【課題】画質劣化を引き起こさないように欠陥画素を選別する。
【解決手段】撮像装置１の欠陥画素補正部１３は、撮像素子１６から利得調整部１２を介して撮像信号ａ１２を取得し、撮像素子１６の欠陥についての検査対象となる画素の画素値とその検査対象の画素の周囲の画素値との差分の絶対値を算出する。次に、欠陥画素補正部１３は、差分の絶対値と欠陥画素判定閾値とを比較して、差分の絶対値が欠陥画素判定閾値より大きい場合には、当該検査対象の画素が欠陥画素であると判定する。なお、欠陥画素判定閾値は、画像変化検出部１５において、映像信号ａ１４から画像変化を検出し、画像変化の大きさに応じて変化される。 （もっと読む）

【課題】光電変換部の高集積化、制御系の複雑高度化に伴って、光電変換手段のそれぞれやこれらを制御する信号線についての不良検出が容易ではない。
【解決手段】複数のセンサ部と、前記複数のセンサ部のそれぞれに対応する複数の記憶部とを有し、通常モードにおいては、前記複数のセンサ部の出力に基づいて複数の第１制御情報を設定し前記複数の記憶部にそれぞれ格納し、前記複数のセンサ部のそれぞれに、対応する前記第１制御情報にしたがった基準まで電荷を蓄積させ、検査モードにおいては、予め定められた検査用の複数の第２制御情報を前記複数の記憶部にそれぞれ格納し、前記複数のセンサ部のそれぞれに、対応する前記第２制御情報にしたがった基準まで電荷を蓄積させ、前記複数のセンサ部にそれぞれ蓄積された電荷量に基づいて、前記複数のセンサ部を検査する制御部を備える半導体装置を採用する。 （もっと読む）

【課題】 動画撮影時に、被写体の輝度変化に対応したゲイン設定を行うと共に、ゲイン設定切換え時に生じる撮影画像の輝度変化による画像劣化を低減すること。
【解決手段】 第１の増幅手段と、第２の増幅手段との出力の合計が入射光量に基づく露出制御手段の出力である制御ゲインによって決定され、ゲイン制御手段の行う第１及び第２の増幅手段の各々に設定される第１及び第２のゲインの各々のゲイン切換えを、ゲイン制御手段が算出する制御ゲインの所定時間毎の出力変化量と、ヒストグラム算出手段によって撮影画像のヒストグラムからの検出された黒レベル領域結果に基づいて、黒レベル領域判定手段が判定する黒レベル領域判定結果とから、制御ゲインの所定時間毎の出力変化量が所定の閾値以上かつ黒レベル領域判定手段の黒レベル領域判定結果が所定の割合以下と判断された場合に、第１及び第２の増幅手段の第１及び第２のゲインを切り換えるようにする。 （もっと読む）

【課題】 速写性を重視したうえで、連写等の駆動モードでの挙動が駒毎に変化する場合でも、各々の駒での画質劣化を抑え、好適な画像を得る。
【解決手段】 同一モード内で連続的に撮像動作を行う場合で、所定駒前後で、使用するシェーディング補正等の補正データを変更する。 （もっと読む）

【課題】 動画撮影時に、被写体の輝度変化に対応したゲイン設定を行うと共に、ゲイン設定切換え時に生じる撮影画像の輝度変化による画像劣化を低減すること。
【解決手段】 第１の増幅手段と、第２の増幅手段の出力との合計が入射光量に基づく露出制御手段の出力である制御ゲインによって決定され、第１の増幅手段に設定される第１のゲインと第２の増幅手段に設定される第２のゲインの各々のゲイン切換えを、制御ゲインが所定の第１の閾値以上かつ第１の閾値と第２の閾値の範囲内にある場合に、撮像装置本体のブレ検出手段の出力に基づきパン／チルト判定手段によってパンニングと判定された場合に行う。また、パンニングでない場合は、ゲイン制御手段によって露出制御手段の所定時間毎の出力変化量を算出し、変化量が所定の閾値以上と判断された場合に、第１の増幅手段の第１のゲインと第２の増幅手段の第２のゲインを切り換えるようにする。 （もっと読む）

【課題】ストリーキングを低減することができるようにする。
【解決手段】 入射された光に対応する画素読み出し信号を出力する複数の単位画素から出力された画素読み出し信号が信号線により伝達され、信号線に接続され、単位画素から画素読み出し信号を読み出すための読み出し電流を供給され、画素読み出し信号のレベルをディジタルデータに変換するための参照信号が生成され、信号線の電圧の振幅の変化を制限する閾値を参照信号のゲインに連動して切り替えて、信号線の電圧の振幅の変化が制限される。 （もっと読む）

