撮像装置及びその制御方法、並びにプログラム
【課題】必要以上に欠陥画素の補正を行うことなく、また補正されなかった欠陥画素を目立たないようにした撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムを提供する。
【解決手段】撮像装置１は、欠陥画素の位置及びレベルから、設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する。そして、補正することが決定された欠陥画素を補正する。
【解決手段】撮像装置１は、欠陥画素の位置及びレベルから、設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する。そして、補正することが決定された欠陥画素を補正する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、固体メモリ素子を有するメモリカードを記録媒体として、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の固体撮像素子で撮像した静止画像や動画像を記録及び再生する電子カメラ等の撮像装置が市販されている。
【０００３】
ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の固体撮像素子を用いて撮像する場合、撮像素子で発生する暗電流ノイズや撮像素子固有の微小なキズによる画質劣化が生じ得る。このような画質劣化に対し、様々な補正処理を行うことによって高品位な画像を得ることができる。
【０００４】
例えば、撮像素子を露光しない状態で本撮像と同様に電荷蓄積を行って読み出したダーク画像と、撮像素子を露光した状態で電荷蓄積を行って読み出した本撮像画像とを演算処理することにより、ダークノイズ補正処理を行うことが可能である。
【０００５】
これにより、撮像素子で発生する暗電流ノイズや撮像素子固有の微小なキズによる画素欠損等の画質劣化に関して、撮像画像を補正して高品位な画像を得ることができる。
【０００６】
また、欠陥画素に隣接する画素を用いた補間演算処理により欠陥画素を補正することで、画質劣化を更に低減することが可能である。
【０００７】
欠陥画素の補正は、通常は以下のように行われる。まず、予め撮像素子の欠陥画素を検出し、その欠陥画素に関するデータをＲＯＭ等に記憶しておく。この作業は、例えば撮像素子の工場出荷時に実施する。所定の条件下における標準電荷蓄積時間での撮像素子の出力を評価し、評価結果に基づき欠陥画素を判定する。
【０００８】
そして、欠陥画素の種類（黒キズ画素、白キズ画素等）及び欠陥画素のアドレスとその欠陥レベルのデータを取得し、これらをＲＯＭ等に書いておく。
【０００９】
このように、予め欠陥画素の位置等をＲＯＭに記憶した撮像装置では、撮像素子から供給された画像のうち、ＲＯＭに記憶された欠陥画素の位置データに対応した位置の画素に関して、その近傍の画素データを用いて欠陥画素データを補正することができる。
【００１０】
これにより撮像素子によって得られた映像信号のうち、特異なレベルの信号を出力する画素（すなわち欠陥画素）は補正され、良好な再生画像を得ることができるようになる。
【００１１】
欠陥画素の中でも、出力が高くなる白点状の欠陥画素（以下、「白キズ画素」という）については、撮像時の撮像素子における電荷蓄積時間によって大きくその程度が異なることが知られている。
【００１２】
従って、通常の短い蓄積時間（短秒時）での撮像では問題にならないような画素でも、通常より長い時間（長秒時）での撮像時にはその欠陥画素としてのレベルが大きくなり、画質に影響を与えてしまうことになる。
【００１３】
このような長秒時の欠陥画素による画質劣化を考慮して欠陥画素の補正を実施するとする。すなわち、欠陥のレベルの低い画素も補正する。この場合、膨大な個数の画素を欠陥画素として補正を行うことになるが、短秒時には本来補正処理が不要な画素にも補正処理を行ってしまい、逆に過補正による画質低下を招いてしまう。
【００１４】
そこで、所定の閾値を設定して欠陥画素補正を行う方法がある。例えば、電荷蓄積時間やＩＳＯ感度などの撮像条件に応じて、補正する欠陥画素のレベルを変えるという方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。これによって、欠陥画素の補正不足、あるいは過補正を避けることができる。
【００１５】
上記欠陥画素補正以外にも、電子カメラ等の撮像装置では、得られた各画素の出力値に対し、様々な補正処理を行っている。
【００１６】
例えば、レンズの周辺光量落ちを考慮し、レンズの種類によって画像の周辺部にゲイン補正をかける周辺光量落ち補正がある。また、撮像画像に応じて、被写体の顔など、画面内の所定の領域のみゲインをかける補正もある。更に、撮像時のレンズの絞り値によって出力にゲインをかける補正もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１７】
【特許文献１】特開２００３−３３３４３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
しかしながら、上述のように本撮像とは別に画像を取得して補正する方法は、１枚画像を取得するために２回の電荷蓄積が必要であり、長秒時撮像ほどその時間的負荷が大きくなる。すなわち、レリーズタイムラグ、撮像コマ間隔に大きな影響を与えてしまう問題があった。
【００１９】
一方、電荷蓄積時間やＩＳＯ感度といった撮像条件に応じて、補正する欠陥画素のレベルを変えるという方法は、周辺光量補正など画面内の所定の領域にゲインをかけてしまうと、補正対象にならなかった欠陥画素が目立ってしまうという結果になっていた。
【００２０】
本発明の目的は、必要以上に欠陥画素の補正を行うことなく、また補正されなかった欠陥画素を目立たないようにした撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
上記目的を達成するために、請求項１の撮像装置は、被写体を光学部材を介して撮像素子により撮像することで撮像画像を得る撮像装置であって、前記撮像素子に起因して生じる欠陥画素の撮像画像における位置と欠陥の度合いを示すレベルとが対応付けられた欠陥情報が記憶された第１記憶手段と、前記撮像画像に対し行われるゲイン補正に応じて定まるとともに、撮像画像を複数の領域に分割することで得られた各領域ごとに、前記レベルと比較するための閾値が設定された設定情報が記憶された第２記憶手段と、前記第１記憶手段に記憶された欠陥画素の位置、及びレベルを取得する取得手段と、前記取得手段により取得された欠陥画素の位置及びレベルから、前記第２記憶手段に記憶された設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する決定手段と、前記決定手段により補正することが決定された欠陥画素を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、必要以上に欠陥画素の補正を行うことなく、また補正されなかった欠陥画素を目立たないようにした撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の実施の形態に係る撮像装置の概略構成を示す図である。
【図２】図１における不揮発性メモリに記憶されたキズデータの一例を示す図である。
【図３】図１におけるメモリに記憶されたキズレベル設定テーブルであり、画像の位置によって補正するキズレベル設定テーブルを示している。
【図４】図３に示される領域を示す図である。
【図５】図１におけるメモリに記憶された図３におけるキズレベルとそのレベルに対応したキズ補正レベルを示す図である。
【図６】図１におけるシステム制御回路により実行される撮像全体処理（その１）の手順を示すフローチャートである。
【図７】図１におけるシステム制御回路により実行される撮像全体処理（その２）の手順を示すフローチャートである。
【図８】図７のステップＳ１３６における撮像処理の手順を示すフローチャートである。
【図９】図７のステップＳ１３９におけるキズ補正処理の手順を示すフローチャートである。
【図１０】図９のステップＳ５０１の補正対象画素指定処理の手順を示すフローチャートである。
【図１１】図９のステップＳ５０１の補正対象画素指定処理の手順を示すフローチャートである。
【図１２】絞り値（Ａｖ）によるキズレベルの係数βを示した表を示す図である。
【図１３】図１２を適用したキズレベルとそのレベルに対応したキズ補正レベルを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳述する。
【００２５】
［第１の実施の形態］
図１は、本発明の実施の形態に係る撮像装置１の概略構成を示す図である。
【００２６】
図１における撮像装置１は、例えば、デジタル一眼レフカメラである。撮像装置１は、画像処理装置（本体）１００と、画像処理装置本体に対し、着脱可能に装着される記録媒体２００，２１０と、画像処理装置本体に対し、着脱可能に装着されるレンズユニット３００（光学部材）を備えている。
【００２７】
画像処理装置１００において、シャッタ１２は、撮像素子１４への露光量を制御する。撮像素子１４は被写体の光学像を電気信号に変換する。
【００２８】
レンズユニット３００内の撮像レンズ３１０に入射した光線は、絞り３１２、レンズマウント３０６、１０６、ミラー１３０及びシャッタ１２を介して導き、光学像として撮像素子１４上に結像することができる。このように、撮像装置１は、被写体を光学部材を介して撮像素子により撮像することで撮像画像を得る撮像装置である。
【００２９】
Ａ／Ｄ変換器１６は、撮像素子１４から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する。タイミング発生回路１８は、撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６及びＤ／Ａ変換器２６にクロック信号や制御信号を供給する。また、タイミング発生回路１８は、メモリ制御回路２２及びシステム制御回路５０によって制御される。
【００３０】
画像処理回路２０は、Ａ／Ｄ変換器１６からのデータあるいはメモリ制御回路２２からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。画像処理回路２０は必要に応じて撮像画像を用いて所定の演算処理を行う。
【００３１】
そして、画像処理回路２０は、得られた演算結果に基づき、システム制御回路５０がシャッタ制御部４０及び測距制御部４２を制御するためのＴＴＬ方式のＡＦ処理、ＡＥ処理及びＥＦ処理を行う。なお、ＴＴＬはスルー・ザ・レンズ、ＡＦはオートフォーカス、ＡＥは自動露出、ＥＦはフラッシュ調光をそれぞれ示す。
【００３２】
また、画像処理回路２０は、撮像画像を用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてＴＴＬ方式のＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理を行う。なお、本実施の形態では、測距制御部４２及び測光制御部４６を専用に備えているので、システム制御回路５０は、測距制御部４２及び測光制御部４６を用いてＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理の各処理を行うようにする。そして、画像処理回路２０を用いてＡＦ処理、ＥＦ処理の各処理を行わない構成としても良い。
【００３３】
メモリ制御回路２２は、Ａ／Ｄ変換器１６、タイミング発生回路１８、画像処理回路２０、画像表示メモリ２４、Ｄ／Ａ変換器２６、メモリ３０及び圧縮・伸長回路３２を制御する。
【００３４】
Ａ／Ｄ変換器１６からのデータは、画像処理回路２０及びメモリ制御回路２２を介して、画像表示メモリ２４あるいはメモリ３０に書き込まれる。または、Ａ／Ｄ変換器１６からのデータは、直接、メモリ制御回路２２を介して画像表示メモリ２４あるいはメモリ３０に書き込まれる。
【００３５】
画像表示部２８はＴＦＴ方式のＬＣＤからなる。画像表示メモリ２４に書き込まれた表示用の画像はＤ／Ａ変換器２６を介して画像表示部２８に表示される。撮像画像を画像表示部２８で逐次表示する場合、電子ファインダ機能を実現することが可能である。
【００３６】
また、画像表示部２８はシステム制御回路５０の表示に従って表示のＯＮ／ＯＦＦを任意に行うことが可能であり、表示をＯＦＦにした場合、画像処理装置１００の電力消費を大幅に低減することができる。
【００３７】
メモリ３０は、撮像された静止画像や動画像を格納する。このメモリ３０は、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶容量を有している。従って、複数毎の静止画像を連続して撮像する連写撮像やパノラマ撮像の場合にも、高速かつ大量の画像書き込みをメモリ３０に対して行うことが可能である。また、メモリ３０はシステム制御回路５０の作業領域としても使用することが可能である。
【００３８】
圧縮・伸長回路３２は適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）などにより画像を圧縮伸張する。この圧縮・伸長回路３２は、メモリ３０に格納された画像を読み込んで圧縮処理あるいは伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ３０に書き込む。
【００３９】
シャッタ制御部４０は、測光制御部４６からの測光情報に基づいて絞り３１２を制御する絞り制御部３４０と連携しながらシャッタ１２を制御する。測距制御部４２は、ＡＦ処理を行う。レンズユニット３００内の撮像レンズ３１０に入射した光線が、さらに絞り３１２、レンズマウント３０６，１０６、ミラー１３０及び測距用サブミラー（図示せず）を介して一眼レフ方式で入射される。この入射された光線により光学像として結像された画像の合焦状態を測距制御部４２は測定する。
【００４０】
温度計４４は、撮像環境における周囲温度を検出する。温度計４４が撮像素子（センサ）１４内にある場合、センサの暗電流をより正確に予想することが可能である。
【００４１】
測光制御部４６はＡＥ処理を行う。測光制御部４６は、測距制御部４２と同様に、入射された光線により光学像として結像された画像の露出状態を測定する。また、測光制御部４６はフラッシュ部４８と連携することにより、ＥＦ（フラッシュ調光）処理機能も有する。フラッシュ部４８は、ＡＦ補助光の投光機能及びフラッシュ調光機能を有する。
【００４２】
なお、システム制御回路５０は、シャッタ制御部４０、絞り制御部３４０、測距制御部３４２に対し、ビデオＴＴＬ方式を用いた露出制御及びＡＦ制御を行うことが可能である。このシステム制御回路５０による制御は、撮像素子１４によって撮像画像を用いて画像処理回路２０により演算された演算結果に基づいて行われる。
【００４３】
また、測距制御部４２による測定結果と、撮像素子１４によって撮像画像を画像処理回路２０によって演算した演算結果とを用いて、ＡＦ制御を行うようにしてもよい。
【００４４】
さらに、測光制御部４６による測定結果と、撮像素子１４によって撮像画像を画像処理回路２０によって演算した演算結果とを用いて露出制御を行うようにしてもよい。
【００４５】
システム制御回路５０は、画像処理装置１００全体を制御し、ＣＰＵなどを内蔵する。メモリ５２は、システム制御回路５０の動作用の定数、変数、プログラムなどを記憶する。
【００４６】
表示部５４はシステム制御回路５０でのプログラムの実行に応じて、文字、画像、音声などで動作状態やメッセージなどを表示する液晶表示装置、スピーカなどを有する。具体的に、表示部５４は、ＬＣＤ、ＬＥＤ、発音素子などの組合わせにより構成されている。この表示部５４は、画像処理装置１００の操作部近辺の視認し易い単数あるいは複数箇所に設置されている。また、表示部５４の一部の機能は光学ファインダ１０４内に設けられている。
【００４７】
表示部５４の表示内容のうち、ＬＣＤなどに表示するものとしては、シングルショット／連写撮像表示、セルフタイマ表示、圧縮率表示、記録画素数表示、記録枚数表示、残撮像可能枚数表示、及びシャッタスピード表示がある。さらに、表示部５４の表示内容には、絞り値表示、露出補正表示、フラッシュ表示、赤目緩和表示、マクロ撮像表示、ブザー設定表示、時計用電池残量表示、電池残量表示、及びエラー表示がある。さらに、表示部５４の表示内容には複数桁の数字による情報表示、記録媒体２００、２１０の着脱状態表示、レンズユニット３００の着脱状態表示、通信Ｉ／Ｆ動作表示、日付・時刻表示、外部コンピュータとの接続状態を示す表示などがある。
【００４８】
また、表示部５４の表示内容のうち、光学ファインダ１０４内に表示するものとしては、合焦表示、撮像準備完了表示、及び手振れ警告表示がある。さらに表示部５４の表示内容には、フラッシュ充電表示、フラッシュ充電完了表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示、記録媒体書き込み動作表示などがある。
【００４９】
また、表示部５４の表示内容のうち、ＬＥＤ等に表示するものとしては、例えば、合焦表示、撮像準備完了表示、手振れ警告表示、及びフラッシュ充電表示がある。さらに表示部５４の表示内容には、フラッシュ充電完了表示、記録媒体書き込み動作表示、マクロ撮像設定通知表示、二次電池充電表示などがある。
【００５０】
また、表示部５４の表示内容のうち、ランプ等に表示するものとしては、例えば、セルフタイマ通知ランプ等がある。このセルフタイマ通知ランプはＡＦ補助光と共用してもよい。
【００５１】
