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Fターム[5F041CA65]の内容

発光ダイオード (162,814) | LED形式 (36,241) | 製造方法 (9,002) | 母体成長 (4,236) | 気相成長(VPE) (3,285) | MOCVD(有機金属気相熱分解法) (2,918)

Fターム[5F041CA65]に分類される特許

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【課題】素子の動作を安定化することが可能な半導体素子を提供する。
【解決手段】この半導体素子は、少なくとも裏面の一部に転位の集中している領域8を有するn型GaN基板1と、n型GaN基板1の表面上に形成された窒化物系半導体各層(2〜6)と、転位の集中している領域8上に形成された絶縁膜12と、転位の集中している領域8以外のn型GaN基板1の裏面の領域に接触するように形成されたn側電極13とを備えている。 (もっと読む)


【課題】光の取出し効率が高い発光ダイオード照明装置を提供する。
【解決手段】所定光の青色光を発光する発光ダイオードチップ6と;発光ダイオードチップを収容する投光開口11を有する凹部11と;凹部内に収容される樹脂に、発光ダイオードチップの発光により励起されて他の所定光の黄色系光を発光する黄色系蛍光体を添加してなる黄色系蛍光体層14と;発光ダイオードチップの発光放射面に形成されて発光ダイオードチップの発光を透過させ、黄色系蛍光体層の発光を反射させる光透過反射膜10と;を具備している。 (もっと読む)


【課題】高電気伝導度を有する結晶基板を備えた窒化物系半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】n型酸化亜鉛からなる第1の基板と、前記第1の基板上に設けられた窒化物系半導体からなるp型低抵抗層と、前記p型低抵抗層上に成長され、窒化物系半導体からなる積層体と、を備え、前記第1の基板と前記p型低抵抗層とは実質的にオーミックコンタクトを形成することを特徴とした窒化物系半導体素子が提供される。 (もっと読む)


【課題】マルチ−フリースタンディング窒化ガリウム基板を単純な工程で安価にかつ高収率で製造する方法を提供する。
【解決手段】基板の窒化ガリウム層の表面をエッチングして窒化ガリウム多孔質層に変質する工程と、窒化ガリウム多孔質層上に窒化ガリウム層を形成する工程とを複数回繰り返して実施して、基板上に窒化ガリウム多孔質層と窒化ガリウム層の積層を複数周期で形成する工程と、積層が形成された基板を冷却して窒化ガリウム層を自発的に分離する工程とを含むマルチ−フリースタンディング窒化ガリウム基板の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】静電耐圧特性を向上させることができるIII族窒化物系化合物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】成長面にSiの集中を促すピットが形成されRMS(Root Mean Square)3〜12(nm)の粗さを有するiGaN層104と、これに積層されるSi原子の特性値を0.9×1021〜3.6×1021(atoms・Å/cm)としたnGaN層105と、でnESD層を形成したので、素子の垂直方向に対する電流経路を形成することができ、静電耐圧特性の向上を図ることができる。また、素子の静電耐圧特性向上により、サブマウント等の保護部材を設けなくとも良好な信頼性を有するので、発光素子を用いたデバイスのコストダウンを図ることも可能になる。 (もっと読む)


【課題】放熱性を維持しつつ、半導体層と支持基板との間の熱膨張率の違いによって発生する半導体層の亀裂等を防止するために、応力を十分吸収できるような接合層を備えた窒化物半導体発光素子及び窒化物半導体発光素子製造方法を提供する。
【解決手段】半導体1を支持する導電性の支持基板4が、第1支持基板2と第2支持基板3とによって構成されている。半導体1が第2支持基板3上にのみ接合されており、第1支持基板2上に渡って接合されていない。第1支持基板2と第2支持基板3とは接触又は接合されている。また、第1支持基板2の材料は、第2支持基板3の材料よりも熱膨張率が大きいので、第2支持基板3の横方向への膨張が抑制され、半導体1に引っ張り応力が加わらない。 (もっと読む)


【課題】色ムラの発生を防ぐと共に、色度の調整を高精度に行うことができる発光装置を提供する。
【解決手段】基板5上にn型半導体層6、発光層7及びp型半導体層8がこの順で積層されてなる窒化物系半導体を有し、n型半導体層6に接続される第1の電極パッド9と、p型半導体層8に接続される第2の電極パッド10とが、それぞれ基板5とは反対側に配置された発光素子2と、第1の電極パッド9と第1のボンディングワイヤー13を介して電気的に接続された第1の電極リード11と、第2の電極パッド10と第2のボンディングワイヤー13を介して電気的に接続された第2の電極リード12とを有するリードフレーム3と、発光素子2の基板5とは反対側の面に発光素子2の発光分布に応じて配置された蛍光樹脂層15とを備える。 (もっと読む)


