本発明は、電子検出器の分野に関する。本発明は、入力側と反対側のミラーとを有する導波路と、電磁波の局所的強度の関数として電気信号を伝える電磁線の検出手段とを備え、前記検出は入力側とミラーとの間で行なわれることを特徴とする干渉分光検出器に関する。
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【課題】それぞれの変数に対する感度は、少なくとも一部は、入射ビームの計測角に依存することから、所望の計測角のセットを選択することによって、分光計測技術の感度を、ある種のプロファイル変数について最適化する。
【解決手段】選択された所望の計測角のセットは、方位角および極角の両方を含む。また分光計測技術の感度を最適化することは、計測されるべき変数間の計測相関を低減または解消しえる。 （もっと読む）

【課題】 高速に変調された光の波長チャープを高い精度で簡便に測定し、広い帯域を持つ変調光の波長チャープを測定する。
【解決手段】 光パワーの平方根に比例する電場振幅の透過率を光周波数で微分して得られる微分係数が正で極大となる第一の透過波長域と、この第一の透過波長域と電場振幅の透過率が等しくこの電場振幅の透過率を光周波数で微分して得られる微分係数が前記第一の透過波長域とその絶対値がほぼ等しく符号が負となる第二の波長域とを有する可変光フィルタを用い、この可変光フィルタの透過波長域を可変し変調光の波長域に前記第一または第二の透過波長域を順次合致させ、それぞれ通過した変調光の時間波形を観測する。 （もっと読む）

【課題】光学的なバンドパスフィルタを用いた測定結果と等価な測定結果が得られるマルチチャンネル分光方式の分光光度計を提供する。
【解決手段】試料からの検出光は、凹面回折格子で分光・反射されて、フォトダイオードアレイに入射する。フォトダイオードアレイは、検出光の分散方向に多数のフォトダイオードが並べられている。各フォトダイオードから出力される波長毎の光電信号は、光電データに変換された後に、光学的なバンドパスフィルタの波長と透過率との関係に対応させて重みデータで重み付けされてから加算される。加算で得られる測定データが測定結果として出力される。 （もっと読む）

【課題】
光信号対雑音比（ＯＳＮＲ）を測定する。
【解決手段】
光バンドパスフィルタ（ＯＢＰＦ）２０が、測定対象の波長又はチャネルの信号光成分を抽出する。光スプリッタ２２は、ＯＢＰＦ２０の出力光を７つに等分割する。偏光子２４，２８，３２，３６及びフォトダイオード２６，３０，３４，３８により、水平方向、垂直方向、＋４５度方向及び−４５度方向の各直線偏光成分の光強度Ｐ_１，Ｐ_２，Ｐ_３，Ｐ_４を得る。１／４波長板４０，４６、偏光子４２，４８及びフォトダイオード４４，５０により、右回り及び左回りの各円偏光成分の光強度Ｐ_５，Ｐ_６を得る。フォトダイオード５２により測定対象の信号光の光強度Ｓ_０を得る。減算器５４、５８，６２が、Ｓ_１（＝Ｐ_１−Ｐ_２）、Ｓ_２（＝Ｐ_３−Ｐ_４）及びＳ_３（＝Ｐ_５−Ｐ_６）をそれぞれ算出する。演算装置６８はＳ_１，Ｓ_２，Ｓ_３，Ｓ_０から偏光度（ＤＯＰ）を算出し、換算装置７０はＤＯＰをＯＳＮＲに換算する。 （もっと読む）

【課題】フェムト秒光パルスのパルス幅を容易に計測すること。
【解決手段】入力光パルスを二分して得られた第１分岐光Ｌ１、および第１分岐光に対し時間遅延のない第２分岐光Ｌ２が、基本波として、入射される非線形光学素子２０と、非線形光学素子で発生された第２高調波の、ある波長領域に存在する全てのスペクトルを抽出し、抽出する中心波長が位置によって連続的に変化するスペクトル抽出光学素子３０と、スペクトル抽出光学素子から出射する第２高調波の２次元パターンを撮像する２次元撮像素子４０とを具える。非線形光学素子として、有機色素素子を用い、自己相関波形情報対波長情報の２次元パターンを得、自己相関波形情報からスケール基準としてのレチクルを用いてパルス幅を決定する。 （もっと読む）