不揮発性メモリ５６は、後述するプログラムなどが格納された電気的に消去・記録可能であり、不揮発性メモリ５６としてＥＥＰＲＯＭなどが用いられる。この不揮発性メモリ５６には、各種パラメータやＩＳＯ感度などの設定値、設定モード、及び欠陥画素の位置とレベルのデータが格納される。この欠陥画素の位置とレベルのデータは、生産工程において、調整時あるいは検査時に作成されて書き込まれる。この欠陥画素の位置とレベルのデータの作成方法としては、例えばダーク撮像を行って得られた画像の所定レベル以上の出力を持つ画素を抽出することによりデータとする方法等が考えられる。
【００５２】
モードダイアルスイッチ６０は、各機能撮像モードを切り替えて設定するためのものである。上記各機能撮像モードとして、自動撮像モード、プログラム撮像モード、シャッタ速度優先撮像モード、絞り優先撮像モード、及びマニュアル撮像モードがある。さらに、各機能撮像モードとして、焦点深度優先（デプス）撮像モード、ポートレート撮像モード、風景撮像モード、接写撮像モード、スポーツ撮像モード、夜景撮像モード、パノラマ撮像モードなどもある。
【００５３】
シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２は、シャッタボタン（図示せず）の操作途中でＯＮとなり、ＡＦ処理、ＡＥ処理、ＡＷＢ処理、ＥＦ処理などの動作開始を指示する。
【００５４】
シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４は、シャッタボタン（図示せず）の操作完了でＯＮとなる。このシャッタスイッチ（ＳＷ２）６４は、一連の処理の動作開始を指示するスイッチである。具体的には、シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４により、撮像素子１４から読み出した信号をＡ／Ｄ変換器１６、メモリ制御回路２２を介してメモリ３０に画像を書き込む露光処理が行われる。そして、画像処理回路２０やメモリ制御回路２２での演算を用いた現像処理、メモリ３０から画像を読み出し、圧縮・伸長回路３２で圧縮が行われ、記録媒体２００、２１０に画像を書き込む記録処理が行われる。
【００５５】
再生スイッチ６６は、撮像モード状態で撮像画像をメモリ３０あるいは記録媒体２００，２１０から読み出して画像表示部２８に表示する再生動作の開始を指示する。
【００５６】
単写／連写スイッチ６８は、シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押された場合、１コマの撮像を行って待機状態とする単写モードと、シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押されている間、連続して撮像を行い続ける連写モードとを設定可能である。
【００５７】
ＩＳＯ感度設定スイッチ６９は、撮像素子１４あるいは画像処理回路２０におけるゲインの設定を変更することによりＩＳＯ感度を設定できる。
【００５８】
各種ボタンやタッチパネルなどからなる操作部７０は、メニューボタン、セットボタン、マクロボタン、マルチ画面再生改ページボタン、フラッシュ設定ボタン、及び単写／連写／セルフタイマ切替ボタンがある。
【００５９】
また、操作部７０は、メニュー移動＋（プラス）ボタン、メニュー移動−（マイナス）ボタン、再生画像移動＋（プラス）ボタン、再生画像−（マイナス）ボタン、撮像画質選択ボタン、及び露出補正ボタンがある。
【００６０】
さらに、操作部７０は、日付／時間設定ボタン、パノラマモード等の撮像及び再生を実行する際に各種機能の選択及び切り替えを設定する選択／切り替えボタンがある。また、操作部７０は、パノラマモード等の撮像及び再生を実行する際に各種機能の決定及び実行を設定する決定／実行ボタンがある。また、操作部７０は、画像表示部２８のＯＮ／ＯＦＦを設定する画像表示ＯＮ／ＯＦＦスイッチ、撮像直後に撮像画像を自動再生するクイックレビュー機能を設定するクイックレビューＯＮ／ＯＦＦスイッチがある。
【００６１】
さらに、操作部７０は、ＪＰＥＧ圧縮の圧縮率を選択するため、あるいは撮像素子の信号をそのままデジタル化して記録媒体に記録するＣＣＤＲＡＷモードを選択するためのスイッチである圧縮モードスイッチがある。また、操作部７０は、再生モード、マルチ画面再生・消去モード、ＰＣ接続モード等の各機能モードを設定可能な再生スイッチがある。また、操作部７０は、ワンショットＡＦモードとサーボＡＦモードとを設定可能なＡＦモード設定スイッチなどがある。なお、ワンショットＡＦモードとは、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２をユーザが押した際にオートフォーカス動作を開始し、一旦合焦した場合、その合焦状態を保ち続けるモードである。また、サーボＡＦモードとは、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２をユーザが押している間、連続してオートフォーカス動作を続けるモードである。
【００６２】
また、上記プラスボタン及びマイナスボタンの各機能は、回転ダイアルスイッチを備えることによって、より軽快に数値や機能を選択することが可能となる。
【００６３】
電源スイッチ７２は、画像処理装置１００の電源オン、電源オフの各モードを切り替え設定可能である。また、画像処理装置１００に接続されたレンズユニット３００、外部ストロボ、記録媒体２００、２１０等の各種付属装置の電源オン、電源オフの設定も合わせて切り替え設定可能である。
【００６４】
電源制御部８０は、電池検出回路、ＤＣ−ＤＣコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ回路などから構成されている。この電源制御部８０は、電池の装着の有無、電池の種類、電池残量の検出を行う。そして、電源制御部８０は、その検出結果及びシステム制御回路５０の指示に基づいてＤＣ−ＤＣコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、記録媒体を含む各部に供給する。
【００６５】
コネクタ８２，８４は、電源制御部８０と電源部８６とを接続する。電源部８６はアルカリ電池やリチウム電池などの一次電池、ＮｉＣｄ電池、ＮｉＭＨ電池、Ｌｉ電池などの二次電池、ＡＣアダプタなどからなる。
【００６６】
インターフェース９０，９４は、メモリカードやハードディスク等の記録媒体２００，２１０とのインターフェースである。コネクタ９２，９６は、メモリカードやハードディスクなどの記録媒体との接続を行う。
【００６７】
記録媒体着脱検知部９８は、コネクタ９２，９６に記録媒体２００，２１０が装着されているか否かを検知する。
【００６８】
なお、本実施の形態では、記録媒体を取り付けるインターフェース及びコネクタが２系統装備されているが、記録媒体を取り付けるインターフェース及びコネクタは単数あるいは任意の数の系統数だけ装備されていてもよい。
【００６９】
また、異なる規格のインターフェース及びコネクタとして、ＰＣＭＣＩＡカードやＣＦ（コンパクトフラッシュ（登録商標））カードなどの規格に準拠したものを用いてもよい。
【００７０】
さらに、インターフェース９０，９４、コネクタ９２，９６をＰＣＭＣＩＡカードやＣＦカードなどの規格に準拠したものを用いて構成した場合、他のコンピュータやプリンタなどの周辺機器との間で画像を相互に転送することが可能である。さらに、画像に付属した管理情報を相互に転送することが可能である。
【００７１】
この場合、ＬＡＮカード、モデムカード、ＵＳＢカード、ＩＥＥＥ１３９４カード、Ｐ１２８４カード、ＳＣＳＩカード、ＰＨＳなどの通信カードなどの各種通信カードを接続することとなる。
【００７２】
光学ファインダ１０４は、撮像レンズ３１０に入射した光線を、一眼レフ方式によって、絞り３１２、レンズマウント３０６、１０６、ミラー１３０、１３２を介して導き、光学像として結像させて表示することが可能である。
【００７３】
これにより、画像表示部２８による電子ファインダ機能を使用することなく、光学ファインダ１０４だけを用いて撮像を行うことが可能である。
【００７４】
また、光学ファインダ１０４内には、表示部５４の一部の機能、例えば、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示などが設けられている。
【００７５】
通信部１１０は、ＲＳ２３２Ｃ、ＵＳＢ、ＩＥＥＥ１３９４、Ｐ１２８４、ＳＣＳＩ、モデム、ＬＡＮ、無線通信などの各種通信機能を有する。
【００７６】
コネクタ１１２は通信部１１０により画像処理装置１００を他の機器と接続する。このコネクタ１１２を、無線通信を行う場合のアンテナとしてもよい。
【００７７】
インターフェース１２０は、レンズマウント１０６内で画像処理装置１００をレンズユニット３００と接続するためのインターフェースである。
【００７８】
コネクタ１２２は画像処理装置１００をレンズユニット３００と電気的に接続する。また、不図示であるが、レンズマウント１０６及び／またはコネクタ１２２にレンズユニット３００が装着されているか否かを検知するレンズ着脱検知部が設けられている。
【００７９】
コネクタ１２２は画像処理装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うと共に、各種電圧の電流を供給する機能も備えている。また、コネクタ１２２は電気通信だけでなく、光通信、音声通信などを伝達する構成としてもよい。
【００８０】
ミラー１３０、１３２は、撮像レンズ３１０に入射した光線を、一眼レフ方式によって光学ファインダ１０４に導く。ミラー１３２はクイックリターンミラーの構成にしてもハーフミラーの構成にしてもどちらでもよい。
【００８１】
記録媒体２００はメモリカードやハードディスクなどである。記録媒体２００は、半導体メモリや磁気ディスクなどから構成される記録部２０２、画像処理装置１００とのインターフェース２０４、及び画像処理装置１００との接続を行うコネクタ２０６を有している。
【００８２】
記録媒体２１０は、記録媒体２００と同様、メモリカードやハードディスクなどである。記録媒体２１０は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２１２、画像処理装置１００とのインターフェース２１４、及び画像処理装置１００との接続を行うコネクタ２１６を有している。
【００８３】
レンズユニット３００は、交換レンズタイプのレンズユニットである。レンズマウント３０６はレンズユニット３００を画像処理装置１００と機械的に結合する。レンズマウント３０６内には、レンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続する各種機能が含まれている。
【００８４】
また、レンズユニット３００は、撮像レンズ３１０、及び絞り３１２を有する。インターフェース３２０はレンズマウント３０６内でレンズユニット３００を画像処理装置１００と接続するためのインターフェースである。
【００８５】
コネクタ３２２はレンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続する。コネクタ３２２は画像処理装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うと共に、各種電流が供給され、あるいは電流を供給する機能を備えている。また、コネクタ３２２は電気信号だけでなく、光信号、音声信号などを伝達する構成としてもよい。
【００８６】
絞り制御部３４０は測光制御部４６からの測光情報に基づいて、シャッタ１２を制御するシャッタ制御部４０と連携しながら、絞り３１２を制御する。測距制御部３４２は撮像レンズ３１０のフォーカシングを制御する。ズーム制御部３４４は撮像レンズ３１０のズーミングを制御する。
【００８７】
レンズシステム制御回路３５０はレンズユニット３００全体を制御する。レンズシステム制御回路３５０は、不揮発メモリの機能も備えている。この機能により、動作用の定数、変数、プログラムなどを記憶するメモリやレンズユニット３００固有の番号などの識別情報、管理情報、開放絞り値や最小絞り値、焦点距離等の機能情報、現在や過去の各設定値などが保持されている。
【００８８】
図２は、図１における不揮発性メモリ５６に記憶されたキズデータの一例を示す図である。
【００８９】
図２において、「Ｎｏ.」は、キズデータの通し番号である。「アドレス［Ｘ］」は、画像サイズを（Ｘ×Ｙ）としたときのＸ座標を示し、「アドレス［Ｙ］」はＹ座標を示す。「キズ補正レベル」は、キズである欠陥画素の出力レベルをｍＶで表現したものであり、欠陥の度合いを示すレベルである。「キズの種類」は、キズの種類を示し、例えば白は白キズを示し、黒は黒キズを示している。このキズデータは、撮像素子に起因して生じる欠陥画素の撮像画像における位置と欠陥の度合いを示すレベルとが対応付けられた欠陥情報に対応する。また、不揮発性メモリ５６は、第１記憶手段に対応する。
【００９０】
撮像素子１４は、その出荷時に、所定の環境温度、所定の電荷蓄積時間に得られた画像により、各種のキズが抽出される。これらのキズ画素は、種別、アドレス、キズレベルが記載された工場出荷時データをもとに、図２に示されるキズデータを成形する。この処理は画像処理装置１００の外部で行われる。従って、キズデータは、撮像装置１の出荷前に不揮発性メモリ５６に記憶されるようになっている。
【００９１】
具体的には、撮像状況に応じて補正処理が必要な撮像素子１４の白キズの判別を行う。これとは別に、撮像時に、撮像画像より欠陥画素の抽出を行っても良い。撮像時に行うことによって、時々発生するタイプの欠陥画素も補正することができる。
【００９２】
白キズの多くは撮像素子１４の電荷蓄積時間に応じてレベルが大きくなる傾向がある。また、同じレベルの白キズであっても、設定されたＩＳＯ感度によっても、画像となった場合のキズのレベルが変わってしまう。上記ＩＳＯ感度は、撮像素子１４のゲイン及び画像処理回路２０のゲインにより定まる。
【００９３】
更に、撮像に用いたレンズの特性による画像周辺部の光量低下分に対してゲインをかける周辺光量補正の場合も、同様に画像となった場合のキズのレベルが変わってしまう。すなわち、周辺光量補正を行う場合、補正するキズのレベルを一律にすると、周辺部のみキズが残ってしまうということになる。そこで、画像の中心からの位置（距離）によって補正するキズのレベルを変える必要がある。
【００９４】
図３は、図１におけるメモリ５２に記憶されたキズレベル設定テーブルであり、画像の位置によって補正するキズレベル設定テーブルを示している。
【００９５】
図３においても、画像サイズを（Ｘ×Ｙ）としており、Ｘ，Ｘ１，Ｘ２，Ｙ，Ｙ１，Ｙ２はそれぞれ座標を示している。
【００９６】
図４は、図３に示される領域を示す図である。
【００９７】
図４に示されるように、撮像画像を９つの領域に分割し、図３に示されるように各々の領域にキズレベルを定めておく。
【００９８】
例えば、図４における領域１は、０≦ｘ＜Ｘ１かつ０≦ｙ＜Ｙ１の領域であり、補正するキズレベルはＬＥＶＥＬ３となる。領域２から領域９までも同様である。
【００９９】
図５は、図１におけるメモリ５２に記憶された図３におけるキズレベルとそのレベルに対応したキズ補正レベルを示す図である。
【０１００】
図５に示されるように、キズ補正レベルをＬＥＶＥＬ１、ＬＥＶＥＬ２、ＬＥＶＥＬ３の３段階設定し、各補正レベルはそれぞれ、１００ｍＶ以上、５０ｍＶ以上、２５ｍＶ以上とする。
【０１０１】
つまり、出力に対し、ゲインをかける画像周辺部は補正するキズレベルを低く、ゲインをかけない中心はキズレベルを高く設定する。なお、本実施の形態では、領域を９つに分けたがこれに限らない。また、周辺光量補正を行わない場合は、全領域ＬＥＶＥＬ１にキズ補正レベルを設定する。
【０１０２】
また、周辺光量低下特性はレンズの種類によって異なる。従って、図３に示したキズレベル設定テーブルは装着するレンズに記憶させてもよい。またはレンズの瞳距離によって持たせても良い。
【０１０３】
さらに、キズ補正レベルのＬＥＶＥＬ１〜ＬＥＶＥＬ３の値は、電荷蓄積時間やＩＳＯ感度といった撮像条件によって適宜設定することが望ましい。すなわち、蓄積時間が長いほど、またＩＳＯ感度が高いほどキズ補正レベルは低く設定するようにする。
【０１０４】
上記キズレベル設定テーブル、及びキズ補正レベルは、システム制御回路５０の内部メモリに記憶するようにしてもよい。
【０１０５】
このように、図３のキズレベル設定テーブルは、撮像画像に対し行われるゲイン補正に応じて定まるとともに、撮像画像を複数の領域に分割することで得られた各領域ごとに、レベルと比較するための閾値が設定された設定情報に対応する。ここで、閾値は、ＬＥＶＥＬ１，ＬＥＶＥＬ２，ＬＥＶＥＬ３である。また、図２のキズ補正レベルに応じて図５によりレベルが定まり、このレベルは後述するように閾値と比較されることとなる。また、メモリ５２は、第２記憶手段に対応する。
【０１０６】
図６は、図１におけるシステム制御回路５０により実行される撮像全体処理（その１）の手順を示すフローチャートである。
【０１０７】
この撮像処理を動作させるためのプログラムは不揮発性メモリ５６などの記録媒体に格納されており、メモリ５２にロードされてシステム制御回路５０内のＣＰＵによって実行される。
【０１０８】
電池交換などの電源投入により、システム制御回路５０はフラグや制御変数等を初期化し、画像処理装置１００の各部に対して必要な所定の初期設定を行う（ステップＳ１０１）。
【０１０９】
システム制御回路５０は、電源スイッチ７２の設定位置を判別し、電源スイッチ７２が電源ＯＦＦに設定されているか否かを判別する（ステップＳ１０２）。電源スイッチ７２が電源ＯＦＦに設定されているとき（ステップＳ１０２でＮＯ）、終了処理を行った後（ステップＳ１０３）、ステップＳ１０２の処理に戻る。なお、上記終了処理とは、各表示部の表示を終了状態に変更し、フラグや制御変数などを含む必要なパラメータや設定値、設定モードを不揮発性メモリ５６に記録する。そして、電源制御部８０により画像表示部２８を含む画像処理装置１００各部の不要な電源を遮断するなどの処理である。
