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Fターム[2H052AD32]の内容

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Fターム[2H052AD32]に分類される特許

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【課題】最適な結像を達成する試料の検査方法を提供する。
【解決手段】試料を顕微鏡で検査する方法は、試料を照明するために空間的にコヒーレントな光を少なくとも1つの連続的な波長範囲、または連続的に同調可能な波長範囲で発生し、試料および/または所定の検査方法に応じて照明光の1つまたは複数の波長または波長範囲を選択する。次に選択された波長または波長範囲の照明光で試料を照明し、引き続き照明光と該試料から来る放出光とを異なる光路に分離し、試料から反射する検出光路内の照明光を検出前に除去し、該放出光を検出する。このような方法では、照明光の波長または波長範囲の選択は、所定の制御変数(R)が最大値をとるように、該検出光と照明光との分離、および照明光の除去と同調される。 (もっと読む)


【課題】試料に最適な検鏡法により取得したカラー情報を付加した3次元像を表示することができる共焦点走査型顕微鏡を提供する。
【解決手段】レーザ光を発生するレーザ光源4、レーザ光を対物レンズ12を介して試料2上で2次元走査するとともに、試料2からの検出光により共焦点画像を取得するレーザ光学系、白色光源19、白色光源19より発生する照明光を対物レンズ12を介して試料2に照射し、試料2からの検出光によりカラー画像を取得する光学顕微鏡光学系を有し、対物レンズ12と試料2の相対距離を変化しながら光学顕微鏡光学系より取得される複数のカラー画像から焦点合成画像を生成するとともに、レーザ光学系より取得される複数の共焦点画像から前記試料の高さ情報を含む3次元像を生成し、この3次元像に焦点合成画像を組み合わせて表示する。 (もっと読む)


【課題】手術部位の開口部が狭く奥行きのある部位を観察する場合でも、光束が開口部によってけられることなく、明るい像の立体観察が可能な手術用顕微鏡を提供する。
【解決手段】顕微鏡の鏡体102内に三つの観察光学系101と各観察光学系と夫々対をなす三つの撮像手段105a、105b、105cとを並列配置すると共に、両側の撮像手段105a、105cにより得られた画像を表示する第1の表示手段110と、第1の表示手段110とは別の第2の表示手段111とを備え、第2の表示手段111へ中央の前記撮像手段105bにより得られた画像を表示するようになっている。 (もっと読む)


【課題】照明装置の小型化を図りながら、レーザ光の波長選択性の自由度を向上させることのできる走査型レーザ顕微鏡装置及び顕微鏡用照明装置を提供すること。
【解決手段】異なる複数の波長を有するレーザ光を発生する光源部1と、レーザ光を2つの光路に分割する分割光学系2と、分割された一方のレーザ光の光路L1に設けられ、該レーザ光から標本を励起するための所定の波長成分の光を選択する第1の音響光学装置3と、分割された他方のレーザ光の光路L2に設けられ、該レーザ光から標本に刺激を与えるための所定の波長成分の光を選択する第2の音響光学装置4と、第1の音響光学装置3からのレーザ光を、対物レンズを介して標本の所定の観察面上で2次元的に走査する観察用走査光学系51と、第2の音響光学装置4からのレーザ光を、対物レンズを介して標本に照射する刺激用光学系52とを具備する走査型レーザ顕微鏡装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】発生している蛍光をより見やすく表示することが可能な、顕微鏡システムおよび蛍光を可視化するための記録方法を提供すること。
【解決手段】イメージセンサ及びイメージセンサに関係する回路は、一連の蛍光画像を記録するために用いられる。前記イメージセンサは、入射された放射によって生じる電荷を蓄積するための複数の画素を有し、前記回路は、画素に蓄積された電荷を二進数に変換する。回路の利得は調整可能である。利得は、記録工程の開始時において、適切な最大値に設定される。記録工程において、記録された画像の1つ以上の輝度値が、適切に選択された最大輝度値を超えることが決定された場合には、利得は減少される。記録開始時に利得を最大値に設定することにより、弱い蛍光によっても重要な画像信号が確実に得られる。 (もっと読む)


【課題】照明光の光量を大幅に変化させることなく輪帯照明の大きさを変えることのできる顕微鏡を提供する。
【解決手段】対物レンズ9を介して標本11の落射照明を行う顕微鏡において、光源2からの光を集光して輪帯状の光源像を形成するためのトーリックレンズ13と、円錐形状の凹面を備えた凹面アキシコンレンズ14aと、円錐形状の凸面を備えた凸面アキシコンレンズ14bとを有する暗視野観察ユニット4と、光源2からの照明光を対物レンズ9へ導きかつ標本11からの観察光を通過させる反射手段8と、を有しており、凹面アキシコンレンズ14aと凸面アキシコンレンズ14bとの光軸上の間隔を変化させることにより、前記光源像の輪帯径を変更する。 (もっと読む)


