【課題】 複数の引出し部を有する内部電極を備える積層コンデンサについて、構造欠陥の有無を、高い信頼性をもって判定できる方法を提供する。
【解決手段】 内部電極に形成される複数の引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の外部端子電極１６〜１９のうち、第１グループの外部端子電極１６および１７から残りの第２グループの外部端子電極１８および１９へと直流電流を流すことによって、直流抵抗値または直流電流値を測定し、その値に基づいて構造欠陥の有無を判定する。同様の結線状態によって、積層コンデンサ１の撓み限界を評価することもでき、結線状態を変えることによって、構造欠陥が生じている箇所を推定することもできる。 （もっと読む）

【目的】 直列に接続されたキャパシタセルの過充電を防止してセルの劣化を防ぎ、均等に充電してセル容量を最大限利用し、電力的に十分効率よく充電する。
【構成】 電気二重層コンデンサセルからなる複数のキャパシタセルＣ１〜Ｃ１６を直列に接続したキャパシタバンク６０に対して、充電用電源部５２と充電制御部６４等によって、キャパシタバンク６０の充電電圧が所定値に達するまでは定電流充電し、キャパシタバンク６０の充電電圧が所定値に達してからキャパシタセルＣ１〜Ｃ１６のいずれか１つでも充電が完了するまでは定電力充電し、何れかのキャパシタセルの充電が完了すると、そのキャパシタセルに対するパイパス回路６１を作動させて充電電流をバイパスさせるとともに定電流充電する。 （もっと読む）

【課題】 アクチュエータを使用せずに電子部品をスライドさせ、複数の端子部にプローブを同時に当接させる事を可能とし、前記電子部品の電気的特性検査に時間を要しない、作業性の良い検査用治具を得る。
【解決手段】 セットブロック４は引張ばねによってスライドプレート３に固定され、前記スライドプレート３には２つのカムフォロア７が前記セットブロックの左右に取り付けられ、カムフォロア７各々が台座１０に取り付けられたガイドプレート６に対して常時弾性付勢を受けながらガイドの斜面及び円弧形状に沿って従動し、前記カムフォロア７が前記ガイドプレート６の形状に沿って従動し、前記セットブロック４は前記スライドプレート３の外形に沿ってプローブの圧入されたブロック方向に直線スライドし、前記プローブに対して垂直に当接させる機構の検査用治具とする。 （もっと読む）

【課題】利用周波数の広帯域化、マルチバンド化に対応でき、かつ、小型化した場合でも所望の周波数帯において、減衰量を得ることができる積層型ノイズフィルタを提供する。
【解決手段】コイル部を二つ直列に接続し、入力端子電極５１、直列に接続した二つのコイル部、出力端子電極５９を順に電気的に接続し、コンデンサ部のコンデンサ形成用導体５５Ａ、５５Ｂが、二つのコイル部の接続部に電気的に接続され、側面入力端子８１に一端を接続した容量形成用導体５３と、入力端子電極５１に接続されたコイル部のコイル形成用導体５２Ｄとの間に容量Ｃ０を形成し、側面入力端子８１と側面出力端子８２との間に容量ＣＩＯを形成した。 （もっと読む）

【課題】 電源装置における電解コンデンサのメーカー推奨寿命より長命となる最適寿命を精度良く推定する方法の提供。
【解決手段】 ステップＳ２で電解コンデンサの表面の最高温度部を特定し、この最高温度部にコードレスメモリー式小型温度測定器（温度メモリーボタン）を直付けして表面温度の実測を開始する。この温度測定が所定時間行われると、小型温度測定器を取り出してステップＳ４の「アレニウスの寿命計算による最適寿命推定」の作業に移行する。測定した温度データをコンピュータに取り込み、アレニウスの寿命計算式に代入して最適寿命を算出する。 （もっと読む）

【課題】薄層に対応して誘電体を微粒化しても比誘電率が大きく、かつ薄層化による負荷電界強度の増大に対しても、ＤＣバイアス印加による比誘電率の変化率が良好で、平均故障時間の長い誘電体磁器及び積層セラミックコンデンサを提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の誘電体磁器は、ＣａとＳｒとＭｇとＭｎと希土類元素を含有するとともに、Ａサイトの一部が該Ｃａで置換されたペロブスカイト型チタン酸バリウム結晶粒子（ＢＣＴ型結晶粒子）に、前記ＣａとＳｒとＭｇとＭｎと希土類元素の少なくとも一部が固溶してなる主結晶粒子を含有し、Ａｌ元素の含有量が酸化物換算で０．０１質量％以下である誘電体磁器であって、前記主結晶粒子は、Ｃａ濃度が粒子中心よりも粒子表面側において大きく、ＳｒとＭｇとＭｎ及び希土類元素が粒子表面側に偏在したコアシェル型構造であり、平均粒径が０．１〜０．５μｍであることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】電解コンデンサ用の電極箔を製造する際、作業時間の増加と共に給電ローラと電極箔の接触抵抗が増加してスパークが発生し、品質、作業性を低下させるという課題を解決し、品質、コスト面に優れた電解コンデンサ用電極箔の製造装置及びこれを用いた製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】給電ローラ４と一対の陰極板７間に直流電圧を印加して電極箔１のエッチングを行う電解コンデンサ用電極箔の製造装置において、前記給電ローラ４の上流側にスパーク検出用金属ローラ９を配設して前記給電ローラ４で発生するスパークをスパーク検出用金属ローラ９で検出し、予め設定されたスパーク波形との比較判定１０を行う判定部を備えた電解コンデンサ用電極箔の製造装置である。 （もっと読む）