【０１１０】
一方、電源スイッチ７２が電源ＯＮに設定されていたとき（ステップＳ１０２でＹＥＳ）、電源がＯＫか否かを判別する（ステップＳ１０４）。電源がＯＫか否かとは、電源制御部８０により電池などの電源部８６の残容量や動作状況が画像処理装置１００の動作に問題があるか否かということである。
【０１１１】
問題があると判別されたとき（ステップＳ１０４でＮＯ）、表示部５４に画像の表示や音声の出力により所定の警告を行った後（ステップＳ１０５）、ステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１１２】
一方、電源部８６に問題がないと判別されたとき（ステップＳ１０５でＹＥＳ）、システム制御回路５０はモードダイアルスイッチ６０の設定位置を判断し、モードダイアルスイッチ６０が撮像モードに設定されているか否かを判別する（ステップＳ１０６）。
【０１１３】
モードダイアルスイッチ６０がその他のモードに設定されているとき（ステップＳ１０６でＮＯ）、システム制御回路５０は選択されたモードに応じた処理を実行し（ステップＳ１０７）、実行後にステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１１４】
一方、モードダイアルスイッチ６０が撮像モードに設定されているとき（ステップＳ１０６でＹＥＳ）、記録媒体２００，２１０がＯＫか否か判別する（ステップＳ１０８）。記録媒体２００，２１０がＯＫか否かとは、記録媒体２００，２１０が装着されているか否かの判断がまず行われる。そして、記録媒体２００、２１０に記録された画像の管理情報の取得、及び記録媒体２００、２１０の動作状態が画像処理装置１００の動作、特に記録媒体に対する画像の記録再生動作に問題があるか否かということである。
【０１１５】
記録媒体２００，２１０に問題があると判別されたとき（ステップＳ１０８でＮＯ）、表示部５４に画像の表示や音声の出力により所定の警告を行った後（ステップＳ１０５）、ステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１１６】
一方、ステップＳ１０８で問題がないと判別されたとき（ステップＳ１０８でＹＥＳ）、システム制御回路５０は表示部５４を用いて画像や音声により画像処理装置１００の各種設定状態の表示する設定表示を行う（ステップＳ１０９）。
【０１１７】
ここで、画像表示部２８の画像表示スイッチがＯＮである場合、画像表示部２８を用いて画像や音声により画像処理装置１００の各種設定状態を表示するようにしてもよい。
【０１１８】
図７は、図１におけるシステム制御回路５０により実行される撮像全体処理（その２）の手順を示すフローチャートである。
【０１１９】
図７において、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が押されているか否かを判別し（ステップＳ１２１）、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が押されていないとき（ステップＳ１２１でＮＯ）、ステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１２０】
一方、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が押されているとき（ステップＳ１２１でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、測距・測光処理を行う（ステップＳ１２２）。測光処理では、必要であればフラッシュの設定を行う。測距・測光処理では、測距処理を行って撮像レンズ３１０の焦点を被写体に合わせ、測光処理を行って絞り値及びシャッタ速度を決定するする。
【０１２１】
そして、シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押されているか否かを判別し（ステップＳ１３２）、シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押されていないとき（ステップＳ１３２でＮＯ）、以下の処理を行う。すなわち、さらにシャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が離されたか否かを判別する（ステップＳ１３３）。こうしてシャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が離されるかシャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押されるまでステップＳ１３２及びステップＳ１３３の処理を繰り返す。
【０１２２】
ステップＳ１３３でシャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が離されたとき（ステップＳ１３３でＮＯ）、ステップＳ１０２の処理に移行する。
【０１２３】
一方、ステップＳ１３２でシャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押されたとき（ステップＳ１３２でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、撮像画像の記憶可能な画像記憶バッファ領域がメモリ３０にあるか否かを判別する（ステップＳ１３４）。
【０１２４】
メモリ３０の画像記憶バッファ領域内に新たな画像の記憶可能な領域がないと判別されたとき（ステップＳ１３４でＮＯ）、表示部５４に画像の表示や音声の出力により所定の警告を行った後（ステップＳ１３５）、ステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１２５】
新たな画像の記憶可能な領域がない例として、メモリ３０の画像記憶バッファ領域内に記憶可能な最大枚数の連写撮像を行った直後の状態が挙げられる。具体的には、メモリ３０から読み出して記録媒体２００、２１０に書き込むべき最初の画像がまだ記録媒体２００、２１０に未記録な状態である。この状態は、まだ１枚の空き領域もメモリ３０の画像記憶バッファ領域上に確保できない状態である。
【０１２６】
なお、撮像画像を圧縮処理してからメモリ３０の画像記憶バッファ領域に記憶する場合、以下の判断がされる。まず圧縮した後の画像のデータ量が圧縮モードの設定に応じて異なることを考慮して、記憶可能な領域がメモリ３０の画像記憶バッファ領域上にあるか否かをステップＳ１３４の処理で判断することになる。
【０１２７】
一方、ステップＳ１３４でメモリ３０に撮像画像の記憶可能な画像記憶バッファ領域があると判別されたとき（ステップＳ１３４でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、撮像して所定時間蓄積した撮像信号を撮像素子１４から読み出す。そして、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０及びメモリ制御回路２２を介して、またはＡ／Ｄ変換器１６から直接、メモリ制御回路２２を介して、メモリ３０の所定領域に撮像画像を書き込む撮像処理を実行する（ステップＳ１３６）。この撮像処理の詳細については、後述する。
【０１２８】
次いで、システム制御回路５０は、図３に示したキズ補正テーブルのデータを使って欠陥画素補正を行う（ステップＳ１３９）。欠陥画素補正処理の詳細については後述する。
【０１２９】
次に現像処理（ステップＳ１４０）を行う。このとき、システム制御回路５０は、まずメモリ３０の所定領域に書き込まれた画像の一部をメモリ制御回路２２を介して読み出す。そして、現像処理を行うために必要なＷＢ（ホワイトバランス）積分演算処理、ＯＢ（オプティカルブラック）積分演算処理を行い、演算結果をシステム制御回路５０の内部メモリあるいはメモリ５２に記憶する。
【０１３０】
そして、システム制御回路５０は、メモリ制御回路２２、必要に応じて画像処理回路２０を用いて、メモリ３０の所定領域に書き込まれた撮像画像を読み出す。次いで、システム制御回路５０の内部メモリあるいはメモリ５２に記憶した演算結果を用いて、ＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理、ガンマ変換処理、色変換処理を含む各種現像処理を行う。また、周辺光量補正もここで行う。
【０１３１】
次いで、システム制御回路５０は、まずメモリ３０の所定領域に書き込まれた画像を読み出す。そして、設定されたモードに応じた画像圧縮処理を圧縮・伸長回路３２により行い（ステップＳ１４１）、メモリ３０の画像記憶バッファ領域の空き画像部分に、撮像して一連の処理を終えた画像の書き込みを行う。
【０１３２】
そして、システム制御回路５０は、メモリ３０の画像記憶バッファ領域に記憶された画像を読み出す。次いで、インターフェース９０、９４、コネクタ９２、９６を介して、メモリカードやコンパクトフラッシュ（登録商標）カード等の記録媒体２００、２１０に読み出した画像を書き込む記録処理を開始する（ステップＳ１４２）。この記録開始処理は、メモリ３０の画像記憶バッファ領域の空き画像部分に、撮像して一連の処理を終えた画像の書き込みが新たに行われる度に、その画像に対して実行される。
【０１３３】
なお、記録媒体２００、２１０に画像の書き込みを行っている間、書き込み動作中であることを示すために、表示部５４に例えばＬＥＤを点滅させる等の記録媒体書き込み動作表示を行う。
【０１３４】
さらに、システム制御回路５０は、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が押された状態か否かを判別する（ステップＳ１４３）。シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が離された状態であるとき（ステップＳ１４３でＮＯ）、ステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１３５】
一方、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が押された状態であるとき（ステップＳ１４３でＹＥＳ）、単写が設定されていた場合、ステップＳ１３２の処理に戻り、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が離されるまで現在の処理を繰り返す。これにより、撮像に関する一連の処理が終了する。
【０１３６】
図８は、図７のステップＳ１３６における撮像処理の手順を示すフローチャートである。
【０１３７】
この撮像処理では、システム制御回路５０と、絞り制御部３４０または測距制御部３４２との間の各種信号のやり取りは、インターフェース１２０、コネクタ１２２、コネクタ３２２、インターフェース３２０及びレンズシステム制御回路３５０を介して行われる。
【０１３８】
システム制御回路５０は、ミラー１３０をミラー駆動部（図示せず）によってミラーアップ位置に移動させる（ステップＳ３０１）。そして、システム制御回路５０の内部メモリあるいはメモリ５２に記憶された測光データに従い、絞り制御部３４０によって絞り３１２を所定の絞り値まで駆動する（ステップＳ３０２）。
【０１３９】
システム制御回路５０は、撮像素子１４の電荷クリア動作を行った後（ステップＳ３０３）、撮像素子１４の電荷蓄積を開始する（ステップＳ３０４）。そして、シャッタ制御部４０によってシャッタ１２を開き（ステップＳ３０５）、撮像素子１４の露光を開始する（ステップＳ３０６）。
【０１４０】
次いで、フラッシュフラグによりフラッシュ部４８が必要であるか否かを判別し（ステップＳ３０７）、必要であるとき（ステップＳ３０７でＹＥＳ）、フラッシュ部４８を発光させる（ステップＳ３０８）。
【０１４１】
システム制御回路５０は、測光データに従って撮像素子１４の露光終了を待ち（ステップＳ３０９）、露光が終了すると（ステップＳ３０９でＹＥＳ）、シャッタ制御部４０によってシャッタ１２を閉じ（ステップＳ３１０）、撮像素子１４の露光を終了する。
【０１４２】
次いで、システム制御回路５０は、絞り制御部３４０によって絞り３１２を開放の絞り値まで駆動し（ステップＳ３１１）、ミラー１３０をミラー駆動部（図示せず）によってミラーダウン位置に移動させる（ステップＳ３１２）。
【０１４３】
設定した電荷蓄積時間が経過したか否かを判別し（ステップＳ３１３）、設定した電荷蓄積時間が経過したとき（ステップＳ３１３でＹＥＳ）、システム制御回路５０は撮像素子１４の電荷蓄積を終了する（ステップＳ３１４）。
【０１４４】
その後、撮像素子１４から撮像信号を読み出し（ステップＳ３１５）、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、またはＡ／Ｄ変換器１６から直接、メモリ制御回路２２を介してメモリ３０の所定領域に撮像画像を書き込む。一連の処理を終了すると、本処理を終了してメインの処理に復帰する。
【０１４５】
図９は、図７のステップＳ１３９におけるキズ補正処理の手順を示すフローチャートである。
【０１４６】
図９において、画像処理装置１００のシステム制御回路５０は、補正対象画素指定処理を行う（ステップＳ５０１）。
【０１４７】
具体的に、システム制御回路５０は、レンズ条件（レンズの種類、瞳距離、絞り値）に応じて区分される複数の条件に応じて、キズ補正処理の対象とする画素を指定することで、補正する欠陥画素が決定される。
【０１４８】
ここではレンズ条件に関してのみ記載しているが、その他の撮像条件（撮像素子１４の電荷蓄積時間、ＩＳＯ感度）、または撮像環境（温度）も加味してキズ補正レベルを設定して、処理を行うキズ補正データを指定するとより好適である。
【０１４９】
次いで、補正対象画素に対応するアドレスを読み込み（ステップＳ５０２）、メモリ３０の所定領域に書き込まれた撮像画像の対応する画素に対し、隣接する同色画素の撮像画像を用いて点キズ補正処理を行う。
【０１５０】
ここでは、システム制御回路５０は、選択したキズ補正データの先頭から１画素分のキズアドレスを読み込み、このアドレス情報を参照し、メモリ３０に書き込まれた撮像画像における該当する欠陥画素のアドレスを特定することが可能である。
【０１５１】
次に、システム制御回路５０は、補正対象画素に隣接する同色画素の値を読み込む（ステップＳ５０３）。そして、システム制御回路５０はステップＳ５０３で得られた隣接画素の値から、補正対象画素の補正量を算出する（ステップＳ５０４）。
【０１５２】
続いて、システム制御回路５０は、ステップＳ５０４で算出した補正対象画素の補正量を、メモリ３０における該当アドレスに書き込む（ステップＳ５０５）。これにより、補正対象画素の補正処理は完了する。上記ステップＳ５０３〜５０５は、補正することが決定された欠陥画素を補正する補正手段に対応する。また、ここでは、光学部材の瞳距離、又は絞り値に応じて欠陥画素を補正するようにしてもよい。
【０１５３】
そして、システム制御回路５０は、指定された補正対象画素の補正処理が全て終了したか否か判別する（ステップＳ５０６）。
【０１５４】
ステップＳ５０６の判別の結果、補正処理が全て終了したとき（ステップＳ５０６でＹＥＳ）、本処理を終了する。一方、補正処理が全て終了していないとき（ステップＳ５０６でＮＯ）、上記ステップＳ５０２に戻り、次の補正対象画素のアドレスを読み込み、以下同様の処理を繰り返す。
【０１５５】
図１０は、図９のステップＳ５０１の補正対象画素指定処理の手順を示すフローチャートである。
【０１５６】
図１０において、システム制御回路５０、撮像条件を確認する（ステップＳ７０１）。この撮像条件には、ＩＳＯ感度の設定値（例えば１００、２００、４００、８００）、及びシャッタ速度（電荷蓄積時間）がある。次いで、装着しているレンズ条件（レンズの種類、瞳距離）を確認する（ステップＳ７０２）。
【０１５７】
ステップＳ７０１とステップＳ７０２の条件から図３に示すキズレベル設定テーブルを選択する（ステップＳ７０３）。すなわち、条件に対応させて、複数のキズレベル設定テーブルが記憶されているので、その中から条件に適合したものが選択される。このように、撮像素子１４による撮像条件に応じた複数の欠陥情報が記憶されている。
【０１５８】
続いて、図２のキズデータをスキャンし、欠陥画素の読み出しを行う（ステップ７０４）。このステップＳ７０４は、記憶された欠陥画素の位置、及びレベルを取得する取得手段に対応する。
【０１５９】
欠陥画素のアドレスを参照し、その欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素か否かを判別する（ステップＳ７０５）。
【０１６０】
ステップＳ７０５の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素とき（ステップＳ７０５でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルがＬＥＶＥＬ３以上か否か判別する（ステップＳ７０６）。
【０１６１】
ステップＳ７０６の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ３以上のとき（ステップＳ７０６でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ７１１）、ステップＳ７１２に進む。
【０１６２】
一方、ステップＳ７０６の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ３未満のとき（ステップＳ７０６でＮＯ）、ステップＳ７１２に進む。
【０１６３】
