説明

Fターム[4K030LA14]の内容

CVD (106,390) | 膜特性、用途 (8,967) | 用途 (7,779) | 化合物半導体 (1,183) | 3−5族化合物半導体 (858)

Fターム[4K030LA14]に分類される特許

161 - 180 / 858


【課題】GaN系半導体層のグレインサイズを大型化することが可能な半導体装置を提供すること。
【解決手段】本発明は、(111)面から0.1度以下のオフ角度で傾斜した面を主面とするSi基板10と、Si基板10の主面に接して設けられ、(002)面のX線回折におけるロッキングカーブの半値幅が2000sec以下であるAlN層12と、AlN層12上に設けられたGaN系半導体層20と、を備える半導体装置100である。 (もっと読む)


【課題】高品質のデバイス層が作製可能で、かつGaAs基板の剥離が容易な化合物半導体ウェハ、及び化合物半導体デバイス用ウェハの製造方法を提供する。
【解決手段】GaAs基板上にデバイス層を有する化合物半導体ウェハ10において、GaAs基板1とデバイス層3の間に劈開性の優れた層状化合物からなる剥離層2を備えたものである。 (もっと読む)


【課題】AlN層表面のピット状欠陥の発生を抑制する。
【解決手段】シリコン基板10の表面を、熱処理温度が700℃以上1060℃以下、熱処理時間が5分以上15分以下、水素が含まれた雰囲気中においてサーマルクリーニングする工程と、前記サーマルクリーニングの後、前記シリコン基板表面に、N原料を供給せずにAl原料を供給するステップと、前記Al原料を供給するステップの後に前記Al原料と前記N原料とを供給するステップとを行って、前記シリコン基板上に第1AlN層11を第1のV/III原料比を用い成長する工程と、前記第1AlN層上に、前記第1のV/III原料比より大きな第2のV/III原料比を用い第2AlN層12を成長する工程と、前記第2AlN層上にGaN系半導体層を成長する工程と、を含む半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】反りの小さな半導体基板および半導体装置を提供する。
【解決手段】Si基板10上に接して形成されたX線回折による(002)面のロッキングカーブ半値幅が1500秒以下のAlN層12と、AlN層12上に形成されたGaN系半導体層14と、を具備する半導体基板であって、その反りの曲率半径は±25m以上であり、反り量は、半導体基板の大きさを4インチとした場合、±50μm以下である。GaN系半導体層14はAlN層12から圧縮応力を受ける。 (もっと読む)


【課題】結晶性に優れたIII族窒化物の受光層を形成することのできる半導体積層構造、及びこれを用いた紫外線センサーを提供する。
【解決手段】所定の基材3上において、III族窒化物下地層4と、少なくともGaを含むIII族窒化物層5とを順次に積層し、その上にInおよびAl、あるいは一方を含むIII族窒化物からなるAlyInxGa1-x-yN受光層6を設けた半導体積層構造1、及びこれを用いて表面にショットキー電極7s、およびオーミック電極7oを形成させて紫外線センサー2を作製する。 (もっと読む)


【課題】LLO法によらず、より簡便な方法で成長用基板の剥離を行うことが可能な半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】
半導体エピタキシャル層の成長温度よりも低い成長温度で、V/III比が3000以上となるようにV族原料とIII族原料を供給して、成長用基板上にIII族窒化物からなる下地層を形成する。下地層上にSiをドープしつつ互いに異なる成長速度でIII族窒化物の成長を行う第1ステップおよび第2ステップを交互に複数回実施して内部に複数の空孔を含む空洞含有層を長用基板上に形成する。空洞含有層の上に半導体エピタキシャル層をエピタキシャル成長させる。半導体エピタキシャル層に支持基板を接着する。空洞含有層を境界層として成長用基板を剥離する。 (もっと読む)


【課題】発光層の結晶性低下や、p型半導体層への不純物の混入に起因するp型半導体層の結晶性低下を防ぎ、かつ、高い出力の得られる半導体発光素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】第一有機金属化学気相成長装置において、基板11上に第一n型半導体層12aと第二n型半導体層12bと、井戸層と障壁層とを交互に繰返し積層し、最上面が前記障壁層となる発光層13を形成する第一工程と、第二有機金属化学気相成長装置において、前記発光層の最上面の前記障壁層上に前記障壁層の再成長層13cとp型半導体層14とを順次積層する第二工程と、を具備してなることを特徴とする半導体発光素子の製造方法を採用する。 (もっと読む)


