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Fターム[4G077QA62]の内容

結晶、結晶のための後処理 (61,211) | 液相エピタキシャル成長 (1,473) | 装置 (273) | 融液支持手段(ボート等)の構造 (53)

Fターム[4G077QA62]に分類される特許

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【課題】フラックス法を用いた結晶成長装置において、実用的な大きさの結晶の均一性その他の品質を確保しつつ、結晶成長装置を小型化・簡略化する。
【解決手段】結晶の原料原子を含む液体を収容する容器と、前記液体と接する液体接触面に、弾性波を進行波として伝搬させる弾性波伝搬手段と、を有する結晶成長装置を提供する。前記液体接触面として、前記容器の内面が例示できる。前記弾性波伝搬手段が、前記容器に接して配置された圧電体を有してもよく、前記圧電体に交番電界を印加することにより、前記液体接触面に前記弾性波を伝搬させることができる。前記圧電体を複数有してもよく、前記複数の圧電体のそれぞれに印加する交番電界の位相を調整することで、前記弾性波を進行波として伝搬させることができる。 (もっと読む)


【課題】周期表第13族金属窒化物半導体結晶の製造に用いられる反応容器等の部材は、繰り返し及び/又は長時間の使用によって、変質及び/又は劣化が進行することがあり、交換することが必要となるが、頻繁に新しい部材に交換することとなると製造コストの増大を招くことになる。
【解決手段】変質及び/又は劣化した部材を、色彩値(L*値)及び/又は膨張率が特定
の範囲の数値になるように処理することによって、第13族窒化物半導体結晶の製造に再利用できるように部材に再生することができる。 (もっと読む)


【課題】下地基板を融液に浸漬させることにより下地基板の表面上に形成される結晶薄板の生産を停止することなく安定した原料の追加供給を行なうことができ、また品質の劣化やばらつきを低減するとともに結晶薄板の製造歩留まりを向上することによって、結晶薄板の生産性を向上させることができる溶融炉を提供する。
【解決手段】融液を保持するための主坩堝と、主坩堝の融液を加熱するための主坩堝加熱装置と、主坩堝に供給される融液を保持するための副坩堝と、副坩堝の融液を加熱するための副坩堝加熱装置と、固体原料を投入するための固体原料投入装置と、副坩堝から主坩堝に融液を供給するための融液搬送部と、固体原料投入装置から副坩堝への固体原料の投入の有無を決定する固体原料投入制御装置とを備えた溶融炉である。 (もっと読む)


【課題】転位密度が少なく高品質な13族窒化物結晶基板に供することが可能であるバルク結晶を製造するための種結晶を提供することを目的とする。
【解決手段】本実施形態の窒化ガリウム結晶は、六方晶構造のm面の外周表面の少なくとも1面において、c軸方向の一端部側の領域におけるX線ロッキングカーブの半値全幅が、他端部側の領域における前記半値全幅より小さいことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】固着、熱歪、転位の発生を抑制して、高品質で均一な単結晶炭化珪素エピタキシャル膜を形成する技術を提供する。
【解決手段】カーボン原料または単結晶炭化珪素基板の片面にシリコン薄膜を形成する工程、カーボン原料と単結晶炭化珪素基板との間にシリコン薄膜が配置されて所定の式を満たすように、坩堝内に下からシリコン基板、支持台、単結晶炭化珪素基板を積層して配置すると共に、坩堝蓋側からカーボン原料支持台、カーボン原料を接合して配置する工程、坩堝蓋をかぶせた坩堝をシリコンの融点温度以上に加熱してシリコン基板およびシリコン薄膜を融解させると共に坩堝蓋を坩堝の内壁高さまで下降させる工程、単結晶炭化珪素エピタキシャル膜の成長温度以上に加熱してシリコン融液の表面張力により懸垂保持された単結晶炭化珪素基板上に単結晶炭化珪素エピタキシャル膜を形成させる工程を備えている単結晶炭化珪素基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】単結晶を成長させる際の着液検出精度を向上させ得る単結晶製造装置を提供する。
【解決手段】原料融液2から種結晶3基板上に単結晶を成長させるための種結晶3を有する成長炉4と、下端に種結晶3が保持されたシード軸5と、原料融液2を収容する坩堝7と、成長炉4を囲んで成長炉4外に配置されたエネルギー放出体8とを備えた単結晶製造装置1であって、坩堝7とシード軸5との間に電圧を印加する電源回路9と、電源回路9に流れる電流値を測定する測定回路11と、電源回路9に、定電圧回路9Bおよびカットオフ回路9Cとを備え、カットオフ回路9Cは液面接触時の電流値よりも低く設定された設定値より大きい電流値が測定されたときには電流をカットする。 (もっと読む)


