で測定した放電電圧ＶＤ２との差分からフライングキャパシタＣ１の放電量（放電割合）を求め（ステップＳ５）、求めた放電量（放電割合）を基準となるしきい値と比較して、フライングキャパシタＣ１を構成する４つのコンデンサに関するオープン故障を診断する（ステップＳ７）。 （もっと読む）

【課題】微小放電電流でも感度よく測定できる電極間絶縁特性測定装置を提供すること。
【解決手段】電極間静電容量が大きな測定対象の絶縁検査を行う電極間絶縁特性測定装置であって、前記電極間に、可変高圧直流電源と直流電流計と高域阻止フィルタとパルス電流計が直列接続されるとともに、前記パルス電流計と測定対象の直列回路と並列に高耐圧キャパシタが接続されたことを特徴とするもの。 （もっと読む）

【課題】本発明は、コンデンサ内蔵基板の製造後の検査を容易に実行することが可能となる電気部品内蔵基板の検査方法および電気部品内蔵基板の構造を提供することを目的とする。
【解決手段】少なくとも二つ以上のコンデンサ（Ｃ１、Ｃ２）を内蔵する電気部品内蔵基板（１）の電気部品接続検査方法であって、コンデンサ（Ｃ１、Ｃ２）の一端（Ｃ１ａ、Ｃ２ａ）が電気部品内蔵基板（１）の共通の電源パターン（ＶＰ）に接続され、コンデンサ（Ｃ１、Ｃ２、）の他の一端（Ｃ１ｂ、Ｃ２ｂ）が電気部品内蔵基板（１）の共通の接地パターン（ＧＰ）に接続され、コンデンサ（Ｃ１、Ｃ２）、共通の電源パターン（ＶＰ）、及び、共通の接地パターン（ＧＰ）のインダクタンスとの合成インピーダンスによって規定される時定数によって分離される各々の共振周波数を計測用周波数としたインピーダンス計測を行うことで個別に内蔵部品の電気的接続検査を行う。 （もっと読む）

【課題】短絡確認検査及びコンデンサ逆実装確認検査を効率的に実施可能な電気的試験システム及び電気的試験方法を提供すること。
【解決手段】電気的試験システムは、電気的試験装置と、電気的試験装置によって試験される電子装置と、を備える。電子装置は、グループ毎に分けられた複数の電子素子と、各グループに少なくとも１つ配され、電源配線及びグランド配線のうち少なくともいずれかと電子素子との電気的接続を開閉するスイッチと、を有する。複数の電子素子のうち少なくとも１つは有極性コンデンサである。電気的試験装置は、スイッチの開閉を制御するスイッチ制御回路と、グループにおける電源配線とグランド配線間のショートの有無を検出するショート検出回路と、有極性コンデンサの実装方向を検出する逆実装検出回路と、電源配線とグランド配線に電力供給する電源回路と、を有する。 （もっと読む）

【課題】 外付けコンデンサの信号入力側で発生したオープン故障を検出できるAD変換装置およびAD変換装置の故障検出方法を提供する。
【解決手段】 AD変換装置１は、第１入力端子２の電圧値を変動させて入力信号をAD変換したときのAD変換器５のAD変換値に基づいて、外付けコンデンサ８の信号入力側に発生したオープン故障を判断する故障判断部６を備える。 （もっと読む）

【課題】測定対象コンデンサ等の外部装置と測定端子との接続異常を検知して信頼性の高い測定を実現する。
【解決手段】外部装置から測定端子Ｔ1に入力された電流を電圧に変換して検出する電流測定装置において、測定端子Ｔ1と外部装置との接続異常を、上記電流を所定のランプ信号と比較することにより検知する接続異常検知手段（１，３，４，５，６）を具備する。 （もっと読む）

【課題】回路素子測定装置とＤＵＴとのコンタクトチェックを、回路素子測定装置に専用の交流電圧源を設けることなく短時間で行うことができる２端子の回路素子測定装置を実現すること。
【解決手段】既知の直流電圧を出力する電圧印加部と、電流の直流成分と交流成分を測定する電流測定部と、この電流測定部の出力電圧をモニタするモニタ部を備え、前記電圧印加部の出力端子が被測定対象回路素子の一端に接続され、前記電流測定部の入力端子が前記被測定対象回路素子の他端に接続される回路素子測定装置において、前記モニタ部は、前記電圧印加部から前記被測定対象回路素子に電圧が印加される前における前記電流測定部の出力電圧と前記被測定対象回路素子に電圧が印加されてから一定時間内における前記電流測定部の出力電圧の最大値を比較し、前記被測定対象回路素子との接続について、差が生じない場合には接続不良と判断し、差が生じている場合には接続正常と判断することを特徴とするもの。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的はショートチェックの対象となる情報処理装置の回路構成と、ショートチェック装置の構成、ショートチェックを行う回路の順番を考慮することで、情報処理装置の回路中に存在するコンデンサの充電時間を短縮し、充電回数を削減することでショートチェックの高速化を実現することにある。
【解決手段】ショートチェックシステムに於いて、情報処理装置の回路の抵抗に比べ、コンデンサの容量性負荷の大きな回路に、コンデンサと並列に抵抗を追加することと、ショートチェック装置に搭載した電源から回路のコンデンサに充電することで、回路の充電時間を短縮し、また、ショートチェックの順序を考慮することでショートチェックを高速化する。 （もっと読む）

