【課題】省スペース、省エネルギを達成できる顕微鏡用環境維持装置を提供する。
【解決手段】標本２３を支持するステージ３と、ステージ３上の標本２３からの拡散光を平行光にする対物レンズ５，１０５と、ステージ３に取り付けられ、対物レンズ５，１０５をその光軸方向へ移動可能にする焦準装置４とを、密閉空間を形成する第１チャンバ２に収容する。第１チャンバ２に対物レンズ５，１０５からの平行光を透過させると平行平面ガラス１２１を設けた。 （もっと読む）

【課題】微弱蛍光観察においてＳ／Ｎ比の良い画像を取得することが可能であり、また、対物レンズを用いた全反射照明のための光学調整を容易にすることが可能なイマージョン物質を用いた観察システム、測光システム、観察方法、及び測光方法を提供する。
【解決手段】低蛍光なイマージョン物質を用いてなる蛍光観察又は蛍光測光システムであって、前記低蛍光なイマージョン物質が次の条件式を満足し、且つ、前記低蛍光なイマージョン物質におけるｄ線（５８７．５６ｎｍ）における屈折率ｎｄが１．５０以上１．７０未満である。
Ｂ_IM'／Ｂ_IM≦０．７
ただし、Ｂ_IM'は前記低蛍光なイマージョン物質の自家蛍光の強度の平均値、Ｂ_IMは従来一般的に使用されているイマージョン物質の自家蛍光の強度の平均値である。 （もっと読む）

【課題】微弱蛍光観察においてＳ／Ｎ比の良い画像を取得することが可能であり、また、対物レンズを用いた全反射照明のための光学調整を容易にすることが可能な、高開口数を持つ光学システムとしての、イマージョン物質を用いた観察システム、測光システム、観察方法、及び測光方法を提供する。
【解決手段】低蛍光なイマージョン物質を用いてなる蛍光観察又は蛍光測光システムであって、前記低蛍光なイマージョン物質が次の条件式を満足し、且つ、前記低蛍光なイマージョン物質におけるｄ線（５８７．５６ｎｍ）における屈折率ｎｄが１．７０以上である。
Ｂ_IM'／Ｂ_IM≦０．７
ただし、Ｂ_IM'は前記低蛍光なイマージョン物質の自家蛍光の強度の平均値、Ｂ_IMは従来一般的に使用されているイマージョン物質の自家蛍光の強度の平均値である。 （もっと読む）

【課題】高精度、高品質な蛍光観察、蛍光計測、更には微弱蛍光の観察や計測が可能なカバーガラスを用いた蛍光観察システム、蛍光測光システム、蛍光観察方法、及び蛍光測光方法を提供する。
【解決手段】低蛍光なカバーガラスを用いてなる蛍光観察又は蛍光測光システムであって、前記低蛍光なカバーガラスが次の条件式を満足する。
Ｂ_CG'／Ｂ_CG≦０．７
ただし、Ｂ_CG'は前記低蛍光なカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値、Ｂ_CGは従来一般的に使用されているカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値である。 （もっと読む）

【課題】光を照射することによる対象物への悪影響を排除すること。
【解決手段】制御装置１０５は、対物レンズ１０３を移動させながら対物レンズ１０３を通して入力される対象物の像をカメラ１０４で撮影し、対象物を撮影する際に、カメラ１０４による撮影時のみ対象物に光を照射するように透過光照明装置１０６およびシャッター１０７を制御する。制御装置１０５は、対物レンズ１０３を移動させながら撮影した複数の画像をつなぎ合わせて１枚の結合画像を生成して、ＰＣ１０９へ出力する。 （もっと読む）

