【課題】半導体基板へのリーク電流が少ないＭＯＳ構造をダイオードとして用いる半導体装置を提供する。
【解決手段】電界効果トランジスタと、抵抗素子２０と、を備える。前記抵抗素子は、前記電界効果トランジスタのバックゲート電極２４と一方のソース・ドレイン領域１６との接続点２３と、前記電界効果トランジスタのゲート電極１９との間に接続されている。そして、前記電界効果トランジスタの他方のソース・ドレイン領域１５と前記ゲート電極１９との間に電圧が印加される。 （もっと読む）

【課題】電圧降下が小さい整流素子を得ること、及び、コンバータ回路の作製コストを抑制することを課題とする。
【解決手段】光電変換素子と、当該光電変換素子の出力を昇圧又は降圧し、スイッチング素子及び整流素子を有するコンバータ回路と、を有する光電変換装置において、当該スイッチング素子として、ノーマリオフの第１の酸化物半導体トランジスタと、当該整流素子として、ダイオード接続されたノーマリオンの第２の酸化物半導体トランジスタとを有する光電変換装置に関する。 （もっと読む）

【課題】柱状結晶構造を有する金属を用いた場合でも、簡便な方法で、再現性良く階段構造状のテーパーを有する電極を形成する。
【解決手段】真空状態を保ったままの状態において、同一種類の金属を用いて、スパッタリング法で少なくとも２層の金属膜を成膜する成膜工程と、該成膜工程によって成膜された複数の金属膜にエッチング処理を施すことにより、階段構造状のテーパー形状を端部に有する、ゲート電極、ソース電極およびドレイン電極のうちの少なくとも１つを形成するエッチング工程とによって薄膜トランジスタを製造する。 （もっと読む）

【課題】製造工程中に生じる静電気に起因する不良を防止しつつ、簡便なプロセスで製造可能であり、かつ、薄膜トランジスタ特性を維持しつつ検査に適した薄膜トランジスタアレイ基板を提供する。
【解決手段】本発明に係る薄膜トランジスタアレイ基板は、ゲート配線１及びソース配線２の少なくとも一方と、抵抗体４を介して電気的に接続されるショートリング配線３を備える。抵抗体４は、ソース配線２及びショートリング配線３と同一の層からなり、ショートリング配線３と一体的に形成されたメタル膜１３と、メタル膜１３の直下に形成された第２半導体膜１２と、その直下に形成された第１半導体膜１１の積層体からなる。抵抗体４の平面視上の形状は、少なくとも一部の領域において第１半導体膜１１の幅Ｗ１に比して第２半導体膜１２及び前記メタル膜１３の幅Ｗ２を小さくし、抵抗体４の抵抗値は、メタル膜１３の形状により調整する。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、高信頼性化することを目的の一つとする。
【解決手段】酸化物半導体層を有するボトムゲート構造のトランジスタの作製工程において、酸化物半導体層の脱水化または脱水素化処理として、酸素を含む雰囲気での加熱処理と、真空中での加熱処理を段階的に行う。また、加熱処理と同時に短波長の光照射を行い、水素やＯＨ等の脱離を助長させる。この様な熱処理による脱水化または脱水素化処理を施した酸化物半導体層を有するトランジスタは、光照射やバイアス−熱ストレス試験（ＢＴ）試験前後における電気特性の不安定性を改善することができる。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体を用いたトランジスタにおいて、電気的特性の変動が小さく、信頼性の高い半導体装置を作製することを課題とする。
【解決手段】チャネルを形成する脱水化または脱水素化された酸化物半導体層に接する絶縁層に、シリコン過酸化ラジカルを含む絶縁層を用いる。絶縁層から酸素が放出されることにより、酸化物半導体層中の酸素欠損及び絶縁層と酸化物半導体層の界面準位を低減することができ、電気的特性の変動が小さく、信頼性の高い半導体装置を作製することができる。 （もっと読む）

【課題】オフ電流の低い半導体装置などを提供することを課題とする。または、正確な表示を行う半導体装置などを提供することを課題とする。または、視野角の広い表示装置などを提供することを課題とする。または、画面の焼き付きを低減した表示装置などを提供することを課題とする。
【解決手段】上記課題を解決するために、酸化物半導体（ＯＳ：オキサイドセミコンダクター）を有するトランジスタ、特に、酸化物半導体を有する薄膜ＭＯＳトランジスタを用いて、回路を構成する。その酸化物半導体は、実質的に真性な半導体となっている。そのため、非常にオフ電流が低い。 （もっと読む）