【課題】試験精度を増大させるために電気的コンタクト表面を清浄にするメンテナンスを容易にする。
【解決手段】凹部（７２）、表面凸凹、コンタクトチップの改変例（５２）、及び／又はテストプレート（５）の底面（５０）及び電気的コンタクトの頂面（５２）間の圧力を保証する他の方法は、ＤＵＴ（被試験装置）の信頼性のある測定結果を促進するために電気的コンタクトの頂面（５２）を清掃するために採用される。 （もっと読む）

【課題】リードフレームを端子電極とする電子部品において、熱スクリーニング処理後のはんだ濡れ性低下を防止した熱スクリーニング方法を提供する。
【解決手段】電子部品の熱スクリーニングを窒素リフロー炉により、加熱処理を酸素濃度５００ｐｐｍ以下の窒素雰囲気中で、電子部品の表面温度が２１０〜２８０℃になる温度範囲で行った後、冷却処理を酸素濃度５００ｐｐｍ以下の窒素雰囲気中で行うことで、はんだ濡れ性を加熱処理前と同等に保つことができる。
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【課題】固体電解コンデンサの製造時に、擬似的なショート状態を更に解消する。
【解決手段】固体電解コンデンサの製造方法は、巻取り素子21に予め電流又は電圧を複数回印加して、擬似的なショート状態を解消する工程と、該巻取り素子21に測定電圧を印加して、検出される電流値にてショートしているか否かを判断する工程を具えている。 （もっと読む）

【課題】 集電体の積層部と露出部との境界部位が切断されることを十分に抑制し、且つ、十分な体積容量を有する電極を得ることが可能な電極の製造方法及び電極を提供すること。
【解決手段】 集電体１２０と、該集電体１２０の少なくとも一方の面上に形成された活物質含有層１４０と、を備え、集電体１２０の上記面の少なくとも一方の縁部に、活物質含有層１４０が形成されていない露出面１２０Ａを有し、且つ、露出面１２０Ａに近接する側の活物質含有層１４０の縁部に、活物質含有層１４０の最大膜厚よりも膜厚が小さい膜厚減少部１４０Ａを有する電極素体１００を準備する準備工程と、電極素体１００に対してロールプレス機により加圧処理を施すロールプレス工程と、を含むことを特徴とする電極の製造方法。 （もっと読む）

本発明の誘電体磁器組成物は、ＢａＴｉＯ_３を１００モル部、ＭｎＯをｘ_１モル部、Ｃｒ_２Ｏ_３をｘ_２モル部、Ｙ_２Ｏ_３および／またはＨｏ_２Ｏ_３をｘ_３モル部、ＢａＯ，ＣａＯ，ＳｒＯからなる群より選択される酸化物をｘ_４モル部、ＳｉＯ_２および／またはＧｅＯ_２をｘ_５モル部含み、０．５≦ｘ_１≦４．５、０．０５≦ｘ_２≦１．０、ｘ_１＋ｘ_２≦４．５５、０．２５≦ｘ_３≦１．５、０．５≦ｘ_４≦６、および０．５≦ｘ_５≦６を満たす。本発明の積層型セラミックコンデンサは、このような組成物により構成されるセラミック誘電体と、ＮｉまたはＮｉ合金により構成される電極とからなる、積層構造を有する。 （もっと読む）

第１の電極、第２の電極、及び遮蔽電極を含む構造は、電気回路に用いられる際に改良されたエネルギー調整を与える。この構造は、別個の構成要素として、インタポーザ又は第１レベルのインタコネクトの一部として、又は、集積回路の一部として存在し得る。

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【課題】磁器コンデンサの誘電体の分極を解放して容量回復するのに、熱戻し工程を不要にして工数の削減化とそれに伴なう製造コストの低減および製造時間の短縮化を図る。
【解決手段】磁器コンデンサ１０に直流電圧を印加した後に、磁器コンデンサの内部電極に残留する電荷を減じる場合において、直流電圧を印加することにより磁器コンデンサ内部に発生した分極と逆方向の分極を電気的手段によって発生させる。 （もっと読む）