【課題】本発明は、テストカードを提供する。
【解決手段】本発明のテストカードは、電源インターフェースと、コントローラーと、テストインターフェースと、複数のテストポイントとを備え、テストインターフェースは、電源ピンと、スタートピンと、複数のデータ信号ピンとを備え、電源インターフェースは、コントローラー、電源ピン及び外部電源に接続されて、外部電源からの作動電圧をコントローラー及び電源ピンに提供し、コントローラーは、スタートピンにスタート信号を送信し、複数のデータ信号ピンは、複数のテストポイントにそれぞれに接続され、マザーボードのコネクターをテストインターフェースに接続すると、電源ピン、スタートピン及びデータ信号ピンは、マザーボードのコネクターの対応するピンにそれぞれに接続され、マザーボードがスタート信号を受信すると、システムを運行して、テストポイントにマザーボードのデータ信号を出力する。 （もっと読む）

【課題】情報処理装置の検査において、物理サーバや外部のネットワーク環境に依存せず、分散した環境において、検査対象装置に対し、検査プログラムを組み込むシステムを提供する。
【解決手段】検査対象装置をコントロールする操作端末装置上に端末機能と、仮想化記述を用いた仮想サーバ機能の２種類の機能を構築し、端末機能からのコントロールにより、検査装置が仮想サーバ環境から検査プログラムを取得・実行し、検査端末装置、操作端末装置の２台の装置のみで検査環境を完結させることにより、物理サーバへの依存を廃し、環境に依存しないシステムを提供する。 （もっと読む）

【課題】スキャンテスト設計が施された機能ブロックと付加回路とを含む論理回路全体を故障診断を可能とし、診断処理時間を大幅に短縮可能とする装置、方法の提供。
【解決手段】論理回路内のスキャンフリップフロップで構成されるスキャンチェーンの構成情報、論理回路の設計情報を入力データ１として入力し、論理回路においてパラレル領域以外の回路部をシリアル領域として抽出することで、前記論理回路を前記パラレル領域とシリアル領域に分割する回路分割手段２と、正常回路における論理値を期待値として求める期待値計算手段３と、テストパタンに対する論理回路のテスト出力を入力データ１として入力し、テスト出力および、シリアル領域とパラレル領域の期待値を用いて、パラレル領域およびシリアル領域を故障診断し、出力部に出力する故障診断手段４とを備える。 （もっと読む）

【課題】高価な外部ＩＣＥなしでターゲット端末のデバッグとトレースダンプが可能になるマルチコアプロセッサ及びデバッグ方法を提供する。
【解決手段】デバッグコントロールユニットを内蔵したターゲットマルチコアプロセッサSOCにおけるEJTAGデバッグ機能、すなわち、プログラム停止・再開、レジスタダンプ、メモリダンプなどと全てのプロセッサのトレースダンプ機能をFIFOで構成し、ターゲットに内蔵のUSBデバイスコントローラのオプションデバイスとして実装する。 （もっと読む）

【課題】テストアルゴリズムの変更無しでテスト実行部を任意に追加する機能を提供する。
【解決手段】半導体集積回路テスタのハードウェアに依存しない書式でテスト実行部記述ファイルを記載する。このテスト実行部記述ファイル１０２をテスタ実行書式変換部１０６がハードウェアに依存する形式に変換する。変換後のテスト実行部記述ファイル１０２‐２を受信したテストプログラムジェネレータ１０３は、これを解析し、テスト条件１００とテストアルゴリズム１０１から生成したテストプログラム１０４の該当箇所にテスト実行部プログラムを挿入する。 （もっと読む）

【課題】従来、故障診断サービスを行うために、車両に搭載される全ての電子制御装置に対して故障診断サービス機能を設けてきた。しかし、コスト低減等の要求から電子制御装置に搭載できる不揮発メモリの容量や電子制御装置の開発工数が制限され、一部の電子制御装置は故障診断サービス機能を備えられないことがある。
【解決手段】複数の電子制御装置が搭載され、各電子制御装置が通信可能に相互に接続された車両において、診断テスタによる故障診断サービス機能を備えていない電子制御装置の当該機能を、当該機能を備えている電子制御装置で代替する。さらに、当該機能を備えていない電子制御装置のプログラム書換えを行う場合には、当該機能を備えていない電子制御装置が、当該機能を代替していた電子制御装置に成りすまして診断テスタと通信を行うことで、当該機能を備えていない電子制御装置の診断テスタによるプログラム書換え制御が可能となる。 （もっと読む）

