【課題】リレー光学系と光束走査手段との間の光路長を十分に確保してダイクロイックミラーを配置しつつ、小型化を実現した顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】波面変換素子と光束走査手段とが、互いに光学的に共役な位置となるように配置され、波面変換素子側から平行光束を入射させた際の第２のリレーレンズ群５ｂから該第２のリレーレンズ群５ｂの光束走査手段側の焦点位置Ｆ１までの距離が、光束走査手段側から平行光束を入射させた際の第２のリレーレンズ群５ｂから該第２のリレーレンズ群５ｂの波面変換素子側の焦点位置Ｆ２までの距離よりも長い顕微鏡装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】接眼光学系および双眼鏡筒を短く、軽くかつ安価に構成しながら、超広視野の観察が可能な倒立顕微鏡を提供する。
【解決手段】試料Ａからの光を集光する対物光学系２と、該対物光学系２により集光された試料Ａからの光を中間像として結像させる結像光学系３と、該結像光学系３により結像された試料Ａの中間像Ｂをリレーするリレー光学系６と、該リレー光学系６からの光を分岐する双眼鏡筒５と、該双眼鏡筒５により分岐された中間像を拡大して観察者の目Ｅに虚像として結像させる一対の接眼光学系４とを備え、以下の条件式を満たす倒立顕微鏡１を提供する。
Ｋ＝（Ｆｎｔｌ／Ｆｔｌ）×βＲＬ （１）
Ｆｎｅ＝Ｆｅ×Ｋ （２）
０．３＜Ｋ＜０．９ （３） （もっと読む）

【課題】単一の撮像素子を用いて、試料の像を視差のある２つの像として同時に撮像可能な顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】対物レンズ８により集光された試料Ｓからの光を第１の像として結像させる第１の結像光学系９ａおよび第２の像として結像させる第２の結像光学系９ｂと、第１の結像光学系９ａおよび第２の結像光学系９ｂの焦点位置に配置され、第１の像が結像される第１の撮像領域Ｒ１と第２の像が結像される第２の撮像領域Ｒ２とを有する撮像素子１０とを備える顕微鏡装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】光変換可能な光学標識を用いる光学顕微鏡法を提供する。
【解決手段】第1の活性化放射線を、光変換可能な光学標識(「PTOL」)を含む試料６０１に供給し、試料中のPTOLの第1サブセットを活性化させる。第1の励起放射線を、試料中のPTOLの第1サブセットに供給して少なくともいくつかの活性化されたPTOLを励起させ、PTOLの第1サブセット内の活性化及び励起されたPTOLから放たれる放射線を撮像用光学素子６０６で検出する。第1サブセット内の活性化されたPTOL当たりの平均ボリュームが撮像用光学素子６０６の回折限界分解能ボリューム(「DLRV」)にほぼ等しいか又はそれよりも大きくなるように第1の活性化放射線が制御される （もっと読む）

【課題】試料を照明する方法及びシステムの提供
【解決手段】ＳＰＩＭ顕微鏡法で試料を照明するシステムであって、光線を生成する光源と、光線から光ストリップを形成し、特に、少なくとも１つの方向からの照明平面において試料を実質的に平面照明する手段と、試料から発せられた検出光を検出器に直接又は間接的に送るよう設計され意図された光学系を有する少なくとも１つの対物レンズであって、対物レンズ光学系は光ストリップと相互作用する、少なくとも１つの対物レンズと、を含むとともに、対物レンズ光学系の下流に配置されて、試料を照明するために、光ストリップが、偏向後、対物レンズの光軸に対してゼロ度以外の角度、特に直角に伝播し、且つ／又は対物レンズの光軸に平行しない平面に配置されるように、光ストリップを偏向する光リダイレクト装置をさらに含む、システム。ＳＰＩＭ顕微鏡法で試料を照明する方法にも関する。 （もっと読む）

【課題】非コヒーレント構造光照明を形成するための光学システム及び非コヒーレント構造光照明を用いる光学撮像システムを提供する。
【解決手段】光学系３０は、少なくとも１つのコヒーレント光源３１、空間光変調器３２、複数の光学レンズＬ_１",Ｌ_２",Ｌ_３"、構造光照明パターンのコヒーレンスを崩すための回転ディフューザー３３、対物光学系Ｌ_対物"及び試料を載せるステージ３５を備える。非コヒーレント構造光照明を用いる光学撮像システムは、対物光学系、ビームスプリッター、試料の一連の像を記録するための電荷結合素子カメラ及び、試料を載せ、移動させるためのステージを有する光学顕微鏡、コヒーレント光源、空間光変調器、１/４波長板、複数の光学レンズ及びミラー及び、光路を軸にして連続的に、３６０°回転するかまたは急速に振動するディフューザーを備える。 （もっと読む）

