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Fターム[2H025AD03]の内容

フォトレジストの材料 (104,520) | 像形成モード (7,639) | ポジ型 (3,118)

Fターム[2H025AD03]に分類される特許

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【課題】厚膜でも無機物の微細パターン形成が可能なポジ型感光性ペーストを提供する。
【解決手段】アルカリ可溶性樹脂、光酸発生剤ならびに無機粉末を含むポジ型感光性ペーストであって、該アルカリ可溶性樹脂がアクリル樹脂を5〜40質量%の範囲内、およびノボラック樹脂を60〜95質量%の範囲内で含有することを特徴とするポジ型感光性ペーストとする。 (もっと読む)


【課題】高感度であり、基板依存性がなく、塩基性基板を用いた場合でもプロファイル形状の優れたポジ型レジスト組成物及びこのポジ型レジスト組成物を用いたパターン形成方法を提供する。
【解決手段】酸の作用により分解してアルカリ可溶性基を生じる基、及び、ニトロ基を少なくとも1つずつ有する化合物(N)を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】レジスト組成物用の酸発生剤として有用な化合物、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が変化する基材成分(A)及び露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有し、酸発生剤成分(B)は、一般式(b1)で表される化合物からなる酸発生剤(B1)を含むレジスト組成物[式中、R”〜R”は、それぞれ独立に、アリール基またはアルキル基を表し;R”〜R”のうち、いずれか2つが相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成してもよく;R”〜R”のうち少なくとも1つは、水素原子の一部または全部が下記一般式(b1−01)で表される基で置換された置換アリール基であり;Xはアニオンであり;R20は塩基解離性部位を有する二価の基であり;R30は2価の連結基であり;R40は酸解離性基を有する基である。]。
[化1]
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【課題】活性光線又は放射線に感応し、ナノエッジラフネス、感度及び解像度に優れ、微細パターンを高精度に且つ安定して形成可能な化学増幅型ポジ型レジスト膜を成膜できる感放射線性樹脂組成物等を提供する。
【解決手段】本組成物は、樹脂と、式(b1)の酸発生剤と、低分子化合物とを含有しており、該低分子化合物は、式(c1)の化合物、窒素原子を2個有する化合物、窒素原子を3個以上有する化合物等のうちの1種である。
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【課題】吐出エネルギー発生素子とインク流路および吐出口との位置関係を高精度かつ再現性良く制御でき、印字特性の良好なインクジェットヘッドを安定して製造できる方法を提供する。
【解決手段】液体を吐出する吐出口2と連通する流路17を形成するための流路形成部材を基板1上に有する液体吐出ヘッドの製造方法であって、基板1上に感光性樹脂からなる層を設け、その層上の流路17に対応した部位にマスク層を設け、感光性樹脂からなる層に対して露光を行い流路17の形状を有するパターンとし、このパターンを被覆するように流路形成部材となる層を設け、流路形成部材となる層の一部に吐出口2を形成し、そのパターンを除去して流路17を形成することを含む液体吐出ヘッドの製造方法。 (もっと読む)


【課題】90nm以下の短波長の光源を用いた微細なレジストパターンの形成に対応することができ、解像性能に優れるだけでなく、LWRが小さく、PEB温度依存性が良好で、パターン倒れ耐性および欠陥性能に優れ、液浸露光工程においても好適に用いられる。
【解決手段】側鎖にアダマンチルラクトンを有する繰り返し単位(a−1)、および酸解離性基を有する繰り返し単位(a−2)を含む樹脂(A)と、特定構造のスルホニウム塩を含む感放射線性酸発生剤(B)とを含有する。 (もっと読む)


【課題】レジストパターンの倒れ、ラインエッジラフネス、並びにスカムの発生が改良され、プロファイルの劣化も少なく、更に、液浸露光時に於ける液浸液に対する追随性が良好であるレジストパターンを形成することが可能な感光性レジスト組成物、及び該感光性レジスト組成物を用いたパターン形成方法を提供すること。
【解決手段】(A)酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂、(B)活性光線または放射線の照射により酸を発生する化合物、(C)主鎖にエーテル結合及びフッ素原子を有する樹脂、を含有する感活性光線または感放射線性樹脂組成物。 (もっと読む)


