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Fターム[4E068DA10]の内容

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Fターム[4E068DA10]に分類される特許

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平面ワークピース上に一対の平行切削を刻むためのX&Y二次元切削装置であって、ワークピース平面がX軸およびY軸を有する装置において、第1のビームおよび第2のビームを含む少なくとも2つのビームを発生させるレーザ装置であって、その第1のビームおよび第2のビームがワークピース上に衝突点をそれぞれ有し、その第1および第2の衝突点がワークピースのXおよびY軸に対して対角線上に配置されるレーザ装置と、ワークピースに対する衝突点、および衝突点に対するワークピースのうちの少なくとも1つを移動させるための少なくとも1つのアクチュエータとを含む装置。
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【課題】 加工対象物内の任意の位置に改質層を形成し得るレーザ加工装置を提供する。
【解決手段】レーザ加工装置20では、所定波長のレーザ光Lを発生可能なレーザ光源と、レーザ光源から発生するレーザ光Lを導光可能に設けられるとともに先端t1に向かって縮径する先細形状に形成された先端部Ft1からレーザ光L’をウェハWに向けて出射可能な光ファイバFB1と、光ファイバFB1の先端t1とウェハWとの離隔距離D1を連続的に変更可能な光ファイバ先端部移動機構と、を備える。これにより、先細形状の先端t1から出射されたレーザ光L’は、先端部Ft1により集光されて所定位置Dp1に集光点Paを形成するので、光ファイバ先端部移動機構により先端t1とウェハWとの離隔距離D1を連続的に変更することで、ウェハWの内部においても、集光点Pa,Pb,Pcの形成位置を任意の位置に連続的に設定することができる。 (もっと読む)


【課題】ウェハの厚さやウェハ内の不純物濃度によることなく、良好な改質層の形成を容易に行うことのできるレーザダイシング方法およびレーザダイシング装置を提供する。
【解決手段】支持基板に注入された不純物濃度の想定される範囲内における消衰係数を予め測定機器を通じて測定し、これを不純物濃度の2次関数として近似しておく。そして、貼り合せSOIウェハ10を構成する支持基板の内部に改質層を形成すべく、集光レンズ30にて集光されたレーザ光を同貼り合せSOIウェハ10の割断予定線に沿ってレーザ光を照射する。ただしその際、貼り合せSOIウェハ10のレーザ光の入光面から同レーザ光の集光点までの深さと貼り合せSOIウェハ10の消衰係数に基づき求められた同ウェハ10の吸収係数との乗数を指数とするネピア数の指数関数に比例するように、レーザ光源40のレーザ光出力を同深さに応じて可変設定する。 (もっと読む)


【課題】 加工対象物内の任意の位置に改質層を形成し得るレーザ加工装置を提供する。
【解決手段】 レーザ加工装置20では、レーザ光源からウェハWに向けて出射されるレーザ光Lの光軸Lo上に、レンズ移動機構により相対距離を連続的に可変可能な集光レンズCV1および集光レンズCV2が設けられる。これにより、これらの集光レンズCV1、CV2により集光されたレーザ光L”は、その集光点の形成位置を任意に可変することができるので、ウェハWの内部においても、集光点Pa(比較的浅い位置)や集光点Pc(比較的深い位置)の形成位置を任意の位置に連続的に設定することができる。したがって、ウェハW内の任意の位置、例えば比較的浅い位置Pa、ほぼ中間の位置Pb、比較的深い位置Pcに、それぞれ改質層を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】ウェハの表面から深さ方向に複数層の改質領域を形成する際に、正常な改質領域を短時間で確実に形成可能で低コストなレーザ加工装置を提供する。
【解決手段】レーザヘッドHLa〜HLcはレーザ光源SLa〜SLcおよび集光レンズCVa〜CVcを備え、レーザ光La〜Lcを集光させた集光点Pa〜Pcの位置は、レーザ光源SLa〜SLcの波長と集光レンズCVa〜CVcの開口数とによって規定される。レーザ加工装置は、各レーザ光La〜Lcの波長または集光レンズCVa〜CVcの開口数の少なくともいずれか一方を調整することにより、ウェハ10の内部における各レーザ光La〜Lcの集光点Pa〜Pcの深さ位置を適宜設定し、ウェハ10の切断予定ラインKに沿うと共に、ウェハ10の表面10bから深さ方向に離間または隣接または重複して配置された3層1組の改質領域群Ga〜Gcを構成する各改質領域Rを同時に形成する。 (もっと読む)


【課題】 製品(分割片)の歩留まりや品質を向上し得るダイシングシートおよびレーザダイシング方法を提供する。
【解決手段】 ウェハWの裏面に接着されるエキスパンドテープ20には、ウェハWの割断予定線Devに沿って長穴21が形成されている。これにより、ウェハWの割断によって発生するパーティクルを、当該エキスパンドテープ20の長穴21を介してエキスパンドテープ20の他の面20b側に吸引することが可能となるので、ウェハWを割断した半導体チップSCの歩留まりや品質を向上することができる。 (もっと読む)