【課題】ゲート電極層がゲート絶縁層を介して、チャネル領域を形成する酸化物半導体層に重畳するトップゲート構造のトランジスタにおいて、ゲート絶縁層と対向し、かつ酸化物半導体層と接する絶縁層に水素が多く含まれている場合、酸化物半導体層に水素が拡散し、トランジスタの電気特性が不良となる。そこで、良好な電気特性を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】酸化物半導体層と接する絶縁層に水素濃度が６×１０^２０ａｔｏｍｓ／ｃｍ^３未満である絶縁層を用いる。さらに、水素濃度が６×１０^２０ａｔｏｍｓ／ｃｍ^３未満であるゲート絶縁層を用いてもよい。このようにすることで、酸化物半導体層に水素が拡散することを抑制することができ、良好な電気特性を有する半導体装置を提供することができる。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体膜を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、信頼性の高い半導体装置を作製することを課題の一とする。
【解決手段】ゲート絶縁層上に膜厚が２ｎｍ以上１５ｎｍ以下の薄い第１の酸化物半導体膜を形成し、第１の加熱処理を行って第１の酸化物半導体膜の表面から内部に向かって結晶成長させて第１の結晶層を形成し、第１の結晶層上に第１の酸化物半導体膜よりも厚い第２の酸化物半導体膜を形成し、第２の加熱処理を行って第１の結晶層からその上の第２の酸化物半導体膜表面に向かって結晶成長させて第２の結晶層を形成し、第２の結晶層を形成した後、さらに酸素ドープ処理を行って第２の結晶層に酸素原子を供給する。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体を用いたトランジスタにおいて、電気的特性の変動が小さく、信頼性の高い半導体装置を作製することを課題とする。
【解決手段】チャネルを形成する酸化物半導体層に接する絶縁層に、シリコン過酸化ラジカルを含む絶縁層を用いる。絶縁層から酸素が放出されることにより、酸化物半導体層中の酸素欠損及び絶縁層と酸化物半導体層の界面準位を低減することができ、電気的特性の変動が小さく、信頼性の高い半導体装置を作製することができる。 （もっと読む）

【課題】 ICないしLSIの標準電源電圧用のトランジスタ構成部分ないしはプロセス技術を活用して高電圧動作電界効果トランジスタを該ICないしLSI中に作りこむ。
【解決手段】 電界効果トランジスタの動作電圧を大きくするために、ゲートを分割してドレインにより近い分割ゲートへドレイン電位により近い電位でかつドレイン電位に応じて変化する電位を供給する手段をとる。 （もっと読む）

【課題】ゲート絶縁膜に固定電荷を注入することなく閾値電圧をプラス方向にシフトさせることが可能な薄膜トランジスタおよびこれを備えた表示装置を提供する。
【解決手段】チャネル領域４０Ａ上に絶縁材料よりなる固定電荷蓄積層５０を設け、この固定電荷蓄積層５０の上面側に固定電荷制御電極８０を設ける。固定電荷制御電極８０を正（＋）電位、ドレイン電極６０Ｄを負（−）電位とし、ソース電極６０Ｓを電気的に浮いた状態とすると、または、固定電荷制御電極８０のみを正（＋）電位とすると、チャネル電界によって加速されたホットエレクトロン、または衝突電離によって生じたホットエレクトロンが、ドレイン電極６０Ｄ近傍のチャネル領域４０Ａから固定電荷蓄積層５０に注入され、蓄積される。これにより、チャネル領域４０Ａの電位が制御され、閾値電圧Ｖｔｈがプラス方向にシフトする。 （もっと読む）

【課題】ソース電極及びドレイン電極と有機半導体材料層との間の接触抵抗を低下させることができ、これを簡便な製造プロセスで実現できる半導体装置、光学装置及びセンサ装置を提供すること。
【解決手段】ソース電極５と、ドレイン電極６と、少なくともこれらの電極間に設けられた有機半導体材料層７とを有し、有機半導体材料層７を介してソース電極５とドレイン電極６との間で電荷を移動させるように構成された有機電界効果トランジスタにおいて、ソース電極５及びドレイン電極６が、導電性高分子材料と電荷移動錯体との混合物からなる、有機電界効果トランジスタ１ａ。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、高信頼性化する。信頼性の高い半導体装置を歩留まり良く作製する。
【解決手段】酸化物半導体膜を有するトップゲート構造のスタガ型トランジスタにおいて、酸化物半導体膜と接する第１のゲート絶縁膜を、プラズマＣＶＤ法によりフッ化珪素及び酸素を含む成膜ガスを用いた酸化シリコン膜で形成し、該第１のゲート絶縁膜上に積層する第２のゲート絶縁膜を、プラズマＣＶＤ法により水素化珪素及び酸素を含む成膜ガスを用いた酸化シリコン膜で形成する。 （もっと読む）