【課題】金属ケース内面にアルミニウム酸化皮膜が形成されている場合においても、確実に電極箔と金属ケース間の短絡の有無を検査できるようにする。
【解決手段】アルミニウム電解コンデンサ１のコンデンサ素子２に含まれている電極箔と金属ケース３間の短絡の有無を検査するにあたって、金属ケース３と電極箔のリード端子（例えば陽極リード端子２ａ）との間に、バイアス電源１１より金属ケース３の内面に形成されている酸化皮膜（Ａｌ_２Ｏ_３）を破壊し得る直流バイアス電圧を印加した状態で、インピーダンス測定手段（例えばＬＣＲメータ）１２にて金属ケース３と上記リード端子２ａ間のインピーダンスを測定して、電極箔と金属ケース３間の短絡の有無を検査する。 （もっと読む）

【課題】 カップリングコンデンサのショート故障、オープン故障についての検出を充分に行うことが、構成の追加を抑制して行うことができる車両用地絡検出回路を提供すること。
【解決手段】 車体と電気的に絶縁された高電圧系の地絡を検出する車両用地絡検出回路１において、高電圧系との直流成分の遮断を行うカップリングコンデンサＣ１，Ｃ２を設け、複数のカップリングコンデンサＣ１，Ｃ２を通過させる信号により、高電圧系の地絡を検出するとともに、カップリングコンデンサＣ１，Ｃ２の断線、短絡を検出した。 （もっと読む）

【課題】コストの上昇や、美観および信頼性の低下を招くことなく、プローブからのノイズの侵入を効果的に抑制できるアクティブプローブを備えた電気特性検査装置を提供する。
【解決手段】コンデンサ２１に所定の電圧を印加する電流制限回路１に接続され、その先端がコンデンサ２１の一方の電極に接続する第１測定端子２２Ａと、コンデンサ２１の漏れ電流を検出する漏れ電流検出回路３１と、この漏れ電流検出回路３１に接続され、その先端がコンデンサ２１の他方の電極に接続する第２測定端子２２Ｂと、を備え、測定端子２２Ａの直近に、電流制限回路１を配置すると共に、測定端子２２Ｂの直近に、漏れ電流検出回路３１を配置する。 （もっと読む）

【課題】画像処理などの高価な設備を用いることなく、プローブをチップ部品に接触させるだけの操作で、バイパスコンデンサなどのチップ部品の実装状態を検査可能とする。
【解決手段】チップ部品１が回路基板側のハンダパッド５ａ，６ａ上に実装されているかどうかを検査するため、第１，第２のプローブ１３０，２００と、各プローブ間の電気的状態を計測する計測手段３００とを含み、第１プローブ１３０はスイッチ手段ＳＷを介して計測手段３００に選択的に接続される筒状プローブ１３１と筒状プローブ内に挿通されバネ付勢されているプローブピン１３５とを備えた構成とし、スイッチ手段ＳＷにより筒状プローブ１３１を計測手段３００に接続し、その傾斜面をチップ部品１の一方のリード電極３に接触させるとともに、第２プローブ２００をリード電極３側のハンダパッド５ａに連なる配線パターン５に接触させ、計測手段３００にて筒状プローブ１３１と第２プローブ０との間の電気的状態を計測する。 （もっと読む）

【課題】電子回路基板の検査作業の能率と安全性を向上させる。
【解決手段】基板検査装置１は電子回路基板９の検査接点１３、１３、１３・・・に対して検査ピン１５、１５、１５・・・を所定の圧接力で押し当てることによって、電子回路基板９の電気的導通や実装部品の性能、誤装着等を検査する検査ピンユニット１１と、上記検査接点１３、１３、１３・・・に検査ピン１５、１５、１５・・・を所定の圧接力で押し当てるための押圧手段と、上記検査ピンユニット１１をセットし、前後方向Ａに移動する可動ステージ１９と、上記押圧手段の押込み動作と機械的に連動させて、上記可動ステージ１９を奥部側の検査ポジション２１に向けて移動させる引込み手段２３とを具備する構成にした。 （もっと読む）

【課題】絶縁抵抗または漏洩電流を短時間で精度よく測定可能とする。
【解決手段】絶縁抵抗測定装置は、定電圧電源１と、定電流回路２と、オンオフ回路３と、漏洩電流増幅器４と、Ａ／Ｄコンバータ５と、データ処理部６と、定電流吸収回路７と、定電流ブリーダ回路８と、ショート回路９とを備える。１ｋΩ未満の内部抵抗を有する定電圧電源１と定電流回路２を用いて、被測定コンデンサＣ１に短時間だけ定電圧かつ定電流を印加するため、ＪＩＳ規格による測定方法で１分の所要時間を要するコンデンサの絶縁抵抗測定と、ＪＩＳ規格による測定方法で５分の所要時間を要するコンデンサの漏洩電流測定を、いずれも１秒以内という短時間で測定でき、検査工程のスループット向上が図れる。 （もっと読む）