【課題】高性能のチューナブルフィルタを提供する
【解決手段】光源又は他の光学系から入射する光は、第１光学系１に入射し、光軸に平行な光束に変換される。この光は、第１ウォラストンプリズム２に垂直入射し、Ｐ偏光とＳ偏光の進行方向が分離される。グレーティング５３により分光された光は、分光器カメラ光学系５４によって、Ｐ偏光とＳ偏光の偏光分離入力光ビームの２つのスペクトラム像を、それぞれ、反射型液晶素子アレイデバイス６の第１液晶素子アレイ６１、第２液晶素子アレイ６２上に結像する。第１液晶素子アレイ６１、第２液晶素子アレイ６２の各単位液晶素子に印加する電圧を調整することにより、各単位液晶素子のリターデーションを調節する。これによって、第１液晶素子アレイ６１、第２液晶素子アレイ６２から反射して、入射してきた経路を逆にたどって戻っていく光束の、偏光の向きを、入射した光の波長毎に変えることができる。 （もっと読む）

【課題】ＦＢＧの反射中心波長の割り当てが容易で、ＡＷＧの複数の出力チャンネル分の分離波長帯域をまたいでＦＢＧの反射中心波長が変化することに対応可能な物理量測定システムを提供する。
【解決手段】複数のＦＢＧ２が長手方向に形成された光ファイバ３と、光ファイバ３に広帯域の光を入射させる光源４と、光ファイバ３から出射されるＦＢＧ２の反射光を複数の分離波長域に分離してそれぞれ出力チャンネルに出力するＡＷＧ５と、出力チャンネルごとの出力光を受光する複数の受光素子６と、各受光素子６の出力変化により各ＦＢＧ２の反射中心波長変化を検出して光ファイバ３に与えられている物理量とその位置を演算する演算部７とを備えた。 （もっと読む）

【課題】 スペクトル波形パターンを横軸方向に自動的に分割する領域分割方法を提供することである。
【解決手段】 横軸方向に一定間隔でサンプリングされ、横軸の各座標位置における縦軸方向の高さ情報を有するスペクトル波形パターンデータについて、予め設定した移動平均値パラメータに基づき移動平均値を計算するステップと、スペクトル波形パターンデータと移動平均値との差分値又は差分値の絶対値を計算するステップと、差分値又は差分値の絶対値が、設定した閾値よりも大きな範囲を、ピーク存在範囲と定めるステップと、ピーク存在範囲の各々について代表位置を規定するステップと、代表位置の各々の中間に領域の境界位置を定めるステップとを含むことを特徴とする方法が提供される。 （もっと読む）

【課題】本発明は、モノクロメータタイプ光度計の利点である照射する光のエネルギーを小さく、照射する光の影響で反応液の変化を抑え、ハーフミラーによって光を二分し、参照側信号を作りだし、信号処理を行うことで受光素子の暗信号、及び光源の輝度変化影響を抑える感度調整信号を得る特長や、規定の波長ではなく任意の波長が選択できる特長を備えつつ、課題であった同時多波長測光を可能にする医用光度計を提供すること。
【解決手段】本発明は、試料を透過させる白色光を発生する光源と、前記試料を透過した白色光を単色光に分光する分光手段と、前記分光手段により分光された単色光を受光する受光手段と、上記単色光の波長を変える波長選択手段を備え、上記波長選択手段として反射鏡付き回転スリットを用いたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】光信号の光パワーを正確に求めることができるＷＤＭ信号モニタを実現することにある。
【解決手段】波長分割多重された光信号の測定を行なうＷＤＭ信号モニタに改良を加えたものである。本装置は、光信号それぞれのスペクトルを測定する分光器と、光信号の種類ごとの分光器の応答特性および各応答特性に対する波長分解能を格納する応答特性記憶手段と、分光器によって測定されたスペクトルと応答特性記憶手段の応答特性に基づいて、光信号それぞれの種類を判定する信号判定手段と、この信号判定手段の判定結果に基づいて、応答特性記憶手段の波長分解能で各光信号の光パワーを演算するパワー演算手段とを設けたことを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】二次元的に分布する分光対象物に対して各々の位置における分光強度スペクトルを迅速かつ簡便に測定すること。
【解決手段】分光対象物から受光素子に至る光路中に、外部信号によりスペクトルを変更することの可能な可変色フィルターを設置し、該可変色フィルターのスペクトルを変化させながら分光対象物を撮像し、撮像素子上の各受光素子において得られた一連の受光強度データと、あらかじめ本発明のデータ処理部に保存されていた該可変色フィルターのスペクトル情報と受光素子の受光感度スペクトルの情報とから演算処理によって、該受光素子に到達する光の分光強度スペクトルを求める。 （もっと読む）

【課題】複数の検出サブアレイを有する分光測定装置におけるスペクトルデータ分析のための新規な方法および新規な手段を提供する。
【解決手段】第1のオフセットデータを使用して第1のオフセット関数を獲得し、
第2のオフセットデータを使用して第2のオフセット関数を獲得し、
前記第1のオフセット関数と前記第2のオフセット関数との差を使用して、前記第1の時間に対して選択された時間で、スペクトルシフトをサブアレイ位置に対して獲得し、
前記選択された時間は、前記第1の時間と前記第2の時間との間にあり、
前記スペクトルシフトは、前記第1のオフセット関数と前記第2のオフセット関数を補間することによって得られる。 （もっと読む）