【課題】顕微鏡撮像光線路の球面収差を識別し補正する方法及び装置を提供する。
【解決手段】対物レンズ（１０）と、撮像光線路に配置された試料（９）を担持又は覆うカバースリップ（２）と、を備える顕微鏡（１）による試料（９）の顕微鏡撮像の状況で、顕微鏡撮像光線路（７）の球面誤差を識別する方法であって、測定ビーム（１３０）は、対物レンズ（１０）を通って試料（９）上に、偏心して対物レンズ（１０）の光軸（８）外に案内され、試料（９）とカバースリップの界面（１１６）で反射された測定ビーム（１３２）は、対物レンズ（１０）を通して検出器（１２８）に案内され、検出器（１２８）は、反射測定ビーム（１３２）の強度プロファイルを取得し、球面誤差の存在は、前記強度プロファイルから定性的及び／又は定量的に特定される。 （もっと読む）

【課題】長い物体距離や大きな開口数という高い光学性能を達成するとともに、全長の短いコンデンサレンズ、及び、このコンデンサレンズを有する顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】顕微鏡装置１０に用いられ、標本からの観察光を集光するコンデンサレンズＣＬは、観察光が集光されて出射する側から順に、正の屈折力を有する第１レンズ群Ｇ１と、正の屈折力を有する第２レンズ群Ｇ２と、正の屈折力を有する第３レンズ群Ｇ３と、から構成され、所定の条件を満足することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】過大な入射光による光検出器の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行う。
【解決手段】光源からのレーザ光を標本に２次元走査する走査手段２１と、標本からの光を検出し、検出した光の輝度に相当する光強度信号を出力する光検出手段３２と、光検出手段を保護する保護手段３３と、光強度信号を走査位置に対応する画素毎に積算して、標本の画像を生成する画像生成手段４とを備え、保護手段が、光強度信号が閾値を超えたか否かを判定する閾値判定部３４と、閾値判定部により閾値を超えたと判定された光強度信号が、連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定する領域判定部３５と、領域判定部により、閾値を超えたと判定された光強度信号が連続する複数の画素に亘って出力されたと判定された場合に、光検出手段による出力を停止させるように制御する制御部３６とを備えた走査型レーザ顕微鏡１００を提供する。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ電磁波の検出精度を向上させることができるテラヘルツ放射顕微鏡、これに用いられる、光伝導素子、レンズ及びデバイスの製造方法を提供すること。
【解決手段】光伝導素子は、基材と、電極と、膜材とを具備する。前記基材は、光源から発生したパルスレーザーが、観察対象であるデバイスに照射されることにより発生するテラヘルツ電磁波が入射する入射面を有する。前記電極は、前記基材に形成され、前記基材の入射面に入射された前記テラヘルツ電磁波を検出する。前記膜材は、前記基材の前記入射面に形成され、前記テラヘルツ電磁波を透過させ、前記パルスレーザーを反射させる。 （もっと読む）

【課題】最適な検鏡法を容易に判別する技術を提供する。
【解決手段】拡大観察装置１００は、複数の検鏡法を切り換える切換順序を決定し（Ｓ１０１）、決定された切換順序に従って複数の検鏡法を切り換える（Ｓ１０２）。さらに、各検鏡法への切換後に試料の画像を生成し（Ｓ１０３）、画像が生成される毎に、生成された画像を表示する（Ｓ１０５）。 （もっと読む）

【課題】タイムラプス観察において、標本に与えるダメージを抑制しながら、標本の所定の撮像対象領域を撮像したタイムラプス画像を取得する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】初回のタイムラプス画像の取得処理の前に、タイムラプス画像として画像化すべき領域である撮像対象領域のうちの一部の領域（参照領域）を撮像して、参照画像を取得する。所定の時間間隔毎に行うタイムラプス画像の取得処理の前に、撮像領域のサイズを参照領域のサイズと同じサイズに設定し、参照画像を取得した位置を含む互いに対物レンズの光軸方向に異なる複数の位置で複数の比較対象画像を取得する。参照画像と複数の比較対象画像との比較し、その結果に基づいて、タイムラプス画像を取得するときの撮像領域を撮像対象領域に一致させる。 （もっと読む）