【課題】 隣接したＦＢＧ反射光の波長検出が可能な波長検出装置を提供する。
【解決手段】 光ファイバブラッググレーティング素子からの反射光の波長を計測する波長検出装置１において、必要な波長のみが選択透過できる狭帯域フィルタ部１０１と、狭帯域フィルタ部１０１からの光信号を電気信号に変換、増幅し外部からの信号により利得が変化する利得可変型光検出処理部１０２と、利得可変型光検出処理部１０２からの電気信号を波長または波長のシフト量のいずれかに変換する波長計算処理部１０３と、狭帯域フィルタ部１０１を透過する信号の波長を制御する波長走査制御部１０４と、波長計算処理部１０３の波長信号から利得可変型光検出処理部１０２に利得を可変させる利得制御信号を発生する利得調整部１０８とを備えた波長検出装置１である。 （もっと読む）

試料体積中で非線形のコヒーレントな場を検出するシステムを開示する。システムは、第１周波数で第１電磁場を発生する第１のソースと、第２周波数で第２電磁場を発生する第２のソースと、第１および第２の電磁場を試料の体積方向に導く第１の光学系と、第１および第２の電磁場を局部発振器の体積方向に導く第２の光学系と、干渉計とを含む。干渉計は、試料体積中で第１の電磁場と第２の電磁場との相互作用により発生する第１の散乱場と、局部発振器の体積中で第１の電磁場と第２の電磁場との相互作用により発生する第２の散乱場とを干渉させる。
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【課題】 薄膜の面内モード吸収スペクトルと面外モード吸収スペクトルを、偏光していない通常の電磁波を用いて、一つの同じ薄膜から同時に測定できる。
【解決手段】 透明基板１に対して、非偏光の通常の電磁波を複数の異なる入射角で照射させ、それぞれの入射角での透過シングルビームスペクトルS_obsｊを測定する。そして、それらの測定スペクトルS_obsｊから、演算により透明基板１の面内モードスペクトルS_{a IP}と面外モードスペクトルS_{a OP}を算出する。次に、透明基板１と薄膜１０が合さったものに対して、同様に、透過シングルビームスペクトルS_obsｊを測定し、その面内モードスペクトルS_{b IP}と面外モードスペクトルS_{b OP}を算出する。そして、S_{a IP}とS_{b IP}の比S_{b IP}／S_{a IP}を演算することにより、薄膜１０の面内モード吸収スペクトルS_IPを算出し、S_{a OP}とS_{b OP}の比S_bOP／S_{a OP}を演算することにより、薄膜１０の面外モード吸収スペクトルS_OPを算出する。 （もっと読む）

【課題】波長可変フィルタを用いてマルチバンド画像を撮影し、これを用いて撮影被写体の分光反射率のスペクトルを推定する際に、実効的にスペクトルの推定精度を落すことなく、推定スペクトルを求める処理時間を短縮するマルチバンド画像の分光反射率のスペクトル推定方法およびスペクトル推定システムを提供することを課題とする。
【解決手段】複数の原画像から成るマルチバンド画像の各チャンネル毎に、反射率が既知のチャートを撮影して得られる輝度値を前記反射率と対応させた変換テーブルを予め作成し、被写体を撮影したマルチバンド画像の原画像の輝度値から前記変換テーブルを用いて、反射率に変換することによって、被写体の分光反射率のスペクトルを推定することで、またこのスペクトルの推定方法を用いたマルチバンド画像の分光反射率のスペクトル推定システムを提供することで前記課題を達成する。 （もっと読む）