【課題】放射線に対し高い感度を有し、密着性、高耐熱性、解像度、高透過率、高信頼性の層間絶縁膜を形成でき、またマイクロレンズの形成に用いる場合にあっては高い透過率と良好なメルト形状を有するマイクロレンズを形成でき、保存安定性に優れた感放射線性樹脂組成物を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、(A)共重合体、(B)1,2−キノンジアジド化合物を含有する感放射線性樹脂組成物であって、(A)共重合体が、(a1)不飽和カルボン酸及び/又は不飽和カルボン酸無水物、並びに(a2)エポキシ基含有不飽和化合物を含む単量体を、下記式(1)で表される化合物の存在下で重合する工程を経て製造された共重合体を含む感放射線性樹脂組成物によって達成される。
【化1】



〔式(1)において、ZおよびZ2 は相互に独立に炭素数4〜18のアルキル基または置換されていてもよいベンジル基を示す。〕 (もっと読む)


【解決手段】一般式(1)で表される繰り返し単位を有する高分子化合物(P1)を含むレジスト保護膜材料。


(R1は水素原子、メチル基又はトリフルオロメチル基である。R2a及びR2bは水素原子、又は炭素数1〜15の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基であり、R2aとR2bは互いに結合してこれらが結合する炭素原子と共に環を形成することもできる。R3は単結合、又は炭素数1〜15の直鎖状、分岐状又は環状のアルキレン基である。R4は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基又はフッ素化アルキル基であり、−O−又は−C(=O)−を含んでもよい。)
【効果】上記レジスト保護膜材料はヘキサフルオロアルコールの水酸基が保護された構造を含み、波長200nm以下の放射線に対して優れた透明性を有する。 (もっと読む)


【課題】得られるパターン形状が良好であり、焦点深度に優れ且つ液浸露光時に接触した水等の液浸露光用液体への溶出物の量が少なく、レジスト被膜と水等の液浸露光用液体との後退接触角及び前進接触角のバランスに優れた感放射線性樹脂組成物、それを用いたレジスト成膜方法及びレジストパターン形成方法を提供する。
【解決手段】本樹脂組成物は、式(1)で表される繰り返し単位、及びフッ素原子を有する繰り返し単位を含有する樹脂(A)と、酸解離性基を有する繰り返し単位を含有し、フッ素原子を有する繰り返し単位を含有しない樹脂(B)と、酸発生剤(C)とを含む。
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【課題】ArFエキシマレーザーを高原とするフォトリソグラフィー工程に用いられ、90nm以下の線幅を可能とする短波長の光源を用いた微細なレジストパターンの形成に対応することができ、解像性能に優れるだけでなく、パターン倒れ耐性にも優れた樹脂の提供。
【解決手段】ノルボルナンカルボン酸に由来する特定のラクトン骨格を側鎖に有する(メタ)クリル酸エステル(a−1)および特定のアダマンタン骨格を側鎖に有する(メタ)クリル酸エステル構造単位(a−2)とからなる樹脂(A)と、感放射線性酸発生剤とからなる樹脂組成物。 (もっと読む)


【課題】高い解像性で、良好な形状のレジストパターンを形成できるポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法を提供する。
【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)、および露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するポジ型レジスト組成物であって、前記基材成分(A)が、ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位(a10)、側鎖に3級炭素を有する脂肪族単環式基を有する構成単位(a11)および側鎖に酸解離性基含有エステル構造含有基を有する構成単位(a13)を有する高分子化合物(A1)を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。 (もっと読む)


