【課題】実験室や実験室以外、またはその両方の条件下で使用される、合理的に良好に性能を果たす、サブミリ周波数帯域のための効率的かつ正確な較正標準を提供する。
【解決手段】主要吸収体７と、二次吸収体６とを備える、較正用黒体標準器であって、主要吸収体７は、空洞３に含まれ、二次吸収体６が、空洞３に含まれ、かつ二次吸収体６が、主要吸収体７を備える空洞３を囲繞するように配設される。 （もっと読む）

【課題】可動ミラーと固定ミラーが接触するスナップダウン現象を防止し、且つ、低消費電力も実現できる波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置を提供すること。
【解決手段】固定ミラー５６と可動ミラー５７は所定のギャップＧをもって対向配置されており、固定ミラー５６と可動ミラー５７の外側には、ギャップＧよりも大きな電極間距離Ｇ１が設定され、Ｇ１が設定された部位から更に外側には、ギャップＧよりも小さな電極間距離Ｇ２が設定される。 （もっと読む）

【課題】受光する光の強度にばらつきが生じたとしても、高精度に測定することができるイメージセンサ、分光装置、及びイメージセンサの作動方法を提供する。
【解決手段】イメージセンサ１は、入力用スイッチ２２を介して受光素子２１の接続された積分回路２３、その出力電圧値が検出閾値を越えたときに検出信号Ｓを出力する電圧検出回路２４、及び出力用スイッチ２５を有する複数の光電変換部１０と、ＡＤＣ１１と、入力用スイッチ２２を閉状態に制御して検出信号Ｓが出力されたときにその入力用スイッチ２２を開状態に制御し、入力用スイッチ２２を閉状態に維持させた時間を電荷蓄積時間として測定すると共に、出力用スイッチ２５を制御して光電変換部１０ごとの出力電圧値を測定電圧値としてＡＤＣ１１から読み込み、各光電変換部１０への入射光の強度を、電荷蓄積時間及び測定電圧値に基づいて演算する制御部１２とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 測色器の測定精度の低下を抑制しつつ、光源の低消費電力化あるいは長寿命化を図る。また、分光分析器の測定精度の向上を図る。
【解決手段】 光源３０と、光源の駆動電力を制御するパワー制御部１２を含む光源駆動部１０と、光を波長に応じて分光する分光部３４を含む測定光学系４０と、測定光学系を通過した、測定対象であるサンプル３２，３２’からの反射光あるいは透過光を受光して電気信号に変換する受光部５０，５０’と、受光部から得られる電気信号に基づいて、光の波長に対応した受光強度を測定する測定部６０と、を含み、パワー制御部１２は、光源の分光特性、測定光学系の分光特性および受光部の受光感度特性の少なくとも一つに応じて、光源に印加する電力を、光の波長に対応させて変化させる。 （もっと読む）

【課題】
キセノンフラッシュランプを用いた分光光度計において、過去の蓄積データとの照合が可能な分光光度計、及びその性能測定方法を提供する。
【解決手段】
通常は、キセノンフラッシュランプ１からの光束２を用い、凹面鏡３を介して分光器４で任意の波長に分光し、試料５を透過した光束を光検知器６で検出することで、分光分析を行う。性能測定を行うときは、キセノンフラッシュランプ１と分光器４との間の光束２上に低圧水銀ランプ９を配置し、シャッター機構を構成する遮光板１１を作動して遮光及び透過させて光強度を検出することで、低圧水銀ランプ９の輝線スペクトルを用いた「波長正確さ」または「分解」の測定を行う。 （もっと読む）