【課題】静電気による薄膜トランジスタの閾値電圧変動や絶縁破壊短絡を抑制できる薄膜トランジスタ回路基板の製造方法及び薄膜トランジスタ回路基板を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタと、静電気誘導素子と、を基板上に有する薄膜トランジスタ回路基板の製造方法であって、基板に設けられた半導体層の上に、薄膜トランジスタの半導体層のパターンを形成する第１のフォトリソ工程と、静電気誘導素子の半導体層のパターンを形成する第２のフォトリソ工程と、基板に設けられた半導体層をエッチングする工程と、を実施することにより薄膜トランジスタの半導体層及び静電気誘導素子の半導体層を形成し、第１のフォトリソ工程におけるフォトレジストの硬化温度は、第２のフォトリソ工程におけるフォトレジストの硬化温度よりも高いことを特徴とする薄膜トランジスタ回路基板の製造方法。 （もっと読む）

【課題】１チップ化しつつ、高温化による誤動作を抑制し、かつ、半導体パワー素子に流れる電流を低減し、チップサイズの増大を抑制することができるインバータ回路を提供する。
【解決手段】コンバータ電源回路部２の電源供給ライン８中、例えば、ＩＰＤ２０におけるパワーＭＯＳＦＥＴ２２０のハイサイド側に電流制限抵抗２４０を備える。この電流制限抵抗２４０によって電源供給ライン８に流れる電流の電流値を制限することができるため、パワーＭＯＳＦＥＴ２２０での発熱を抑制することが可能となる。したがって、インバータ回路１内の素子の定格温度を超えることを防止することが可能となり、誤動作が生じることを抑制できる。これにより、インバータ回路１の信頼性の向上を図ることが可能となる。また、パワーＭＯＳＦＥＴ２２０として必要な能力を軽減することが可能となり、大面積な素子としなくても済む。 （もっと読む）

【課題】鮮明な多階調カラー表示の可能な発光装置及びそれを具備する電気器具を提供する。
【解決手段】画素１０４に設けられたＥＬ素子１０９の発光、非発光を時間で制御する時分割駆動方式により階調表示を行い、電流制御用ＴＦＴ１０８の特性バラツキによる影響を防ぐ。また、基板上に形成されるＴＦＴ自体も各回路又は素子が必要とする性能に併せて最適な構造のＴＦＴを配置することで、信頼性の高いアクティブマトリクス型発光装置を実現することができる。このようなアクティブマトリクス型発光装置を表示ディスプレイとして具備することで、画像品質が良く、信頼性の高い高性能な電気器具を生産することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】微小なコンタクトホールを形成し、集積回路を微細化することを目的とする。
【解決手段】スイッチング素子および各配線を覆う層間絶縁膜１１１として有機材料を用い、且つ、金属膜１１２のマスクを用い、ドライエッチング法によってコンタクトホールを形成し、配線１１４を形成する。 （もっと読む）

【課題】膜応力の制御が可能なシリコン元素を有する薄膜の作製方法を提供することを目的の一とする。さらに、このシリコン元素を有する薄膜の作製方法を用いて、歩留まりを向上させることができるトランジスタの作製方法を提供することである。
【解決手段】プラズマＣＶＤ装置内の反応室の内壁を加熱して、反応室内壁に吸着している不純物を放出させる。次いで、反応室の内壁を加熱し続けしながらフッ素化合物ガスを用いたプラズマまたは反応室内の排気によって、反応室内壁に吸着している不純物および反応室内に残留している不純物を除去した後、反応室の内壁を加熱し続けしながらシリコン元素を有する薄膜を形成する。また、前記シリコン元素を有する薄膜を用いてトランジスタを作製する。 （もっと読む）

【課題】製造過程で用いられるフォトエッチング工程数を最小化できるように簡素な構造を有する有機発光表示装置を提供する。また、前記有機発光表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の実施形態に係る有機発光表示装置は、基板本体と、基板本体上に形成された多結晶アクティブ層および第１キャパシタ電極を含む多結晶シリコン層パターンと、多結晶シリコン層パターン上に形成されたゲート絶縁膜パターンと、ゲート絶縁膜パターン上に形成されたゲート電極および第２キャパシタ電極を含む第１導電膜パターンと、第１導電膜パターン上に形成された層間絶縁膜パターンと、層間絶縁膜パターン上に形成されたソース電極、ドレイン電極、および画素電極を含む第２導電膜パターンとを含む。ゲート絶縁膜パターンは、多結晶シリコン層パターンおよび第１導電膜パターンのうちのいずれか１つと共にパターニングされる。 （もっと読む）