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Fターム[5D121HH14]の内容

光記録担体の製造 (9,591) | 検査、試験、評価 (326) | 特定の膜又は層のテスト (42)

Fターム[5D121HH14]に分類される特許

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【課題】再現性がよく、効率的で精度の高い光記録媒体表面の耐クリープ性を評価する試験方法を提供する。
【解決手段】平滑な台座13上に光記録媒体1を載置し、その上に不織布2を置き、更に、前記不織布2を介して前記光記録媒体1に所定時間、所定の荷重を加える荷重工程を有し、前記荷重工程の際の前後において、前記光記録媒体1の記録再生特性を測定することにより、光記録媒体の表面の耐クリープ性を評価する試験方法であって、前記荷重工程において前記光記録媒体1を加熱する。 (もっと読む)


【課題】記録マーク全体の形状の測定が可能な原盤検査方法を提供する。
【解決手段】ディスク原盤に記録マークを形成する。そして、スピンドルを回転させ、スライダを一定幅ごとに移動させながら、ピックアップユニットにより記録マークをディスク原盤の内側から外側又は外側から内側まで走査させて再生信号を読み出す。信号取得部において上記再生信号から再生データを取得し、演算部において再生データが適正であるか判断する。適正でないと判断された場合に、ディスク原盤への記録マークの形成条件の最適化を行う。 (もっと読む)


【課題】光情報媒体の記録/再生光入射側表面の耐擦傷性を、簡便に、かつ実際の使用環境を反映した形で定量化できる評価方法を提供する。
【解決手段】透光性基体および情報記録層を有し、前記透光性基体側から前記情報記録層に入射したレーザービームによって光学的に記録および/または再生がなされる光情報媒体に対し、レーザービーム入射側表面の耐擦傷性に関する評価を行う方法であって、
光情報媒体のレーザービーム入射側表面を故意に摩耗させた後、記録/再生特性を測定し、その測定値に基づいてレーザービーム入射側表面の耐擦傷性を評価する光情報媒体の評価方法。 (もっと読む)


【課題】均一な膜厚の記録層を有する光記録媒体、及びその製造方法を提供する。
【解決手段】2枚の対向する基板3,4間にスペーサー1と光記録層2を有する光記録媒体において、前記スペーサーが、以下の条件で測定した圧縮変形率が10%以上である材料よりなることを特徴とする光記録媒体。圧縮変形率;試料を直径6.35mmの2枚の円板間に少なくともその上下円板の内面全面で試料が圧縮されるように挟み、23℃で、10Nの荷重下での材料の厚み(D2)と、無荷重下での材料の厚み(D1)とを測定し、以下の式により算出される割合を圧縮変形率と定義する。圧縮変形率(%)=〔(D1−D2)/D1〕×100 (もっと読む)


【課題】ホログラフィ記憶媒体の複製に関する効率、品質、コスト及びスループットを向上させる技法を提供すること。
【解決手段】複数のデータ層(12)を有する光学式データ記憶ディスク(22、220)(例えば、ホログラフィデータ記憶ディスク)を複製するためのシステム(30、50、70、100、200)及び方法(60、90)である。それぞれに単一データ層(12)を提供するマスターディスク(10、210)を利用すると共に、マスターディスク(10、210)からのそれぞれの各単一データ層(12)が光学式データ記憶ディスク(22、220)上に複製される。 (もっと読む)


【課題】再生光の照射により記録層が劣化する光記録媒体の再生光耐久性を、効率良く(簡便でかつ、短時間で精度良く)評価する方法の提供。
【解決手段】再生光の照射により記録層が劣化する光記録媒体の再生光耐久性を評価する方法であって、下記の測定工程と推定工程とを備えたことを特徴とする光記録媒体の再生光耐久性評価方法。
・測定工程:記録前の反射率を測定すると共に、所定の記録パワーで記録した後の反射率を測定する工程
・推定工程:測定した記録前の反射率及び記録後の反射率に基づいて、再生光耐久性を推定する工程 (もっと読む)


【課題】材料の損失や劣化を伴うことなく、溶融状態での相変化膜の光学特性を正確に測定可能な光学特性測定装置を提供する。
【解決手段】薄膜試料107は、固体相から溶融相に相変化する相変化膜と、相変化膜に積層された保護膜とを有している。ヒーター108は、薄膜試料107を、中心部分と周辺部分とに温度差を与えるように加熱する。薄膜試料107内の相変化膜は、測定用ビーム113の光の径よりも大きな領域が溶融相に相変化し、周辺部分は固定相に保たれる。 (もっと読む)