【課題】発光特性及び注入電流均一性に優れ、十分な耐性を有する窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】第一の主面101aと第二の主面101bを有し、窒化物半導体基板101と、第一の主面101aに接して形成された第一の窒化物半導体層102と、第一の窒化物半導体層102の第一の主面101aと接する側とは反対側に形成された、n型窒化物半導体層103、活性層104及びp型窒化物半導体層105を含む積層体と、n型窒化物半導体層103に電気的に接続されたn側電極106と、p型窒化物半導体層105に電気的に接続されたp側電極107とを備える。第一の窒化物半導体層102は、アンドープの窒化物半導体層である。また、第二の主面101bが光取り出し面とする窒化物半導体発光素子である。 (もっと読む)


【課題】薄膜形成の再現性を向上させる。
【解決手段】薄膜形成装置は、第1のサセプタに支持された被処理基板を搬送する搬送アームが設置された搬送室と、前記搬送室に連結され、前記搬送アームによって搬送された前記被処理基板に処理を施すことが可能な複数の処理室と、前記搬送室に連結され、前記第1のサセプタの表出面を覆う第2のサセプタを前記第1のサセプタに着脱することが可能なサセプタ交換室と、を備える。 (もっと読む)


【課題】LEDや高電子移動度トランジスタなどのデバイス用として有用なIII−V族窒化物品の提供。
【解決手段】自立III−V族窒化物基板上に堆積したIII−V族窒化物ホモエピタキシャル層を含むホモエピタキシャルIII−V族窒化物品であって、前記III−V族窒化物ホモエピタキシャル層が1E6/cm2未満の転位密度を有しており、(i)前記III−V族窒化物ホモエピタキシャル層と前記自立III−V族窒化物基板の間に酸化物を有するか、(ii)前記III−V族窒化物ホモエピタキシャル層と前記自立III−V族窒化物基板の間にエピ中間層を有するか、
(iii)前記自立III−V族窒化物基板がオフカットされており、前記III−V族窒化物ホモエピタキシャル層が非(0001)ホモエピタキシャルステップフロー成長結晶を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】p型層を形成する際に混入するSiによって発生する順方向電圧(Vf)の不良を従来より低減させ、順方向電圧が良好なエピタキシャルウエーハの製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも、化合物半導体からなる基板上に、ハイドライド気相成長法によってp型層をエピタキシャル成長させる工程を有するエピタキシャルウエーハの製造方法であって、前記p型層をエピタキシャル成長を開始する前の前記基板の昇温時に、p型ドーパントガスを前記p型層のエピタキシャル成長時より多く流すことを特徴とするエピタキシャルウエーハの製造方法。 (もっと読む)


【課題】p型層を形成する際に混入するSiによって発生する順方向電圧(Vf)の不良を従来より低減させ、順方向電圧が良好なエピタキシャルウエーハの製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも、化合物半導体からなる基板上に、ハイドライド気相成長法によってp型層をエピタキシャル成長させる工程を有するエピタキシャルウエーハの製造方法であって、前記p型層のエピタキシャル成長を開始する前の前記基板の昇温時に、HVPE炉内に窒素ガスを流すことを特徴とするエピタキシャルウエーハの製造方法。 (もっと読む)


【課題】本発明は、反応炉にて成膜を開始した直後から、排気トラップによるリンの捕集効率を高くできる成膜装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本願の発明にかかる成膜装置は、リンを含む排気ガスを排出する反応炉と、ハウジングと、該ハウジングの内部に該排気ガスを導入する排気ガス導入口と、該ハウジングの内部から該排気ガスを導出する排気ガス導出口と、該ハウジング内に設けられ該排気ガス中のリンを凝固付着させる金属製の冷却コイルと、を有する排気トラップと、該冷却コイルを冷却する冷却装置と、該ハウジング内部の排気ガスを密閉するように設けられたバルブと、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】発光層がストライプ状の凹凸形状に沿って形成されたIII 族窒化物半導体発光素子において、発光層を均一な厚さに形成すること。
【解決手段】まず、基板101の一方の表面に、ノコギリ歯状ストライプの凹凸形状を形成する(図2(a))。次に、基板101のノコギリ歯状ストライプの凹凸形状が形成された側の表面上に、減圧MOCVD法によって、その凹凸形状に沿って、n型層102、発光層103、p型層104を順に積層させる。これにより、各層が凹凸形状に沿ってうねったノコギリ歯状ストライプの形状となるよう形成する(図2(b))。ここで、ガス流方向は、凹凸形状のストライプ方向に平行な方向とした。これにより、発光層103の面内膜厚分布、組成分布を均一にすることができる。 (もっと読む)


