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Fターム[5F110NN71]の内容

薄膜トランジスタ (412,022) | その他の構成要素 (47,691) | 他の素子との融合 (7,695)

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【課題】電気特性が良好な半導体装置を、生産性高く作製する。
【解決手段】第1の条件により、高い結晶性の混相粒を低い粒密度で有する種結晶を形成した後、第2の条件により混相粒を成長させて混相粒の隙間を埋めるように、種結晶上に微結晶半導体膜を積層形成する。第1の条件は、シリコンまたはゲルマニウムを含む堆積性気体の流量に対する水素の流量を50倍以上1000倍以下にして堆積性気体を希釈し、且つ処理室内の圧力を67Pa以上1333Pa以下とする条件である。第2の条件は、シリコンまたはゲルマニウムを含む堆積性気体と、水素との流量比を周期的に増減させながら処理室に供給し、且つ処理室内の圧力を1333Pa以上13332Pa以下とする条件である。 (もっと読む)


【課題】絶縁層上に形成された部分空乏型のトランジスターにおいて、ヒストリー効果を低減し、なおかつ高いON/OFF比、及び急峻なサブスレッショルド特性を実現する。
【解決手段】絶縁層上の半導体層に形成された第1導電型のソース領域、第1導電型のドレイン領域、及び、第2導電型のボディ領域と、第1ゲート絶縁膜と、第1ゲート電極と、を含む部分空乏型の第1トランジスターと、絶縁層上の半導体層に形成された第1ダイオードと、を具備し、第1ダイオードは、第1導電型の第1不純物領域と、第1不純物領域上に形成された第2導電型の第2不純物領域と、を含み、第1トランジスターのボディ領域は、第1ダイオードの第1不純物領域及び第2不純物領域に接続されている。 (もっと読む)


【課題】撮像された画像の品質を向上させる固体撮像装置、或いは半導体表示装置を提供する。
【解決手段】グローバルシャッタ方式で駆動を行うことで、電荷の蓄積動作を制御するための電位を全画素で共有することができる。さらに、出力信号が与えられる一の配線に接続されている複数のフォトセンサを第1のフォトセンサ群とし、出力信号が与えられる他の配線に接続されている複数のフォトセンサを第2のフォトセンサ群とすると、電荷の蓄積動作を制御するための電位または信号を第1のフォトセンサ群に与える配線と、上記電位または信号を第2のフォトセンサ群に与える配線とを、接続する。 (もっと読む)


【課題】有機半導体材料として有用な、適度なホールおよび電子輸送特性を有する、可視光透過性の液晶性化合物を提供する。
【解決手段】式(1)で表される化合物による。


[式(1)において、Rは独立して、水素または炭素数1〜24のアルキルであり、このアルキルにおける任意の−CH2−は−O−、−S−、−CO−または−SiH2−で置き換えられてもよく、任意の−(CH22−は−CH=CH−または−C≡C−で置き換えられてもよく、任意の水素はハロゲンで置き換えられていてもよく;Arはナフチレン、アントリレン、フェナントリレンまたはすべての水素がハロゲンで置き換えられたフェニレンであり、ナフチレン、アントリレンおよびフェナントリレンにおける任意の水素はハロゲンで置き換えられてもよい。] (もっと読む)