【課題】単結晶炭化ケイ素種結晶小片を水平方向に液相エピタキシャル成長させた面積の大きい単結晶炭化ケイ素基板を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素基板13bは、表面を局部的に炭化処理した多結晶炭化ケイ素基板5と多結晶炭化ケイ素基板5とを金属シリコン融液12を介して近接対向配置させた多結晶炭化ケイ素基板の複合体を収納容器に収納して加熱処理を行い、多結晶炭化ケイ素基板15の炭化処理面11に単結晶炭化ケイ素を液相成長により自己成長させて単結晶炭化ケイ素種結晶小片13aを生成し、更に液相成長を継続することで、単結晶炭化ケイ素種結晶小片13aを前記対向方向と直交する方向に液相エピタキシャル成長させて生成されており、その外周部に面方向に結晶成長した部分を有する。 (もっと読む)


【課題】攪拌構造体を内部に配置する坩堝のセットを容易とさせることが可能な窒化ガリウム結晶の成長方法の提供。
【解決手段】フラックス法を用いた窒化ガリウム結晶の成長方法であって、ガリウム3bの融点よりも高い融点を有するフラックス剤としてのナトリウム3aを溶融状態で坩堝11内に保持させると共に、溶融状態のナトリウム3aに浸るように攪拌構造体52,80を坩堝11内に配置するフラックス剤供給工程と、フラックス剤供給工程の後に、ナトリウム3aの融点未満の温度まで冷却して、ナトリウム3aを上記攪拌構造体と共に固化させる冷却工程と、冷却工程の後に、ガリウム3bの融点以上、且つ、ナトリウム3aの融点未満の温度で、坩堝11内において固化させたナトリウム3aの上にガリウム3bを保持させる原料供給工程と、を有するという手法を採用する。 (もっと読む)


【課題】成長炉内を均熱化することが可能であり種結晶近傍でのSiC多結晶の発生を抑制し得る溶液法によるSiC単結晶製造方法を提供する。
【解決手段】溶液法により原料溶液2からSiC種結晶基板上にSiC単結晶を成長させるための種結晶3を有する成長炉4と、該種結晶3を支え且つ種結晶3から熱を成長炉4の外部に伝達するための支持軸5と、前記原料溶液2を収容する坩堝6と、前記坩堝6を成長炉4内の内壁から距離をおいて保持するための支持部8と、前記成長炉4を囲んで成長炉外に配置されたエネルギー放出体9とを含んで成る溶液法SiC単結晶製造装置1を用いるSiC単結晶製造方法であって、前記支持部8の少なくとも一部として、坩堝6を支える方向の熱伝導率(TC)と前記方向に垂直な方向の熱伝導率(TC)との間にTC>TCの関係を有する部材から構成されてなる伝熱異方性支持部11を用いる。 (もっと読む)


【課題】単結晶炭化ケイ素の液相エピタキシャル成長に要するコストを低減する。
【解決手段】フィード材11は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層のX線回折により、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、(111)結晶面に対応した回折ピークと、(111)結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察されるものである。シード材12は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層のX線回折により、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、(111)結晶面に対応した1次回折ピークが観察され、(111)結晶面に対応した1次回折ピークの回折強度の10%以上の回折強度を有する他の1次回折ピークが観察されないものである。 (もっと読む)


【課題】単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長速度を高くできる単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材11は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層の、励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のL0ピークが観察され、L0ピークの972cm−1からのシフト量の絶対値が4cm−1未満である。 (もっと読む)


【課題】安価な炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材12は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層のX線回折により、(111)結晶面、(200)結晶面、(220)結晶面及び(311)結晶面の少なくとも一つに対応した1次回折ピークが観察される。少なくとも一つの1次回折ピークから算出される平均結晶子径が、700Åより大きい。 (もっと読む)


【課題】炭化ケイ素エピタキシャル成長速度を高くできる単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材11は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層のX線回折により、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、(111)結晶面に対応した回折ピークと、(111)結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察される。 (もっと読む)


