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Fターム[4M109EE05]の内容

Fターム[4M109EE05]に分類される特許

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【課題】温度差が生じても従来よりは絶縁部材の剥離を抑止することができる半導体モジュールを提供することである。
【解決手段】複数の半導体素子16と、各半導体素子16で生じる熱を放出する放熱部15と、少なくとも半導体素子16を覆う絶縁部材14とを備える半導体モジュール10において、絶縁部材14は、半導体モジュール10の全表面を覆うか、または、複数面を周回して覆うことを特徴とする構成である。この構成によれば、絶縁部材14は半導体モジュール10の全表面を覆うか、または、複数面を周回して覆う。放熱部15と絶縁部材14との間に生じる温度差に基づく線膨張係数差による応力が発生しても、従来よりは絶縁部材14の剥離を抑止することができる。 (もっと読む)


【課題】半導体素子で発生した熱を、簡易な構成で更に効率良く外部に放散させることができる半導体装置およびその製造方法を提供することを課題とする。
【解決手段】半導体装置10は、一方の主面12pが大気に露出している金属板12と、金属板12の他方の主面12q上に形成され、高熱伝導絶縁樹脂で構成される絶縁層14と、絶縁層14上に形成された導体パターン16と、導体パターン16に実装された半導体素子20と、導体パターン16に接合されたリードピン22と、金属板12の他方の主面12q側を覆う樹脂部24と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】LEDパッケージの放熱性能の向上を小型化や低コスト化と両立させながら実現する。
【解決手段】搭載部材11に搭載したLED素子12の全周を取り囲むように高熱伝導性絶縁材料14がインクジェット、ディスペンサ等により設けられている。高熱伝導性絶縁材料14は、封止材料18よりも熱伝導率が高い絶縁材料で形成され、LED素子12全周の側面と搭載部材11とに密着して、LED素子12全周の側面から熱を搭載部材11へ効率良く伝達する放熱経路の構成材として機能すると共に、LED素子12の側面上端から搭載部材1の上面に向けて傾斜するスロープ状に形成されている。高熱伝導性絶縁材料14の上面に、インクジェット、ディスペンサ等の液滴吐出法により配線17が形成され、この配線17によってLED素子12の電極部13と搭載部材11の電極部16とが接続されている。 (もっと読む)


【課題】封止樹脂の成形性と放熱性を高いレベルで両立させた半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置10は、アイランド12と、アイランド12の上面に実装された半導体素子20と、外部接続端子として機能するリード14と、これらを一体的に被覆して機械的に支持する封止樹脂15とを主要に備えた構成となっている。更に、封止樹脂15は、半導体素子20等を直に樹脂封止する第1封止樹脂16と、この第1封止樹脂16を更に封止する第2封止樹脂18から構成される。 (もっと読む)


【課題】放熱板に半導体素子が実装された半導体装置において、半導体素子と半導体素子及び放熱板を封止する封止樹脂との密着性を確保するとともに、封止樹脂により封止された半導体装置の逆反りを低減することを目的とする。
【解決手段】銅を主成分とする金属または銅からなる放熱板3の一方の面に半導体素子1が実装され、半導体素子1が封止樹脂8で樹脂封止され、封止樹脂8は、第1の封止樹脂8aと、第1の封止樹脂8aよりも大きな熱膨張係数を有する第2の封止樹脂8bとを含み、第1の封止樹脂8aは半導体素子1を覆うように形成され、第2の封止樹脂8bは第1の封止樹脂8aの外側に形成された。 (もっと読む)


【課題】半導体装置内部で発生する熱を効率的に外部へ放熱する。
【解決手段】半導体装置1は、リードフレーム2に実装された半導体素子3、半導体素子3内に設けられた第1伝熱層4、第1伝熱層4に接続された第2伝熱層5、第2伝熱層5に接続された第3伝熱層6、及び樹脂層7を含む。樹脂層7は、半導体素子3、第1伝熱層4、第2伝熱層5を封止し、樹脂層7からは第3伝熱層6が表出する。半導体素子3で発生した熱は、第1伝熱層4、第2伝熱層5、第3伝熱層6へと効率的に伝熱され、樹脂層7から表出する第3伝熱層6から外部へと放熱される。 (もっと読む)


【課題】 信頼性を向上可能な半導体パッケージ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体パッケージ1は、パッケージ基板80、およびパッケージ基板80の上に実装されるチップ積層体10を備える。チップ積層体10とパッケージ基板80とは、チップ積層体10の第1半導体チップ100とパッケージ基板80との間に配置されるソルダボール110を介して電気的に連結される。第1半導体チップ100の上には第2半導体チップ200が積層される。第2半導体チップ200の上面200sは、平坦化されたモールディング膜350に覆われることなく露出し、放熱膜401と直接接触する。これにより、第1半導体チップ100および第2半導体チップ200で発生する熱は、放熱膜401を通じて容易に放出することができる。 (もっと読む)