【課題】従来技術では、高密度光ディスクの表面上で発生する耐汚染レベルは、単に十分に熟練した製造者の個人的な判定によってのみ評価され、この際の判定は、ディスクの表面に付着された汚染された実際の指紋または汚染物の量やレベルを観察することに基づいていた。従来の耐汚染レベル評価方法によって検査が行われる時、ある程度の誤判定が発生し、この誤判定によって欠陥のあるディスクが出荷され販売される恐れがあった。
【解決手段】記録媒体上の耐汚染レベル評価方法を提供する。人工物質が付着されたスタンプを光記録媒体上に接触させることによって、光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するステップと、指紋に対する感度を決定するため、人工指紋の形成された領域内のシンボルエラーレート(SER)を測定し、測定されたSERによって光記録媒体が良好な品質を持つか粗悪な品質を持つかを判断するステップとを備える。 (もっと読む)


【課題】3層以上の情報記録層を持つ多層光記録媒体においても、情報記録層の膜厚や材料、スペーサー層の厚みムラ等の影響を明確に判断・評価することが可能にする。
【解決手段】3層以上の情報記録層を持つ多層光記録媒体に対してレーザー光を照射し、レーザー光の反射光から得られる第1信号を周波数フィルタに通し、ハイパスフィルタを経て得られる第2信号を用いて多層光記録媒体の特性を評価する。 (もっと読む)


【課題】 サーボ信号に基づく評価値を用いて光ディスクの光透過層の表面の評価を行う際に、サーボ残差とデータ復号エラーの発生量との相関関係が低いために評価の精度が低いという課題を解決する。
【解決手段】 フォーカスまたはトラッキングのサーボ信号を検出し、検出された前記サーボ信号とその検出時間から前記サーボ信号の推移を検出し、前記サーボ信号の推移から得られたピークのうち、所定の閾値を超えた部分について、前記所定の閾値からのピーク高さをその継続時間と線速度との積で算出される距離で積分し、積分によって得られた積分値を合計して評価値を算出し、該評価値とデータ復号エラーの発生量との相関関係に基づいて、前記光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価する。 (もっと読む)


【課題】光ディスクの検査方法、及び光ディスク製造装置において、短時間で突発的な信号転写不良の検査を可能にする。
【解決手段】製造された全数の光ディスクに対して、突発的な信号転写不良を検査する検査方法であって、光ディスク製造装置31内の外観検査装置35で得られた前記光ディスクのカバー層厚み情報、またはカバー層厚み情報と中間層厚み情報を、特定部位の信号検査機能を有する信号転写不良検査装置36に送信して、該信号転写不良検査装置36の光学系を最適化し、信号転写不良検査装置36にて、光ディスクの特定部位の信号値のばらつきの標準偏差を測定して信号転写不良を判定する。 (もっと読む)


【課題】機械物性や保存安定性を損なうことなく、さらに高温・高湿放置後においても、信号特性を低下させない光記録媒体を提供する。
【解決手段】温度80℃、相対湿度80%の環境下に500時間放置する耐環境性試験前後におけるエラーレートが、「(耐環境性試験後のエラーレート)/(耐環境性試験前のエラーレート)」で表される数値で10以下であり、追記型光記録媒体であり、記録再生を青色レーザーで行う光記録媒体を用いる。また、温度80℃、相対湿度80%の環境下に500時間放置する耐環境性試験前後におけるエラーレートが、「(耐環境性試験後のエラーレート)/(耐環境性試験前のエラーレート)」で表される数値で10以下であり、アルミニウムを主成分とする反射層を有し、記録再生を青色レーザーで行う光記録媒体を用いる。 (もっと読む)


【課題】装置の大型化を回避しつつ、ホログラム記録媒体の性質や状態に応じて前処理を適切に行なうことが可能なホログラム記録装置、ホログラム記録再生装置およびホログラム記録媒体の製造方法を提供する。
【解決手段】ホログラム記録再生装置10は、信号光SLと参照光RLとを含む記録光をホログラム記録媒体27に照射して、ホログラム記録媒体27にホログラムを記録する記録光光学系1を含む。ホログラム記録再生装置10は、さらに、光検知器21および記録停止部43を含む。光検知器21は、ホログラム記録媒体27へのホログラムの記録時にホログラムから発生する回折光(再生光CL)を検知する。記録停止部43は、光検知器21が検知した再生光CLの強度が基準値に達すると、シャッター13を閉じることにより記録光(信号光SLおよび参照光RL)の照射を停止する。 (もっと読む)