【課題】発光ダイオードの発光光に含まれる発光強度リップルや発光ダイオードの光強度分布の全体的な非平坦性の影響を除外して観測波長を高精度に校正する。
【解決手段】特定波長の光を吸収するガス吸収セルに発光ダイオードから出射された所定波長帯域の基準光を通過させ、当該通過後の透過光の観測スペクトラムを求める工程と、観測スペクトラムに移動平均処理を施して移動平均化観測スペクトラムを求める工程と、移動平均化観測スペクトラムと観測スペクトラムとの比をとることにより補正観測スペクトラムを求める工程と、補正観測スペクトラムにおけるガス吸収セルの吸収波長と既知の特定波長との差異に基づいて観測波長を校正する工程とを有する。 （もっと読む）

分光測光分析のための装置が、分析される試料を受けるように配置されている試料受け表面と、この試料受け表面に対して移動可能な試料接触表面とを有する。これら２つの表面は、試料が試料受け表面上に与えられることが可能な、前記２つの表面が十分に離れている第１の位置、また、試料接触表面が試料に接触し、試料を押圧する第２の位置にもたらされることができる。この装置は、試料厚さ制御装置をさらに有する。この試料厚さ制御装置は、試料接触表面の第２の位置において、試料受け表面と試料接触表面との間の距離を制御するように配置されている。この結果、これら表面間の試料の厚さは、この試料を通る異なる光路長でのこの試料の複数の測定を得るために、移動されることができる。
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【課題】少ないフォトダイオードで、光信号の測定を行なうことができるＷＤＭ信号モニタを実現することにある。
【解決手段】波長分割多重された光信号の測定を行なうＷＤＭ信号モニタに改良を加えたものである。本装置は、フォトダイオードが所定の方向に複数個配置され、光信号を所定の方向に波長分散して、各光信号あたり２素子のフォトダイオードで受光する分光器と、分光器からの出力される２素子を組とした測定データから、光信号の波長または光パワーの少なくとも一方を演算する演算部とを設けたことを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】 センサーアレイの分光感度の校正をより簡単な近似関数と少ない波長基準とを用いて容易（迅速）にかつ高精度に行う。
【解決手段】 センサーアレイ１０における各画素の分光感度の中心波長又は中心波長及び半値幅と、予め与えられた該中心波長又は中心波長及び半値幅の基準値との差異を画素番号ｍの関数（一次関数）として表し、関数を定義する１つ以上の係数を、所定の波長基準を測定して得られたセンサーアレイ１０の画素出力に基づいて決定し、該決定された係数を用いて関数から得られる差異と基準値とから、各画素の分光感度の中心波長又は中心波長及び半値幅を推定する。 （もっと読む）

分光器は、入射光内に存在する異なる波長成分の間の曖昧さを区別する。分光器内の空間フィルタは、入射光を空間的にフィルタ処理する。分散系は、空間的にフィルタ処理された光を受け取り、２つ以上の波長別画像が検出器系において少なくとも部分的にオーバーラップするように空間フィルタの画像を波長に依存して分散する。検出器系は、１つ以上のオーバーラップした画像の間の曖昧さを除去するために分散光を検出及び処理する検出器アレイ及びプロセッサを具備する。検出器アレイは、符号化開口関数により定義される符号化開口空間フィルタに関連する符号化開口画像を検出してもよく、プロセッサは、符号化開口関数を補完する解析関数を使用して検出器アレイの出力信号を処理してもよい。検出器系は空間フィルタ画像をフィルタ処理し、結果として得られる検出器アレイの出力信号を電子的に処理してもよい。
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フォークト関数を用いたライン・バイ・ライン計算において従来よりも５０〜１００倍高速に計算できる計算方法及びプログラムを提供する。
フォークト関数をピーク近傍の第１の範囲と、該第１の範囲に含まれない裾部分とに分け、該第１の範囲を３次関数で置き換え、該裾部分をフォークト関数として等間隔の所定の範囲で計算する。さらに第１の範囲のピーク近傍を３次関数で置き換え、裾部分をフォークト関数と３次関数の差の関数として前記第１の所定の間隔よりせまい第２の所定の間隔で計算する。これを所望の精度になるまで繰り返す。また、これら所定の間隔の間を４または５分割する補間を行う。
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検出システム（６００）は、材料が埋め込まれている建造物の相互作用領域にレーザ光を照射中に使用する。検出システム（６００）は、相互作用領域から発射された光を受け取るように位置決めされた光線平行化レンズ（６１０）を含む。検出システム（６００）は、光線平行化レンズ（６１０）に光学的に連結された光ファイバ（６２０）と、光ファイバ（６２０）に光学的に連結された分光器（６３０）とをさらに含む。分光器（６３０）は、相互作用領域内に材料が埋め込まれていることを示すために光を分析することに適合する。分光器（６３０）は、光ファイバ（６２０）から光を受け取るように適合させた入り口スリット（６３１）を含む。入り口スリット（６３１）は、十分な光透過および十分な解像度を提供するように選択された幅を有する。分光器（６３０）は、入り口スリット（６３１）から光を受け取りその光を波長スペクトルに分けるように適合させた光学グレーティング（６３２）をさらに含む。分光器（６３０）は、光学グレーティング（６３２）から分けられた光の選択された波長範囲を受け取るように適合させた集光レンズ（６３３）をさらに含む。分光器（６３０）は、選択された波長範囲を受け取り、受信した光の強度に対応する信号を生成するように適合させた光センサ（６３４）をさらに含む。
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【課題】 蛍光基準試料やこの煩雑な校正作業なしに蛍光試料の光学特性を精度良く求める。
【解決手段】 試料に近似の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と分光分布が異なる照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とＩ１、Ｉ２による試料放射光のＳｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、Ｉｓによる試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を次の手順で求める。１：Ｆ（μ，λ）又はＢ（μ，λ）とＩｓ（λ）とからＦｓ（λ）又はＢｓ（λ）を算出。２：Ｉ１、Ｉ２をＷ（λ）で線形結合した合成照明光のＩｃ（λ）によるＦｃ（λ）又はＢｃ（λ）がＩｓによるＦｓ（λ）又はＢｓ（λ）と等しくなるようＷ（λ）を波長毎に算出。３：Ｗ（λ）とＳｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とからＩｃによるＳｘｃ（λ）を算出。４：Ｉｃ（λ）とＳｘｃ（λ）とからＩｓによるＢｘｓ（λ）を算出。 （もっと読む）