【課題】被検体の表面状態によらず安定した合焦判定を行える顕微鏡を提供する。
【解決手段】顕微鏡は、対物レンズ１１と結像レンズ１２と接眼レンズ１３からなる観察光学系１０と、二つの指標像を投射する指標像投射部３０と、指標像投射部３０の光路を観察光学系１０の光路に結合するハーフミラー２６とを有している。指標像投射部３０は、光源２１と開口部２２と指標２３とスプリットプリズム２４と結像レンズ２５と回転機構３１を有している。指標２３は直線状のパターンを有し、被検体Ｓと共役な位置に配置されている。回転機構３１はスプリットプリズム２４と指標２３を光軸周りに回転可能に支持している。指標像投射部３０はハーフミラー２６および対物レンズ１１と共に、対物レンズ１１を介して被検体Ｓに二つの指標像を異なる方向から投影する指標投影光学系を構成している。被検体Ｓに投影された指標像は観察光学系１０によって観察される。 （もっと読む）

【課題】生体のような高さを持つ試料に対して、迅速かつ精度よく焦点合わせを行うことができる生体観察装置を提供することを目的とする。
【解決手段】試料４を観察するための対物レンズ６を含む光学系７と、光学系７の光軸１０方向に沿う対物レンズ６と試料４との相対位置を調節する焦点移動機構９と、スポット光３を照射する複数の照明部２とを備え、照明部２は、スポット光３が対物レンズ６の焦点面で交差するように配置されている生体観察装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】位相差顕微鏡において、位相差板の位置を選択的に切り替えただけでは１つの位相差情報しか取得できないので、不均一な厚みの細胞を有する試料を良好に観察できないという問題を解決する。
【解決手段】ガラス素子の光透過部８ａと、回折光１４の位相をπ／２ずらすことができるように薄膜を蒸着させた位相差部８ｂとが交互に等間隔でＸ軸方向に配列されている縞状位相差板８が細胞１０に対して結像側の瞳位置に配置される。縞状位相差板８が駆動部１６によりＸＹ平面上をＸ軸方向へ移動して、細胞１０に対する縞状位相差板８の光透過部８ａと位相差部８ｂとのＸ軸方向の位置関係が変化する。したがって、縞状位相差板８の移動の前後において、光透過部８ａを透過した回折光１４と、位相差部８ｂを透過した回折光１４との干渉状態が変化するので、結像面上で位相差が強められたり弱められたりする位置、すなわち像のコントラストがつく位置が変化して、像の揺らぎを観察できる。 （もっと読む）

【課題】フォーカス検出光学系と標本観察光学系とに温度変化が生じる場合にも、正確にフォーカス検出を行うことができ、標本のフォーカス状態を確実に維持できること。
【解決手段】顕微鏡１００は、観察光学系が有する対物レンズ３を共用したフォーカス検出手段として、フォーカス検出ユニット２１、ダイクロイックミラー３９および対物レンズ３を用いて構成されるフォーカス検出光学系を備えるとともに、加熱装置２２と、焦準機構２３と、制御部２４とを備え、制御部２４が有する温度制御部２４ａは、加熱装置２２が有するカーボンヒータを加熱させ、結像レンズ４，３６の各温度を各々所定の目標温度に一致させる制御を行っている。 （もっと読む）

【課題】 基板上の検査領域を容易に識別して走査可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。
【解決手段】 基板1上の光反応物質に検査光を照射する光源35、検査光により光反応物質で生じた光反応を検出するセンサー27、基板1上の光反応が検出される光反応部位に探針40を配置する配置機構145、及び探針40に光反応部位を走査させる走査機構45を備える。 （もっと読む）

【課題】対物レンズ交換時に、焦準部とステージとが干渉することなく素早く対物レンズの切り換えを行うことができ、且つ、機械的摩耗の少ない倒立顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】ステージコントロール部２２は、観察光軸Ｌに対して垂直な平面内でのステージ１の位置を検出する。焦準コントロール部２４は、観察光軸Ｌの方向における焦準部１７の位置を検出する。メインコントロール部２０は、レボルバ１０を回転させたときにレボルバ１０の保持している対物レンズ９が描く回転軌跡の情報を記憶しておくと共に、ステージコントロール部２２により検出されるステージ１の位置の情報と、焦準コントロール部２４により検出される焦準部１７の位置の情報と、及び上述した対物レンズ９の回転軌跡の情報とに基づいて、対物レンズ９とステージ１との干渉の有無を判定する。 （もっと読む）