【課題】3個以上の情報記録層を有する多層型光記録媒体の最終的な製造歩留まりが向上する製造方法及び光記録媒体を提供する。
【解決手段】ディスク状の基板3上に光透過性を有する中間層を挟んで少なくとも3層の情報記録層を形成する工程を有し、情報記録層の少なくとも一部に反射膜4を有せず且つ基板3側から見て最も遠い位置に形成する情報記録層に他の情報記録層を透過せずにモニター用光ビーム17を照射することが可能な反射率モニター領域を設け、情報記録層を形成する毎に、形成した情報記録層に設けた反射率モニター領域に基板3側からモニター用光ビーム17を照射し、基板3側から入射するモニター用光ビーム17を基板3側に反射させて各情報記録層の裏面反射率を測定することを特徴とする光記録媒体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】3個以上の情報記録層を有する多層型光記録媒体の各中間層の厚みを予め設定した設定値の範囲内で正確に形成する光記録媒体の製造方法を提供する。
【解決手段】ディスク状の基板上に光透過性を有する中間層を挟んで少なくとも3層の情報記録層を形成する工程を有し、基板3側から数えて第2番目以降の情報記録層を形成する面上に、記録膜及び反射膜を形成しない中間層モニター領域を設け、第2番目以降の情報記録層側から中間層モニター領域を透過して基板3側から数えて第1番目の情報記録層を照射するモニター用光ビーム17により中間層の厚みを測定することを特徴とする光記録媒体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】3個以上の情報記録層を有する多層型光記録媒体の各中間層の厚みを予め設定した設定値の範囲内で正確に形成する光記録媒体の製造方法を提供する。
【解決手段】光透過性材料で形成したディスク状の基板上に光透過性を有する中間層を挟んで少なくとも3層の情報記録層を形成する工程を有し、前記情報記録層を形成する面に記録膜及び反射膜を有しない中間層モニター領域を設け、形成した前記情報記録層に、前記基板側から当該基板及び前記中間層モニター領域を透過させてモニター用光ビームを照射し、前記モニター用光ビームを照射した前記情報記録層の前記基板側に隣接する前記中間層の厚みを測定することを特徴とする光記録媒体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】記録及び/又は再生ビーム入射側表面の防汚性に優れ、前記表面に指紋が付着した場合においても、再生時のエラーレート特性に非常に優れる光情報媒体を提供する。
【解決手段】光情報媒体の記録及び/又は再生ビーム入射側表面に、微粒子状物質としてJIS Z8901に定められた試験用粉体1第11種の関東ローム0.4重量部、分散媒としてトリオレイン1重量部、及び希釈剤としてメトキシプロパノール10重量部を含む評価用分散液を、一定の手順によって付着させたとき、付着操作が行われた表面の単位面積当たりに付着した評価用分散液滴が占める面積割合が6%以下である光情報媒体。 (もっと読む)


【課題】光情報媒体の記録/再生光入射側表面の耐擦傷性を、簡便に、かつ実際の使用環境を反映した形で定量化できる評価方法を提供する。
【解決手段】透光性基体および情報記録層を有し、前記透光性基体側から前記情報記録層に入射したレーザービームによって光学的に記録および/または再生がなされる光情報媒体に対し、レーザービーム入射側表面の耐擦傷性に関する評価を行う方法であって、
光情報媒体のレーザービーム入射側表面を故意に摩耗させた後、記録/再生特性を測定し、その測定値に基づいてレーザービーム入射側表面の耐擦傷性を評価する光情報媒体の評価方法。 (もっと読む)


【課題】膜厚チェックを効率化し、全数全周の膜厚検査を実現できるようにする。
【解決手段】第1のレーザ光を対物レンズのフォーカス制御に用いることで、第1のレーザ光LBは、記録層L0に合焦状態を保つようにする。第2のレーザ光LRは、第1のレーザ光LBと光軸が一致され、かつ第1のレーザ光の焦点位置とは被膜厚測定層であるカバー層103の規定の膜厚分だけずれた位置(カバー層表面103s)で合焦状態となるようにする。第1のレーザ光が記録層L0に合焦状態を保つように対物レンズがフォーカス制御されていると、カバー層103の厚みが本来の厚みより厚くなったていたり、薄くなっていたりしていれば、それが第2のレーザ光のデフォーカスとして現れる。従って第2のレーザ光の反射光から得られるフォーカス誤差情報として、カバー層103の厚みに応じた値が得られる。 (もっと読む)


【課題】 波長による屈折率の変化、つまり波長の関数で屈折率を反映したスペクトルを高速フーリエ変換を通じて得られた干渉空間での反射光のピーク値の位置を通じて、速やかな分析速度および高精密度を有した光ディスクの厚さ測定方法を提供すること。
【解決手段】 光の波長の長さによる反射光の強度を波長別スペクトルデータとして検出する段階と、前記検出された波長別スペクトルデータを波長の関数として屈折率を反映したスペクトル値に変換処理する段階と、前記変換処理された値を高速フーリエ変換を通じて光ディスクの厚さを表す間接空間の長さに変換処理して反射光の強度がピーク値を有する位置をそれぞれスペーサーレイヤーおよびカバーレイヤーの厚さとして検出する段階とを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


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