【課題】効率よくテストを行うことが可能な半導体回路およびそのテスト方法を提供する。
【解決手段】半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも１つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。次に、前記引数に所定の値を設定して、前記テストプログラムおよび前記所定の値が設定された引数を含むテストパタンを生成し、前記テスト対象の半導体回路に供給する。次に、前記テストプログラムを前記半導体回路内に設けられる記憶部の第１のアドレスに格納し、かつ、前記所定の値が設定された引数を前記記憶部の第２のアドレスに格納する。さらに、前記第２のアドレスに格納された引数を参照しつつ、前記第１のアドレスに格納された前記テストプログラムを実行する。 （もっと読む）

【課題】システムバスのコマンドの通信量を軽減することでオーバーヘッド時間を短縮し、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。
【解決手段】記憶部を有するハードウェアを複数備え、コマンドにより記憶部から設定対象部へ設定データを転送する半導体試験装置において、コマンドを送信するシステム制御部と、システム制御部から送信された設定データと転送時に必要なアドレス情報を記憶部に書き込み、コマンドを受信して記憶部に記憶されているアドレス情報に基づいて設定データを転送する設定制御部とを備える。 （もっと読む）

【課題】複数の動作部が並列に命令データを処理する処理システムにおいて、各動作部が異常状態となった場合に、他の動作部への影響を排除する。
【解決手段】複数の動作部に対する命令データを受信して格納する共通バッファと、共通バッファが格納した命令データを順次読み出して、対応する動作部に順次振り分けて伝送し、且つ、いずれかの動作部へ命令データを伝送できず、共通バッファから当該命令データを削除できない場合に、当該動作部に代わって当該命令データに応じた処理を行い、共通バッファから当該命令データを削除する振分部とを備える処理システムを提供する。 （もっと読む）

【課題】 ＪＴＡＧ−ＩＣＥやロジックアナライザ等の測定器を用いることなく、ソフトウェアプログラムの介在を極力排除し、ＬＳＩ内部のモードを極力変化させることなく、ソフトウェアプログラム及びハードウェアにおける問題発生条件の特定、及び問題解析を可能とする。
【解決手段】 バスコントローラから供給される各イニシエータとの間で送受信されたデータ、及び当該データに対応する上記イニシエータ識別番号を、バスイニシエータモニタの内蔵メモリに記憶する。そして、所定のアボート、或いはシステムリセットが発生した際に、上記内蔵メモリをライトプロテクト状態とし、このライトプロテクト状態とされた内蔵メモリに記憶されている上記データ及び上記イニシエータ識別番号を、シリアルデータラインを介して外部に出力して問題発生条件の特定及び問題解析を行う。 （もっと読む）

【課題】交換モジュールの検査を低コストで実現すること。
【解決手段】本発明に係る診断装置１は、検査用プログラマブル論理回路２１と、複数の検査モードの情報を格納する検査用記憶手段２２と、を有する検査用ボード２と、制御用プログラマブル論理回路１１と、複数の検査モードの情報を格納する制御用記憶手段１４と、検査用ボード２が接続された場合に、検査用記憶手段２２及び制御用記憶手段１４に格納された複数の検査モードの情報に基づいて、検査用プログラマブル論理回路２１及び制御用プログラマブル論理回路１１を検査用の論理に置き換え、複数の検査モードを順次実行することで診断を行う診断プロセッサ１５と、を有する交換モジュールと１、を備えるものである。 （もっと読む）

一実施形態では、自動テスト装置用のプロトコルエンジン回路は、プロトコル固有データを取り込んで、被試験デバイスに対応して選択されたプロトコル定義を用いて、被試験デバイスのテストのためにプロトコル固有データをフォーマットするように構成された、プロトコル生成回路を含む。このプロトコル生成回路は、プロトコル定義テーブルから、選択されるプロトコル定義を取り込むように構成することができる。
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【課題】故障部位を特定することは容易ではない。そのため、回路基板検査装置の修理に要する時間が長くなってしまうという課題がある。
【解決手段】被検査回路基板Ｓを順次検査し、被検査回路基板Ｓごとの検査結果を出力する検査部４と、文字や画像を表示するディスプレイ２と、検査結果が異常であることを示すエラー情報としてのエラーコードを検査部４から取得すると、サーバー３０にエラーコードを送信するエラー情報送信部１０と、サーバー３０から送信された検査部４のエラーコードに対応する修理情報としての修理内容を取得する修理情報取得部１１と、修理内容をディスプレイ２に表示する修理情報表示部１２と、を備えた回路基板検査装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】処理を高速化することができる診断システム、診断方法、診断装置及び診断プログラムを提供することを提供すること。
【解決手段】本実施の形態にかかる診断システムは、複数の被診断装置３００〜３０ｍと、複数の被診断装置３００〜３０ｍのうち、診断対象となる被診断装置を指定するための情報が設定される装置指定レジスタ１１２と、装置指定レジスタ１１２の情報が設定される場合に、設定される情報が写される装置指定レジスタ写し１０２と、装置指定レジスタ１１２に前報を設定して被診断装置への診断処理を行う診断装置１００を備えている。診断装置１００は、装置指定レジスタ写し１０２を参照して装置指定レジスタ１１２への設定を行うか否かを判定する第１の処理と、診断処理毎に装置指定レジスタ１１２への設定を行う第２の処理と、を切換える。 （もっと読む）