上記ステップＳ７０５の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素ではないとき（ステップＳ７０５でＮＯ）、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素か否かを判別する（ステップＳ７０７）。
【０１６４】
ステップＳ７０７の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素とき（ステップＳ７０７でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルがＬＥＶＥＬ２以上か否か判別する（ステップＳ７０８）。
【０１６５】
ステップＳ７０８の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ２以上のとき（ステップＳ７０８でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ７１１）、ステップＳ７１２に進む。このステップＳ７０５〜７１１は、取得された欠陥画素の位置及びレベルから、設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する決定手段に対応する。
【０１６６】
一方、ステップＳ７０８の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ２未満のとき（ステップＳ７０８でＮＯ）、ステップＳ７１２に進む。
【０１６７】
上記ステップＳ７０７の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素ではないとき（ステップＳ７０７でＮＯ）、欠陥画素が画像中の領域５内の画素か否かを判別する（ステップＳ７０９）。
【０１６８】
ステップＳ７０９の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域５内の画素とき（ステップＳ７０９でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルがＬＥＶＥＬ１以上か否か判別する（ステップＳ７１０）。
【０１６９】
ステップＳ７１０の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ１以上のとき（ステップＳ７１０でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ７１１）、ステップＳ７１２に進む。
【０１７０】
一方、ステップＳ７０８の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ２未満のとき（ステップＳ７０８でＮＯ）、ステップＳ７１２に進む。
【０１７１】
上記ステップＳ７０９の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域５内の画素ではないとき（ステップＳ７０９でＮＯ）、全てのキズデータスキャンが終了したか否か判別する（ステップＳ７１２）。
【０１７２】
ステップＳ７１２の判別の結果、全てのキズデータスキャンが終了したとき（ステップＳ７１２でＹＥＳ）、本処理を終了し、全てのキズデータスキャンが終了していないとき（ステップＳ７１２でＮＯ）、ステップＳ７０５に戻る。以上より、撮像画像における補正対象画素の指定は完了となる。
【０１７３】
以上、レンズ情報に応じて画像内の領域によってキズ補正レベルを変えることにより、周辺光量補正といった特定の領域のみにゲインをかける補正を行った場合にも、キズ補正残りを生じることなく欠陥画素の補正を行うことができる。
【０１７４】
また、ゲイン補正を行う領域にのみ、キズ補正レベルを下げるといったことをしているので、補正する欠陥画素の個数を最適に決定することができ、過補正になることも防ぐことができる。
【０１７５】
なお、本実施の形態では欠陥画素の情報は予め工場出荷時データをもとに成形していたが、撮像画像から取得しても良い。また、撮像画像をコンピュータに取り込み、コンピュータ内で画像処理を行う際に、欠陥画素の補正を実施しても良い。従って、欠陥情報は、撮像画像を用いて取得されるようにしてもよい。
【０１７６】
本実施の形態では、欠陥画素の位置及びレベルから、設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する。そして、補正することが決定された欠陥画素を補正するので、必要以上に欠陥画素の補正を行うことなく、また補正されなかった欠陥画素を目立たないようにできる。
【０１７７】
［第２の実施の形態］
第２の実施の形態における撮像装置の構成は、第１の実施の形態における撮像装置の構成と同じであるので、第１の実施の形態を流用して説明する。
【０１７８】
一般的に、高画質機能として被写体の顔の部分といった特定の領域にゲインをかける補正を行うことがある。このような場合にも、ゲインをかける領域の補正するキズ補正レベルを変更すると良い。ある領域Ａにゲインαをかけた場合の補正対象画素の指定について、第１の実施の形態を流用して説明する。
【０１７９】
図１１は、図９のステップＳ５０１の補正対象画素指定処理の手順を示すフローチャートである。
【０１８０】
図１１において、まず図１０のステップＳ７０１〜７０４まで行う。次いで、欠陥画素のアドレスを参照し、その欠陥画素が領域Ａ内であれば、フラグを１とし、領域Ａ外であれば、フラグを０とする（ステップＳ１１０１）。
【０１８１】
次いで、その欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素か否かを判別する（ステップＳ１１０２）。
【０１８２】
ステップＳ１１０２の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素とき（ステップＳ１１０２でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルについて判別する（ステップＳ１１０３）。
【０１８３】
ここでは、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ３／α以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ３／α未満のとき、否定判別となる。一方、フラグが０で、キズレベルがＬＥＢＥＬ３以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ３未満のとき、否定判別となる。
【０１８４】
ステップＳ１１０３の判別の結果、肯定判別されたとき（ステップＳ１１０３でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ１１０８）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１８５】
一方、ステップＳ１１０３の判別の結果、否定判別されたとき（ステップＳ１１０３でＮＯ）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１８６】
上記ステップＳ１１０２の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素ではないとき（ステップＳ１１０２でＮＯ）、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素か否かを判別する（ステップＳ１１０４）。
【０１８７】
ステップＳ１１０４の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素とき（ステップＳ１１０４でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルについて判別する（ステップＳ１１０５）。
【０１８８】
ここでは、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ２／α以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ２／α未満のとき、否定判別となる。一方、フラグが０で、キズレベルがＬＥＢＥＬ２以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ２未満のとき、否定判別となる。
【０１８９】
ステップＳ１１０５の判別の結果、肯定判別されたとき（ステップＳ１１０５でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ１１０８）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１９０】
一方、ステップＳ１１０５の判別の結果、否定判別されたとき（ステップＳ１１０５でＮＯ）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１９１】
上記ステップＳ１１０４の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素ではないとき（ステップＳ１１０４でＮＯ）、欠陥画素が画像中の領域５内の画素か否かを判別する（ステップＳ１１０６）。
【０１９２】
ステップＳ１１０６の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域５内の画素とき（ステップＳ１１０６でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルについて判別する（ステップＳ１１０７）。
【０１９３】
ここでは、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ１／α以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ１／α未満のとき、否定判別となる。一方、フラグが０で、キズレベルがＬＥＢＥＬ１以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ１未満のとき、否定判別となる。
【０１９４】
ステップＳ１１０７の判別の結果、肯定判別されたとき（ステップＳ１１０７でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ１１０８）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１９５】
一方、ステップＳ１１０７の判別の結果、否定判別されたとき（ステップＳ１１０７でＮＯ）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１９６】
上記ステップＳ１１０９の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域５内の画素ではないとき（ステップＳ１１０６でＮＯ）、全てのキズデータスキャンが終了したか否か判別する（ステップＳ１１０９）。
【０１９７】
ステップＳ１１０９の判別の結果、全てのキズデータスキャンが終了したとき（ステップＳ１１０９でＹＥＳ）、本処理を終了し、全てのキズデータスキャンが終了していないとき（ステップＳ１１０９でＮＯ）、ステップＳ１１０１に戻る。以上より、撮像画像における補正対象画素の指定は完了となる。
【０１９８】
なお、周辺光量補正を行わない場合には、全領域においてキズレベルはＬＥＶＥＬ１とし、同様の処理を行う。このように、第２の実施の形態では、撮像画像のうちの予め定められた領域内の欠陥画素に対して補正する場合についての実施の形態である。
【０１９９】
以上、特定の領域にゲインをかける場合にもそれに応じて補正するキズレベルを設定することにより、より好適に欠陥画素の補正を行うことができる。
【０２００】
［第３の実施の形態］
第３の実施の形態における撮像装置の構成は、第１の実施の形態における撮像装置の構成と同じであるので、第１の実施の形態を流用して説明する。
【０２０１】
一般的に、撮像時のレンズの絞り値によって出力にゲインをかける補正を行うことがある。従って、レンズの絞り値によっても補正するキズレベルを変更すると良い。
【０２０２】
上述した図１０のステップＳ７０２で、レンズ条件の確認時に絞り値も取得する。その絞り値に応じて図５で示した各キズレベルのキズ補正レベルに係数αを乗じたものをキズ補正レベルとする。
【０２０３】
図１２は、絞り値（Ａｖ）によるキズレベルの係数βを示した表を示す図である。
【０２０４】
図１３は、図１２を適用したキズレベルとそのレベルに対応したキズ補正レベルを示す図である。
【０２０５】
図１２の表は、絞り値に対応する係数βを示す表である。例えば、撮像時の絞り値Ａｖが１．８であった場合、係数βは０．８となる。これを図５のキズ補正レベルに乗算すると、キズ補正レベルは図１３の通りになる。
【０２０６】
以上、絞り値によるゲイン補正分を考慮した補正するキズレベルを設定することにより、より好適に欠陥画素の補正を行うことができる。
【０２０７】
（他の実施の形態）
本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムコードを読み出して実行する処理である。この場合、そのプログラム、及び該プログラムを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
【符号の説明】
【０２０８】
１ 撮像装置
１４ 撮像素子
２０ 画像処理回路
３０，５２ メモリ
４２ 測距制御部
４６ 測光制御部
４８ フラッシュ部
５０ システム制御回路
５６ 不揮発性メモリ
６２，６４ シャッタスイッチ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、固体メモリ素子を有するメモリカードを記録媒体として、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の固体撮像素子で撮像した静止画像や動画像を記録及び再生する電子カメラ等の撮像装置が市販されている。
【０００３】
ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の固体撮像素子を用いて撮像する場合、撮像素子で発生する暗電流ノイズや撮像素子固有の微小なキズによる画質劣化が生じ得る。このような画質劣化に対し、様々な補正処理を行うことによって高品位な画像を得ることができる。
【０００４】
例えば、撮像素子を露光しない状態で本撮像と同様に電荷蓄積を行って読み出したダーク画像と、撮像素子を露光した状態で電荷蓄積を行って読み出した本撮像画像とを演算処理することにより、ダークノイズ補正処理を行うことが可能である。
【０００５】
これにより、撮像素子で発生する暗電流ノイズや撮像素子固有の微小なキズによる画素欠損等の画質劣化に関して、撮像画像を補正して高品位な画像を得ることができる。
【０００６】
また、欠陥画素に隣接する画素を用いた補間演算処理により欠陥画素を補正することで、画質劣化を更に低減することが可能である。
【０００７】
欠陥画素の補正は、通常は以下のように行われる。まず、予め撮像素子の欠陥画素を検出し、その欠陥画素に関するデータをＲＯＭ等に記憶しておく。この作業は、例えば撮像素子の工場出荷時に実施する。所定の条件下における標準電荷蓄積時間での撮像素子の出力を評価し、評価結果に基づき欠陥画素を判定する。
【０００８】
そして、欠陥画素の種類（黒キズ画素、白キズ画素等）及び欠陥画素のアドレスとその欠陥レベルのデータを取得し、これらをＲＯＭ等に書いておく。
【０００９】
このように、予め欠陥画素の位置等をＲＯＭに記憶した撮像装置では、撮像素子から供給された画像のうち、ＲＯＭに記憶された欠陥画素の位置データに対応した位置の画素に関して、その近傍の画素データを用いて欠陥画素データを補正することができる。
【００１０】
これにより撮像素子によって得られた映像信号のうち、特異なレベルの信号を出力する画素（すなわち欠陥画素）は補正され、良好な再生画像を得ることができるようになる。
【００１１】
欠陥画素の中でも、出力が高くなる白点状の欠陥画素（以下、「白キズ画素」という）については、撮像時の撮像素子における電荷蓄積時間によって大きくその程度が異なることが知られている。
【００１２】
従って、通常の短い蓄積時間（短秒時）での撮像では問題にならないような画素でも、通常より長い時間（長秒時）での撮像時にはその欠陥画素としてのレベルが大きくなり、画質に影響を与えてしまうことになる。
【００１３】
このような長秒時の欠陥画素による画質劣化を考慮して欠陥画素の補正を実施するとする。すなわち、欠陥のレベルの低い画素も補正する。この場合、膨大な個数の画素を欠陥画素として補正を行うことになるが、短秒時には本来補正処理が不要な画素にも補正処理を行ってしまい、逆に過補正による画質低下を招いてしまう。
【００１４】
そこで、所定の閾値を設定して欠陥画素補正を行う方法がある。例えば、電荷蓄積時間やＩＳＯ感度などの撮像条件に応じて、補正する欠陥画素のレベルを変えるという方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。これによって、欠陥画素の補正不足、あるいは過補正を避けることができる。
【００１５】
上記欠陥画素補正以外にも、電子カメラ等の撮像装置では、得られた各画素の出力値に対し、様々な補正処理を行っている。
【００１６】
例えば、レンズの周辺光量落ちを考慮し、レンズの種類によって画像の周辺部にゲイン補正をかける周辺光量落ち補正がある。また、撮像画像に応じて、被写体の顔など、画面内の所定の領域のみゲインをかける補正もある。更に、撮像時のレンズの絞り値によって出力にゲインをかける補正もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１７】