【課題】 種々の積層構造を有する加工対象物を高精度に切断し得るレーザ加工方法を提供する。
【解決手段】 本レーザ加工方法は、間隙が設けられるように貼り合わされた複数の基板15,17を有する加工対象物1において、基板15の内部に集光点を合わせてレーザ光を照射することで基板15の内部に改質領域7を形成すると共に、基板17の内部に集光点を合わせてレーザ光を照射することで基板17の内部に改質領域7を形成し、これらの改質領域7によって、加工対象物1の切断予定ラインに沿って加工対象物1のレーザ光入射面3から所定距離内側に切断起点領域を形成する工程と、加工対象物1に対して応力を印加することで切断起点領域を切断の起点として切断予定ラインに沿って加工対象物1を切断し、間隙が設けられるように貼り合わされた複数の基板を有する機能素子を複数得る工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 板状の加工対象物が切断されることで得られるチップにパーティクルが付着するのを確実に防止することができるレーザ加工方法を提供する。
【解決手段】 エキスパンドテープ23を介して加工対象物1に応力を印加する際に、加工対象物1の形成物質(溶融処理領域13が形成された加工対象物1、加工対象物1が切断されることで得られた半導体チップ25、その半導体チップ25の切断面から生じたパーティクル等)に軟X線を照射する。これにより、半導体チップ25の切断面から生じたパーティクルは、ランダムに飛散することなく、エキスパンドテープ23上に落下することになる。従って、加工対象物1が切断されることで得られる半導体チップ25にパーティクルが付着するのを確実に防止することが可能になる。 (もっと読む)


【課題】 半導体基板の基板面に反射防止膜の形成が不要で、半導体基板内部へのレーザ光の入射を抑制することなく、レーザ光の反射を抑制し、レーザ光の照射効率を向上させることができる半導体基板の分断装置を実現する。
【解決手段】 半導体基板21をステージ12に載置し、水10が貯留されている浸漬槽11の上方から浸漬する。次に、レーザヘッド31を分断予定ラインDLに沿って走査し、レーザ光Lを基板面21aから照射することにより、レーザ光Lの集光点Pが走査された深さdの経路に、改質領域Kが適正に形成される。半導体基板21を水10に浸漬することにより、基板面21aにおけるレーザ光Lの屈折率の差を小さくできるので、基板面21aにおけるレーザ光Lの反射を抑制することができ、レーザ光Lの照射効率を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】ウェハの表面から深さ方向に間隔をあけた複数層の改質領域を形成する際に、正常な改質領域を短時間で確実に形成可能で、小型かつ低コストなレーザ加工装置を提供する。
【解決手段】2種類の波長λa,λbのレーザ光La,Lbを同時に発生させて出射する1個のレーザ光源SLaを用い、ウェハ10の内部における各レーザ光La,Lbの集光点Pa,Pbの深さ位置を段階的に変えることにより、ウェハ10の切断予定ラインKに沿うと共に、ウェハ10の表面10bから深さ方向に離間または隣接または重複して配置された3組6層の改質領域群Ga1〜Gb3を、2層1組ずつ順次形成する。すなわち、2種類の波長λa,λbのレーザ光La,Lbを同時にウェハ10に照射することにより、各レーザ光La,Lbにそれぞれ対応した深さの異なる2層の改質領域群(Ga1とGb1、Ga2とGb2、Ga3とGb3)を構成する各改質領域Rを同時に形成する。 (もっと読む)


【課題】 半導体基板を分断して得られる半導体チップの歩留まりを向上させることができる半導体チップの製造装置及び半導体チップの製造方法を実現する。
【解決手段】 半導体チップの製造装置1には、半導体チップ22cを吸着して保持する吸着部材43と、吸着部材43を移動させる移動機構44とが設けられている。半導体チップ22cを吸着部材43により吸着し、移動機構44により上昇させると、半導体チップ22cの分割予定ラインDLに対応してレーザ光の照射により導入されている改質領域に集中的に剪断応力が発生する。これにより、半導体基板21が分割予定ラインDLに沿って厚さ方向に分割されて、半導体チップ22cが得られる。半導体チップ22cは、吸着部材43により吸着された状態で、移動機構44によりパッケージに搭載するための実装工程に移送される。 (もっと読む)


【課題】 被加工膜上に保護膜を形成して光加工を行う技術において、保護膜の除去を容易にする。
【解決手段】 被加工膜107上に有機樹脂で構成された有機膜149を形成する工程と、有機膜149の内部応力を小さくする工程と、有機膜149に加工光を照射し、加工領域の有機膜149を選択除去する工程と、有機膜149をマスクとして、被加工膜107をエッチングする工程を有する。 (もっと読む)