【課題】 基準感度以下の感度で撮像された画像の暗部における解調性を改善する。
【解決手段】 基準感度を下回る感度に設定する場合、線形変換部（例えばゲイン回路）の入出力特性と、非線形変換部（例えばガンマ回路）の入出力特性との組み合わせにより、変更後の撮像感度に対応した出力が非線形変換部から得られるように、非線形変換部の入出力特性を基準感度に対応する入出力特性から変更する。 （もっと読む）

【課題】必要以上に欠陥画素の補正を行うことなく、また補正されなかった欠陥画素を目立たないようにした撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムを提供する。
【解決手段】撮像装置１は、欠陥画素の位置及びレベルから、設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する。そして、補正することが決定された欠陥画素を補正する。 （もっと読む）

【課題】カウント値の伝搬遅延が異なることに起因する列毎の固定のノイズ成分を低減することができる固体撮像装置を提供することを課題とする。
【解決手段】行列状に配列され、光電変換により信号を生成する複数の画素と、行列状に配列された複数の画素の各列に設けられ、複数の画素の信号を列毎に読み出す複数の読み出し回路と、複数の読み出し回路から出力される信号と時間的にレベルが変化する参照信号とを比較する複数の比較部と、参照信号のレベルが変化を開始してからの時間をカウントするカウンタと、カウンタのカウント値をバッファリングする第１のバッファ（９ｎ）と、カウンタのカウント値をバッファリングする第２のバッファ（９ｓ）と、複数の比較部に接続され、複数の読み出し回路から出力される信号と参照信号との大小関係が逆転したときのカウンタのカウント値を記憶する複数の記憶手段（６）とを有する。 （もっと読む）

【課題】装置自体で放射線の照射が開始されたことを検出する放射線画像撮影装置で読み出された画像データ等に対して適用されるゲイン補正値を的確に更新することが可能な放射線画像撮影システムを提供する。
【解決手段】放射線画像撮影システム５０は、放射線画像撮影前に各スイッチ手段８をオフ状態とした状態で読み出し処理を行って読み出したリークデータｄleakが閾値ｄleak_thを越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出する放射線画像撮影装置１と、画像処理装置５８とを備え、画像処理装置５８は、放射線画像撮影装置１で読み出された画像データＤのゲイン補正値Ｇの更新時には、放射線画像撮影装置１における検出処理により画像データＤに生じる線欠陥を修復し、修復した画像データＤを含む画像データＤに基づいて、各ゲイン補正値Ｇをそれぞれ更新する。 （もっと読む）

【課題】従来の縦筋状のムラの補正処理では、補正と同時にランダムノイズを画像信号に足してしまい、ランダムノイズの増加の弊害を招く。
【解決手段】撮像装置は、縦筋状のムラの補正処理に用いる遮光状態での光電変換動作で生じた信号の読み出し動作において、少なくとも撮像素子の画素信号の転送手段の信号転送速度と画素信号処理の信号処理ゲインを変更するランダムノイズが低減するように変更する。 （もっと読む）

【課題】ノイズによるレベル変動を検知して読取動作を制御する放射線画像検出装置を提供する。
【解決手段】信号監視部８５によって、可変ゲインプリアンプ８２からの実際の出力波形を監視して、その出力波形のレベル変動が所定の閾値を超えている場合、Ａ／Ｄ変換器８８の動作を停止する。その後、レベル変動が所定の閾値内にあれば、レベル変動が収まったと判断して、Ａ／Ｄ変換器８８の動作を再開するように制御する。 （もっと読む）

【課題】画素加算した場合でもダイナミックレンジが損なわれるのを防ぐことができる。
【解決手段】撮影装置１０は、被写体を撮像する撮像素子の画素加算機能による画素加算数に応じて変化する撮像素子の飽和電荷量に基づいて、設定された画素加算数に応じた撮像信号の利得を設定し、設定された利得に応じて撮像信号の利得を制御する。 （もっと読む）