【課題】p型不純物が添加された窒化物化合物半導体層の低抵抗化、活性化を、従来の技術におけるよりも一層低温にて行うことを可能とする窒化物化合物半導体層の熱処理方法を提供する。
【解決手段】窒化物化合物半導体層の熱処理方法は、p型不純物が添加された窒化物化合物半導体層を、(A)大気、(B)酸素ガス及び水素ガスが供給された雰囲気、(C)酸素ガス及び水蒸気が供給された雰囲気、(D)酸素ガス、水素ガス、及び水蒸気が供給された雰囲気、(E)水蒸気を含む不活性ガス雰囲気、並びに、(F)水蒸気を含む減圧雰囲気の内のいずれか一種の雰囲気中で、200゜C以上1200゜C以下の温度で加熱する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、GaN系化合物よりも高効率な発光が期待できるZnO系化合物半導体を用いながら、高効率で全面発光し得るZnO系化合物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】絶縁性基板1上にZnO系化合物半導体材料からなるn形層2、活性層3、p形層4が積層され、前記n形層2の比抵抗の値が0.001Ω・cm以上1Ω・cm以下で、かつ、n形層2の膜厚(μm)が比抵抗(Ω・cm)×300の計算式により算出された値よりも大きい値に設定され、n形層2の基板と接する面と反対面の露出部にn側電極5が、p形層4上にp側電極6が形成されている。 (もっと読む)


【課題】 活性層を含むp型ドーパント拡散部位を、結晶欠陥が少なくかつ結晶性の良好な結晶により構成し、p型ドーパントの活性層への拡散を防止し、半導体レーザ、半導体発光ダイオードなどとして有用な半導体発光素子を提供する。
【解決手段】 n−GaInP層6、n−AlGaInPクラッド層2、un−MQW活性層3、un−AlGaInPクラッド層7a、p−AlGaInP第1クラッド層7b、p−GaInPエッチストップ層8、p−AlGaInP第2クラッド層7c、p−GaInP中間層9、p−GaAsキャップ層10などを含む半導体発光素子1において、n−AlGaInPクラッド層2の表層2a、un−MQW活性層3、un−AlGaInPクラッド層7aおよび第1のp−AlGaInPクラッド層7bの比V/III比を300、他のAlGaInP系層の比V/IIIを150に制御する。 (もっと読む)


【課題】発光効率及びエネルギー効率が高い2次元フォトニック結晶発光ダイオードを提供する。
【解決手段】p型半導体クラッド層12、活性層11及びn型半導体クラッド層13に、これら3つの層を通る空孔16を周期的に設けることにより2次元フォトニック結晶を形成する。そして、p型半導体クラッド層12及びn型半導体クラッド層13内の空孔16の内壁に酸化領域17を形成する。電極から注入される正孔(電子)はp(n)型半導体クラッド層12(13)において酸化領域17を避けて流れ、空孔16の内壁から十分離れた位置で活性層に入り、正孔と電子が再結合して発光する。これにより、空孔16の内壁付近において正孔と電子が再結合して光ではなく熱を発生すること(表面再結合)を抑えることができ、発光効率及びエネルギー効率を高めることができる。 (もっと読む)


【課題】 転位密度を低減した窒化ガリウム系化合物半導体を用いて内部量子効率を向上させた発光素子の製造方法、また基板の凹凸構造の形成工程を簡易化して発光素子にクラックが生ずるのを回避し、光の取り出し効率の向上した発光素子を製造できる製造方法を提供すること。
【解決手段】 結晶構造が六方晶からなる半金属的性質をもつ単結晶基板10の一主面に凹凸構造を形成する工程(1)、単結晶基板10上に所定の化学式で表される窒化ガリウム系化合物半導体から成る一導電型半導体層13と、所定の化学式で表される窒化ガリウム系化合物半導体から成る活性層14と、所定の化学式で表される窒化ガリウム系化合物半導体から成る逆導電型半導体層15とを積層した発光素子を作製する工程(2)、単結晶基板10を選択的にエッチングすることにより発光素子から除去する工程(3)を具備する。 (もっと読む)


【課題】活性層上に形成された窒化物半導体層に含まれる不純物が、活性層に拡散することを防止する。
【解決手段】基板100上に形成された第1導電型の第1の不純物(例えば、Si等)を含む第1の窒化物半導体層102と、第1の窒化物半導体層102上に形成された活性層103と、活性層103上に形成された第2導電型の第2の不純物(例えば、Mg等)を含む第2の窒化物半導体層105とを少なくとも備え、活性層103と第2の窒化物半導体層105との間に中間層104を更に備え、中間層104は、互いに異なる偏析エネルギーを有するIII族原子を少なくとも2つ含む窒化物半導体層である。 (もっと読む)