【課題】基板裏面からの二次ビームを原因とする干渉の影響を抑え、被照射物を均一にレーザアニールすることができ、且つスループットが良好である半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】基板上に形成された半導体膜に、少なくとも1つのガルバノミラーとfθレンズとを用いた光学系を用いてパルス発振のレーザビームを照射する半導体装置の作製方法であって、前記基板の屈折率をn、前記基板の厚さをd(メートル)、真空中の光速をc(メートル/秒)とした場合に、前記レーザビームのパルス幅であるt(秒)を、t<2nd/cという式により算出し、前記レーザビームのパルス幅を前記算出したtの範囲から選択して、前記レーザビームを照射する。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、信頼性を向上させる。
【解決手段】酸化物半導体膜を含むトランジスタにおいて、第13族元素および酸素を含む材料を用いて酸化物半導体膜と接する絶縁膜を形成することにより、酸化物半導体膜との界面の状態を良好に保つ。さらに該絶縁膜が、化学量論的組成比より酸素が多い領域を含むことにより、酸化物半導体膜に酸素を供給し、酸化物半導体膜中の酸素欠陥を低減する。また、酸化物半導体膜と接する絶縁膜を積層構造として、酸化物半導体膜の上下に、アルミニウムを含む膜を設けることで、酸化物半導体膜への水の侵入を防止する。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体層のチャネル領域の、水素拡散による低抵抗化を抑制するトップゲート型酸化物半導体TFT及びこれを備えた表示装置を提供する。
【解決手段】基板の上に、ソース電極層と、ドレイン電極層と、酸化物半導体層と、ゲート絶縁層と、In、Ga、Zn、Snの少なくとも1種類の元素を含むアモルファス酸化物半導体からなるゲート電極層と、水素を含む保護層と、を有し、ゲート絶縁層は酸化物半導体層のチャネル領域の上に形成され、ゲート電極層はゲート絶縁層の上に形成され、保護層はゲート電極層の上に形成されていることを特徴とするトップゲート型薄膜トランジスタ。 (もっと読む)


【課題】本発明では、高画質で信頼性の高い表示装置を低いコストで歩留まり良く製造することができる技術を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、画素領域における画素電極層上、及び画素電極層周辺を覆う隔壁として機能する絶縁層上に、スペーサを有する。このスペーサによって、発光材料を画素電極層上に形成する際、選択的に形成するためのマスクは支持され、マスクのよじれやたわみなどによって画素電極層に接することを防止する。よって、画素電極層にはマスクによる傷などの損傷が生じず、画素電極層は形状不良とならないので、高繊細な表示を行う、高信頼性な表示装置を作製することができる。 (もっと読む)


【課題】低消費電力で動作し、記憶情報の信頼性が高く、小型で軽量、安価な記憶装置と
その駆動方法を提供することを課題とする。さらに低消費電力で動作し、記憶情報の信頼
性が高く、無線通信距離の長い、小型で軽量、安価な半導体装置とその駆動方法を提供す
ることを課題とする。
【解決手段】記憶装置は、少なくとも記憶素子がマトリックス状に配置されたメモリセル
アレイと、書き込み回路とを有し、記憶素子は第一の導電層と、第二の導電層と第一の導
電層と第二の導電層とに挟まれて設けられた有機化合物層とを有し、書き込み回路は、複
数回印加する電圧を発生させる電圧発生回路と、電圧の出力時間を制御するタイミング制
御回路とを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】電気的特性が向上した、酸化物半導体を用いた半導体装置の作製方法を提供することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体膜と、酸化物半導体膜と重畳するゲート電極と、酸化物半導体膜と電気的に接続するソース電極およびドレイン電極と、を有する半導体装置の作製方法であって、酸化物半導体膜上に接して、酸化ガリウムを含む第1の絶縁膜を形成し、第1の絶縁膜上に接して第2の絶縁膜を形成し、第2の絶縁膜上にレジストマスクを形成し、第1の絶縁膜および第2の絶縁膜にドライエッチングを行ってコンタクトホールを形成し、レジストマスクを、酸素プラズマによるアッシングを用いて除去し、コンタクトホールを介して、ゲート電極、ソース電極またはドレイン電極のいずれか一または複数と電気的に接続される配線を形成する、半導体装置の作製方法である。 (もっと読む)