【課題】全反射照明範囲を一定に保ちながら、標本における異なる深部でのLSM画像を高NAで精度よく取得可能なレーザ顕微鏡を提供する。
【解決手段】レーザ走査照明光学系10と全反射照明光学系20を有し、2つの照明光学系が対物レンズ12を共有するレーザ顕微鏡において、対物レンズ12と標本50との距離の変化に応じて、全反射照明光束の主光線の対物レンズ12の瞳面とのなす角度を、標本50における全反射照明範囲が同じ範囲に保たれる角度に変化させ得る、全反射照明主光線角度調整手段として結像レンズ13よりも光源側の全反射照明光路上に配置され、傾斜角度が可変に構成された、平行平面板23を有し、対物レンズ12と標本50との距離の変動にかかわらず、標本50への全反射照明範囲を一定に保ち得るように構成されている。 (もっと読む)


【課題】 測定対象物の位置や形状などの測定を高精度又は効率的に行なうことが可能な光学測定装置を提供する。
【解決手段】 投光器11では、互いに同一波長成分の光を出射する発光素子14同士が、互いに光の干渉が生じない非干渉距離に配置され、互いに異なる波長成分の光を出射する発光素子14同士が非干渉距離よりも短い干渉距離に配置されている。受光器13に配列された各受光素子15の前面には、それぞれに対応した発光素子14からの光と同一波長成分の光の通過を許容し、他の波長成分の光の通過を阻止するバンドパスフィルタ21が配されている (もっと読む)


【課題】 光学部品の切り替えあるいは交換を行った際に生ずる観察用レーザ光と刺激用レーザ光との位置ずれの補正を容易に行うことを可能として精度の高い観察を行う。
【解決手段】 観察用レーザ光Lを発する観察用レーザ光源2と、観察用レーザ光Lを、対物レンズ10を介して試料A上で2次元的に走査する第1の光走査装置3と、観察用レーザ光Lが照射された試料Aから発せられる光Fを検出する検出光学系12,13と、刺激用レーザ光Lを発する刺激用レーザ光源4と、刺激用レーザ光Lを、対物レンズ10を介して試料A上で2次元的に走査する第2の光走査装置5と、観察用レーザ光Lおよび刺激用レーザ光Lにより形成されるスポット光の位置を検出するスポット位置検出手段14と、検出された観察用レーザ光Lおよび刺激用レーザ光Lのスポット光の位置を補正する補正手段15とを備える走査型レーザ顕微鏡1を提供する。 (もっと読む)


【課題】レーザー溶接時に発生する閃光,プラズマなどの強力な光から目を保護すると共にリアルタイムで溶接部位を拡大して肉眼で確認できるレーザー溶接用顕微鏡を提供する。
【解決手段】本体の内部に取り付けられ,目的対象物の倍率拡大を調節する接眼レンズと,接眼レンズの下部に取り付けられ,目的対象物が1つとして見られるように補正するプリズムと,接眼レンズを見る人の焦点範囲内で目的対象物が見られるように焦点距離を調節する対物レンズと,赤外線閃光が発生すると対物レンズを遮断し,溶接完了後に対物レンズを開放して目的対象物の溶接状態をリアルタイムで見せるLCシャッターと,レーザー溶接時に発生する赤外線閃光を遮断するフィルターレンズと,フィルターレンズの下部に設けられ,有害な波長を遮断する全反射レンズと,溶接割れから前記全反射レンズを安全に保護する安全ガラスとを備えてなる。 (もっと読む)


【課題】 共焦点光学系と通常の明視野光学系とを両立させるとともに、通常の明視野光学系から共焦点光学系に切り替えたときに生じる光量低下を低減することが可能な光学式検査装置を提供する。
【解決手段】 光学式検査装置1は、光源11から試料15を照明する照明光を絞り込む第1ピンホール板30と、照明光が試料15で反射した反射光を絞り込む第2ピンホール板32と、と互いに共役な位置に設け、これらピンホール板30、32を着脱することにより共焦点光学系と通常の明視野光学系とを切換えることとし、第1ピンホール板30上のピンホールP1〜P5に入射する照明光を集光する集光光学素子31を第1ピンホール板30と同時に着脱することとした。 (もっと読む)


【課題】少なくとも3つ以上の各観察法の各光学素子ユニットを切り換える際に、両端部以外に配置された光学素子ユニットの移動方向に関係なく、所定の位置に位置決めできる操作性を向上させること。
【解決手段】キューブ保持部材21をガイド機構20に沿って移動させて当該キューブ保持部材21に保持されている明視野観察用キューブ12−1、暗視野観察用キューブ12−2又はDIC観察用キューブ12−3を観察光軸L上に配置する場合、選択ツマミ43を押し込むことによりピン突出用の孔から出没する挿脱ピン52と、この挿脱ピン52が当接することによりキューブ保持部材21の移動範囲を制限する制限板57とを有する制限機構50を設けた。 (もっと読む)