【課題】顕微鏡内の照明光と検出光を分配させるための装置およびその方法を提供する。
【解決手段】装置は、照明光１４を試料１８へと案内し、試料１８からの検出光２０を少なくとも１つの検出器へと案内する光分配光学系１２を有する。光分配光学系１２は、第１の光路内に配置され、試料１８へと向けられた照明光１４を第１の偏光状態に変換する偏光ユニット２８、３０、３２と、第１の偏光状態に変換された照明光１４を試料１８へと案内し、試料１８からの検出光の、第１の偏光状態を示す第１の部分２０ａを第１の光路へと戻すように案内する一方で、検出光の、第１の偏光状態とは異なる第２の偏光状態を有する第２の部分２０ｂを第２の光路へと案内するような偏光依存性を有するビームスプリッタ３４と、検出光の第１の部分２０ａと第２の部分２０ｂを相互に合成して、これらを検出器へと案内するビームコンバイナ３８と、を包含する。 （もっと読む）

【課題】良好に収差が補正されている必要がある励起側の開口数によらず蛍光側の取り込み開口数を大きくすることにより、より明るい画像を取得することが可能な対物レンズユニット及びこの対物レンズユニットを有する走査型顕微鏡を提供する。
【解決手段】走査型顕微鏡１０に用いられ、光源２０から放射された励起光（第１の波長の照明光）を試料６０に照射して走査し、この励起光により励起した試料６０から放射される蛍光（第２の波長の観察光）を集光する対物レンズユニット３９であって、対物レンズ３７と、励起光を遮断し、蛍光を透過する輪帯状のフィルタであって、対物レンズ３７の射出瞳を通過する励起光の光束径を、この射出瞳を通過する対物レンズ３７の最大開口数の光束の径よりも小さくするフィルタ３８と、を有する。 （もっと読む）

【課題】偽合焦を防止することができる合焦技術を提供することを課題とする。
【解決手段】顕微鏡装置１は、Ｚ軸駆動部１４により標本６とＣＣＤカメラ１３との間隔を所定の探索範囲内で変化させて、コントラスト算出部３ａによりＣＣＤカメラ１３で撮像された標本６の画像データから各Ｚ位置における画像のコントラストを算出する。顕微鏡装置１は、探索範囲内で算出されたコントラストの最大値に対するコントラストの最小値の割合が所定値以下である場合に、探索範囲内に合焦位置が存在すると判定する。 （もっと読む）

【課題】対象物を再撮像することにより複数の単位領域に対応する連結画像データを得る場合に連結画像データを効率よく短時間で得ることが可能な拡大観察装置、拡大観察方法および拡大観察プログラムを提供する。
【解決手段】観察対象物の表面における複数の単位領域がそれぞれ撮像され、複数の単位領域にそれぞれ対応する複数の画像データが生成される。生成された複数の画像データが記憶され、記憶された複数の画像データが連結されることにより連結画像データが生成される。複数の単位領域を含む対象物の画像が領域提示画像として表示される。使用者からの選択指示により複数の単位領域のうちのいずれかが選択されると、選択された単位領域が再撮像されることにより、選択された単位領域に対応する画像データが再撮像データとして生成される。生成された再撮像データは、選択された単位領域に対応する画像データと置換可能に記憶される。 （もっと読む）

【課題】ユーザーによる情報の入力あるいは設定操作の手間を省くことができる顕微鏡システム、および顕微鏡システムの制御プログラムを提供すること。
【解決手段】観察試料を照明するための光源と、前記光源の光量を調節するための光量調節手段と、前記光量調節手段の操作量を検出する検出手段と、前記検出手段で検出された前記光量調節手段の前記操作量に応じて、前記光量調節手段による前記光量の調節量を変化させる制御手段とを備えたことを特徴とする顕微鏡システム。 （もっと読む）

【課題】パターン段差の小さいウエハなど、明視野観察では十分なコントラストが得られない試料に対してコントラストの高い画像の観察又は撮像を可能にする。
【解決手段】撮像に用いる対物レンズを通して試料を照明し、撮像光学系に開口フィルタを設けて、明視野観察成分の光を大幅に減衰させて撮像する。 （もっと読む）

【課題】細胞の屈折率分布に基づいた高いコントラストの画像を得ることを目的とし、また蛍光画像と微分干渉画像とを１つの顕微鏡装置で得ることを目的とする。
【解決手段】本発明の顕微鏡装置１は、試料Ｓに照射するレーザ光Ｌを発振する光源４と、レーザ光Ｌを偏光方向の異なる２つの偏光に分離するウォラストンプリズム２１と、２つの偏光を試料Ｓの離間した２点に集光する第１対物レンズ２２と、試料Ｓを透過した２つの偏光を平行光に変換する第２対物レンズ２４と、第２対物レンズ２４を通過した２つの偏光を再帰反射させるコーナーキューブ２５と、ウォラストンプリズム２１に入射するレーザ光Ｌを直線偏光に変換し、コーナーキューブ２５で再帰反射して試料Ｓを透過した２つの偏光が干渉する偏光子２０と、を備えている。 （もっと読む）