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Fターム[5F092BE12]の内容

ホール/MR素子 (37,442) | 各素子に共通の特徴 (1,980) | 素子を形成する層の結晶系 (415) | 正方晶系 (49)

Fターム[5F092BE12]に分類される特許

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【課題】磁気メモリの動作不良を抑制する。
【解決手段】本実施形態の磁気抵抗効果素子は、垂直磁気異方性を有し、磁化の向きが可変な記憶層と、垂直磁気異方性を有し、磁化の向きが不変な参照層と、記憶層と参照層との間の非磁性層11と、磁化の向きが不変なシフト調整層と、を含む。参照層は第1の磁化温度依存性LM1を有し、シフト調整層は参照層と異なる第2の磁化温度依存性LM2を有する。メモリ動作温度下において、参照層の漏れ磁場とシフト調整層の漏れ磁場とは互いにキャンセルされ、実装温度下において、参照層の漏れ磁場及びシフト調整層のうち一方に起因するシフト磁界が、記憶層の磁化に印加される。 (もっと読む)


【課題】 磁気転移温度より高い温度でも電気磁気効果を発現する電気磁気効果材料を提供する。
【解決手段】 磁性イオンを含むオケルマナイト構造を有する電気磁気効果材料を用いた電気磁気効果素子であって、前記電気磁気効果材料はAMXであって、AはCa,Sr,Baであり、XはGe,Siであり、Mは磁性イオンである電気磁気効果素子を提供する。 (もっと読む)


【課題】チップ面積の縮小を図る。
【解決手段】磁気ランダムアクセスメモリは、メモリセル部の素子領域10a上に形成された第1の拡散層17aと、第1の拡散層に接続された第1のコンタクトCB1と、第1のコンタクト上に形成された第1の下部電極層21aと、第1の下部電極層上に形成された第1の抵抗変化層22a及び第1の上部電極層23aと、周辺回路部において互いに異なる素子領域に形成された第2乃至第4の拡散層17d、17eと、第2乃至第4の拡散層に接続された第2乃至第4のコンタクトCS1、CS2と、第1の下部電極層、第1の抵抗変化層、第1の上部電極層と同じ高さに形成された第2の下部電極層21b、第2の抵抗変化層22b、第2の上部電極層23bとを具備する。第2の下部電極層は、第2及び第3のコンタクトを接続する第1のローカル配線L1として機能する。 (もっと読む)


【課題】記憶層にかかる参照層からの漏れ磁場をキャンセルするシフト調整層の膜厚を低減することできる磁気抵抗素子を提供する。
【解決手段】磁化の向きが一方向に固定された参照層3と、磁化の向きが可変である記憶層2と、参照層3と記憶層2との間に設けられた非磁性層4と、参照層3の、非磁性層4が配置された面と反対の面側に配置され、参照層3が有する磁化の向きと反平行な磁化の向きを有する上部シフト層6と、記憶層2の、非磁性層4が配置された面と反対の面側に配置され、参照層3が有する磁化の向きと反平行な磁化の向きを有する下部シフト層8と、参照層3と上部シフト層6との間に配置された非磁性層5と、記憶層2と下部シフト層8との間に配置された非磁性層7とを備える。下部シフト層8の膜厚は、上部シフト層6の膜厚より薄い。 (もっと読む)


【課題】改善された硬質磁性体バイアス構造を備える面垂直電流(CPP)磁気抵抗(MR)センサを提供する。
【解決手段】磁気記録ディスクドライブ用CPP−GMR又はCPP−TMR読み出しヘッドのための硬質磁性体バイアス構造が、2つのセンサシールドS1、S2間に位置し、センサの自由層110の側縁に隣接している。絶縁層116は、バイアス構造と下部シールドとの間、及び自由層110の側縁の間に位置する。バイアス構造150は、Ir又はRuのシード層114と、そのシード層114上の強磁性で化学的配列が規則付けられたFePt合金ハードバイアス層115と、そのFePt合金ハードバイアス層115上のRu又はRu/Irキャッピング層118とを含む。FePt合金は、そのc軸が全般的に層の平面内にある面心正方構造を有する。 (もっと読む)


【課題】従来物質固有の特性として取り扱われてきたスピン偏極率を制御する手法とその素子構造を提案し、従来にない新しい機能性デバイスの基本要素技術を提供する。
【解決手段】強誘電体(A)層上に、該強誘電体(A)と格子不整合率が8%以下である強磁性体(B)層をヘテロ接合してなり、該強誘電体(A)に電圧を印加させて、強誘電体(A)と強磁性体(B)の接合界面に生じる歪みにより、強磁性体(B)のスピン偏極率を変化させることを特徴とする強磁性体のスピン偏極率制御方法。 (もっと読む)