【課題】簡便にAlN半導体を製造することができると共に、AlNの成長速度をより広い範囲で制御することが可能であり、尚且つ、不純物の混入のおそれを可及的に排除して、結晶性に優れた電子デバイス用のAlN半導体が得られるAlN半導体の製造方法を提供する。
【解決手段】III族元素以外の不純物成分の合計が0.001重量%以下である無水塩化アルミニウムを加熱して昇華又は気化させた塩化アルミニウムガスとNH3ガスとをハイドライド気相成長法により反応させ、基板上にAlNを結晶成長させる電子デバイス用のAlN半導体の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】 リーク電流の増加を抑制しつつ、基板上のIII族窒化物半導体の超格子構造の周期数を増やした場合でもクラックの発生を抑制できる窒化物半導体素子を提供する。
【解決手段】 基板2上に、GaN層10およびAlN層11が複数対交互に積層された第1GaN/AlN超格子層8を形成し、この第1GaN/AlN超格子層8に接するように、GaN層12およびAlN層13が複数対交互に積層された第2GaN/AlN超格子層9を形成する。第2GaN/AlN超格子層9上には、GaN電子走行層6およびAlGaN電子供給層7からなる素子動作層を形成する。これにより、HEMT1を構成する。このHEMT1において、第1GaN/AlN超格子層8のc軸平均格子定数LC1と、第2GaN/AlN超格子層9のc軸平均格子定数LC2と、GaN電子走行層6のc軸平均格子定数LC3とが、式(1)LC1<LC2<LC3を満たすようにする。 (もっと読む)


【課題】 成長用基板の上に形成する半導体層が薄くても、再現性よく半導体層から成長用基板を分離する方法が望まれる。
【解決手段】 成長用基板の上に、V族元素として窒素を含むIII−V族化合物半導体からなり、成長用基板の表面に離散的に分布する支柱と、支柱によって成長用基板の上に支えられ、V族元素として窒素を含むIII−V族化合物半導体からなり、面内方向に連続する半導体層とを形成する。半導体層の上に、V族元素として窒素を含むIII−V族化合物半導体からなる機能層を形成する。機能層の上に、支持基板を形成する。支持基板を形成した後、機能層から成長用基板を分離する。 (もっと読む)


【課題】AlGaInP系半導体発光素子用エピタキシャルウェハ表面平坦度およびダイオードチップを製造する際の発光強度の歩留まりを向上できるAlGaInP系半導体発光素子用エピタキシャルウェハを提供する。
【解決手段】N型GaAs基板2上に、N型AlGaInP系クラッド層4、AlGaInP系活性層5、P型AlGaInP系クラッド層6、及びGaPからなる電流拡散層7を有するAlGaInP系半導体発光素子用エピタキシャルウェハ1において、電流拡散層7が、P型AlGaInP系クラッド層6上に形成されたV/III比が1以上100以下の低V/III比部分8と、低V/III比部分上に形成されたV/III比が100以上500以下の高V/III比部分9とからなるものである。 (もっと読む)


【課題】凝固しやすい金属材料をシャワーヘッドや配管の壁面に付着させることなく効果的に反応炉へ導入し、効果的なドーピングを行うことのできる気相成長装置、気相成長方法、および半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】V族原料ガス導入配管42の内径(W1)をIII族原料ガス導入配管44の外径(W2)より大きくし、V族原料ガス導入配管42の内部に、III族原料ガス導入配管44が1対1で挿入されている構造とすることで、III族原料ガス導入配管44が冷却機構から冷却されることを防ぎ、配管壁面への金属材料の凝固を抑制している。 (もっと読む)


【課題】簡単な構造でサセプタの回転軸の振れを抑制してエピタキシャルウェーハの膜厚のばらつきを低減できる気相成長装置、及びそれを利用した化合物半導体基板の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】少なくとも、リアクタと、該リアクタの内部に配置され、回転軸周りに回転するバレル型サセプタとを備えた気相成長装置において、前記サセプタの回転軸はコレットチャック機構により固定されているものであることを特徴とする気相成長装置。 (もっと読む)


161 - 180 / 858