【課題】放熱性を確保しつつ、ICチップにノイズが侵入することを抑制できるICパッケージ、ICパッケージが配線基板に実装された回路基板、及び回路基板を備えた電子装置を提供すること。
【解決手段】電子装置100は、ICパッケージ10と、配線基板30と、ICパッケージ10及び配線基板30が収納される金属製のケース40とを備える。配線基板30は、絶縁基材31に設けられたグランド層32に電気的に接続されたグランド用パターン33及び迂回用パターン35を備える。ICパッケージ10は、ICチップ11と、ICチップ11とケース40とに熱的に接続された金属製の放熱板17と、グランド用パターン33とICチップ11とに電気的に接続されたグランド端子15と、グランド用パターン33と放熱板17とに電気的に接続された迂回端子16とを備える。 (もっと読む)


【課題】封止する樹脂における半導体素子及び導電部材に至るクラックの発生を防止するとともに導電部材及び放熱部材の間の絶縁を確実に行うことを可能にする放熱部材付き半導体装置を提供することを課題とする。
【解決手段】放熱部材付き半導体装置101は、半導体チップ1と、ダイパッド部2aと、ヒートシンク3と、ダイパッド部2a及びヒートシンク3の間に間隙g1を形成し且つ同様の構成を有する第一樹脂ブロック10及び第二樹脂ブロック20とを備える。第一樹脂ブロック10は、第一樹脂材料からなる第一樹脂層11、第三樹脂層13と、第二樹脂材料からなる第二樹脂層12とを有し、第一樹脂層11はダイパッド部2aと接触し、第二樹脂層12はダイパッド部2aと接触しない。なお、第一樹脂材料は、第二樹脂材料より低い融点を有している。さらに、放熱部材付き半導体装置101は、第一樹脂材料からなる封止用樹脂4で樹脂封止されている。 (もっと読む)


【課題】従来の半導体装置では、半導体素子と導電パターンとの隙間が確保され難く、アンダーフィル材にて充填していたため、放熱性が悪く、量産性に適さないという問題があった。
【解決手段】本発明の半導体装置では、半導体素子2と導電パターン9A〜9Cとの間にはスペーサー11A〜11Dが配置され、半導体素子2と導電パターン9A〜9Cとの間隙間の幅W1は、スペーサー11A〜11Dの膜厚となる。この構造により、半導体素子2下面の隙間の幅W1が一定に保たれ、その隙間への樹脂の充填性が向上される。そして、トランスファーモールドを用いることが可能となり、量産性に適した構造となる。 (もっと読む)


【課題】優れた放熱性を有し、かつ、電子部品(回路部品)を回路基板に強固に固定できる回路モジュールを提供する。
【解決手段】回路基板12には、主面S2に凹部Gが設けられている。ICチップ14は、凹部G内に実装されている。絶縁性樹脂16は、凹部Gを埋めるように充填されている。ビアホール導体V1〜V5は、絶縁性樹脂16に設けられている。グランド電極18は、絶縁性樹脂16が充填された凹部Gを覆っている。ビアホール導体V1〜V5の一端は、グランド電極18に接触している。ビアホール導体V1〜V5の他端は、ICチップ14に接触している。 (もっと読む)


【課題】封止樹脂を含む半導体装置の放熱特性を良好に制御するとともに、品質を向上させる。
【解決手段】半導体装置100は、基板102と、基板102上に搭載された半導体チップ104と、半導体チップ104を封止する封止樹脂110と、半導体チップ104上に配置されるとともに、封止樹脂110と接触して設けられた放熱材料(130)と、を含み、封止樹脂110は、第1の樹脂組成物により構成された第1の樹脂領域112、第2の樹脂組成物により構成された第2の樹脂領域116と、第1の樹脂領域112および第2の樹脂領域116の間に形成されるとともに第1の樹脂組成物および第2の樹脂組成物が混合された混合層114とを含む。 (もっと読む)


【課題】絶縁信頼性の低下を抑制しつつ放熱性の向上が図られた半導体モジュールと、絶縁信頼性の低下を抑制しつつ放熱性に優れた半導体モジュールを製造しうる半導体モジュールの製造方法の提供を課題としている。
【解決手段】上面側に半導体素子が搭載されているヒートスプレッダを有し、該ヒートスプレッダの下面に樹脂組成物によって形成されている絶縁層が接着されており、該絶縁層の下面に金属シートによって形成されている金属シート層が接着され、該金属シート層の下面を露出させて前記半導体素子及び前記ヒートスプレッダを覆う樹脂モールドが施されている半導体モジュールであって、前記金属シート層は、前記絶縁層が前記ヒートスプレッダの下面を覆う面積よりも小面積となるように形成されて前記ヒートスプレッダの下面中央部に配されており、前記樹脂モールドが、前記金属シート層の外側において前記絶縁層の下面に接着し、前記ヒートスプレッダを下面側から被覆していることを特徴とする半導体モジュールなどを提供する。 (もっと読む)