【課題】 偏光顕微鏡において、被測定物に比較的大きな磁界を効率的に印加し、それにより被測定物の動的な磁化応答を観測することを可能とすることにある。
【解決手段】 被測定物の磁化状態の観察が可能な偏光顕微鏡１０である。そして、被測定物が配置されるステージ４０と、偏平形状で中央に貫通孔３２ａを有したパンケーキコイル３２と、中央に光を透過可能な透過口が形成され該透過口の部分にパンケーキコイル３２を保持する平板形状のコイルホルダ３１と、コイルホルダ３１をステージ４０と対物レンズ１４との間でステージ面に対して垂直方向に位置調整可能な状態で固定する調整ネジ３６…とを備え、被測定物５０からの光がコイルホルダ３１の中央の透過口とパンケーキコイル３２の貫通孔３２ａを通過して対物レンズ１４により集光される構成とした。 （もっと読む）

【課題】 光源としてシリコン系樹脂封入型ＬＥＤ素子を用いた光学顕微鏡用の照明装置又はそのような照明部を有する光学顕微鏡を提供を提供すること。
【解決手段】 本発明の光学顕微鏡用の照明装置は、光学顕微鏡に備え付け可能な函体２２と、函体内に配置され少なくとも一つのシリコン系樹脂封入型ＬＥＤ素子が固定された基台部１６と、ＬＥＤ素子を挟んで基台部とは反対側の函体の開口部に配置されたコレクタレンズ２６とを含み、函体内にてコレクタレンズと基台部との間の空間が密封されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 光照射等に弱い生物標本や低反射率の試料に対して合焦位置および試料位置を高精度で計測できる標本合焦位置高精度計測法を提供する。
【解決手段】 試料境界面からの全反射光を用いることにより、透明試料等で低反射率の試料においても、強い反射光を得ることができる。試料境界面が高さ方向にΔｚ変化すると、反射光は、試料境界面内で横方向にΔｘずれた位置から出てくるとみなされる。このΔｘを、試料位置計測用光センサーで計測する。ΔｚとΔｘの間には、Δｘ＝２tanθ×Δｚの関係があるので、入射角θを大きくすることにより、同じΔｚの変化量に対しても、より大きなΔｘの変化量を得ることができる。即ち、全反射による強い反射光強度とあわせ、より高精度でΔｚを求めることができる。光源よりの入射光を対物レンズの辺縁部分の全反射領域を含む高開口数の領域に通すと、透明試料等も高精度で合焦位置および試料位置を計測できる。 （もっと読む）

【課題】レーザ光を透過する透過物質を含む観察試料に対しても正確な観察画像を取得できる走査型共焦点レーザ顕微鏡を提供する。
【解決手段】走査型共焦点レーザ顕微鏡のコントロール部３００は、顕微鏡部１００内の受光素子１３で検出されるレーザ光の輝度情報を抽出して観察試料１０の観察画像を構築する演算部３１と、観察試料１０の透過物質の厚みに対する画像補正データを記憶しておくメモリ３３と、メモリ３３から画像補正データを読み出すＣＰＵ３６と、メモリ３３に記憶されている画像補正データに基づいて観察画像を補正する画像処理部３５とを有している。コントロール部３００には、観察試料１０の透過物質の厚みに関する情報を入力するためのＧＵＩと画像処理部３５で処理された観察画像とを表示する表示部３４と、表示部３４に表示されるＧＵＩを操作するための指示部３７とが接続されている。 （もっと読む）