【課題】オフ電流を抑制するとともにオン電流を確保することができる薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】基板10と、基板の上方に形成されたゲート電極11及びゲート絶縁膜12と、ゲート絶縁膜を介して配置されたチャネル層13と、チャネル層に接続されたバッファ層14と、バッファ層に接続され、不純物が添加された第1コンタクト層15a(15b)と、第1コンタクト層に接続され、第1コンタクト層よりも不純物濃度が高い第2コンタクト層16a(16b)と、第2コンタクト層に接続されたソース電極17S及びドレイン電極17Dとを備える。ソース電極とドレイン電極との間におけるキャリアの移動経路は、チャネル層、バッファ層、第1コンタクト層及び第2コンタクト層を経由してキャリアが移動する第1経路と、チャネル層及び第2コンタクト層を経由してキャリアが移動する第2経路とを含む。 (もっと読む)


【課題】リフレッシュ動作を不要とする酸化物半導体を利用した光センサ、当該光センサを搭載した半導体装置、及び光センサを利用した光の測定方法を提供することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体を用いて形成されたチャネルを含むトランジスタに、ゲート電圧をパルス状に印加することにより、一定のゲート電流が得られることを見出し、これを光センサに応用した。当該光センサはリフレッシュ動作を要さないため、少ない消費電力で、高速かつ簡易な測定手順にて光の照度を測定できる。比較的高い移動度と低いS値、低いオフ電流を有する酸化物半導体を利用したトランジスタにより光センサを形成できるため、少ない工程で多機能を有する半導体装置を得ることが出来る。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いたトランジスタを有する半導体装置において、電気的特性の変動が小さく、信頼性の高い半導体装置を作製することを課題とする。
【解決手段】酸化物半導体を用いたトランジスタにおいて、トップゲート構造の場合は下地絶縁層に、ボトムゲート構造の場合は保護絶縁層に、酸素が過剰な酸化シリコン(SiO(X>2))を用いる。酸素が過剰な酸化シリコンを用いることにより、絶縁層から酸素が放出され、酸化物半導体層中の酸素欠損及び下地絶縁層もしくは保護絶縁層と酸化物半導体層の界面準位密度を低減することができ、電気的特性の変動が小さく、信頼性の高い半導体装置を作製することができる。 (もっと読む)


【課題】互いに異なる形態の薄膜トランジスタを効率よく作ること。
【解決手段】厚さ方向にシリコンの結晶化度が異なる第1領域と第2領域とを有する半導体層を有し、ボトムゲート構造の駆動トランジスタ6と、トップゲート構造のスイッチトランジスタ5とを形成する際、基板10と第1絶縁膜11の間に駆動トランジスタ6の第1ゲート電極6aを形成する工程と、第2絶縁膜12とパッシベーション膜14の間にスイッチトランジスタ5の第2ゲート電極5aを形成する工程を別工程にし、それ以外の薄膜トランジスタの構成を共通の工程によって形成する。こうして、駆動トランジスタ6の第1ゲート電極6aと、スイッチトランジスタ5の第2ゲート電極5aを形成する以外の工程を共通の製造工程とする製造方法によって、駆動トランジスタ6とスイッチトランジスタ5を作り分ける。 (もっと読む)


【課題】容易に薄膜トランジスタを作り分けること。
【解決手段】ボトムゲート構造の第1薄膜トランジスタである駆動トランジスタ6と、トップゲート構造の第2薄膜トランジスタであるスイッチトランジスタ5とを形成する際、基板10と第1絶縁膜11の間に駆動トランジスタ6の第1ゲート電極6aを形成する工程と、第2絶縁膜5d上にスイッチトランジスタ5の第2ゲート電極5aを形成する工程を別工程にし、それ以外の薄膜トランジスタの構成を共通の工程によって形成する。こうして、駆動トランジスタ6の第1ゲート電極6aと、スイッチトランジスタ5の第2ゲート電極5aを形成する以外の工程を共通の製造工程とする製造方法によって、駆動トランジスタ6とスイッチトランジスタ5を作り分けることを可能にした。 (もっと読む)