本発明は、前面側(12)と呼称されるチップの1つの面に接続パッド(11)を有するチップ(10)を含む再構成ウエハ(1)の製造方法に関する。この方法は、次のステップ、すなわち、
−チップ(10)を、接着支持体(20)の上の所定位置に、前面側を下にして載せるステップと、
−チップを封止するために支持体(20)上に樹脂(50)を堆積させるステップと、
−その樹脂(50)を硬化させるステップと、
を含む。さらに、この方法は、樹脂堆積ステップの前に、チップの上に、チップを位置決めするための支持ウエハ(40)であって、チップの1つの面上(12、13)に載せられる部分を有する支持ウエハ(40)を接合するステップを含む。 (もっと読む)


【課題】放熱性に優れた実装構造を備える半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の回路基板3の側端面に配線電極7が露出するように配設される。第1の回路基板3にICチップを含む半導体部品1並びに電子部品2Aおよび2Bが実装される。半導体部品1並びに電子部品の少なくとも一部を覆うように樹脂からなるモールド体5が形成される。モールド体5の表面を、導電性材料からなる被覆部6が多い、その被覆部6が、配線電極7と接触するように形成される。 (もっと読む)


【課題】高熱伝導性の樹脂により被覆された半導体素子を備えた半導体装置、および半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、搭載領域と、この搭載領域に隣接する周辺領域とを有する回路基板2を準備する工程と、前記搭載領域上に半導体素子1を搭載する工程と、半導体素子1の側面および前記周辺領域上を第1の樹脂3bにより被覆する工程と、第1の樹脂3bから露出した半導体素子1の表面および第1の樹脂3b上を第2の樹脂3aにより被覆する工程とを備え、第1の樹脂3bは第2の樹脂3aより高い流動性を有し、第2の樹脂3aは第1の樹脂3bより高い熱伝導率を有する。 (もっと読む)


【課題】放熱性を確保するために、高放熱樹脂と低応力樹脂を使用して樹脂封止するように構成しながら、2種類の樹脂の密着性を十分に確保する。
【解決手段】本発明の電子回路装置1は、発熱部品6、8が装着されたリードフレーム2を備え、リードフレーム2の放熱する側の面を覆うようにモールドされた高放熱樹脂13を備え、発熱部品6、8、リードフレーム2および高放熱樹脂13を覆うと共に、高放熱樹脂13の放熱面が露出するようにモールドされた低応力樹脂14を備え、更に、低応力樹脂14でモールドする際に、高放熱樹脂13を半硬化状態に保つように構成したものである。 (もっと読む)


【課題】半導体チップの裏面が樹脂部から露出した半導体装置において、樹脂部と半導体チップとの熱膨張係数の違いによる反りを抑制すること。
【解決手段】本発明は、半導体チップ10と、半導体チップ10と電気的に接続された接続端子30と、半導体チップ10の回路12が形成された面と反対の面である下面が露出するように、半導体チップ10と接続端子30とを封止する樹脂部40と、半導体チップ10上に設けられ、上面が樹脂部40から露出し、熱膨張係数が樹脂部40より小さい第1チップ20と、を具備する半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】低コストで製造可能な信頼性の高いパワーモジュール及びその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】金属ベースと、絶縁基板と、パワー半導体素子、制御回路及び外部電極端子を少なくとも含む電子部品とが接着性樹脂で封止され、且つ前記接着性樹脂の表面が熱可塑性樹脂で被覆されていることを特徴とするパワーモジュールとする。また、金属ベース、絶縁基板、並びにパワー半導体素子、制御回路及び外部電極端子を少なくとも含む電子部品の表面に接着性樹脂をポッティングすることにより、前記金属ベース、前記絶縁基板及び前記電子部品を前記接着性樹脂で封止する工程と、前記接着性樹脂の表面に熱可塑性樹脂を射出成形することにより、前記接着性樹脂の表面を前記熱可塑性樹脂で被覆する工程とを含むことを特徴とするパワーモジュールの製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】薄型の半導体パッケージの成形に際して、無機質充填剤の高充填においても高い流動性を有し、成形時のワイヤー流れ等の発生が抑制され、優れた成形性を有する半導体封止用樹脂組成物およびそれを用いた半導体装置を提供する。
【解決手段】熱硬化性樹脂、硬化剤および無機質充填剤を含有してなる半導体封止用樹脂組成物であって、上記無機質充填剤が下記に示す無機粉末(A)を主成分とする。
(A)下記の(a1)および(a2)からなる無機粉末であって、その割合が、重量比で、〔(a1)/(a2)〕=99/1〜70/30の範囲に設定されている無機粉末。
(a1)体積頻度粒度分布における2.0〜100.0μmの領域内に2つの極大頻度値を有する無機粉末であって、空間率εが40%未満である無機粉末。
(a2)体積頻度粒度分布における0.1μm以上2.0μm未満の領域に1つの極大頻度値を有する無機粉末。 (もっと読む)


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