【特許文献１】特開２００３−３３３４３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
しかしながら、上述のように本撮像とは別に画像を取得して補正する方法は、１枚画像を取得するために２回の電荷蓄積が必要であり、長秒時撮像ほどその時間的負荷が大きくなる。すなわち、レリーズタイムラグ、撮像コマ間隔に大きな影響を与えてしまう問題があった。
【００１９】
一方、電荷蓄積時間やＩＳＯ感度といった撮像条件に応じて、補正する欠陥画素のレベルを変えるという方法は、周辺光量補正など画面内の所定の領域にゲインをかけてしまうと、補正対象にならなかった欠陥画素が目立ってしまうという結果になっていた。
【００２０】
本発明の目的は、必要以上に欠陥画素の補正を行うことなく、また補正されなかった欠陥画素を目立たないようにした撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
上記目的を達成するために、請求項１の撮像装置は、被写体を光学部材を介して撮像素子により撮像することで撮像画像を得る撮像装置であって、前記撮像素子に起因して生じる欠陥画素の撮像画像における位置と欠陥の度合いを示すレベルとが対応付けられた欠陥情報が記憶された第１記憶手段と、前記撮像画像に対し行われるゲイン補正に応じて定まるとともに、撮像画像を複数の領域に分割することで得られた各領域ごとに、前記レベルと比較するための閾値が設定された設定情報が記憶された第２記憶手段と、前記第１記憶手段に記憶された欠陥画素の位置、及びレベルを取得する取得手段と、前記取得手段により取得された欠陥画素の位置及びレベルから、前記第２記憶手段に記憶された設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する決定手段と、前記決定手段により補正することが決定された欠陥画素を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、必要以上に欠陥画素の補正を行うことなく、また補正されなかった欠陥画素を目立たないようにした撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の実施の形態に係る撮像装置の概略構成を示す図である。
【図２】図１における不揮発性メモリに記憶されたキズデータの一例を示す図である。
【図３】図１におけるメモリに記憶されたキズレベル設定テーブルであり、画像の位置によって補正するキズレベル設定テーブルを示している。
【図４】図３に示される領域を示す図である。
【図５】図１におけるメモリに記憶された図３におけるキズレベルとそのレベルに対応したキズ補正レベルを示す図である。
【図６】図１におけるシステム制御回路により実行される撮像全体処理（その１）の手順を示すフローチャートである。
【図７】図１におけるシステム制御回路により実行される撮像全体処理（その２）の手順を示すフローチャートである。
【図８】図７のステップＳ１３６における撮像処理の手順を示すフローチャートである。
【図９】図７のステップＳ１３９におけるキズ補正処理の手順を示すフローチャートである。
【図１０】図９のステップＳ５０１の補正対象画素指定処理の手順を示すフローチャートである。
【図１１】図９のステップＳ５０１の補正対象画素指定処理の手順を示すフローチャートである。
【図１２】絞り値（Ａｖ）によるキズレベルの係数βを示した表を示す図である。
【図１３】図１２を適用したキズレベルとそのレベルに対応したキズ補正レベルを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳述する。
【００２５】
［第１の実施の形態］
図１は、本発明の実施の形態に係る撮像装置１の概略構成を示す図である。
【００２６】
図１における撮像装置１は、例えば、デジタル一眼レフカメラである。撮像装置１は、画像処理装置（本体）１００と、画像処理装置本体に対し、着脱可能に装着される記録媒体２００，２１０と、画像処理装置本体に対し、着脱可能に装着されるレンズユニット３００（光学部材）を備えている。
【００２７】
画像処理装置１００において、シャッタ１２は、撮像素子１４への露光量を制御する。撮像素子１４は被写体の光学像を電気信号に変換する。
【００２８】
レンズユニット３００内の撮像レンズ３１０に入射した光線は、絞り３１２、レンズマウント３０６、１０６、ミラー１３０及びシャッタ１２を介して導き、光学像として撮像素子１４上に結像することができる。このように、撮像装置１は、被写体を光学部材を介して撮像素子により撮像することで撮像画像を得る撮像装置である。
【００２９】
Ａ／Ｄ変換器１６は、撮像素子１４から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する。タイミング発生回路１８は、撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６及びＤ／Ａ変換器２６にクロック信号や制御信号を供給する。また、タイミング発生回路１８は、メモリ制御回路２２及びシステム制御回路５０によって制御される。
【００３０】
画像処理回路２０は、Ａ／Ｄ変換器１６からのデータあるいはメモリ制御回路２２からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。画像処理回路２０は必要に応じて撮像画像を用いて所定の演算処理を行う。
【００３１】
そして、画像処理回路２０は、得られた演算結果に基づき、システム制御回路５０がシャッタ制御部４０及び測距制御部４２を制御するためのＴＴＬ方式のＡＦ処理、ＡＥ処理及びＥＦ処理を行う。なお、ＴＴＬはスルー・ザ・レンズ、ＡＦはオートフォーカス、ＡＥは自動露出、ＥＦはフラッシュ調光をそれぞれ示す。
【００３２】
また、画像処理回路２０は、撮像画像を用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてＴＴＬ方式のＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理を行う。なお、本実施の形態では、測距制御部４２及び測光制御部４６を専用に備えているので、システム制御回路５０は、測距制御部４２及び測光制御部４６を用いてＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理の各処理を行うようにする。そして、画像処理回路２０を用いてＡＦ処理、ＥＦ処理の各処理を行わない構成としても良い。
【００３３】
メモリ制御回路２２は、Ａ／Ｄ変換器１６、タイミング発生回路１８、画像処理回路２０、画像表示メモリ２４、Ｄ／Ａ変換器２６、メモリ３０及び圧縮・伸長回路３２を制御する。
【００３４】
Ａ／Ｄ変換器１６からのデータは、画像処理回路２０及びメモリ制御回路２２を介して、画像表示メモリ２４あるいはメモリ３０に書き込まれる。または、Ａ／Ｄ変換器１６からのデータは、直接、メモリ制御回路２２を介して画像表示メモリ２４あるいはメモリ３０に書き込まれる。
【００３５】
画像表示部２８はＴＦＴ方式のＬＣＤからなる。画像表示メモリ２４に書き込まれた表示用の画像はＤ／Ａ変換器２６を介して画像表示部２８に表示される。撮像画像を画像表示部２８で逐次表示する場合、電子ファインダ機能を実現することが可能である。
【００３６】
また、画像表示部２８はシステム制御回路５０の表示に従って表示のＯＮ／ＯＦＦを任意に行うことが可能であり、表示をＯＦＦにした場合、画像処理装置１００の電力消費を大幅に低減することができる。
【００３７】
メモリ３０は、撮像された静止画像や動画像を格納する。このメモリ３０は、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶容量を有している。従って、複数毎の静止画像を連続して撮像する連写撮像やパノラマ撮像の場合にも、高速かつ大量の画像書き込みをメモリ３０に対して行うことが可能である。また、メモリ３０はシステム制御回路５０の作業領域としても使用することが可能である。
【００３８】
圧縮・伸長回路３２は適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）などにより画像を圧縮伸張する。この圧縮・伸長回路３２は、メモリ３０に格納された画像を読み込んで圧縮処理あるいは伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ３０に書き込む。
【００３９】
シャッタ制御部４０は、測光制御部４６からの測光情報に基づいて絞り３１２を制御する絞り制御部３４０と連携しながらシャッタ１２を制御する。測距制御部４２は、ＡＦ処理を行う。レンズユニット３００内の撮像レンズ３１０に入射した光線が、さらに絞り３１２、レンズマウント３０６，１０６、ミラー１３０及び測距用サブミラー（図示せず）を介して一眼レフ方式で入射される。この入射された光線により光学像として結像された画像の合焦状態を測距制御部４２は測定する。
【００４０】
温度計４４は、撮像環境における周囲温度を検出する。温度計４４が撮像素子（センサ）１４内にある場合、センサの暗電流をより正確に予想することが可能である。
【００４１】
測光制御部４６はＡＥ処理を行う。測光制御部４６は、測距制御部４２と同様に、入射された光線により光学像として結像された画像の露出状態を測定する。また、測光制御部４６はフラッシュ部４８と連携することにより、ＥＦ（フラッシュ調光）処理機能も有する。フラッシュ部４８は、ＡＦ補助光の投光機能及びフラッシュ調光機能を有する。
【００４２】
なお、システム制御回路５０は、シャッタ制御部４０、絞り制御部３４０、測距制御部３４２に対し、ビデオＴＴＬ方式を用いた露出制御及びＡＦ制御を行うことが可能である。このシステム制御回路５０による制御は、撮像素子１４によって撮像画像を用いて画像処理回路２０により演算された演算結果に基づいて行われる。
【００４３】
また、測距制御部４２による測定結果と、撮像素子１４によって撮像画像を画像処理回路２０によって演算した演算結果とを用いて、ＡＦ制御を行うようにしてもよい。
【００４４】
さらに、測光制御部４６による測定結果と、撮像素子１４によって撮像画像を画像処理回路２０によって演算した演算結果とを用いて露出制御を行うようにしてもよい。
【００４５】
システム制御回路５０は、画像処理装置１００全体を制御し、ＣＰＵなどを内蔵する。メモリ５２は、システム制御回路５０の動作用の定数、変数、プログラムなどを記憶する。
【００４６】
表示部５４はシステム制御回路５０でのプログラムの実行に応じて、文字、画像、音声などで動作状態やメッセージなどを表示する液晶表示装置、スピーカなどを有する。具体的に、表示部５４は、ＬＣＤ、ＬＥＤ、発音素子などの組合わせにより構成されている。この表示部５４は、画像処理装置１００の操作部近辺の視認し易い単数あるいは複数箇所に設置されている。また、表示部５４の一部の機能は光学ファインダ１０４内に設けられている。
【００４７】
表示部５４の表示内容のうち、ＬＣＤなどに表示するものとしては、シングルショット／連写撮像表示、セルフタイマ表示、圧縮率表示、記録画素数表示、記録枚数表示、残撮像可能枚数表示、及びシャッタスピード表示がある。さらに、表示部５４の表示内容には、絞り値表示、露出補正表示、フラッシュ表示、赤目緩和表示、マクロ撮像表示、ブザー設定表示、時計用電池残量表示、電池残量表示、及びエラー表示がある。さらに、表示部５４の表示内容には複数桁の数字による情報表示、記録媒体２００、２１０の着脱状態表示、レンズユニット３００の着脱状態表示、通信Ｉ／Ｆ動作表示、日付・時刻表示、外部コンピュータとの接続状態を示す表示などがある。
【００４８】
また、表示部５４の表示内容のうち、光学ファインダ１０４内に表示するものとしては、合焦表示、撮像準備完了表示、及び手振れ警告表示がある。さらに表示部５４の表示内容には、フラッシュ充電表示、フラッシュ充電完了表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示、記録媒体書き込み動作表示などがある。
【００４９】
また、表示部５４の表示内容のうち、ＬＥＤ等に表示するものとしては、例えば、合焦表示、撮像準備完了表示、手振れ警告表示、及びフラッシュ充電表示がある。さらに表示部５４の表示内容には、フラッシュ充電完了表示、記録媒体書き込み動作表示、マクロ撮像設定通知表示、二次電池充電表示などがある。
【００５０】
また、表示部５４の表示内容のうち、ランプ等に表示するものとしては、例えば、セルフタイマ通知ランプ等がある。このセルフタイマ通知ランプはＡＦ補助光と共用してもよい。
【００５１】
不揮発性メモリ５６は、後述するプログラムなどが格納された電気的に消去・記録可能であり、不揮発性メモリ５６としてＥＥＰＲＯＭなどが用いられる。この不揮発性メモリ５６には、各種パラメータやＩＳＯ感度などの設定値、設定モード、及び欠陥画素の位置とレベルのデータが格納される。この欠陥画素の位置とレベルのデータは、生産工程において、調整時あるいは検査時に作成されて書き込まれる。この欠陥画素の位置とレベルのデータの作成方法としては、例えばダーク撮像を行って得られた画像の所定レベル以上の出力を持つ画素を抽出することによりデータとする方法等が考えられる。
【００５２】
モードダイアルスイッチ６０は、各機能撮像モードを切り替えて設定するためのものである。上記各機能撮像モードとして、自動撮像モード、プログラム撮像モード、シャッタ速度優先撮像モード、絞り優先撮像モード、及びマニュアル撮像モードがある。さらに、各機能撮像モードとして、焦点深度優先（デプス）撮像モード、ポートレート撮像モード、風景撮像モード、接写撮像モード、スポーツ撮像モード、夜景撮像モード、パノラマ撮像モードなどもある。
【００５３】
シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２は、シャッタボタン（図示せず）の操作途中でＯＮとなり、ＡＦ処理、ＡＥ処理、ＡＷＢ処理、ＥＦ処理などの動作開始を指示する。
【００５４】
シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４は、シャッタボタン（図示せず）の操作完了でＯＮとなる。このシャッタスイッチ（ＳＷ２）６４は、一連の処理の動作開始を指示するスイッチである。具体的には、シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４により、撮像素子１４から読み出した信号をＡ／Ｄ変換器１６、メモリ制御回路２２を介してメモリ３０に画像を書き込む露光処理が行われる。そして、画像処理回路２０やメモリ制御回路２２での演算を用いた現像処理、メモリ３０から画像を読み出し、圧縮・伸長回路３２で圧縮が行われ、記録媒体２００、２１０に画像を書き込む記録処理が行われる。
【００５５】
再生スイッチ６６は、撮像モード状態で撮像画像をメモリ３０あるいは記録媒体２００，２１０から読み出して画像表示部２８に表示する再生動作の開始を指示する。
【００５６】
単写／連写スイッチ６８は、シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押された場合、１コマの撮像を行って待機状態とする単写モードと、シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押されている間、連続して撮像を行い続ける連写モードとを設定可能である。
【００５７】
ＩＳＯ感度設定スイッチ６９は、撮像素子１４あるいは画像処理回路２０におけるゲインの設定を変更することによりＩＳＯ感度を設定できる。
【００５８】
各種ボタンやタッチパネルなどからなる操作部７０は、メニューボタン、セットボタン、マクロボタン、マルチ画面再生改ページボタン、フラッシュ設定ボタン、及び単写／連写／セルフタイマ切替ボタンがある。
【００５９】
また、操作部７０は、メニュー移動＋（プラス）ボタン、メニュー移動−（マイナス）ボタン、再生画像移動＋（プラス）ボタン、再生画像−（マイナス）ボタン、撮像画質選択ボタン、及び露出補正ボタンがある。
【００６０】
さらに、操作部７０は、日付／時間設定ボタン、パノラマモード等の撮像及び再生を実行する際に各種機能の選択及び切り替えを設定する選択／切り替えボタンがある。また、操作部７０は、パノラマモード等の撮像及び再生を実行する際に各種機能の決定及び実行を設定する決定／実行ボタンがある。また、操作部７０は、画像表示部２８のＯＮ／ＯＦＦを設定する画像表示ＯＮ／ＯＦＦスイッチ、撮像直後に撮像画像を自動再生するクイックレビュー機能を設定するクイックレビューＯＮ／ＯＦＦスイッチがある。
【００６１】
さらに、操作部７０は、ＪＰＥＧ圧縮の圧縮率を選択するため、あるいは撮像素子の信号をそのままデジタル化して記録媒体に記録するＣＣＤＲＡＷモードを選択するためのスイッチである圧縮モードスイッチがある。また、操作部７０は、再生モード、マルチ画面再生・消去モード、ＰＣ接続モード等の各機能モードを設定可能な再生スイッチがある。また、操作部７０は、ワンショットＡＦモードとサーボＡＦモードとを設定可能なＡＦモード設定スイッチなどがある。なお、ワンショットＡＦモードとは、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２をユーザが押した際にオートフォーカス動作を開始し、一旦合焦した場合、その合焦状態を保ち続けるモードである。また、サーボＡＦモードとは、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２をユーザが押している間、連続してオートフォーカス動作を続けるモードである。
