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Fターム[5F033NN33]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 層間構造の特徴点 (9,232) | コンタクトホールの形状 (1,366) | コンタクトホールの平面形状 (560)

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【課題】 スタックコンタクトにおける接触抵抗を抑制させる。
【解決手段】 基板と、基板上に設けられた薄膜トランジスタと、該薄膜トランジスタの上層側に設けられた配線と、該配線と薄膜トランジスタの少なくとも半導体層とを層間絶縁する層間絶縁層と、該層間絶縁層に掘られており且つ基板面上で平面的に見て長手状に延びる第1の穴、及び、夫々、第1の穴の底部から層間絶縁層を貫通して半導体層の表面に至り且つ第1の穴の長手方向に沿って配列された複数の第2の穴を含んでおり、配線と半導体層とを層間絶縁層を介して接続するコンタクトホールとを備える。 (もっと読む)


【課題】生産性の低下を招くことなく、接続孔形成の際のリソグラフィにおける露光マージンを広げることが可能で、これにより歩留まり向上およびさらなる微細化が可能な半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に設けられた下層配線3と、下層配線3を覆う第2層間絶縁膜5と、下層配線3に達する状態で第2層間絶縁膜5に設けられた接続孔5a内を導電性材料で埋め込んでなるビア7と、ビア7に接続された状態で第2層間絶縁膜5上にパターン形成された上層配線9とを備えた半導体装置において、接続孔5は、上層配線9の延設方向に長い開口形状を有しており、また上層配線9側から下層配線3側にかけて連続した傾斜角度θを有して開口径が狭くなるテーパ形状に整形されている。 (もっと読む)


【課題】 ボンディング工程、CMP工程、熱応力等による機械的衝撃やウエハの変形によるビアの変位を小さく制御できる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 第1配線22と、第1配線22の上に配置された低誘電率絶縁膜310と、低誘電率絶縁膜310の中に第1配線22と接続するように埋め込まれ、第1配線22の長手方向に測った第1長さLx、第1配線22が配置された平面で第1配線22に直交する方向に測った第2長さLy、第1配線22が配置された平面に垂直な高さHに対する第1及び第2長さLx,Lyの少なくとも一方との比が1以上である複数の第1扁平ビア31a,31bと、低誘電率絶縁膜310の上に配置され、複数の第1扁平ビア31a,31bにそれぞれ接続された第2配線32とを備える。 (もっと読む)


【課題】 貫通電極を有する半導体装置において、少ない面積で高密度に貫通電極を設ける。
【解決手段】 半導体装置100において、シリコン基板101を貫通する孔に充填された多重貫通プラグ111を設ける。多重貫通プラグ111は、円柱状で中実の第一の貫通電極103、第一の貫通電極103の円筒面を覆う第一の絶縁膜105、第一の絶縁膜105の円筒面を覆う第二の貫通電極107、および第二の貫通電極107の円筒面を覆う第二の絶縁膜109からなり、これらは同じ中心軸を有する。また、第一の絶縁膜105、第二の貫通電極107および第二の絶縁膜109の上断面は円環状とする。 (もっと読む)


【課題】 気密性や耐湿性、耐薬品性に優れた半導体パッケージ構造を得る。
【解決手段】 半導体基材と、該半導体基材の一方の面側に配置された機能素子及び該機能素子に第1の配線を介して電気的に接続されたパッドと、該パッドと電気的に接続され前記半導体基材の一方の面から他方の面に至る微細な孔内に絶縁膜Aを介して第1の導電体を充填してなる貫通電極とを少なくとも備えてなる第1の基板、及び前記機能素子の周囲に配置された封止材を用いて前記第1の基板の一方の面と接合されてなる第2の基板からなる半導体パッケージであって、前記絶縁膜Aは、前記半導体基材の他方の面に配置される絶縁膜B、前記半導体基材の外側面に配置される絶縁膜C及び前記封止材の外側面に配置される絶縁膜Dと連結して形成した半導体パッケージとした。さらに前記絶縁膜の外側を導電体で二重に覆ったものとすればなお良い。 (もっと読む)


【課題】 貫通電極を少ない面積で高密度に設ける。
【解決手段】 半導体装置100は、シリコン基板101と、シリコン基板101を貫通する断面矩形の貫通孔中に充填された構造体120を設ける。構造体120は、筒状貫通電極103と、ストライプ状貫通電極107と、シリコン105と、第一の絶縁膜109と、第二の絶縁膜111と、第三の絶縁膜113と、を備える。筒状貫通電極103を、シリコン基板101を貫通する筒状の導電体とする。また、ストライプ状貫通電極107を、シリコン基板101を貫通し、筒状貫通電極103の内側に筒状貫通電極103から離間して設ける。筒状貫通電極103の内側の領域に、複数の貫通電極107を互いに略平行に設ける。 (もっと読む)


【課題】 高温で保持されても動作不良を起こさない、信頼性の高い多層配線構造を実現する。
【解決手段】 第1配線102Aと第2配線111とは、層間絶縁膜(SiO2 膜104及びFSG膜105)中に形成されたビア110Aを介して接続されている。第2配線111におけるビア110Aの接続部分の近傍にダミービア110Bが接続されている。ダミービア110Bは、実使用時において閉回路の一部分とはならない。 (もっと読む)


【課題】 パターニングフリーの能動素子基板の提供。
【解決手段】 能動素子基板は、基板上に形成された能動素子1と、能動素子1上に形成された導電膜2とを有する。導電膜2は、能動素子1から出力された電気信号を有限範囲内に伝達する。 (もっと読む)


【課題】 銀を利用する低抵抗配線構造を提供する。
【解決手段】
絶縁基板上に、ゲート配線が形成され、ゲート絶縁膜がゲート配線を覆っており、ゲート絶縁膜上に半導体パターン半導体が形成されている。半導体パターン半導体及びゲート絶縁膜の上には、ソース電極及びドレーン電極とデータ線を含むデータ配線が形成されており、データ配線上には、保護膜が形成されている。保護膜上には、接触孔を通じてドレーン電極と連結されている画素電極が形成されている。この時、ゲート配線及びデータ配線は、接着層、Ag層、及び保護層の3重層からなっており、接着層はクロムやクロム合金、チタニウムやチタニウム合金、モリブデンやモリブデン合金、タリウムやタリウム合金のうちのいずれか一つからなり、Ag層は銀や銀合金からなり、保護層はIZO、モリブデンやモリブデン合金、クロムやクロム合金のうちのいずれか一つからなっている。 (もっと読む)


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