【課題】高い解像性で、良好な形状のレジストパターンを形成できるポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法を提供する。
【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)、および露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するポジ型レジスト組成物であって、前記基材成分(A)が、ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位(a10)および下記一般式(a11−1)で表される構成単位(a11)を有する高分子化合物(A1)を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。
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【課題】化学増幅型ポジ型レジスト膜の成膜に好適に用いることができる感放射線性組成物を提供する。
【解決手段】(a)一般式(1)で表される化合物と


と、(b)Mで表される感放射線性酸発生剤とを含有する感放射線性組成物。 (もっと読む)


【課題】アルカリ水溶液で現像可能であり、耐薬品性、機械特性に優れる良好な形状のパタ−ンが得られるポジ型感光性樹脂組成物、パターンの製造方法及び電子部品を提供する。
【解決手段】本発明のポジ型感光性樹脂組成物は、(a) アルカリ性水溶液に可溶なポリマーと、(b)光の照射を受けて酸を発生する化合物と、(c)ウレア結合を有する化合物と、(d)アルカリ水溶液に対する(a)成分の溶解を阻害する化合物と、を含有してなることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】解像性能に優れるだけでなく、LWRが小さく、パターン倒れ耐性に優れ、且つ、欠陥性にも優れる。
【解決手段】樹脂(A)と、感放射線性酸発生剤(B)とを含有し、樹脂(A)が、側鎖にノルボルナンカルボン酸に由来するラクトン骨格を有する繰り返し単位(a−1)と、側鎖に1,1,1−トリフルオロ−2−トリフルオロメチル−2−ヒドロキシ構造を有する繰り返し単位(a−2)と、酸解離性基を有する繰り返し単位(a−3)とを含む重合体である感放射線性樹脂組成物。 (もっと読む)


【解決手段】一般式(1)で示されるアセタール化合物。


(R1は水素原子、メチル基、又はトリフルオロメチル基を示す。R2は炭素数1〜10の直鎖状、分岐状又は環状の一価の炭化水素基を示す。R3、R4は、それぞれ独立に水素原子、又は炭素数1〜10の直鎖状、分岐状又は環状の一価の炭化水素基を示す。R2とR3は互いに結合してこれらが結合する炭素原子と共に脂肪族炭化水素環を形成してもよい。X1は単結合又は炭素数1〜4の直鎖状又は分岐状の二価の炭化水素基を示す。)
【効果】本発明のレジスト材料、特に化学増幅ポジ型レジスト材料は、微細加工技術、特にArFリソグラフィー技術において極めて高い解像性を有し、精密な微細加工に極めて有用である。 (もっと読む)


【課題】良好な形状で、LWRの小さいレジストパターンを形成できるポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法を提供する。
【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)、および露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するポジ型レジスト組成物であって、前記基材成分(A)が、ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位(a10)および側鎖に酸解離性基を有し、2個のエステル結合が2価の連結基で繋がった構造で表される構成単位(a14)を有する高分子化合物(A1)を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。 (もっと読む)


【課題】解像性能に優れるだけでなく、LWRが小さく、PEB温度依存性が良好で、パターン倒れ耐性に優れ、且つ、低欠陥性、即ち欠陥性にも優れる感放射線性樹脂及びその樹脂組成物を提供する。
【解決手段】ノルボルナン環とラクトン環が縮合した複素環を有するアルコールの(メタ)アクリル酸エステル及びシクロペンタン環を有するアルコールの(メタ)アクリル酸エステルの共重合体樹脂(A)及びその樹脂と感放射線性酸発生剤(B)とを含有する感放射線性樹脂組成物。 (もっと読む)


【課題】微細なレジストパターンを良好な形状で形成できるポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法を提供する。
【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)、および露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するポジ型レジスト組成物であって、前記基材成分(A)が、ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位(a10)、側鎖に3級炭素を有する脂肪族単環式基を有する構成単位(a11)および側鎖に3級炭素を有する脂肪族多環式基を有する構成単位(a12)を有する高分子化合物(A1)を含有することを特徴とする。 (もっと読む)


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