【００６２】
また、上記プラスボタン及びマイナスボタンの各機能は、回転ダイアルスイッチを備えることによって、より軽快に数値や機能を選択することが可能となる。
【００６３】
電源スイッチ７２は、画像処理装置１００の電源オン、電源オフの各モードを切り替え設定可能である。また、画像処理装置１００に接続されたレンズユニット３００、外部ストロボ、記録媒体２００、２１０等の各種付属装置の電源オン、電源オフの設定も合わせて切り替え設定可能である。
【００６４】
電源制御部８０は、電池検出回路、ＤＣ−ＤＣコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ回路などから構成されている。この電源制御部８０は、電池の装着の有無、電池の種類、電池残量の検出を行う。そして、電源制御部８０は、その検出結果及びシステム制御回路５０の指示に基づいてＤＣ−ＤＣコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、記録媒体を含む各部に供給する。
【００６５】
コネクタ８２，８４は、電源制御部８０と電源部８６とを接続する。電源部８６はアルカリ電池やリチウム電池などの一次電池、ＮｉＣｄ電池、ＮｉＭＨ電池、Ｌｉ電池などの二次電池、ＡＣアダプタなどからなる。
【００６６】
インターフェース９０，９４は、メモリカードやハードディスク等の記録媒体２００，２１０とのインターフェースである。コネクタ９２，９６は、メモリカードやハードディスクなどの記録媒体との接続を行う。
【００６７】
記録媒体着脱検知部９８は、コネクタ９２，９６に記録媒体２００，２１０が装着されているか否かを検知する。
【００６８】
なお、本実施の形態では、記録媒体を取り付けるインターフェース及びコネクタが２系統装備されているが、記録媒体を取り付けるインターフェース及びコネクタは単数あるいは任意の数の系統数だけ装備されていてもよい。
【００６９】
また、異なる規格のインターフェース及びコネクタとして、ＰＣＭＣＩＡカードやＣＦ（コンパクトフラッシュ（登録商標））カードなどの規格に準拠したものを用いてもよい。
【００７０】
さらに、インターフェース９０，９４、コネクタ９２，９６をＰＣＭＣＩＡカードやＣＦカードなどの規格に準拠したものを用いて構成した場合、他のコンピュータやプリンタなどの周辺機器との間で画像を相互に転送することが可能である。さらに、画像に付属した管理情報を相互に転送することが可能である。
【００７１】
この場合、ＬＡＮカード、モデムカード、ＵＳＢカード、ＩＥＥＥ１３９４カード、Ｐ１２８４カード、ＳＣＳＩカード、ＰＨＳなどの通信カードなどの各種通信カードを接続することとなる。
【００７２】
光学ファインダ１０４は、撮像レンズ３１０に入射した光線を、一眼レフ方式によって、絞り３１２、レンズマウント３０６、１０６、ミラー１３０、１３２を介して導き、光学像として結像させて表示することが可能である。
【００７３】
これにより、画像表示部２８による電子ファインダ機能を使用することなく、光学ファインダ１０４だけを用いて撮像を行うことが可能である。
【００７４】
また、光学ファインダ１０４内には、表示部５４の一部の機能、例えば、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示などが設けられている。
【００７５】
通信部１１０は、ＲＳ２３２Ｃ、ＵＳＢ、ＩＥＥＥ１３９４、Ｐ１２８４、ＳＣＳＩ、モデム、ＬＡＮ、無線通信などの各種通信機能を有する。
【００７６】
コネクタ１１２は通信部１１０により画像処理装置１００を他の機器と接続する。このコネクタ１１２を、無線通信を行う場合のアンテナとしてもよい。
【００７７】
インターフェース１２０は、レンズマウント１０６内で画像処理装置１００をレンズユニット３００と接続するためのインターフェースである。
【００７８】
コネクタ１２２は画像処理装置１００をレンズユニット３００と電気的に接続する。また、不図示であるが、レンズマウント１０６及び／またはコネクタ１２２にレンズユニット３００が装着されているか否かを検知するレンズ着脱検知部が設けられている。
【００７９】
コネクタ１２２は画像処理装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うと共に、各種電圧の電流を供給する機能も備えている。また、コネクタ１２２は電気通信だけでなく、光通信、音声通信などを伝達する構成としてもよい。
【００８０】
ミラー１３０、１３２は、撮像レンズ３１０に入射した光線を、一眼レフ方式によって光学ファインダ１０４に導く。ミラー１３２はクイックリターンミラーの構成にしてもハーフミラーの構成にしてもどちらでもよい。
【００８１】
記録媒体２００はメモリカードやハードディスクなどである。記録媒体２００は、半導体メモリや磁気ディスクなどから構成される記録部２０２、画像処理装置１００とのインターフェース２０４、及び画像処理装置１００との接続を行うコネクタ２０６を有している。
【００８２】
記録媒体２１０は、記録媒体２００と同様、メモリカードやハードディスクなどである。記録媒体２１０は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２１２、画像処理装置１００とのインターフェース２１４、及び画像処理装置１００との接続を行うコネクタ２１６を有している。
【００８３】
レンズユニット３００は、交換レンズタイプのレンズユニットである。レンズマウント３０６はレンズユニット３００を画像処理装置１００と機械的に結合する。レンズマウント３０６内には、レンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続する各種機能が含まれている。
【００８４】
また、レンズユニット３００は、撮像レンズ３１０、及び絞り３１２を有する。インターフェース３２０はレンズマウント３０６内でレンズユニット３００を画像処理装置１００と接続するためのインターフェースである。
【００８５】
コネクタ３２２はレンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続する。コネクタ３２２は画像処理装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うと共に、各種電流が供給され、あるいは電流を供給する機能を備えている。また、コネクタ３２２は電気信号だけでなく、光信号、音声信号などを伝達する構成としてもよい。
【００８６】
絞り制御部３４０は測光制御部４６からの測光情報に基づいて、シャッタ１２を制御するシャッタ制御部４０と連携しながら、絞り３１２を制御する。測距制御部３４２は撮像レンズ３１０のフォーカシングを制御する。ズーム制御部３４４は撮像レンズ３１０のズーミングを制御する。
【００８７】
レンズシステム制御回路３５０はレンズユニット３００全体を制御する。レンズシステム制御回路３５０は、不揮発メモリの機能も備えている。この機能により、動作用の定数、変数、プログラムなどを記憶するメモリやレンズユニット３００固有の番号などの識別情報、管理情報、開放絞り値や最小絞り値、焦点距離等の機能情報、現在や過去の各設定値などが保持されている。
【００８８】
図２は、図１における不揮発性メモリ５６に記憶されたキズデータの一例を示す図である。
【００８９】
図２において、「Ｎｏ.」は、キズデータの通し番号である。「アドレス［Ｘ］」は、画像サイズを（Ｘ×Ｙ）としたときのＸ座標を示し、「アドレス［Ｙ］」はＹ座標を示す。「キズ補正レベル」は、キズである欠陥画素の出力レベルをｍＶで表現したものであり、欠陥の度合いを示すレベルである。「キズの種類」は、キズの種類を示し、例えば白は白キズを示し、黒は黒キズを示している。このキズデータは、撮像素子に起因して生じる欠陥画素の撮像画像における位置と欠陥の度合いを示すレベルとが対応付けられた欠陥情報に対応する。また、不揮発性メモリ５６は、第１記憶手段に対応する。
【００９０】
撮像素子１４は、その出荷時に、所定の環境温度、所定の電荷蓄積時間に得られた画像により、各種のキズが抽出される。これらのキズ画素は、種別、アドレス、キズレベルが記載された工場出荷時データをもとに、図２に示されるキズデータを成形する。この処理は画像処理装置１００の外部で行われる。従って、キズデータは、撮像装置１の出荷前に不揮発性メモリ５６に記憶されるようになっている。
【００９１】
具体的には、撮像状況に応じて補正処理が必要な撮像素子１４の白キズの判別を行う。これとは別に、撮像時に、撮像画像より欠陥画素の抽出を行っても良い。撮像時に行うことによって、時々発生するタイプの欠陥画素も補正することができる。
【００９２】
白キズの多くは撮像素子１４の電荷蓄積時間に応じてレベルが大きくなる傾向がある。また、同じレベルの白キズであっても、設定されたＩＳＯ感度によっても、画像となった場合のキズのレベルが変わってしまう。上記ＩＳＯ感度は、撮像素子１４のゲイン及び画像処理回路２０のゲインにより定まる。
【００９３】
更に、撮像に用いたレンズの特性による画像周辺部の光量低下分に対してゲインをかける周辺光量補正の場合も、同様に画像となった場合のキズのレベルが変わってしまう。すなわち、周辺光量補正を行う場合、補正するキズのレベルを一律にすると、周辺部のみキズが残ってしまうということになる。そこで、画像の中心からの位置（距離）によって補正するキズのレベルを変える必要がある。
【００９４】
図３は、図１におけるメモリ５２に記憶されたキズレベル設定テーブルであり、画像の位置によって補正するキズレベル設定テーブルを示している。
【００９５】
図３においても、画像サイズを（Ｘ×Ｙ）としており、Ｘ，Ｘ１，Ｘ２，Ｙ，Ｙ１，Ｙ２はそれぞれ座標を示している。
【００９６】
図４は、図３に示される領域を示す図である。
【００９７】
図４に示されるように、撮像画像を９つの領域に分割し、図３に示されるように各々の領域にキズレベルを定めておく。
【００９８】
例えば、図４における領域１は、０≦ｘ＜Ｘ１かつ０≦ｙ＜Ｙ１の領域であり、補正するキズレベルはＬＥＶＥＬ３となる。領域２から領域９までも同様である。
【００９９】
図５は、図１におけるメモリ５２に記憶された図３におけるキズレベルとそのレベルに対応したキズ補正レベルを示す図である。
【０１００】
図５に示されるように、キズ補正レベルをＬＥＶＥＬ１、ＬＥＶＥＬ２、ＬＥＶＥＬ３の３段階設定し、各補正レベルはそれぞれ、１００ｍＶ以上、５０ｍＶ以上、２５ｍＶ以上とする。
【０１０１】
つまり、出力に対し、ゲインをかける画像周辺部は補正するキズレベルを低く、ゲインをかけない中心はキズレベルを高く設定する。なお、本実施の形態では、領域を９つに分けたがこれに限らない。また、周辺光量補正を行わない場合は、全領域ＬＥＶＥＬ１にキズ補正レベルを設定する。
【０１０２】
また、周辺光量低下特性はレンズの種類によって異なる。従って、図３に示したキズレベル設定テーブルは装着するレンズに記憶させてもよい。またはレンズの瞳距離によって持たせても良い。
【０１０３】
さらに、キズ補正レベルのＬＥＶＥＬ１〜ＬＥＶＥＬ３の値は、電荷蓄積時間やＩＳＯ感度といった撮像条件によって適宜設定することが望ましい。すなわち、蓄積時間が長いほど、またＩＳＯ感度が高いほどキズ補正レベルは低く設定するようにする。
【０１０４】
上記キズレベル設定テーブル、及びキズ補正レベルは、システム制御回路５０の内部メモリに記憶するようにしてもよい。
【０１０５】
このように、図３のキズレベル設定テーブルは、撮像画像に対し行われるゲイン補正に応じて定まるとともに、撮像画像を複数の領域に分割することで得られた各領域ごとに、レベルと比較するための閾値が設定された設定情報に対応する。ここで、閾値は、ＬＥＶＥＬ１，ＬＥＶＥＬ２，ＬＥＶＥＬ３である。また、図２のキズ補正レベルに応じて図５によりレベルが定まり、このレベルは後述するように閾値と比較されることとなる。また、メモリ５２は、第２記憶手段に対応する。
【０１０６】
図６は、図１におけるシステム制御回路５０により実行される撮像全体処理（その１）の手順を示すフローチャートである。
【０１０７】
この撮像処理を動作させるためのプログラムは不揮発性メモリ５６などの記録媒体に格納されており、メモリ５２にロードされてシステム制御回路５０内のＣＰＵによって実行される。
【０１０８】
電池交換などの電源投入により、システム制御回路５０はフラグや制御変数等を初期化し、画像処理装置１００の各部に対して必要な所定の初期設定を行う（ステップＳ１０１）。
【０１０９】
システム制御回路５０は、電源スイッチ７２の設定位置を判別し、電源スイッチ７２が電源ＯＦＦに設定されているか否かを判別する（ステップＳ１０２）。電源スイッチ７２が電源ＯＦＦに設定されているとき（ステップＳ１０２でＮＯ）、終了処理を行った後（ステップＳ１０３）、ステップＳ１０２の処理に戻る。なお、上記終了処理とは、各表示部の表示を終了状態に変更し、フラグや制御変数などを含む必要なパラメータや設定値、設定モードを不揮発性メモリ５６に記録する。そして、電源制御部８０により画像表示部２８を含む画像処理装置１００各部の不要な電源を遮断するなどの処理である。
【０１１０】
一方、電源スイッチ７２が電源ＯＮに設定されていたとき（ステップＳ１０２でＹＥＳ）、電源がＯＫか否かを判別する（ステップＳ１０４）。電源がＯＫか否かとは、電源制御部８０により電池などの電源部８６の残容量や動作状況が画像処理装置１００の動作に問題があるか否かということである。
【０１１１】
問題があると判別されたとき（ステップＳ１０４でＮＯ）、表示部５４に画像の表示や音声の出力により所定の警告を行った後（ステップＳ１０５）、ステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１１２】
一方、電源部８６に問題がないと判別されたとき（ステップＳ１０５でＹＥＳ）、システム制御回路５０はモードダイアルスイッチ６０の設定位置を判断し、モードダイアルスイッチ６０が撮像モードに設定されているか否かを判別する（ステップＳ１０６）。
【０１１３】
モードダイアルスイッチ６０がその他のモードに設定されているとき（ステップＳ１０６でＮＯ）、システム制御回路５０は選択されたモードに応じた処理を実行し（ステップＳ１０７）、実行後にステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１１４】
一方、モードダイアルスイッチ６０が撮像モードに設定されているとき（ステップＳ１０６でＹＥＳ）、記録媒体２００，２１０がＯＫか否か判別する（ステップＳ１０８）。記録媒体２００，２１０がＯＫか否かとは、記録媒体２００，２１０が装着されているか否かの判断がまず行われる。そして、記録媒体２００、２１０に記録された画像の管理情報の取得、及び記録媒体２００、２１０の動作状態が画像処理装置１００の動作、特に記録媒体に対する画像の記録再生動作に問題があるか否かということである。
【０１１５】
記録媒体２００，２１０に問題があると判別されたとき（ステップＳ１０８でＮＯ）、表示部５４に画像の表示や音声の出力により所定の警告を行った後（ステップＳ１０５）、ステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１１６】
一方、ステップＳ１０８で問題がないと判別されたとき（ステップＳ１０８でＹＥＳ）、システム制御回路５０は表示部５４を用いて画像や音声により画像処理装置１００の各種設定状態の表示する設定表示を行う（ステップＳ１０９）。
【０１１７】
ここで、画像表示部２８の画像表示スイッチがＯＮである場合、画像表示部２８を用いて画像や音声により画像処理装置１００の各種設定状態を表示するようにしてもよい。
【０１１８】
図７は、図１におけるシステム制御回路５０により実行される撮像全体処理（その２）の手順を示すフローチャートである。
【０１１９】
図７において、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が押されているか否かを判別し（ステップＳ１２１）、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が押されていないとき（ステップＳ１２１でＮＯ）、ステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１２０】
一方、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が押されているとき（ステップＳ１２１でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、測距・測光処理を行う（ステップＳ１２２）。測光処理では、必要であればフラッシュの設定を行う。測距・測光処理では、測距処理を行って撮像レンズ３１０の焦点を被写体に合わせ、測光処理を行って絞り値及びシャッタ速度を決定するする。
【０１２１】
そして、シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押されているか否かを判別し（ステップＳ１３２）、シャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押されていないとき（ステップＳ１３２でＮＯ）、以下の処理を行う。すなわち、さらにシャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が離されたか否かを判別する（ステップＳ１３３）。こうしてシャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が離されるかシャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押されるまでステップＳ１３２及びステップＳ１３３の処理を繰り返す。