【課題】記憶層にかかる漏れ磁界を可及的に低減することを可能にする。
【解決手段】膜面に垂直方向の磁気異方性を有する強磁性層10と、強磁性層上に設けられた第1の非磁性層8と、第1の非磁性層上に設けられ、かつ膜面に垂直方向の磁気異方性を有するとともに前記強磁性層の磁化の向きと反平行の磁化を有し、かつ強磁性層の積層方向の膜厚の1/2.8以上1/1.5以下の膜厚を有する参照層6と、参照層上に設けられた第2の非磁性層8と、第2の非磁性層上に設けられ、膜面に垂直方向の磁気異方性を有しスピン偏極した電子の作用により磁化の方向が変化する記憶層2と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】上部電極と下部電極との間の短絡、あるいは、上部電極と配線との接触不良を抑制しながら、MTJ素子を微細化することができる半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】本実施形態による半導体記憶装置は、半導体基板の表面上に形成された選択素子を備えている。下部電極は、選択素子に接続されている。磁気トンネル接合素子は、下部電極上に設けられている。上部電極は、磁気トンネル接合素子上に設けられている。成長層は、上部電極上に設けられ、導電性材料からなり、半導体基板の表面上方から見たときに上部電極よりも面積が大きい。配線は、成長層上に設けられている。 (もっと読む)


【課題】熱擾乱耐性が大きく、低電流でスピン注入磁化反転書き込みが可能な磁気抵抗素子を提供する。
【解決手段】実施形態は、Mo、Nb、Wのいずれかを有する金属層を備えた電極層と、金属層上に前記金属層と接するように配置され、膜面垂直方向に磁化容易軸を有し、磁化方向が可変の記憶層3と、記憶層3上に配置され、膜面垂直方向に磁化容易軸を有し、磁化方向が不変の参照層2と、記憶層3と参照層2との間に設けられた第1非磁性層4とを備える。記憶層3の磁化方向は、記憶層3、第1非磁性層4、及び参照層2を貫く電流により可変とされる。 (もっと読む)


【課題】 セルの微細化を図る。
【解決手段】 実施形態による磁気ランダムアクセスメモリは、半導体基板1上に形成された選択素子Trと、選択素子上に形成された多層配線層7a−cと、多層配線層上に形成された層間絶縁膜8と、層間絶縁膜内に形成され、多層配線層を介して選択素子と電気的に接続されたコンタクト層9と、コンタクト層と電気的に接続され、金属材で形成された下部電極層21と、下部電極層の側面を取り囲み、金属材の酸化物で形成された金属酸化絶縁膜26と、下部電極層上に形成された磁気抵抗素子10と、磁気抵抗素子上に形成された上部電極層23と、磁気抵抗素子及び上部電極層の側面上に形成された側壁絶縁膜25と、上部電極層と電気的に接続されたビット線29と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】単一方向電流を用いて誤書き込みのない安定な書き込みを行う。
【解決手段】磁化が略垂直でかつ可変の第1強磁性層12と、磁化が略垂直でかつ不変の第2強磁性層16と、第1強磁性層と第2強磁性層との間の第1非磁性層14と、第2強磁性層に対して第1非磁性層と反対側に設けられ、膜面に略平行な磁化を有し、スピン偏極された電子の注入によりマイクロ波磁界を発生する第3強磁性層20と、第2強磁性層と第3強磁性層との間の第2非磁性層18と、を備え、第3強磁性層から第1強磁性層に向かう方向および第1強磁性層から第3強磁性層に向かう方向のうちの一方の方向に第1電流を流すことにより第3強磁性層から発生する第マイクロ波磁界によって第1強磁性層の磁化を反転し、一方の方向に第1電流と異なる電流密度を有する第2電流を流し第2強磁性層によってスピン偏極された電子によって第1強磁性層の磁化を異なる方向に反転する。 (もっと読む)


【課題】垂直磁気異方性を有し、かつより大きな磁気抵抗効果を発現することが可能な磁気抵抗効果素子を提供する。
【解決手段】膜面に垂直方向に磁化容易軸を有する第1強磁性層2と、膜面に垂直方向に磁化容易軸を有する第2強磁性層10と、第1強磁性層と第2強磁性層との間に設けられた非磁性層6と、第1強磁性層と非磁性層との間に設けられた第1界面磁性層4と、第2強磁性層と非磁性層との間に設けられた第2界面磁性層8と、を備え、第1界面磁性層は、第1強磁性層側に設けられた第1界面磁性膜4aと、非磁性層側に設けられ第1界面磁性膜と組成が異なる第2界面磁性膜4cと、第1界面磁性膜と第2界面磁性膜との間に設けられた第1非磁性膜4bとを備え、第1強磁性層と第2強磁性層との間に非磁性層を通して電流を流すことにより、第1強磁性層および第2強磁性層の一方の磁化方向が可変となる。 (もっと読む)


【課題】GMRあるいはMTJデバイスのような非平行MR素子のリファレンス層におけるピンド磁化の方向を同時に設定可能なMR素子の磁化方法を提供する。
【解決手段】複数の非平行MR素子の各リファレンス層(サブAP1層)15の厚みを対応する磁気ピンド層(サブAP2層)13よりも薄くする。これら複数のMR素子を、サブAP2層13の磁化方向を磁場方向に向けるのに十分な方向と大きさを有する磁場中に配置する。そののち、磁場の大きさを零になるまで減少させ、磁場の大きさが零になったときに、MR素子を熱処理する。それによって各サブAP1層15の磁化方向を当該MR素子の長手方向に沿うように固定する。 (もっと読む)