【課題】ソーラシミュレータの分光放射特性を正確に測定すると共に、光源ランプとその点灯回路の診断機能をも併せ持った標準分光放射計を提供する。
【解決手段】パルス点灯型ソーラシミュレータ２から放射された閃光を複数の光ファイバ７１〜７５によって分岐伝導し、伝導された閃光をそれぞれの分光器８１〜８５で分光し、分光された分光光をそれぞれ検出する第１の光検知手段９１〜９５を備える標準分光放射計において、ソーラシミュレータ２から放射された閃光を検知する第２の光検知手段１０と、第２の光検知手段１０によって検知された検出電圧と閾値基準電圧とを比較し、前記検出電圧が前記閾値基準電圧以上になったとき判別信号を出力する閾値判別回路１３と、前記判別信号を入力して測定開始信号を出力する遅延時間発生回路１４を備え、各第１の光検知手段９１〜９５は前記測定開始信号を入力すると検知を行うことを特徴とする標準分光放射計である。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ヘテロダイン光スペクトラムアナライザにおいて受光系を１系統にすることを目的とする。
【解決手段】本発明に係るヘテロダイン光スペクトラムアナライザは、互いに直交し且つ波長差を有する２つの直線偏光光のペアをローカル光Ｐ_Ｌとして出射するローカル光光源２と、被測定光Ｐ_０とローカル光Ｐ_Ｌとを合波する合波部３と、合波部３からの合波光を受光して被測定光Ｐ_０とローカル光Ｐ_Ｌのヘテロダイン検波信号を出力する受光部４と、を備え、波長差は、受光部４におけるヘテロダイン検波の検波帯域よりも狭いことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】分光放射測定の不確かさが非常に小さく、高速測定可能で、掃引波長誤差も小さく、高精度の絶対分光放射計を提供する。
【解決手段】測定系を校正する国際標準の標準電球からなる光源３と被測定光源２とを切り替え可能に設けた光源１と、光源１の光を導入するための入射光学系４〜１０と、該入射光学系からの光を取り込み、複数個の波長域毎に最適化された、各々の波長域毎に分岐された光ファイバ１１〜１５と、分岐された光ファイバ１１〜１５毎に並列配置した各分光器１６〜２０と、各分光器に対応して設けられた各検知器２１〜２５と、を有することを特徴とする絶対分光放射計である。 （もっと読む）

【課題】取込光量を好適に規定できる光計測装置を提供する。
【解決手段】光計測装置１は、測定対象である面光源１０１からの光を結像させる集光レンズ１５と、集光レンズ１５の後側の面光源１０１の共役点に配置された視野絞り部材１７と、集光レンズ１５の前側焦点の共役点に配置された開口絞り部材２１と、視野絞り部材１７及び開口絞り部材２１を透過した光を受光し、受光した光に応じた信号を出力する検出器５とを有する。 （もっと読む）

【課題】光源の発光効率の改善、回折格子の回折効率の改善などの要因により、光検出器に入射する光の光量が大きく増加した場合でも、正確な吸光度測定を可能とする。
【解決手段】電源投入時やバリデーションチェック時に、重水素ランプ１０を点灯させて波長２３５ｎｍの光に対する検出信号のＡ／Ｄ変換出力値を取得する。データ処理部２２では、予め（通常、本装置の製造段階で）決められて記憶部２４に格納されている上限値と上記出力値を比較し、後者が前者以上である場合には、制御部２４はアパーチャ駆動部３１を駆動して可動アパーチャ３０により光量を絞る。これにより、過剰な光量が光検出器１９に入射することがなくなり、試料溶液１８による吸光がない場合における測定を正確に行うことができ、それによって試料容器１８による吸光度も正確に計算可能となる。 （もっと読む）

【課題】電子写真用ラインヘッドを用いた最終製品に要求される性能に合致した測定精度の向上を図ることができるラインヘッドの測定装置および測定方法を提供すること。
【解決手段】ＣＣＤカメラ４で撮像する撮像画像の強度分布が感光体の分光感度特性（潜像の強度分布）に近似するように、適宜な透過特性を有した光学フィルタ９を用いてラインヘッドＷの発光点を測定する。従って、電子写真用プリンタ製品等の最終製品に組み込んだ際のラインヘッドＷの発光点の特徴量を、測定時において適切に評価することができ、最終製品に要求される性能に合致した測定精度の向上を図ることができる。さらに、発光点の発光分光特性に応じた所定波長領域において、感光体の潜像の強度分布と撮像画像の強度分布とを近似させたことで、発光体ごとの発光分光特性のばらつきの影響を排除または低減して、測定精度を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】 波長の異なる光により受光素子で生成される光電流が大きく異なる場合においても、測光可能なダイナミックレンジを拡大できるようにした光源検出装置及びそれを用いた撮像装置を提供する。
【解決手段】 被写体からの光の可視光成分を検出する第１の受光素子11と赤外光成分を検出する第２の受光素子12とを有する光電変換部１と、演算増幅器と第１の積分容量とからなり第１の受光素子の出力を増幅する第１の読み出し回路２と、演算増幅器と第２の積分容量とからなり第２の受光素子の出力を増幅する第２の読み出し回路３と、第１及び第２の読み出し回路の出力に基づき光源の種類を判定する判定回路４とを備え、第１及び第２の積分容量の値、又は第１及び第２の読み出し回路の基準電圧の、少なくとも一方を異なる値に設定する。 （もっと読む）