【０１２２】
ステップＳ１３３でシャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が離されたとき（ステップＳ１３３でＮＯ）、ステップＳ１０２の処理に移行する。
【０１２３】
一方、ステップＳ１３２でシャッタスイッチ（ＳＷ２）６４が押されたとき（ステップＳ１３２でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、撮像画像の記憶可能な画像記憶バッファ領域がメモリ３０にあるか否かを判別する（ステップＳ１３４）。
【０１２４】
メモリ３０の画像記憶バッファ領域内に新たな画像の記憶可能な領域がないと判別されたとき（ステップＳ１３４でＮＯ）、表示部５４に画像の表示や音声の出力により所定の警告を行った後（ステップＳ１３５）、ステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１２５】
新たな画像の記憶可能な領域がない例として、メモリ３０の画像記憶バッファ領域内に記憶可能な最大枚数の連写撮像を行った直後の状態が挙げられる。具体的には、メモリ３０から読み出して記録媒体２００、２１０に書き込むべき最初の画像がまだ記録媒体２００、２１０に未記録な状態である。この状態は、まだ１枚の空き領域もメモリ３０の画像記憶バッファ領域上に確保できない状態である。
【０１２６】
なお、撮像画像を圧縮処理してからメモリ３０の画像記憶バッファ領域に記憶する場合、以下の判断がされる。まず圧縮した後の画像のデータ量が圧縮モードの設定に応じて異なることを考慮して、記憶可能な領域がメモリ３０の画像記憶バッファ領域上にあるか否かをステップＳ１３４の処理で判断することになる。
【０１２７】
一方、ステップＳ１３４でメモリ３０に撮像画像の記憶可能な画像記憶バッファ領域があると判別されたとき（ステップＳ１３４でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、撮像して所定時間蓄積した撮像信号を撮像素子１４から読み出す。そして、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０及びメモリ制御回路２２を介して、またはＡ／Ｄ変換器１６から直接、メモリ制御回路２２を介して、メモリ３０の所定領域に撮像画像を書き込む撮像処理を実行する（ステップＳ１３６）。この撮像処理の詳細については、後述する。
【０１２８】
次いで、システム制御回路５０は、図３に示したキズ補正テーブルのデータを使って欠陥画素補正を行う（ステップＳ１３９）。欠陥画素補正処理の詳細については後述する。
【０１２９】
次に現像処理（ステップＳ１４０）を行う。このとき、システム制御回路５０は、まずメモリ３０の所定領域に書き込まれた画像の一部をメモリ制御回路２２を介して読み出す。そして、現像処理を行うために必要なＷＢ（ホワイトバランス）積分演算処理、ＯＢ（オプティカルブラック）積分演算処理を行い、演算結果をシステム制御回路５０の内部メモリあるいはメモリ５２に記憶する。
【０１３０】
そして、システム制御回路５０は、メモリ制御回路２２、必要に応じて画像処理回路２０を用いて、メモリ３０の所定領域に書き込まれた撮像画像を読み出す。次いで、システム制御回路５０の内部メモリあるいはメモリ５２に記憶した演算結果を用いて、ＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理、ガンマ変換処理、色変換処理を含む各種現像処理を行う。また、周辺光量補正もここで行う。
【０１３１】
次いで、システム制御回路５０は、まずメモリ３０の所定領域に書き込まれた画像を読み出す。そして、設定されたモードに応じた画像圧縮処理を圧縮・伸長回路３２により行い（ステップＳ１４１）、メモリ３０の画像記憶バッファ領域の空き画像部分に、撮像して一連の処理を終えた画像の書き込みを行う。
【０１３２】
そして、システム制御回路５０は、メモリ３０の画像記憶バッファ領域に記憶された画像を読み出す。次いで、インターフェース９０、９４、コネクタ９２、９６を介して、メモリカードやコンパクトフラッシュ（登録商標）カード等の記録媒体２００、２１０に読み出した画像を書き込む記録処理を開始する（ステップＳ１４２）。この記録開始処理は、メモリ３０の画像記憶バッファ領域の空き画像部分に、撮像して一連の処理を終えた画像の書き込みが新たに行われる度に、その画像に対して実行される。
【０１３３】
なお、記録媒体２００、２１０に画像の書き込みを行っている間、書き込み動作中であることを示すために、表示部５４に例えばＬＥＤを点滅させる等の記録媒体書き込み動作表示を行う。
【０１３４】
さらに、システム制御回路５０は、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が押された状態か否かを判別する（ステップＳ１４３）。シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が離された状態であるとき（ステップＳ１４３でＮＯ）、ステップＳ１０２の処理に戻る。
【０１３５】
一方、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が押された状態であるとき（ステップＳ１４３でＹＥＳ）、単写が設定されていた場合、ステップＳ１３２の処理に戻り、シャッタスイッチ（ＳＷ１）６２が離されるまで現在の処理を繰り返す。これにより、撮像に関する一連の処理が終了する。
【０１３６】
図８は、図７のステップＳ１３６における撮像処理の手順を示すフローチャートである。
【０１３７】
この撮像処理では、システム制御回路５０と、絞り制御部３４０または測距制御部３４２との間の各種信号のやり取りは、インターフェース１２０、コネクタ１２２、コネクタ３２２、インターフェース３２０及びレンズシステム制御回路３５０を介して行われる。
【０１３８】
システム制御回路５０は、ミラー１３０をミラー駆動部（図示せず）によってミラーアップ位置に移動させる（ステップＳ３０１）。そして、システム制御回路５０の内部メモリあるいはメモリ５２に記憶された測光データに従い、絞り制御部３４０によって絞り３１２を所定の絞り値まで駆動する（ステップＳ３０２）。
【０１３９】
システム制御回路５０は、撮像素子１４の電荷クリア動作を行った後（ステップＳ３０３）、撮像素子１４の電荷蓄積を開始する（ステップＳ３０４）。そして、シャッタ制御部４０によってシャッタ１２を開き（ステップＳ３０５）、撮像素子１４の露光を開始する（ステップＳ３０６）。
【０１４０】
次いで、フラッシュフラグによりフラッシュ部４８が必要であるか否かを判別し（ステップＳ３０７）、必要であるとき（ステップＳ３０７でＹＥＳ）、フラッシュ部４８を発光させる（ステップＳ３０８）。
【０１４１】
システム制御回路５０は、測光データに従って撮像素子１４の露光終了を待ち（ステップＳ３０９）、露光が終了すると（ステップＳ３０９でＹＥＳ）、シャッタ制御部４０によってシャッタ１２を閉じ（ステップＳ３１０）、撮像素子１４の露光を終了する。
【０１４２】
次いで、システム制御回路５０は、絞り制御部３４０によって絞り３１２を開放の絞り値まで駆動し（ステップＳ３１１）、ミラー１３０をミラー駆動部（図示せず）によってミラーダウン位置に移動させる（ステップＳ３１２）。
【０１４３】
設定した電荷蓄積時間が経過したか否かを判別し（ステップＳ３１３）、設定した電荷蓄積時間が経過したとき（ステップＳ３１３でＹＥＳ）、システム制御回路５０は撮像素子１４の電荷蓄積を終了する（ステップＳ３１４）。
【０１４４】
その後、撮像素子１４から撮像信号を読み出し（ステップＳ３１５）、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、またはＡ／Ｄ変換器１６から直接、メモリ制御回路２２を介してメモリ３０の所定領域に撮像画像を書き込む。一連の処理を終了すると、本処理を終了してメインの処理に復帰する。
【０１４５】
図９は、図７のステップＳ１３９におけるキズ補正処理の手順を示すフローチャートである。
【０１４６】
図９において、画像処理装置１００のシステム制御回路５０は、補正対象画素指定処理を行う（ステップＳ５０１）。
【０１４７】
具体的に、システム制御回路５０は、レンズ条件（レンズの種類、瞳距離、絞り値）に応じて区分される複数の条件に応じて、キズ補正処理の対象とする画素を指定することで、補正する欠陥画素が決定される。
【０１４８】
ここではレンズ条件に関してのみ記載しているが、その他の撮像条件（撮像素子１４の電荷蓄積時間、ＩＳＯ感度）、または撮像環境（温度）も加味してキズ補正レベルを設定して、処理を行うキズ補正データを指定するとより好適である。
【０１４９】
次いで、補正対象画素に対応するアドレスを読み込み（ステップＳ５０２）、メモリ３０の所定領域に書き込まれた撮像画像の対応する画素に対し、隣接する同色画素の撮像画像を用いて点キズ補正処理を行う。
【０１５０】
ここでは、システム制御回路５０は、選択したキズ補正データの先頭から１画素分のキズアドレスを読み込み、このアドレス情報を参照し、メモリ３０に書き込まれた撮像画像における該当する欠陥画素のアドレスを特定することが可能である。
【０１５１】
次に、システム制御回路５０は、補正対象画素に隣接する同色画素の値を読み込む（ステップＳ５０３）。そして、システム制御回路５０はステップＳ５０３で得られた隣接画素の値から、補正対象画素の補正量を算出する（ステップＳ５０４）。
【０１５２】
続いて、システム制御回路５０は、ステップＳ５０４で算出した補正対象画素の補正量を、メモリ３０における該当アドレスに書き込む（ステップＳ５０５）。これにより、補正対象画素の補正処理は完了する。上記ステップＳ５０３〜５０５は、補正することが決定された欠陥画素を補正する補正手段に対応する。また、ここでは、光学部材の瞳距離、又は絞り値に応じて欠陥画素を補正するようにしてもよい。
【０１５３】
そして、システム制御回路５０は、指定された補正対象画素の補正処理が全て終了したか否か判別する（ステップＳ５０６）。
【０１５４】
ステップＳ５０６の判別の結果、補正処理が全て終了したとき（ステップＳ５０６でＹＥＳ）、本処理を終了する。一方、補正処理が全て終了していないとき（ステップＳ５０６でＮＯ）、上記ステップＳ５０２に戻り、次の補正対象画素のアドレスを読み込み、以下同様の処理を繰り返す。
【０１５５】
図１０は、図９のステップＳ５０１の補正対象画素指定処理の手順を示すフローチャートである。
【０１５６】
図１０において、システム制御回路５０、撮像条件を確認する（ステップＳ７０１）。この撮像条件には、ＩＳＯ感度の設定値（例えば１００、２００、４００、８００）、及びシャッタ速度（電荷蓄積時間）がある。次いで、装着しているレンズ条件（レンズの種類、瞳距離）を確認する（ステップＳ７０２）。
【０１５７】
ステップＳ７０１とステップＳ７０２の条件から図３に示すキズレベル設定テーブルを選択する（ステップＳ７０３）。すなわち、条件に対応させて、複数のキズレベル設定テーブルが記憶されているので、その中から条件に適合したものが選択される。このように、撮像素子１４による撮像条件に応じた複数の欠陥情報が記憶されている。
【０１５８】
続いて、図２のキズデータをスキャンし、欠陥画素の読み出しを行う（ステップ７０４）。このステップＳ７０４は、記憶された欠陥画素の位置、及びレベルを取得する取得手段に対応する。
【０１５９】
欠陥画素のアドレスを参照し、その欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素か否かを判別する（ステップＳ７０５）。
【０１６０】
ステップＳ７０５の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素とき（ステップＳ７０５でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルがＬＥＶＥＬ３以上か否か判別する（ステップＳ７０６）。
【０１６１】
ステップＳ７０６の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ３以上のとき（ステップＳ７０６でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ７１１）、ステップＳ７１２に進む。
【０１６２】
一方、ステップＳ７０６の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ３未満のとき（ステップＳ７０６でＮＯ）、ステップＳ７１２に進む。
【０１６３】
上記ステップＳ７０５の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素ではないとき（ステップＳ７０５でＮＯ）、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素か否かを判別する（ステップＳ７０７）。
【０１６４】
ステップＳ７０７の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素とき（ステップＳ７０７でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルがＬＥＶＥＬ２以上か否か判別する（ステップＳ７０８）。
【０１６５】
ステップＳ７０８の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ２以上のとき（ステップＳ７０８でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ７１１）、ステップＳ７１２に進む。このステップＳ７０５〜７１１は、取得された欠陥画素の位置及びレベルから、設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する決定手段に対応する。
【０１６６】
一方、ステップＳ７０８の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ２未満のとき（ステップＳ７０８でＮＯ）、ステップＳ７１２に進む。
【０１６７】
上記ステップＳ７０７の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素ではないとき（ステップＳ７０７でＮＯ）、欠陥画素が画像中の領域５内の画素か否かを判別する（ステップＳ７０９）。
【０１６８】
ステップＳ７０９の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域５内の画素とき（ステップＳ７０９でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルがＬＥＶＥＬ１以上か否か判別する（ステップＳ７１０）。
【０１６９】
ステップＳ７１０の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ１以上のとき（ステップＳ７１０でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ７１１）、ステップＳ７１２に進む。
【０１７０】
一方、ステップＳ７０８の判別の結果、キズレベルがＬＥＶＥＬ２未満のとき（ステップＳ７０８でＮＯ）、ステップＳ７１２に進む。
【０１７１】
上記ステップＳ７０９の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域５内の画素ではないとき（ステップＳ７０９でＮＯ）、全てのキズデータスキャンが終了したか否か判別する（ステップＳ７１２）。
【０１７２】
ステップＳ７１２の判別の結果、全てのキズデータスキャンが終了したとき（ステップＳ７１２でＹＥＳ）、本処理を終了し、全てのキズデータスキャンが終了していないとき（ステップＳ７１２でＮＯ）、ステップＳ７０５に戻る。以上より、撮像画像における補正対象画素の指定は完了となる。
【０１７３】
以上、レンズ情報に応じて画像内の領域によってキズ補正レベルを変えることにより、周辺光量補正といった特定の領域のみにゲインをかける補正を行った場合にも、キズ補正残りを生じることなく欠陥画素の補正を行うことができる。
【０１７４】
また、ゲイン補正を行う領域にのみ、キズ補正レベルを下げるといったことをしているので、補正する欠陥画素の個数を最適に決定することができ、過補正になることも防ぐことができる。
【０１７５】
なお、本実施の形態では欠陥画素の情報は予め工場出荷時データをもとに成形していたが、撮像画像から取得しても良い。また、撮像画像をコンピュータに取り込み、コンピュータ内で画像処理を行う際に、欠陥画素の補正を実施しても良い。従って、欠陥情報は、撮像画像を用いて取得されるようにしてもよい。
【０１７６】
本実施の形態では、欠陥画素の位置及びレベルから、設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する。そして、補正することが決定された欠陥画素を補正するので、必要以上に欠陥画素の補正を行うことなく、また補正されなかった欠陥画素を目立たないようにできる。
【０１７７】
［第２の実施の形態］
第２の実施の形態における撮像装置の構成は、第１の実施の形態における撮像装置の構成と同じであるので、第１の実施の形態を流用して説明する。
【０１７８】
一般的に、高画質機能として被写体の顔の部分といった特定の領域にゲインをかける補正を行うことがある。このような場合にも、ゲインをかける領域の補正するキズ補正レベルを変更すると良い。ある領域Ａにゲインαをかけた場合の補正対象画素の指定について、第１の実施の形態を流用して説明する。
【０１７９】
図１１は、図９のステップＳ５０１の補正対象画素指定処理の手順を示すフローチャートである。