【課題】基板の表面内に一つもしくはそれ以上の離間された切断溝を形成するため、複数の同質のレーザビームを照射可能な装置を提供する。
【解決手段】一つもしくはそれ以上の離間された切断溝を基板の表面に形成するための装置であって、レーザ3から発生したレーザビーム4は、回折格子素子6に照射され二つの第一切断ビーム7に分岐され、さらに第一切断ビーム7は回折格子素子10に照射され、それぞれ第二ビーム12に分岐される。第二ビーム12は光学素子14に照射されて平行となって基板15の表面に垂直に照射される。 (もっと読む)


【課題】ウエーハ等の被加工物が貼着された粘着テープが溶融してチャックテーブルに付着しないようにしたレーザー加工装置を提供する。
【解決手段】ウエーハを保持する保持面を有するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持されたウエーハにレーザー光線を照射するレーザー光線照射手段とを具備するレーザー加工装置であって、チャックテーブルに装着され保持面を覆う保護シートを備えた保護シート敷設手段を備えている。 (もっと読む)


【課題】レーザスクライブを用いながら高歩留まりで安定した製造が可能であると共に、耐熱性の改善された半導体素子を製造可能な半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】 本件発明の半導体素子の製造方法は、基板2の表面側に半導体積層体9を形成する工程と、基板2の裏面60側からレーザビームを照射してレーザスクライブすることにより、分割しようとする個々の半導体素子の外周に沿って分割溝50を形成する工程と、基板2を分割溝50に沿ってブレーキングして個々の半導体素子1に分割する工程と、を含み、レーザビームを照射した際に分割溝50の内面に付着し、分割された個々の半導体素子1において基板2の裏面60側の周縁部に残った付着物52があり、付着物52のうち半導体素子1の基板裏面から突出した突起部52を除去し、半導体素子1の基板裏面を略全面に渡って平坦化する工程をさらに含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】積層体を構成する基板の材料が異なっていても、積層体を簡単に切断・分割する
ことが可能な積層体の加工方法を提供する。
【解決手段】積層体Pの加工方法は、複数の基板で構成された積層体Pの加工方法であっ
て、積層体Pには第1基板としての基板P1と、この基板P1と積層された第2基板とし
ての基板P2とを備えている。基板P1にレーザ光5を照射させて、材料変質部7を形成
する工程と、積層体Pに応力Fを加えて分割片Qを形成する工程と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】積層体を構成する基板の材料が異なっていても、積層体を簡単に切断・分割する
ことが可能な積層体の加工方法を提供する。
【解決手段】積層体Pの加工方法は、複数の基板で構成された積層体Pの加工方法であっ
て、積層体Pには第1基板としての基板P1と、第1基板が積層された第2基板としての
基板P2と、を備えている。基板P1に第1のレーザ光5aを照射させて、第1材料変質
部7aを形成する工程と、基板P2に第2のレーザ光5bを照射させて、第2材料変質部
としてのクラック7bを形成する工程と、を備え、材料変質部7を形成する。 (もっと読む)


【課題】被加工物に設定された複数の加工領域にレーザー加工溝を正確に形成することができるレーザー加工装置を提供する。
【解決手段】チャックテーブルと、パルスレーザー光線発振器および繰り返し周波数設定手段と集光器とを備えたレーザー光線照射手段と、チャックテーブルを加工送りする加工送り手段とを具備するレーザー加工装置であって、被加工物に設定された加工領域における各始点位置と終点位置のX,Y座標値を記憶する記憶手段を備え、レーザー光線照射手段および加工送り手段を制御する制御手段を具備しており、制御手段は集光スポットの加工送り方向長さを(d)mm、繰り返し周波数を(H)Hz、加工送り速度を(V)mm/秒、始点位置と終点位置間の長さを(L)mm、始点位置と終点位置間 (L)mmに照射するパルスレーザー光線のスポット数を(n)個とした場合、d+(V/H)n=Lを満足するように(V/H)を設定し、繰り返し周波数設定手段および加工送り手段を制御する。 (もっと読む)


【課題】被加工物に形成された所定のストリートに沿って複数の加工領域にレーザー加工溝を正確に形成することができるレーザー加工方法およびレーザー加工装置を提供する。
【解決手段】被加工物に形成された所定のストリートに沿って設定された複数の加工領域にレーザー加工溝を形成するレーザー加工方法であって、被加工物のストリートに沿って設定された複数の加工領域における各始点位置と終点位置にそれぞれパルスレーザー光線を照射してレーザー加工穴を形成する加工穴形成工程と、加工穴形成工程において始点位置と終点位置に形成されたレーザー加工穴間にパルスレーザー光線を照射してレーザー加工溝を形成する加工溝形成工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】 脆性材料を割断するための初亀裂を形成する際に、材料の割断予定ラインおよび材料の厚み方向に沿う方向にのみ初亀裂を発生させるための簡易な方法を提供する。
【解決手段】 脆性材料1を割断する際の初亀裂10を材料1に形成するための初亀裂形成方法であって、材料1の割断予定ラインKと交差する材料側縁部1aの個所に紫外線領域のパルスレーザLを半円状に照射して、当該個所の材料を溶融または昇華させることにより、材料側縁部1aの当該個所に初亀裂10を形成する。 (もっと読む)


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