予め設定した期間にわたって、プログラムされた電圧に対して、少なくとも１つの部品を充電、保持、および／または放電するステップと、各部品が充電、保持、および放電されている間に、各被試験部品の品質に対応する、少なくとも１つの値を定期的に測定するステップとを含む、多層セラミックコンデンサのような少なくとも１つの部品を試験するための方法。少なくとも１つの値は、電圧値、電流値、漏れ電流値、静電容量値、散逸率値、およびあらゆるそれらの組み合わせから成る群より選択することができる。曲線は、プログラムされた電圧に対して、各部品が、充電、保持、および放電されている間に収集した、定期的に測定した値からデジタル化することができる。
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【課題】狭偏差の内部電極を高歩留まりで製造することができる積層型電子部品の製造装置およびその製造方法を得る。
【解決手段】積層セラミックコンデンサ用製造装置１は、目標の静電容量のコンデンサを製造するために、印刷済みセラミックグリーンシート１００を間欠搬送しつつ、インラインでグリーンシート厚と内部電極面積を精度良く測定し、その測定値に基づいて積層する。製造装置１は、シート供給部２と、シート厚測定部３と、内部電極撮像部４と、積層部５と、排出部６とで構成されている。 （もっと読む）

【課題】本発明は、高分子フィルムを用いて形成されたコンデンサ素子の熱劣化を抑制する事を第一の目的とするもので、そのために生じる製造工程での工数増を抑えることを第二の目的とするものである。
【解決手段】目的を達成するために、本発明は、コンデンサ素子２を有天筒状の耐熱性のケース１内に収納することで実装時の熱を遮断し基本的な耐熱性を確保し、更にケース１外表面に設けたフィルム状又はシート状の基材５が実装時の熱を断熱することで耐熱性の向上を図るものである。 （もっと読む）

【課題】位置決めのＯＮ／ＯＦＦ動作が迅速で、高速の間欠搬送に対応することが可能であり、しかも、搬送経路に突出するような機構部や部材を必要とせず、被搬送物が搬送中にダメージを受けることのない、信頼性の高い位置決め手段付き搬送装置を提供する
【解決手段】位置決め手段４３を構成する静電吸着機構４１を、被搬送物１の搬送領域に突出しないような態様で配設し、搬送プレート１１の収容部１２に収容されている被搬送物を静電吸着することにより被搬送物の位置決めを行う。
搬送プレートを、周縁部に外周側が開口した収容部が配設された円板状の構造とし、かつ、その周囲に収容部の一部を構成する部材としても機能する外周ガイドを配設する。
静電吸着機構により被搬送物の位置決めを行った状態で、チップ型電子部品の特性を測定する特性測定手段を備えた構成とする。 （もっと読む）

【課題】電気二重層キャパシタ（ＥＤＬＣ）を、キャパシタ適用機器から切り離すことなく、寿命判定をする。
【解決手段】直流負荷１には、スイッチＳＷ１，ＳＷ２を介して、ＥＤＬＣ４が接続されている。ＥＤＬＣ４が劣化していないときにおいて、ＳＷ２、ＳＷ４をＯＦＦ、ＳＷ３をＯＮにして、満充電充状態となっているＥＤＬＣの放電を開始した時点から、ＥＤＬＣ端子電圧が設定電圧に低下する時点までの初期定抵抗放電時間Ｔ０を求めておく。そしてＥＤＬＣ４を使用して劣化した場合にも、同様にして、経時定抵抗放電時間Ｔを求める。そして、静電容量変化率（≒（Ｔ０−Ｔ）／Ｔ０）を求め、この値から、寿命判定をする。 （もっと読む）