【課題】低抵抗なスピン注入書き込み方式の磁気抵抗効果型素子を提供することを可能にする。
【解決手段】アモルファス構造を有する界面磁性膜に接するように結晶化を促進する結晶化促進膜を形成することにより、トンネルバリア層側から結晶化を促進し、トンネルバリア層と上記界面磁性膜層との界面を整合させる。これにより、所望の電流値を得られるような低抵抗を有し、高いTMR比を有する磁気抵抗効果型素子を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】熱安定性と低消費電流のスピン注入書き込み方式の磁気抵抗素子を提案する。
【解決手段】本発明の例に係わる磁気抵抗素子は、膜面垂直方向に磁化容易軸を有する磁化方向が可変の第1磁性層3と、膜面垂直方向に磁化容易軸を有する磁化方向が不変の第2磁性層2と、第1磁性層3と第2磁性層2との間に設けられる第1非磁性層4とを含む。第1磁性層3は、CoとPd、又は、CoとPtが原子稠密面に対して交互に積層されるCoPd合金、又は、CoPt合金を有し、c軸が膜面垂直方向を向く強磁性体から構成される。第1磁性層3の磁化方向は、第1磁性層3、第1非磁性層4及び第2磁性層2を貫く双方向電流により変化する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、磁気トンネル接合デバイスおよびその製造方法に関する。
【解決手段】磁気トンネル接合デバイスは、i)(A100−x100−yの化学式を有する化合物を含む第1磁性層と、ii)第1磁性層の上に位置する絶縁層と、iii)絶縁層の上に位置し、(A100−x100−yの化学式を有する化合物を含む第2磁性層とを含む。第1磁性層および第2磁性層は垂直磁気異方性を有し、Aおよび前記Bはそれぞれ金属元素であり、CはB(ホウ素)、C(炭素)、Ta(タンタル)、およびHf(ハフニウム)からなる群より選択された一つ以上の非晶質化元素である。 (もっと読む)


【課題】垂直磁気異方性を有し、かつより大きな磁気抵抗効果を発現する。
【解決手段】磁気抵抗素子10は、安定化層11と、非磁性層13と、安定化層11と非磁性層13との間に設けられ膜面に垂直な方向の磁気異方性を有するスピン分極層12と、非磁性層13に対してスピン分極層12とは反対側に設けられた磁性層14とを含む。安定化層11は、スピン分極層12より膜面内方向の格子定数が小さい。スピン分極層12は、コバルト(Co)及び鉄(Fe)からなるグループから選ばれる1つ以上の元素を含み、かつBCT(body-centered tetragonal)構造を有し、かつ膜面に垂直な方向をc軸、膜面内方向をa軸とした場合の格子定数の比c/aが1.10以上1.35以下である。 (もっと読む)


【課題】熱的に安定であると同時に低電流の磁化反転を可能とするスピン注入書き込み方式用の磁気抵抗素子およびそれを用いた磁気メモリを提供する。
【解決手段】下地層12と、下地層上に設けられ膜面に垂直方向に磁化容易軸を有する磁化方向が可変の第1の磁性層13と、第1の磁性層上に設けられた第1の非磁性層15と、第1の非磁性層上に設けられ膜面に垂直方向に磁化容易軸を有する磁化方向が固定された第2の磁性層17と、を備え、第1の磁性層は、DO22構造またはL1構造を有しc軸が膜面に垂直方向を向くフェリ磁性体層を含み、第1の磁性層と第1の非磁性層と第2の磁性層とを貫く双方向電流によって、第1の磁性層の磁化方向が可変となる。 (もっと読む)


【課題】基板と格子整合し、キュリー温度Tcが室温であるII−IV−V族化合物磁性半導体材料で量子井戸層あるいは強磁性電極を構成した磁性半導体素子を提供する。
【解決手段】
磁性半導体素子10は、InPからなる基板11と、Mnが添加されたZnSnAsからなりかつ基板11の上に結晶成長された量子井戸層13と、InAlAs及び/又はInGaAsからなり基板11の上に結晶成長されかつ量子井戸層13を挟持する一組の障壁層12,14と、を備える。障壁層12,14にInAlAsを採用した場合、Al組成は0.43〜0.53%であることが好ましくは、InGaAsを採用した場合、Ga組成が0.42〜0.52%であることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】記憶層にかかる漏れ磁界を可及的に低減することを可能にする。
【解決手段】膜面に垂直方向の磁気異方性を有する強磁性層10と、強磁性層上に設けられた第1の非磁性層8と、第1の非磁性層上に設けられ、かつ膜面に垂直方向の磁気異方性を有するとともに前記強磁性層の磁化の向きと反平行の磁化を有し、かつ強磁性層の積層方向の膜厚の1/2.8以上1/1.5以下の膜厚を有する参照層6と、参照層上に設けられた第2の非磁性層8と、第2の非磁性層上に設けられ、膜面に垂直方向の磁気異方性を有しスピン偏極した電子の作用により磁化の方向が変化する記憶層2と、を備えている。 (もっと読む)


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