【課題】固体撮像素子（イメージセンサー）の温度を固体撮像素子のＯＢ領域画素の出力値から推定する際、ＯＢ領域の画素出力値からＯＢ領域の欠陥画素の出力値を除外した値を用いることで、固体撮像素子の温度推定の精度を向上させることができる撮像装置及び撮像方法を提供すること。
【解決手段】撮像領域内に遮光領域（ＯＢ領域）を含む固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度による欠陥画素の位置情報を予め求めておいて、撮影時に欠陥画素の位置情報を元に固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度を求て、この求めた温度に基づき補正条件を変更して欠陥画素を補正する。しかも、遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外して固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度を算出する。 （もっと読む）

【課題】ストロボを用いて撮影された撮影画像において、当該ストロボによる局所的な配向ムラを取り除けるようにする。
【解決手段】ストロボ１１１から被写体に向けて閃光を発し、撮像素子１０３において、被写体の撮影に係る第１の画像（撮影画像）を取得すると共に、被写体の距離分布を測距するための第２の画像を取得する。瞳分割画像位相差測距部１０６では、第２の画像に基づいて、第１の画像における各画像領域ごとに、被写体との距離を測距する処理を行う。そして、補正部１１３では、瞳分割画像位相差測距部１０６で測距された各画像領域ごとの被写体の距離と、ストロボ配光特性記憶部１１２に記憶されているストロボ配光特性とを用いて、第１の画像の補正処理を行う。 （もっと読む）

【課題】より多様なデータ出力を実現することができるようにする。
【解決手段】本開示の撮像装置は、行列状に構成される複数の画素のそれぞれにおいて入射された被写体の光を光電変換素子により光電変換する画素アレイと、その画素アレイの各画素の画素信号を出力するA/D変換部の数を選択する選択部と、前記選択部を制御し、要求に応じた数の前記A/D変換部を選択させる制御部とを備える。本開示は撮像素子、制御方法、並びに、撮像装置に適用することができる。 （もっと読む）

【課題】短時間で欠陥画素の抽出を行うことができる、放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、欠陥画素抽出プログラム、及び欠陥画素抽出方法を提供する。
【解決手段】画素２０のＴＦＴスイッチ４の駆動時間（オン時間）を異ならせて取得した、第１の駆動時間による第１画像と、第２の駆動時間による第２画像とを取得し、第１画像と第２画像との差分画像を取得する。さらに、差分画像の画素の画素値と、当該画素の周囲の画素の画素値の平均値とを比較した比較値が閾値を超える場合は、当該画素を欠陥画素として判定し、記憶することにより欠陥画素の抽出を行う。 （もっと読む）

【課題】正確にＡＤ変換処理を行うことができるようにする。
【解決手段】 画素から得られるアナログの画素信号のレベルをデジタルデータに変換するための参照信号であって、第１のゲインの参照信号と、第１のゲインと異なる第２のゲインの参照信号を、画素リセットレベル読み出し時と画素データレベル読み出し時に生成し、アナログの画素信号のレベルと参照信号とを比較し、比較処理と並行してカウント処理を行ない、第１のゲインの参照信号または第２のゲインの参照信号の比較処理が完了した時点のカウント値をデジタルデータとして取得する。 （もっと読む）

【課題】ＯＢ画素から読み出された黒レベルのずれが大きい場合においても、ＯＢ画素から読み出された黒レベルを目標値に効率よく収束させる。
【解決手段】 画素から読み出される画素信号の増幅率を設定するアナログゲインＧＡがどのレンジに属するかを判定するアナログゲインレンジ判定部１７と、アナログゲインレンジ判定部１７による判定結果に基づいて、黒レベルを設定するクランプパラメータＰＣの制御条件を設定するクランプパラメータ制御条件設定部１８と、クランプパラメータ制御条件設定部１８にて設定された制御条件に基づいて、クランプパラメータＰＣを制御するクランプパラメータ制御部１６とを備える。 （もっと読む）

【課題】良好な出力線形性、安定した駆動電流、及び／又は良好な感度均一性を得ることができる光電変換装置を提供することを課題とする。
【解決手段】光電変換装置は、光電変換素子により光電変換された信号を第１の正転アンプにより共通出力線に正転出力するセンサセル部（１００）と、共通出力線より入力した信号を第１のメモリ容量に保持し、第１のメモリ容量に保持した信号を第２の正転アンプにより共通出力線に正転出力する第１のメモリセル部（１０１）と、共通出力線の信号をアンプにより正転又は反転して共通出力線に出力する転送部（１１３）と、転送部の入力端子及び共通出力線間に設けられるトランスファースイッチ（１２１）と、転送部の出力端子及び共通出力線間に設けられるフィードバックスイッチ（１２０）とを有する。 （もっと読む）