【課題】結晶粒子の粒子径を小さくしても高誘電率かつ高絶縁性が得られる誘電体層を具備する積層セラミックコンデンサおよびその製法を提供する。
【解決手段】チタン酸バリウムを主成分とし、マグネシウム、マンガンおよび希土類元素（Ｙ、Ｄｙ、Ｈｏ、ＴｂおよびＹｂから選ばれる少なくとも１種）が酸化物として固溶した結晶粒子の粒界からの深さ２０ｎｍにおける前記マグネシウム、マンガンおよび希土類元素（Ｙ、Ｄｙ、Ｈｏ、ＴｂおよびＹｂから選ばれる少なくとも１種）の酸化物の固溶量が０．０５〜０．１５原子％である第１結晶粒子５Ａと、粒界からの深さ２０ｎｍにおける前記酸化物の固溶量が０．２〜０．４原子％である第２結晶粒子５Ｂとから構成される誘電体磁器により、高い絶縁性と比誘電率を満足させることができる。 （もっと読む）

【課題】複数のセラミック層からなる積層構造を有する積層体と、特定のセラミック層を厚み方向に貫通するように設けられるビア導体とを備える積層型セラミック電子部品において、焼成時の寸法変化度合いの違いに起因する、ビア導体とセラミック層との間の隙間を生じにくくするため、ビア導体の形成に用いる導電性ペーストにセラミック粉末を含有させると、ビア導体の電気抵抗が増す。
【解決手段】セラミック粉末を含有する第１の導電性ペースト６と、第１の導電性ペースト６よりセラミック粉末の含有量が少ない第２の導電性ペースト４とを用意し、内周面に沿って第２の導電性ペースト４を付着させたビアホール２に、第１の導電性ペースト６を充填する。焼結後のビア導体７では、セラミック粉末は中心部９から外周部８に向かって減少する濃度勾配をもって存在するため、外周部８での電気抵抗を低くできかつ内部導体膜２との接触抵抗も低減できる。 （もっと読む）

【課題】絶縁抵抗または漏洩電流を短時間で精度よく測定可能とする。
【解決手段】絶縁抵抗測定装置は、定電圧電源１と、定電流回路２と、オンオフ回路３と、漏洩電流増幅器４と、Ａ／Ｄコンバータ５と、データ処理部６と、定電流吸収回路７と、定電流ブリーダ回路８と、ショート回路９とを備える。１ｋΩ未満の内部抵抗を有する定電圧電源１と定電流回路２を用いて、被測定コンデンサＣ１に短時間だけ定電圧かつ定電流を印加するため、ＪＩＳ規格による測定方法で１分の所要時間を要するコンデンサの絶縁抵抗測定と、ＪＩＳ規格による測定方法で５分の所要時間を要するコンデンサの漏洩電流測定を、いずれも１秒以内という短時間で測定でき、検査工程のスループット向上が図れる。 （もっと読む）

【課題】金属化フィルムコンデンサ用の金属化フィルムに形成された電極パターンの検査が困難という課題を解決し、電極パターンを高精度に検査できる金属化フィルムの製造装置を提供することを目的とする。
【解決手段】誘電体フィルム１ａを供給する巻き出し部２と、誘電体フィルム１ａの表面に金属蒸着電極を形成する蒸着部と、作製された金属化フィルム１を巻き取る巻き取り部７を有し、直流電源で点灯する蛍光灯９により金属化フィルム１の裏面側から照射する発光部と、この透過光により金属化フィルム１の表面側から金属蒸着電極を撮影するカメラ１１と、この画像を取り込んで認識する判定部を設けた構成により、金属化フィルム１に均一な光を照射し、この透過光により高速で連続搬送される金属化フィルム１に形成された電極パターンを常時高精度に撮影して判定できる。 （もっと読む）

【課題】固体電解コンデンサなどの比較的外形の大きく、質量の大きなチップ型電子部品を安定に吸引して搬送可能な検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】チップ型電子部品３をそれぞれの外周面に保持して搬送する第一、第二の搬送用ドラム１、２と、前記第一の搬送用ドラム１から前記第二の搬送用ドラム２へチップ型電子部品３を受け渡しする受け渡し機構４と、搬送経路で検査を行う検査手段５、６とを備えるチップ型電子部品の検査装置であって、前記第一、第二の搬送用ドラム１、２は、それぞれの外周部に、チップ型電子部品３を吸引保持するための複数の吸引保持孔９と、前記複数の吸引保持孔９全てと減圧源とを連通して繋ぐ空洞部１１ａを有し、前記空洞部１１ａ内に前記各吸引保持孔９と略同軸となる、加圧源と適宜連通して繋がる吸引開放手段１２を設けたチップ型電子部品３の検査装置とした。 （もっと読む）