【課題】分析範囲のスペクトルのみを効率よく分析することのできる分光測定装置を提供する。
【解決手段】試料へ照射するスペクトル測定用の測定光を射出する測定光射出手段１６と、試料の分析範囲を測定領域内の各測定点からスペクトルを取得する測定光検出手段１８と、各測定点でのスペクトルを、その測定点の位置情報と関連付けて記憶する記憶手段１８と、分析範囲内に含まれる測定点のスペクトルを記憶手段１８から読み出し、読み出した測定点のスペクトルの積算値または平均値を算出し、分析範囲の積算または平均スペクトルを求めるスペクトル演算手段２４と、を備えたことを特徴とする分光測定装置１０。 （もっと読む）

【課題】所望の観察位置に対物レンズの前側焦点位置を設定する作業の煩雑さを改善した自動焦点調節装置を内蔵する顕微鏡を提供すること。
【解決手段】光源２０からの光に基づく光像を対物レンズ１２を介して対象物上に結像させ、前記対象物からの前記光像の反射光を前記対物レンズを介して前記光像の反射像を結像させる焦点検出光学系７と、前記焦点検出光学系の結像位置に設けられて前記反射像を検出する光電変換器３０と、前記光電変換器で得られた前記反射像の信号に基づいて前記対物レンズを含む観察光学系３の結像位置を調節する観察光学系結像調節手段５２と、前記光電変換器で得られた前記反射像の信号に基づいて前記焦点検出光学系の結像位置を調節する焦点検出光学系結像調節手段８と、前記観察光学系結像調節手段５２または前記焦点検出光学系結像調節手段８に前記光電変換器３０からの信号を切替える切替制御手段４１を有する顕微鏡。 （もっと読む）

【課題】、標本の内部まで観察できるとともに、広範囲に渡る光刺激を短時間で行うことのできる顕微鏡装置を提供することを目的とする。
【解決手段】観察用レーザ光を出射するレーザ光源１１と、レーザ光源から出射された観察用レーザ光を、対物レンズ１７を介して標本Ａの所定の観察面内で２次元的に走査する走査光学ユニット１３とを有する少なくとも１つの観察用走査光学系１と、光刺激に用いられる波長を有する光を出射するランプ光源２１を有し、ランプ光源２１から発せられた光を標本Ａに照射する少なくとも１つの刺激用光学系２とを具備する顕微鏡装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】音響光学装置を用いたきめ細かい出力変調およびオンオフによる多様な光刺激や蛍光観察と、試料の深い部位における明るく鮮明な蛍光画像の取得を可能とする。
【解決手段】パルスレーザ光源２と、極短パルスレーザ光Ｌを試料Ａに照射し、試料Ａにおいて発せられた蛍光Ｆを観察する観察装置本体３と、パルスレーザ光源２と観察装置本体３との間に配置され、パルスレーザ光源２から発せられ、観察装置本体３に導入される極短パルスレーザ光Ｌを調節する導入光学系４とを備え、導入光学系４が、パルスレーザ光源２から発せられる極短パルスレーザ光Ｌのオンオフまたは出力調整を行う音響光学装置３１を含む第１の光路２０と、音響光学装置３１を迂回する第２の光路２２とを並列に備えるとともに、これらの光路２０，２２の少なくとも一方に極短パルスレーザ光Ｌを通過させる光路選択装置２４を備える多光子励起型観察装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】画像取得装置において回路を高周波数化、複雑化することなく、高解像度の画像を得る。
【解決手段】レーザビームで試料を走査するレーザ顕微鏡等において、１ラインの走査方向における走査速度の変化に応じてサンプリングクロックＳの１周期Ｔ０を不等時間間隔に変化させ、クロックパルスの立ち上がり位置Ｓｕでサンプリングを行うことでサンプリング幅Ｗ０を一定に制御するとともに、デューティー比Ｒの異なる複数のサンプリングクロックＳ１〜Ｓ４（Ｓ）の各々のクロックパルスの立ち下がり位置Ｓｄでサンプリングを行うことで、サンプリング幅Ｗ０をほぼ等分に補完する複数のサンプリングを行う。サンプリングクロックＳ自体の周波数を大きくすることなく、サンプリング数の増加による観察画像の高解像度化を実現できる。 （もっと読む）