【課題】ＬＳＩ等を実装したデジタル処理回路上の論理回路のロジックテストの回数を最小化してデジタル処理回路ごとのテストコストを削減する。
【解決手段】本発明のデジタル処理回路２０は、テスト信号に基づき所定のロジック処理を行ってｎビットの第１の処理結果を出力するＤＳＰ２２と、ＤＳＰ２２に縦続して接続され、第１の処理結果を入力し、入力した第１の処理結果に基づき所定のロジック処理を行ってｍビットの第２の処理結果を出力するＤＳＭ２３と、第２の処理結果のうちの特定のｍ１ビットを順次取り込み、所定のタイミングで出力するＳＲ２４と、セレクト信号により、第１のテストモードのときには、第１の処理結果及びＳＲ２４の出力を選択し、第２のテストモードのときには、第２の処理結果のうちのｍ２ビット（ｍ２＝ｍ-ｍ１）を選択し、テスト結果を出力するセレクタ２５とを有する。 （もっと読む）

【課題】コストアップを可及的に抑制しながら、信号経路における信号伝送状態を検査することのできる検査システムを提供する。
【解決手段】複数のビットにより生成され得る複数パターンの信号列を所定のルールに基づいて複数のグループに区分した場合に当該グループ内の各信号を予め定められた同一の出力信号に変換し且つグループごとに異なる出力信号を算出する関数に基づく演算を、前記複数のビットをもつテストデータが信号経路上で伝送されたときに該信号経路から受信した信号に対して行う演算部３５３と、該演算部３５３から出力され得る出力信号のうち１の出力信号を信号経路における信号伝送状態が正常である場合に得られる正常信号として記憶するハッシュ値記憶部３５２と、演算部３５３の出力信号と正常信号とが一致するか否かに応じて前記信号伝送状態が正常であるか否かを判断する判断部３５４とを備えた。 （もっと読む）

【課題】ＬＳＩテスタを用いたテストプログラムのデバッグにおいて、オペレータの負担を軽減するとともにデバッグ前に行う準備に要する時間を短縮できるようにする。
【解決手段】テストプログラム自動作成ツール（１０）に、テストに応じて使用するピンのグループ（設定ピングループ）をピンラインナップと対応させて定義する機能を持たせ、テスタ（２０）にはテストプログラムの実行時にデバッグ中のテストに合わせたピンラインナップを自動的に選択する機能（２３，２４）を持たせるようにした。 （もっと読む）

【課題】テストプログラムに基づいて半導体集積回路試験装置が行う被測定デバイスの動作試験において、効率良く、安定したデバッグを行うための動作試験支援装置を提供する。
【解決手段】半導体試験装置が第１のテストプログラムに基づいて行った第１の動作試験に関する第１の動作試験情報と、第１のテストプログラムが変更された第２のテストプログラムに基づいて行った第２の動作試験に関する第２の動作試験情報とを記憶し、第１の動作試験情報と、第２の動作試験情報との差分を抽出し、視認可能に表示する。 （もっと読む）

【課題】スキャンパスを動的に切り換えることにより、スキャンパスの故障箇所を容易に特定することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置１は、スキャン回路を有する半導体装置であって、スキャン回路は、縦続接続される複数のフリップフロップと、前段のフリップフロップの出力を後段のフリップフロップに選択的に出力する１つ以上の選択部と、を有するスキャンパスを複数具備し、選択部は、自己の属するスキャンパス以外のスキャンパスに含まれるフリップフロップの出力を後段のフリップフロップに選択的に出力する。 （もっと読む）

【課題】 複数のテスト対象プログラムをテストするに際し、別々のタイミングの手動操作に起因するオペレータの操作誤りを減少させ、テストを効率良く実施すること。
【解決手段】 テスト操作情報を配信するコンピュータが、複数のテストマシンのそれぞれに配信するテスト操作情報から自動操作情報と手動操作指示情報とを抽出し、同一内容の手動操作が複数のテストマシンの全てまたは一部で同じタイミングで実行されるように各テストマシンに対する手動操作指示情報を並べ替える手段と、並べ替えた手動操作指示情報と自動操作情報とからなるテスト操作情報を複数のテストマシンのそれぞれに配信する手段とを備え、複数のテストマシンが、配信されたテスト操作情報に従い各テストマシンに実装されたテスト対象プログラムのテストを実行する手段とを備える。 （もっと読む）