【課題】 近赤外蛍光測定を行う分光蛍光光度計において波長校正を簡便に且つ低コストで行う。
【解決手段】 波長校正時には、駆動部２６により励起分光器２の回折格子２１での回折光が０次光となるように回転位置を設定し、駆動部３５により入射光路上に試料セル３に替えてミラー３４を位置させる。励起光源１１であるキセノンランプは近赤外波長領域に複数の輝線スペクトルを有し、そのスペクトルが保存された光が蛍光分光器４の入口スリット４４に入射する。そこで、蛍光分光器４の回折格子４１を回動させて波長走査を行い、信号処理部７はそれに応じて検出器５１で得られた検出信号に基づいて蛍光スペクトルを作成する。制御部６はその蛍光スペクトルに現れる輝線スペクトルの波長と本来の輝線スペクトルの既知の真の波長との差に基づいて、蛍光分光器４の波長を校正する。これにより、波長校正用の低電圧水銀灯も光電子増倍管も不要になる。 （もっと読む）

【課題】 メーカサイドの工場やサービス拠点等でしか事実上行えなかった分光輝度計の波長及び感度の校正を、ユーザサイドでも行うことができるようにする。
【解決手段】 校正用基準光源１は、積分球１１、制御処理部１２、モニターセンサ１４、複数の単波長基準光を発生する半導体レーザを備えるレーザユニット２等を備えて構成されている。制御処理部１２は、前記複数の半導体レーザを順次点灯させ、積分球１１によって多重反射された上で出力開口１１ａから放射される単波長基準光の強度を、モニターセンサ１４によってモニターさせる動作を制御する。前記出力開口１１ａに、校正対象とされる分光輝度計４の受光部が配向され、制御用ＰＣ５により、校正用基準光源１及び分光輝度計４の動作が制御される。 （もっと読む）

【課題】 光学系のスペクトル強度補正を校正用の光源を用いて行えるようにする分光システムを提供。
【解決手段】 顕微鏡２２０と、共焦点ユニット２３０と、分光装置２４０とを備える分光システムであり、顕微鏡２２０内に、顕微鏡２２０の対物レンズ２２１と同軸の光学系上に配置され、波長校正用光束を対物レンズ２２１に入射させる波長校正用光源部２２５を有する。波長校正用光源部２２５では、光源駆動回路２２５５により、波長校正用光源２２５１に、一定電圧を印加して点灯させる。 （もっと読む）

レーザから放射される光のスペクトルの未知の帯域幅を測定するようになった帯域幅測定器（すなわち分光計）を含むことができ、該測定器が、測定されているスペクトルの未知の帯域幅のパラメータを表す測定パラメータを出力として供給するようになった光帯域幅測定ユニットと、次式：
記録パラメータ（「ＲＰ」）＝Ａ＊（測定パラメータ（「ＭＰ」））＋Ｃ
（ここで、ＲＰ及びＭＰは異なるタイプのパラメータ、Ａ及びＣの値はＲＰが既知の値の光に対する前記光帯域幅測定ユニットのＭＰ応答の較正に基づいて決定される）
に従って測定されるスペクトルの未知の帯域幅の記録パラメータを計算するようになった記録パラメータ計算ユニットと、を備えることができるレーザシステムを制御するための装置及び方法が開示される。光帯域幅測定ユニットは、エタロン又は格子分光計などの干渉又は分散光学計器を含むことができる。ＲＰは、例えばＦＷＸＭにおけるものとすることができ、ＭＰは、例えばＦＷＸ’Ｍにおけるものとすることができ、Ｘ≠Ｘ’である。ＲＰは、例えばＥＸ％におけるものであってもよく、ＭＰは、例えばＦＷＸＭにおけるものであってもよい。 （もっと読む）