長い照明寿命及び均一性並びに広い視角を示す、ディスプレイ装置において用いるためのディスプレイ素子が提供される。その素子は、紫外光を放射する光源と、複数の個別に制御可能（すなわち指定可能）なシャッタを有する液晶デバイスと、光源と液晶デバイスとの間にあるスクリーニング素子と、シャッタに光学的に位置合わせされる複数の発光素子と、安定化電源とを備えることができる。ディスプレイ装置、較正技法及び電源管理方法も提供される。

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【課題】低消費電力で、かつ表示画面の焼き付きを防止する半導体回路装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、画面表示回数をカウントする表示カウンタ回路と走査線のオンオフを制御するカウンタ回路を設け、記憶回路に記憶された表示データを切り替えるタイミングで、表示走査線のオンする走査線数を増加、減少させることで記憶回路に記憶された表示データを変更することなく、表示画面の焼き付きを防止する。 （もっと読む）

プロジェクタシステム用の識別情報を表示するシステムおよび方法が開示されている。かかる方法は、プロジェクタシステムを用いて表示画面を画面上に投影することと、プロジェクタシステムを用いて画面上の表示画面のうちの少なくとも一部に識別画像を投影することと含んでいる。また、識別画像は、見る人に識別情報を伝達するように構成されている。 （もっと読む）

【課題】単板式カラー画像表示装置において高解像度と光利用率の高効率化とを実現する。
【解決手段】光源部１からの赤緑青の各色光を回転多面鏡７により走査しながら画像表示パネル４上に導き、矩形短冊状の照明領域を形成する。画像表示パネル４の各画素はその画素に入射する光の色に対応した映像信号で駆動される。この映像信号は回転多面鏡７の各反射面の反射率のばらつきに応じて振幅変調されている。これにより、高解像度、高輝度で、フリッカが軽減されたカラー画像を表示できる。 （もっと読む）

【課題】 表示の変更に電力を要するが表示の維持には電力を必要としないメモリ性の液晶表示素子を利用し、液晶表示素子の表示切り替え用電力を光発電器（太陽電池）で生成すると共に、太陽電池で生成した電気を蓄電池に蓄えておき、必要に応じて液晶表示素子の表示切り替えに利用するようにした情報表示装置を提供する。
【解決手段】 情報表示装置１は、メモリ性の液晶表示素子２と、光エネルギを電気エネルギに変換する光発電器２６と、光発電器で生成した電気を蓄える蓄電池２７と、表示情報受信器２１と、表示情報受信器２１で受信した表示情報に基づいて蓄電池２７から液晶表示素子２に電気を供給し、液晶表示素子２の表示を変更する制御部２４を有する。 （もっと読む）

【課題】 オペアンプ回路１、２から成るウインドウコンパレータを用いた液晶駆動電源装置に於いて、オペアンプ回路が持つオフセットの影響でウインドウがキャンセルされ、出力バッファ５を構成するＰチャネルＭＯＳトランジスタＱ１００とＮチャネルＭＯＳトランジスタＱ２００に貫通電流が流れることを防止する。
【解決手段】 ＰチャネルＭＯＳトランジスタＱ１００がオン状態のときにＮチャネルＭＯＳトランジスタＱ２００のゲートを接地レベルに落とし、これによってＮチャネルＭＯＳトランジスタＱ２００をオフ状態にする貫通電流防止用トランジスタ３（ＮチャネルＭＯＳトランジスタＱ３００）を設ける。 （もっと読む）

【課題】 液晶の応答速度を速くして、動きのある映像でもにじみや尾引きを防止し、フィールドシーケンシャルカラー方式における色再現性を向上できる液晶表示装置を低コストで提供する。
【解決手段】 スイッチング素子に接続された画素電極とコモン電極との間に液晶容量が構成され、画素電極と補助電極（又はゲート電極）との間に補助容量が構成されている液晶表示装置に対して、画素電極とコモン電極との間に映像信号に相当する電圧を印加する映像信号印加期間と、補助信号に相当する電圧を印加する補助信号印加期間とを含み、コモン電圧Ｖｃと補助電圧Ｖａの少なくともいずれか一方を映像信号印加期間と補助信号印加期間とで異ならせる。ソースドライバから補助信号を供給しなくても、映像信号印加期間と補助信号印加期間とで映像信号に応じた異なる電圧Ｖｌｃを液晶容量に印加して液晶の応答速度を速くすることができる。 （もっと読む）

【課題】液晶ディスプレイに用いるカラーフィルタ等のように周期パターンを持つ部品に対し、数値的一定基準にてムラ欠陥を検査できるようにすることを課題とする。
【解決手段】部品の画像輝度データから、画像輝度分布データを作成することによって画像輝度データを規格化し、規格化された画像輝度データが、1つのしきい値よりも小さいか又はもう１つのしきい値よりも大きいところをムラ欠陥候補部とし、隣接するムラ欠陥候補部を１つのムラ欠陥候補領域として面積と平均輝度値を算出し、ムラ欠陥候補領域の周辺部をムラ欠陥候補周辺部として平均輝度値を算出し、ムラ欠陥候補領域の面積の大きさ、及びムラ欠陥候補領域とムラ欠陥候補周辺部の平均輝度値の差の大きさから、ムラ欠陥部を検出する。 （もっと読む）