静的マルチモードマルチプレックス分光法のための方法及びシステムを開示する。静的マルチモードマルチプレックス分光法のための方法によれば、拡散ソースの異なる点から放射したスペクトルエネルギーを同時に受け取る。異なるマルチピークフィルタ関数を異なる点から放射したスペクトルエネルギーに適用して、各点に対する多チャンネルスペクトル測定値を生成する。この多チャンネルスペクトル測定値を合成して拡散ソースの特性を推定する。
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【課題】 有機ＥＬ素子における発光層内の発光分布を効率的かつ高精度に推定することができる発光分布推定方法を提供すること。
【解決手段】 十分に信頼できる各データ、例えば、ＥＬスペクトルの測定データＩ_ＥＬ（λ），ＰＬスペクトルの測定データＩ_ＰＬ（λ），光取出し効率の算出データη（λ，ｘ）に基づいて、有機ＥＬ素子における発光層のＥＬ発光分布Ｗ_ＥＬ（ｘ）を推定することができる。また、Ｗ_ＥＬ（ｘ）の推定の際に有機ＥＬ素子に追加的な構成を添加する必要がないので、有機ＥＬ素子の本来の構成を生かして効率良くＷ_ＥＬ（ｘ）を推定することができる。 （もっと読む）

【課題】
試料セルを用いずに微量な試料の吸光度測定を行なうことのできる分光光度計を提供する。
【解決手段】
測定光を発生させる光源２と、試料４を試料を液滴状で保持する試料保持板６と、試料４からの透過光を検出する検出部８と、試料保持板６に保持されている試料４を撮像するための撮像部１０と、撮像部１０で得た試料画像から測定光の光路長を算出し、その光路長と検出部８で得た検出データに基づいて吸光度を算出する演算処理部１２と、演算処理部１２で得られた演算処理結果を表示するための表示部１４とが設けられている。
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【課題】温度センサを用いて周囲温度を直接に検出することなく、測定した分光波形の温度補償を行うことのできる分光測定装置を提案すること。
【解決手段】分光測定装置１の温度補償回路３では、メモリ１１に既知の温度における分光波形が基準波形Ａとして記憶されており、この基準波形Ａと、測定時に得られる分光波形Ｂとを、最小二乗法を用いて、合わせ込みを行って、その波長軸方向への波形シフト量ｄＨを求め、測定対象物から得られる測定分光波形に対して、波形シフト量ｄＨだけ、当該波形シフト量とは反対方向に波形シフトさせる補正処理を行って、当該測定分光波形から温度変化に起因する誤差を除去する。 （もっと読む）

【課題】 分光器における受光部のスペックルを軽減し、スペクトルＥ９５の高精度な計測を行うこと。
【解決手段】 計測光（レーザ光）をレンズ１１で集光し、光ファイバ１２を通して取り込む。光ファイバ１２の出射側には、ファイバ揺動／移動機構１３が設けられており、計測の間、常時、揺動もしくは移動させる。 光ファイバ１２から出射される光は、コリメータレンズ１４により適当な角度に集光され、エタロン１５に入射する。エタロン１５から出た光は、集光レンズ１６で集光され、ＣＣＤセンサなどのセンサ１７上にフリンジ像が結像する。センサ１７により取得したデータは積算処理され、波長スケール変換された後、デコンボリューション処理され、Ｅ９５が計測される。 （もっと読む）