【課題】光源から射出された射出光を瞳位置に設けられたレンズ形状の大きさを変化させることで射出される照明光を効率的に標本に照射し、またレンズに切り換え機構を構成することで光源像の大きさを変更でき、安価で小型な顕微鏡の照明装置を提供すること。
【解決手段】本発明は、LED素子21と、LED素子21から射出された光を集光する集光レンズ22と、集光レンズ22にて集光された光を対物レンズ4へ照射する複数のロッドレンズ11と、ロッドレンズ11をスライド式に切り換える切り換えスライダ29を備えることで、光路長が短い小型で安価な構成にでき、切り換え可能なロッドレンズ11により照明光を効率的に標本に照射できる顕微鏡の照明装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】 スポットフレアを確実に除去することができる顕微鏡システム及びフレア防止光学装置を提供する。
【解決手段】 光源5からの照明光が入射されるコンデンサ6の端部で、コンデンサ6の瞳位置の近傍に、入射光の光束全体を覆うことなく、中央光束のみを遮光する程度の大きさの遮光板163を有する遮光手段16を配置する。 (もっと読む)


【課題】 複数波長の超短パルスレーザ光を標本に照射して、複数波長の多光子蛍光を観察することができる、小型で、しかも、コストの低い多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供する。
【解決手段】 単一波長の超短パルスレーザ光L1を出射するレーザ光源5と、該レーザ光源5からの超短パルスレーザ光L1を入射させ、超短パルスレーザ光L1のスペクトルを拡散させる光ファイバ8と、該光ファイバ8から出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光L2を走査するレーザ走査部12と、走査された超短パルスレーザ光L2を標本Aに集光させる対物光学系15と、標本Aにおける超短パルスレーザ光L2の集光位置から発せられた多光子蛍光Fを検出する光検出器18と、超短パルスレーザ光に対する群速度分散を補償する分散補償光学系31とを備える多光子励起走査型レーザ顕微鏡1を提供する。 (もっと読む)


【課題】 蛍光撮影の感度を低下させることなく、撮像手段を共用して明視野撮影及び蛍光撮影が可能な顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】 可視光を生成する明視野撮影用光源2と、励起光を生成する蛍光撮影用光源11と、撮影対象物からの光を電気信号に変換し、画像データを生成するイメージセンサー8と、可視光をイメージセンサー8に伝搬する伝搬経路であって、励起光をイメージセンサー8に伝搬する伝搬経路を共通伝搬路B2とし、この共通伝搬路B2上における撮影対象物よりも下手に挿抜自在に配置され、蛍光撮影用光源11からの光の光学特性を調整する励起フィルター21、及び、特定波長よりも短い波長の光を吸収する吸収フィルター23を有するフィルターユニット14と、共通伝搬路B2に含まれない可視光の伝搬経路上に配置され、可視光よりも長い波長の光を吸収する赤外線カットフィルター4とを備えて構成される。 (もっと読む)


【課題】対物レンズからの試料の像の光路を接眼レンズ側又は撮像装置側に切り替える操作により、簡単に目視観察と撮像装置による試料像の撮像とを行うこと。
【解決手段】液晶ディスプレイ23の画面上に表示されているライブ表示開始/停止ボタン35を操作するだけで、自動的に対物レンズ9からの試料3の像の光路が通常の接眼レンズ11側から撮像装置12側へ切り替える。 (もっと読む)


【課題】 照明光の輝度を上げても光学顕微鏡の視野のサーマルドリフトが生じにくく、微小な異物等も確実に検出・同定できる顕微光学分析システムを提供する。
【解決手段】 顕微光学分析システム1は、試料を拡大観察するための光学顕微鏡13と、光学顕微鏡13の観察視野上にて赤外分光分析を行う、光学分析部としての赤外分光分析部20と、光学顕微鏡内にて観察視野を照らし出すための照明機構28とを有する。照明機構28は、第一端部側に観察視野に向けて照明光LBを照出する照明光照出部を有するとともに第二端側が前記光学顕微鏡外に延出するライトガイド部32と、該ライトガイド部32の第二端側に照明光を供給する光源23とを有してなる。 (もっと読む)


無焦点ゾーン内に設置された2つの平行ミラー(321、320)を有する分離および方向変換ブロックを含む共焦点光学装置。
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【課題】 対物レンズ切換時の絞りの調整作業を不要にして顕微鏡の操作性を向上させることができる顕微鏡用コンデンサ及び顕微鏡を提供する。
【解決手段】 スライド部材5を光軸L方向へ挿入すると、スライド部材5の第1傾斜部5bがピン8aに当接する。スライド部材5の挿入にしたがってピン8aは第1傾斜部5bに押され、回転部材8は反時計方向(絞り7の開口領域を小さくする方向)へ回転する。規制ピン5aがコンデンサ本体下部6に当接する直前にスライド部材5が達したとき、絞り7の開口領域は円7cで示す大きさまで小さくなる。 (もっと読む)


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