本発明は、電極並びに電気化学的エネルギー蓄積／変換システムの、熱力学的性質及び材料特性を正確に特徴付けるシステム及び方法を提供する。本発明のシステム及び方法は、電極反応の進展状態、電圧、及び温度に関連する、複数の相互に関連する電気化学的パラメータ及び熱力学的パラメータを特徴付ける、一連の測定値を同時に収集することが可能である。本発明の方法及びシステムによって提供される向上した感度と、熱力学的に安定した電極状態を反映する測定条件を組み合わせることにより、電極／電気化学セル反応のギブス自由エネルギー、エンタルピー、及びエントロピーなどの状態関数を含む、熱力学的パラメータを非常に正確に測定することが可能になり、それによって、電気化学セルのエネルギー、電力密度、電流率、及びサイクル寿命など、電極材料及び電気化学的システムの重要な性能属性を予測することが可能になる。 （もっと読む）

【課題】コア粒子の表面がシェルで被覆されたコアシェル構造を有するペロブスカイト型結晶粒子からなる、多結晶系構造の誘電体磁器の、コア粒子の微構造を評価することができる、新たな評価方法を提供する。
【解決手段】誘電体磁器を、コア粒子を構成する結晶材料のキュリー温度Ｔｃ（℃）未満の所定の温度と、前記キュリー温度Ｔｃ（℃）以上の所定の温度とを含む、少なくとも２点の温度で、それぞれ、Ｘ線回折測定を行った結果をもとに、前記コア粒子の微構造を評価する。 （もっと読む）

【課題】焼成後に得られた電子部品本体に対して外部電極を形成しなくとも異常があるか否かの判定を行うことのできる電子部品本体を備えた電子部品、ならびに、そのような電子部品に対して、外部電極形成前の電子部品本体について異常を検出する工程を備える電子部品の製法を提供する。
【解決手段】セラミック層５がＭｇを酸化物換算で４×１０^−４〜１×１０^−３質量％、Ｎｉを酸化物換算で４×１０^−４〜５×１０^−４質量％含有してなり、上記の金属酸化物を微量含有させたセラミック層５を備える電子部品本体１は焼成後におけるＭｇ−Ｎｉ−Ｏ複合酸化物結晶９の析出により外部電極形成前に外観的異常から特性不良を検出でき、外部電極３ａ、３ｂを形成する必要のない不良サンプルを事前に除くことができ、製造工程において無駄な製造工数を低減できる。 （もっと読む）

【課題】 基板等との接合部分におけるクラックの発生を低減できる電子部品を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明の電子部品の一例であるコンデンサ１（積層セラミックコンデンサ）は、素体１０（セラミック）と、素体１０の両側面に形成された一対の外部電極２０とを備える。素体１０は、誘電体層１２と内部電極１４とが交互に積層されている。外部電極２０は、内部電極１４と接続された第１の電極層、脂肪族基からなる側鎖を有するポリフェノール化合物を含有する熱硬化性樹脂の硬化物を含む第２の電極層（導電性樹脂層）、Ｎｉからなる第３の電極層及びＳｎからなる第４の電極層が、素体１０側からこの順に形成された構成を有している。 （もっと読む）

【課題】電気二重層キャパシタの製造上の工程管理に役立てることができる２種類の漏れ電流値を算出する方法及び装置を提供する。
【解決手段】本発明の方法においては、電気二重層キャパシタの自己放電中の電圧値及び電流値を測定することによって、ファラディックな漏れ電流及びオーミックな漏れ電流の２種類の漏れ電流を算出する。例えば、０．９Ｖ（所定の基準電圧値）以下の電圧値に基づいて、オーミックな漏れ電流における抵抗値を求めておき（Ｓ３）、この抵抗値に基づいて定格電圧におけるオーミックな漏れ電流値を算出し（Ｓ４）、さらに定格電圧におけるオーミックな漏れ電流値に基づいて、ファラディックな漏れ電流値を算出する（Ｓ５）。 （もっと読む）