【０１８０】
図１１において、まず図１０のステップＳ７０１〜７０４まで行う。次いで、欠陥画素のアドレスを参照し、その欠陥画素が領域Ａ内であれば、フラグを１とし、領域Ａ外であれば、フラグを０とする（ステップＳ１１０１）。
【０１８１】
次いで、その欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素か否かを判別する（ステップＳ１１０２）。
【０１８２】
ステップＳ１１０２の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素とき（ステップＳ１１０２でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルについて判別する（ステップＳ１１０３）。
【０１８３】
ここでは、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ３／α以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ３／α未満のとき、否定判別となる。一方、フラグが０で、キズレベルがＬＥＢＥＬ３以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ３未満のとき、否定判別となる。
【０１８４】
ステップＳ１１０３の判別の結果、肯定判別されたとき（ステップＳ１１０３でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ１１０８）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１８５】
一方、ステップＳ１１０３の判別の結果、否定判別されたとき（ステップＳ１１０３でＮＯ）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１８６】
上記ステップＳ１１０２の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域１，３，７，９のいずれかの領域内の画素ではないとき（ステップＳ１１０２でＮＯ）、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素か否かを判別する（ステップＳ１１０４）。
【０１８７】
ステップＳ１１０４の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素とき（ステップＳ１１０４でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルについて判別する（ステップＳ１１０５）。
【０１８８】
ここでは、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ２／α以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ２／α未満のとき、否定判別となる。一方、フラグが０で、キズレベルがＬＥＢＥＬ２以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ２未満のとき、否定判別となる。
【０１８９】
ステップＳ１１０５の判別の結果、肯定判別されたとき（ステップＳ１１０５でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ１１０８）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１９０】
一方、ステップＳ１１０５の判別の結果、否定判別されたとき（ステップＳ１１０５でＮＯ）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１９１】
上記ステップＳ１１０４の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域２，４，６，８のいずれかの領域内の画素ではないとき（ステップＳ１１０４でＮＯ）、欠陥画素が画像中の領域５内の画素か否かを判別する（ステップＳ１１０６）。
【０１９２】
ステップＳ１１０６の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域５内の画素とき（ステップＳ１１０６でＹＥＳ）、その欠陥画素のキズレベルについて判別する（ステップＳ１１０７）。
【０１９３】
ここでは、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ１／α以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ１／α未満のとき、否定判別となる。一方、フラグが０で、キズレベルがＬＥＢＥＬ１以上のとき、肯定判別となり、フラグが１で、キズレベルがＬＥＢＥＬ１未満のとき、否定判別となる。
【０１９４】
ステップＳ１１０７の判別の結果、肯定判別されたとき（ステップＳ１１０７でＹＥＳ）、欠陥画素を補正対象画素とし、そのアドレスを読み出し（ステップＳ１１０８）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１９５】
一方、ステップＳ１１０７の判別の結果、否定判別されたとき（ステップＳ１１０７でＮＯ）、ステップＳ１１０９に進む。
【０１９６】
上記ステップＳ１１０９の判別の結果、欠陥画素が画像中の領域５内の画素ではないとき（ステップＳ１１０６でＮＯ）、全てのキズデータスキャンが終了したか否か判別する（ステップＳ１１０９）。
【０１９７】
ステップＳ１１０９の判別の結果、全てのキズデータスキャンが終了したとき（ステップＳ１１０９でＹＥＳ）、本処理を終了し、全てのキズデータスキャンが終了していないとき（ステップＳ１１０９でＮＯ）、ステップＳ１１０１に戻る。以上より、撮像画像における補正対象画素の指定は完了となる。
【０１９８】
なお、周辺光量補正を行わない場合には、全領域においてキズレベルはＬＥＶＥＬ１とし、同様の処理を行う。このように、第２の実施の形態では、撮像画像のうちの予め定められた領域内の欠陥画素に対して補正する場合についての実施の形態である。
【０１９９】
以上、特定の領域にゲインをかける場合にもそれに応じて補正するキズレベルを設定することにより、より好適に欠陥画素の補正を行うことができる。
【０２００】
［第３の実施の形態］
第３の実施の形態における撮像装置の構成は、第１の実施の形態における撮像装置の構成と同じであるので、第１の実施の形態を流用して説明する。
【０２０１】
一般的に、撮像時のレンズの絞り値によって出力にゲインをかける補正を行うことがある。従って、レンズの絞り値によっても補正するキズレベルを変更すると良い。
【０２０２】
上述した図１０のステップＳ７０２で、レンズ条件の確認時に絞り値も取得する。その絞り値に応じて図５で示した各キズレベルのキズ補正レベルに係数αを乗じたものをキズ補正レベルとする。
【０２０３】
図１２は、絞り値（Ａｖ）によるキズレベルの係数βを示した表を示す図である。
【０２０４】
図１３は、図１２を適用したキズレベルとそのレベルに対応したキズ補正レベルを示す図である。
【０２０５】
図１２の表は、絞り値に対応する係数βを示す表である。例えば、撮像時の絞り値Ａｖが１．８であった場合、係数βは０．８となる。これを図５のキズ補正レベルに乗算すると、キズ補正レベルは図１３の通りになる。
【０２０６】
以上、絞り値によるゲイン補正分を考慮した補正するキズレベルを設定することにより、より好適に欠陥画素の補正を行うことができる。
【０２０７】
（他の実施の形態）
本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムコードを読み出して実行する処理である。この場合、そのプログラム、及び該プログラムを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
【符号の説明】
【０２０８】
１ 撮像装置
１４ 撮像素子
２０ 画像処理回路
３０，５２ メモリ
４２ 測距制御部
４６ 測光制御部
４８ フラッシュ部
５０ システム制御回路
５６ 不揮発性メモリ
６２，６４ シャッタスイッチ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体を光学部材を介して撮像素子により撮像することで撮像画像を得る撮像装置であって、
前記撮像素子に起因して生じる欠陥画素の撮像画像における位置と欠陥の度合いを示すレベルとが対応付けられた欠陥情報が記憶された第１記憶手段と、
前記撮像画像に対し行われるゲイン補正に応じて定まるとともに、撮像画像を複数の領域に分割することで得られた各領域ごとに、前記レベルと比較するための閾値が設定された設定情報が記憶された第２記憶手段と、
前記第１記憶手段に記憶された欠陥画素の位置、及びレベルを取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された欠陥画素の位置及びレベルから、前記第２記憶手段に記憶された設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する決定手段と、
前記決定手段により補正することが決定された欠陥画素を補正する補正手段と
を備えたことを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記第１記憶手段には、前記撮像素子による撮像条件に応じた複数の欠陥情報が記憶されていることを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項３】
前記欠陥の度合いを示すレベルは、欠陥画素の出力レベルに応じて定まることを特徴とする請求項１又は２記載の撮像装置。
【請求項４】
前記欠陥情報は、前記撮像画像を用いて取得されることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記補正手段は、前記光学部材の瞳距離、又は絞り値に応じて前記欠陥画素を補正することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記補正手段は、前記撮像画像のうちの予め定められた領域内の欠陥画素に対して補正することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
被写体を光学部材を介して撮像素子により撮像することで撮像画像を得るとともに、前記撮像素子に起因して生じる欠陥画素の撮像画像における位置と欠陥の度合いを示すレベルとが対応付けられた欠陥情報が記憶された第１記憶手段と、前記撮像画像に対し行われるゲイン補正に応じて定まるとともに、撮像画像を複数の領域に分割することで得られた各領域ごとに、前記レベルと比較するための閾値が設定された設定情報が記憶された第２記憶手段と、を備えた撮像装置の制御方法であって、
前記第１記憶手段に記憶された欠陥画素の位置、及びレベルを取得する取得ステップと、
前記取得ステップにより取得された欠陥画素の位置及びレベルから、前記第２記憶手段に記憶された設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する決定ステップと、
前記決定ステップにより補正することが決定された欠陥画素を補正する補正ステップと
を備えたことを特徴とする制御方法。
【請求項８】
被写体を光学部材を介して撮像素子により撮像することで撮像画像を得るとともに、前記撮像素子に起因して生じる欠陥画素の撮像画像における位置と欠陥の度合いを示すレベルとが対応付けられた欠陥情報が記憶された第１記憶手段と、前記撮像画像に対し行われるゲイン補正に応じて定まるとともに、撮像画像を複数の領域に分割することで得られた各領域ごとに、前記レベルと比較するための閾値が設定された設定情報が記憶された第２記憶手段と、を備えた撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記制御方法は、
前記第１記憶手段に記憶された欠陥画素の位置、及びレベルを取得する取得ステップと、
前記取得ステップにより取得された欠陥画素の位置及びレベルから、前記第２記憶手段に記憶された設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する決定ステップと、
前記決定ステップにより補正することが決定された欠陥画素を補正する補正ステップと
を備えたことを特徴とするプログラム。
【請求項１】
被写体を光学部材を介して撮像素子により撮像することで撮像画像を得る撮像装置であって、
前記撮像素子に起因して生じる欠陥画素の撮像画像における位置と欠陥の度合いを示すレベルとが対応付けられた欠陥情報が記憶された第１記憶手段と、
前記撮像画像に対し行われるゲイン補正に応じて定まるとともに、撮像画像を複数の領域に分割することで得られた各領域ごとに、前記レベルと比較するための閾値が設定された設定情報が記憶された第２記憶手段と、
前記第１記憶手段に記憶された欠陥画素の位置、及びレベルを取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された欠陥画素の位置及びレベルから、前記第２記憶手段に記憶された設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する決定手段と、
前記決定手段により補正することが決定された欠陥画素を補正する補正手段と
を備えたことを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記第１記憶手段には、前記撮像素子による撮像条件に応じた複数の欠陥情報が記憶されていることを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項３】
前記欠陥の度合いを示すレベルは、欠陥画素の出力レベルに応じて定まることを特徴とする請求項１又は２記載の撮像装置。
【請求項４】
前記欠陥情報は、前記撮像画像を用いて取得されることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記補正手段は、前記光学部材の瞳距離、又は絞り値に応じて前記欠陥画素を補正することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記補正手段は、前記撮像画像のうちの予め定められた領域内の欠陥画素に対して補正することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
被写体を光学部材を介して撮像素子により撮像することで撮像画像を得るとともに、前記撮像素子に起因して生じる欠陥画素の撮像画像における位置と欠陥の度合いを示すレベルとが対応付けられた欠陥情報が記憶された第１記憶手段と、前記撮像画像に対し行われるゲイン補正に応じて定まるとともに、撮像画像を複数の領域に分割することで得られた各領域ごとに、前記レベルと比較するための閾値が設定された設定情報が記憶された第２記憶手段と、を備えた撮像装置の制御方法であって、
前記第１記憶手段に記憶された欠陥画素の位置、及びレベルを取得する取得ステップと、
前記取得ステップにより取得された欠陥画素の位置及びレベルから、前記第２記憶手段に記憶された設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する決定ステップと、
前記決定ステップにより補正することが決定された欠陥画素を補正する補正ステップと
を備えたことを特徴とする制御方法。
【請求項８】
被写体を光学部材を介して撮像素子により撮像することで撮像画像を得るとともに、前記撮像素子に起因して生じる欠陥画素の撮像画像における位置と欠陥の度合いを示すレベルとが対応付けられた欠陥情報が記憶された第１記憶手段と、前記撮像画像に対し行われるゲイン補正に応じて定まるとともに、撮像画像を複数の領域に分割することで得られた各領域ごとに、前記レベルと比較するための閾値が設定された設定情報が記憶された第２記憶手段と、を備えた撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記制御方法は、
前記第１記憶手段に記憶された欠陥画素の位置、及びレベルを取得する取得ステップと、
前記取得ステップにより取得された欠陥画素の位置及びレベルから、前記第２記憶手段に記憶された設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する決定ステップと、
前記決定ステップにより補正することが決定された欠陥画素を補正する補正ステップと
を備えたことを特徴とするプログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【公開番号】特開２０１３−９３６９５（Ｐ２０１３−９３６９５Ａ）
【公開日】平成２５年５月１６日（２０１３．５．１６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２３３８０５（Ｐ２０１１−２３３８０５）
【出願日】平成２３年１０月２５日（２０１１．１０．２５）
【出願人】（０００００１００７）キヤノン株式会社 (59,756)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年５月１６日（２０１３．５．１６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年１０月２５日（２０１１．１０．２５）
【出願人】（０００００１００７）キヤノン株式会社 (59,756)
【Ｆターム（参考）】
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