【課題】溶液成長法によるSiC単結晶の製造において、SiC種結晶近傍に炭素を供給しやすいSiC単結晶の製造装置を提供する。
【解決手段】製造装置100内の坩堝6は、内径IDTを有する上部収納室621Aと、上部収納室621Aの下方に配置され、内径IDTよりも小さい内径IDBを有する下部収納室622Aとを備える。誘導加熱装置3は、上部収納室621Aの周りに配置される上部コイル部311と、下部収納室622Aの周りに配置される下部コイル部312とを備える。下部コイル部312は、上部コイル部311が上部収納室621A内のSiC溶液8に生成する電磁力よりも大きい電磁力を、下部収納室内622AのSiC溶液8に生成する。 (もっと読む)


【課題】安価な炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材12は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層の励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のピークとして、T0ピーク及びL0ピーク以外のピークが観察される。 (もっと読む)


【課題】原料融液に下地板を浸漬させることにより、下地板表面に薄板を製造する薄板製造装置および製造方法において、薄板の板厚のむらの発生を防止して、板厚を制御することのできる薄板製造装置および薄板製造方法、ならびに坩堝を提供する。
【解決手段】本発明は、原料融液に下地板を浸漬させることにより、下地板表面に薄板を製造する薄板製造装置であって、原料融液を内部に充填可能な坩堝と、坩堝内の原料融液に下地板を浸漬させる浸漬部とを備える。坩堝は、坩堝本体と、下地板の浸漬方向に応じて原料融液の表面の液流の方向を制御する制御部とを含む。 (もっと読む)


【課題】MSE法を用いて、不純物濃度の面内分布のバラツキが充分に抑制されたSiCエピタキシャル膜を作製することができるSiC半導体薄膜の作製方法および作製装置を提供する。
【解決手段】準安定溶媒エピタキシャル法により、SiC半導体薄膜を作製するSiC半導体薄膜の作製方法であって、基板設置治具上に、複数の底面スペーサを所定の間隔を設けて配置し、底面スペーサ上に、炭素原子供給基板、複数の上部スペーサ、Si板および単結晶SiC種基板を、順に積み重ね、その後、Siの融点よりも高い所定の温度まで昇温して、単結晶SiC種基板上に、単結晶SiC膜をエピタキシャル成長させて、SiC半導体薄膜を作製するSiC半導体薄膜の作製方法および作製装置。 (もっと読む)


【課題】アルカリ金属とIII族金属との混合比の変動を抑制してIII族窒化物結晶を製造する結晶製造装置を提供する。
【解決手段】坩堝10は、金属Naと金属Gaとの混合融液270を保持する。反応容器20は、融液溜め部23を有し、坩堝10の周囲を覆う。融液溜め部23は、アルカリ金属融液280を保持する。ガス供給管90は、ガスボンベ130からの窒素ガスをアルカリ金属融液290を介して反応容器20内へ供給する。支持装置40は、種結晶5を混合融液270に接触させる。種結晶5からのGaN結晶の結晶成長中、加熱装置50,60は、坩堝10を結晶成長温度に加熱し、加熱/冷却器70は、金属融液280から蒸発する金属Naの蒸気圧が混合融液270から蒸発する金属Naの蒸気圧に略一致する温度に融液溜め部23を加熱し、加熱/冷却器80は、アルカリ金属融液290を凝集温度に加熱する。 (もっと読む)


【課題】浸漬タクトを低下させることなく、平滑性に優れた板状半導体を作製することができる消波構造付容器を提供する。
【解決手段】本発明の消波構造付容器は、金属材料または半導体材料のいずれか一方を含有する融液に、成長基板を浸漬させるための坩堝と、該坩堝の上面に接して取り付けられた保持体と、該保持体の融液の液面側に取り付けられた支持体と、該支持体に接触して設けられた消波構造とを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】本発明は、窒化物結晶製造方法に関するもので、結晶の品質向上を目的とするものである。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、種基板と、結晶材料とアルカリ金属またはアルカリ土類金属を、坩堝に収納する第1の工程と、前記坩堝を加熱して前記結晶材料と前記アルカリ金属または前記アルカリ土類金属の混合液を形成するとともに、前記坩堝に窒素ガスを供給して、前記種基板上に結晶を育成する第2の工程を備え、前記種基板上の前記混合液の平均流速をα、前記種基板上の最大流速平均値をA、前記種基板上の前記混合液の最大流速バラツキをBとしたときに、前記第2の工程中に式(1)及び式(2)を満たす条件で前記混合液が流動するように、前記混合液を撹拌する。
α≧0.008(m/s) (1)
B/A≦0.6 (2) (もっと読む)


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