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Fターム[5F157AC56]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 洗浄、すすぎ、乾燥工程の態様 (3,638) | 多槽(室) (264) | 複数の工程 (177) | 洗浄とすすぎと乾燥 (85)

Fターム[5F157AC56]に分類される特許

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【課題】ウォータマークを発生させず,レジストの溶解もなく安全に処理することができる,基板処理方法及び基板処理装置を提供することにある。
【解決手段】処理槽60の下部から第1の処理液を供給して、処理槽60内において第1の処理液中に基板Wを浸漬させて処理する工程と、処理槽60の下部から第1の処理液よりも比重が重い第2の処理液を供給しつつ、処理槽60の上部から第1の処理液を排液して、処理槽60内の第1の処理液を第2の処理液に置換し、処理槽60内において第2の処理液中に基板Wを浸漬させて処理する工程と、処理槽60内から処理槽60の上方に設けられた乾燥室に基板Wを引き上げる工程を有している。 (もっと読む)


【課題】本発明は、基板処理装置及び方法を提供する。
【解決手段】本発明の基板処理装置は、処理液が供給されて保存される処理槽と、前記処理液を前記処理槽に供給する処理液供給手段とを含む処理部と、流体が供給されて噴射される乾燥槽と、前記流体を前記乾燥槽に供給する流体供給手段とを含む乾燥部とで構成され、前記流体供給手段は、前記流体が前記乾燥槽に提供される前にフィルタリングするフィルタと、前記フィルタを加熱する第1ヒーターとを備える。本発明によれば、乾燥用流体が凝固された状態で乾燥槽に提供されることによって引き起こされるパーティクルの発生が抑制されるから、安定的かつ不良のない基板処理が可能になって、生産量又は歩留まりが向上するという効果がある。 (もっと読む)


【課題】片面エッチングのための方法及び装置を提供する。
【解決手段】エッチング装置(100)は、真空室(110)を有し、穿孔ベルト(120)がこの真空室に対して配置されている。そして、エッチング室(130)は、真空室に関し、穿孔ベルトの反対側に配置される。エッチング室は開口部(132)を有し、ここを通ってエッチング剤が放出される。真空室は、エッチング剤からウェーハ(140)の背面(144)を保護する圧力差を生じるよう構成される。使用においては、ウェーハの背面は穿孔ベルトに対して配置される。ウェーハ(142)の前面は放出されたエッチング剤に露出される。圧力差は、ベルトに対してウェーハの背面を保護し、及び/又は、穿孔ベルトを通してウェーハの前側に配置されないエッチング剤を抽出する。 (もっと読む)


【課題】平流し方式において被処理基板に気体を吹き付ける乾燥処理に際して基板表面より発生するミストの基板への再付着を効果的に防止して、処理品質を向上させる。
【解決手段】この乾燥処理室M5は隔壁194により搬送方向に沿って2つの室M5a,M5bに分割されており、隔壁194には搬送路114上の基板Gがわずかな隙間を空けて通り抜けできる開口部192が設けられている。搬送路114上で基板Gが隔壁194の開口部192を通り抜ける時、基板Gと開口部192との間にはわずかな隙間Kが形成され、この隙間Kを通って下流側の高圧室M5bから上流側の低圧室M5aに向って空気流Aが吹き抜けることにより、基板Gの表面に付着している液Ra,Rbは空気流Aの風圧によって基板後方へ払い落とされると同時に、一部がミストmとなって上流側の室M5a内で飛散ないし拡散する。 (もっと読む)


【課題】基板表面の必要な範囲に均一なめっき処理を行うためのめっき前処理を確実に行うことができるようにする。
【解決手段】基板Wの表面に無電解めっきを施すに先だって、めっき前処理としての洗浄処理と触媒付与処理を行うにあたり、触媒付与処理によって基板W表面に触媒を付与する範囲より広範囲に洗浄処理を行う(触媒付与範囲S<洗浄範囲S)。触媒付与処理によって基板表面に触媒を付与する範囲は、例えば、基板W表面の均一にめっき処理を行う必要がある範囲と同じ範囲である。 (もっと読む)


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