【課題】高効率で、且つ大電流の通電可能な発光ダイオードを提供すること。
【解決手段】高熱伝導性基板10の表面側に少なくともp型クラッド層4、活性層3、n型クラッド層2が積層された発光層部と、前記発光層部上の中央に部分的に形成された電流阻止部14と、前記n型クラッド層2及び前記電流阻止部14の表面に形成された電流分散層15と、前記電流分散層15の表面に形成された上部電極16と、前記高熱伝導性基板10の裏面に形成された下部電極13とを有する発光ダイオードにおいて、前記高熱伝導性基板10と前記発光層部との間に形成された光反射層7と、前記光反射層7の表面上の前記電流阻止部14の下方に位置する部分に形成された部分電極6と、前記部分電極6が形成された部分以外の前記光反射層7の表面上に形成された電流阻止部5とを有する。 (もっと読む)


III族窒化物系発光ダイオードが開示される。III族窒化物系発光ダイオードは、基板と、前記基板上に形成されたn型窒化物系クラッド層と、前記n型窒化物系クラッド層上に形成された窒化物系活性層と、前記窒化物系活性層上に形成されたp型窒化物系クラッド層と、前記p型窒化物系クラッド層上に形成され熱分解窒化物を含むp型多層オーミックコンタクト層と、を含む。熱分解窒化物は、ニッケル(Ni)、銅(Cu)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、及びスズ(Sn)からなる群より選択される少なくとも一つの金属成分と窒素(N)とが結合してなる。III族窒化物系発光素子のp型窒化物系クラッド層との界面でオーミックコンタクト特性を改善して優れた電流―電圧特性を確保できる。また、透明電極の光透過度が向上するため、III族窒化物系発光素子の光効率及び輝度をも向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】チップ分離用やレーザーリフトオフ用の分離溝を形成する場合に、発光領域に損傷が加わらず、劣化のない高輝度な窒化物半導体発光素子を形成することができる窒化物半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】n型窒化物半導体層2には、p側から見て活性層3を越えた領域に段差Aが形成されている。この段差Aの部分まで、保護絶縁膜6によりn型窒化物半導体層2の一部、活性層3、p型窒化物半導体層4、p電極5の側面とp電極5の上側一部にかけて覆われている。チップ側面を保護絶縁膜6で覆う構造とすることで、チップ分離用やレーザーリフトオフ用の分離溝をエッチングにより形成する場合、活性層3等が、長時間エッチングガスに曝されることがない。 (もっと読む)


【課題】駆動電圧が低く、かつ逆電圧が十分に高い発光素子を収率良く得ることができるIII族窒化物p型半導体の製造方法を提供すること。
【解決手段】水素原子を含有する窒素源を使用し、p型ドーパントを含むIII族窒化物半導体を成長させた後、キャリアガスに不活性ガスを用い、かつ水素原子を含有する窒素源の流通を停止し、水素原子を含有しない窒素源により窒素原子を供給しつつ降温することを特徴とするIII族窒化物p型半導体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】半導体層と支持基板との間の熱膨張率の違いによって発生する半導体層の亀裂等を防止し、半導体層と支持基板との接合面における接触の悪化が発生しないような半導体発光素子及び半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体1を支持する導電性の支持基板4が、第1支持基板2と第2支持基板3とによって構成されている。半導体1が第2支持基板3上にのみ接合されており、第1支持基板2上に渡って接合されていない。第1支持基板2と第2支持基板3とは接触又は接合されている。また、第1支持基板2の材料は、第2支持基板3の材料よりも熱膨張率が大きいので、第2支持基板3の横方向への膨張が抑制され、半導体1に引っ張り応力が加わらない。 (もっと読む)


【課題】少なくともnGaN層、発光層およびpGaN層を積層して成る半導体発光素子において、nGaN層まで彫り込んで反射鏡を作成し、光取出し効率を向上するにあたって、前記反射鏡の形成による発光層の面積の減少を抑える。
【解決手段】前記反射鏡となる溝19とともに、該反射鏡の間に、発光層15を貫通することなく、光の角度変換作用を有する微小凹凸22を形成する。したがって、反射鏡をむやみに形成することなく、これによって発光層15の面積の減少を抑えつつ、反射鏡への光の入射量を増加させ、光取出し効率を向上することができる。 (もっと読む)


【課題】Inを含む受光層や発光層等の能動層の劣化を抑制しながら、良好な結晶性を有するn型半導体層を形成することが可能な光半導体素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】この半導体レーザ素子(光半導体素子)は、実質的にInを含まないp型キャリアブロック層109と、p型キャリアブロック層109のGa極性面(III族極性面)上に形成され、Inを含む活性層107cと、Inを含む活性層107cの表面上に形成され、活性層107cのIn組成比よりも低いIn組成比を有するInを含むn型クラッド層106とを備えている。 (もっと読む)


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