【課題】低電位領域と高電位の配線が交差することの無い優れた耐圧性能を示す半導体装置を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明の半導体装置は、ロジック回路(501)と、ロジック回路からの制御信号に従い低電位側パワー素子を駆動する低電位側駆動回路(502)と、ロジック回路からの制御信号がレベルシフト回路を介して入力され、高電位側パワー素子(506)を駆動する高電位側駆動回路(505)と、複数に重なったトレンチ分離領域により、前記高電位側パワー素子を含む高電位島を分離する多重トレンチ分離領域(508)と、を有する。 (もっと読む)


【課題】製造工程を複雑化させることなく、光検出素子および駆動素子において高い特性を示すことが可能な撮像装置、表示撮像装置および電子機器を提供する。
【解決手段】光検出素子3におけるI層32I(チャネル領域,半導体層)と、TFT素子2におけるI層22I(チャネル領域,半導体層)とにおいて、それらの厚みおよび不純物濃度がそれぞれ互いに略等しくなっている。I層22I,32Iにおける平均トラップ順位密度がそれぞれ、2.0×1017(cm-3)以下となっている。2種類の半導体層(I層22I,32I)を、同一の工程で簡易に形成することができる。また、光検出素子3およびTFT素子2における特性をそれぞれ、高い値で両立させることができる。 (もっと読む)


【課題】互いに異なる形態の薄膜トランジスタを効率よく作り分けること。
【解決手段】厚さ方向にシリコンの結晶化度が異なる第1領域と第2領域とを有する半導体層を有し、ボトムゲート構造の駆動トランジスタ6と、トップゲート構造のスイッチトランジスタ5とを形成する際、基板10と第1絶縁膜11の間に駆動トランジスタ6の第1ゲート電極6aを形成する工程と、第2保護絶縁膜5d上にスイッチトランジスタ5の第2ゲート電極5aを形成する工程を別工程にし、それ以外の薄膜トランジスタの構成を共通の工程によって形成する。こうして、駆動トランジスタ6の第1ゲート電極6aと、スイッチトランジスタ5の第2ゲート電極5aを形成する以外の工程を共通の製造工程とする製造方法によって、駆動トランジスタ6とスイッチトランジスタ5を作り分ける。 (もっと読む)


【課題】金属半導体接合を用いた電界効果トランジスタの新規な構造を提供する。
【解決手段】基板101上に設けられ、ゲート電極としても機能する配線102aと、配線102a上に設けられ、配線102aと略同形状で、ゲート絶縁膜としても機能する絶縁膜103aと、絶縁膜103a上に設けられた酸化物半導体等よりなる半導体層104aと、半導体層104a上に設けられた厚さが、絶縁膜103aの厚さと半導体層104aの厚さの和の5倍以上もしくは100nm以上の酸化物絶縁層105と、酸化物絶縁層105に設けられた開口部を通して、半導体層に接続する配線107a、107bとを有する電界効果トランジスタ。 (もっと読む)


【課題】層間絶縁膜に起因する不良を抑え、セルフアライン構造の薄膜トランジスタの信頼性を向上させることが可能な薄膜トランジスタおよびこれを備えた表示装置を提供する。
【解決手段】酸化物半導体膜20に接して、有機樹脂膜51を含む層間絶縁膜50を設ける。層間絶縁膜50の厚みを厚くして、ゲート絶縁膜30およびゲート電極40の段差を確実に被覆し、ソース電極60Sおよびドレイン電極60Dの断線あるいは短絡など、層間絶縁膜50に起因する不良を抑える。層間絶縁膜50は、有機樹脂膜51および第1無機絶縁膜52の積層構造を有していることが好ましい。酸素や水分などに対するバリア性の高い第1無機絶縁膜51により、酸化物半導体膜20への水分の混入や拡散を抑え、薄膜トランジスタ1の信頼性を向上させる。 (もっと読む)


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