【課題】金属材料製基板の表面に無機系絶縁物からなる絶縁体の絶縁層を焼成した絶縁構造体において、絶縁層内における気泡の発生に伴う絶縁層の絶縁特性の良否性を、簡単で作業時間を要しない手段で以って高精度で検知する。
【解決手段】 金属材料製の基板の表面に、無機系絶縁物からなる絶縁体の絶縁層を焼成した絶縁構造体における絶縁性の評価手段であって、焼成時に絶縁層内に発生する気泡の状態と焼成後における絶縁層の表面色との関係を予め設定しておき、絶縁層の表面色を測定し、該測定値と上記気泡状態−表面色関係値とを対比させて該表面色の測定値に対応する気泡状態を検知しこの気泡状態検知結果により絶縁構造体の絶縁特性を評価する。 （もっと読む）

【課題】高周波特性をより改善したキャパシタ提供する。
【解決手段】方形状の第１のパッドおよび第２のパッドと、第２のビアを通すための開口が設けられ、第１のビアを介して第１のパッドと接続された第１の電極と、第１および第２のビアを通すための開口がビア毎に設けられ、第３のビアを介して第２のパッドと接続された第２の電極と、第１および第２の電極の間に設けられ、第１および第２のビアを通すための開口をビア毎に備えた誘電体とを有する。そして、第２のビアが前記第２のパッドの中心で接続され、第３のビアが第２のパッドの中心と頂点との間で第２のパッドに接続されている。 （もっと読む）

【課題】固体電解コンデンサ素子等の製造工程において、支持板に固定した多数の素子片の固定位置精度を検査する装置として好適な検査装置を提供する。
【解決手段】支持体に複数の素子片を列状に固定し、前記素子片に対して１以上の処理を順次行なう素子片の処理に用いる検査装置であって、前記処理のいずれかに先立ち素子片の支持体上での位置を測定する手段と、測定値と所定の基準値と比較して良否を判定する判定手段とを有する素子片検査装置。 （もっと読む）

【課題】ハイブリッド自動車等に使用される金属化フィルムコンデンサに関し、巻き出し状態が変動してしわが入り、コンデンサ特性が劣化するという課題を解決し、優れた性能のコンデンサ素子を製造できるコンデンサ素子製造装置を提供することを目的とする。
【解決手段】フィルムを送り出す第１・第２の供給部と、この供給部から送り出される２枚のフィルムを一対で重ね合わせて巻回する巻き取り部とを有し、上記供給部から送り出されるフィルムをガイドする２本のローラを備え、漸減するフィルム残量に追従して移動し、フィルムの巻き出し状態を常に一定に保つことができるため、薄いフィルムでもフィルムにしわが入らず、安定した性能のコンデンサ素子を製造することができるようになる。 （もっと読む）

【課題】 クラックの発生が有効に防止され、ショート不良率および耐電圧不良率が低く、しかも、高い静電容量を有する積層セラミックコンデンサなどの積層型セラミック電子部品の製造方法を提供すること。
【解決手段】 誘電体層と、内部電極層と、を有する積層型セラミック電子部品を製造する方法において、内部電極層を形成するための導電体ペーストとして、少なくとも導電体粒子と、セラミック粉末から構成される第１共材と、セラミック粉末から構成され、前記第１共材よりも大きな平均粒子径を有する第２共材と、を含み、前記第１共材の平均粒子径が、前記導電体粒子の平均粒子径の１／２０〜１／２の大きさであり、前記第２共材の平均粒子径が、焼成後の前記内部電極層の平均厚みの１／１０〜１／２の大きさである導電体ペーストを使用する積層型セラミック電子部品の製造方法。 （もっと読む）