説明

Fターム[5F157AC56]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 洗浄、すすぎ、乾燥工程の態様 (3,638) | 多槽(室) (264) | 複数の工程 (177) | 洗浄とすすぎと乾燥 (85)

Fターム[5F157AC56]に分類される特許

21 - 40 / 85


【課題】水平搬送方式の基板処理装置において、低濃度薬液の滞留によるエッチング速度の低下を抑えることのできる基板処理装置を得ること。
【解決手段】基板処理装置1は、基板106の表面処理を行う薬液102を収容する薬液槽101と、薬液槽101内に回転自在に設けられて基板106を搬送する複数の搬送ローラー103と、搬送ローラーの間に設けられて、薬液槽101に収容された薬液102を攪拌する攪拌手段107と、を有する。 (もっと読む)


【課題】基板厚が異なる基板に対しても同一条件でのエッチングを行い、均一に基板の表面処理を行うことができる基板表面処理装置、太陽電池セルの製造装置を得ること。
【解決手段】基板11aを保持する基板保持手段35と、基板11aの基板厚に応じて基板保持手段35の高さを調整する高さ調整手段37と、基板11aを搬送する搬送手段と、上方に突出した壁部31dに囲われた複数の突出口を基板11aの搬送方向において離間して有する液溜まり部が上面に設けられ、基板11aの表面処理に用いる処理液40を突出口の内壁面での表面張力により突出口から突出した状態で保持する処理槽31と、を備え、突出口から突出した処理液40と処理面とが接触するとともに、液溜まり部の壁部31dの最上部と処理面との距離が規定の距離となる高さ位置で基板11aを処理槽31上において水平方向に搬送することにより処理面の表面処理を行う。 (もっと読む)


【課題】基板ロボットを用いることなく第1チャンバから第2チャンバに基板を搬送させることができ、かつその搬送中の基板に処理流体を用いた処理を施すことができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】第1チャンバ1内には、ウエハWの周縁部を支持して、ウエハWをほぼ水平姿勢に支持するための複数の第1支持部材10が収容されている。第2チャンバ2内には、ウエハWをほぼ水平姿勢に支持するための複数の第2支持部材20が収容されている。第1支持部材10A〜10Dおよび/または第2支持部材20A〜20Dが、ウエハWを支持しつつX方向に移動されることにより、ならびに第1支持部材10A〜10Dおよび第2支持部材20A〜20Dが開閉されることにより、4つの第1支持部材10A〜10Dから4つの第2支持部材20A〜20DにウエハWが受け渡される。搬送中のウエハWに対して処理部3による処理が施される。 (もっと読む)


【課題】半導体基板をリンスした後、半導体基板を乾燥させるときに微細なパターンに及ぶ影響を著しく低減する。
【解決手段】洗浄液で半導体基板を洗浄する洗浄工程と、この洗浄工程の後にリンス水で前記半導体基板をリンスするリンス工程と、このリンス工程の後に前記半導体基板を乾燥させる乾燥工程とを行う半導体基板の洗浄方法であって、リンス工程の際、リンス水の温度を70℃以上に設定すると共に、リンス水を酸性に設定する。 (もっと読む)


【課題】基板を洗浄する処理液の使用量を低減可能な基板の製造装置及び製造方法を提供すること。
【解決手段】基板100の製造装置1は、基板100を処理液で洗浄することで、基板100のSi層102に形成された酸化膜105の一部を除去する予備洗浄処理手段13と、予備洗浄処理手段13による基板100の洗浄で残存した酸化膜105を除去する本洗浄処理手段14と、本洗浄処理手段14に未使用の処理液を供給するとともに、本洗浄処理手段14で使用された処理液を予備洗浄処理手段13に供給する供給手段19と、を備える構成とする。 (もっと読む)


【課題】 水洗および有機溶剤による洗浄の後の乾燥において、半導体ウエハを短時間で良好に処理可能な優れた半導体ウエハ処理方法および半導体ウエハ乾燥装置を提供すること。
【解決手段】 半導体ウエハの洗浄工程後に、半導体ウエハの複数の面へガスを吹き付ける乾燥工程を行う半導体ウエハ処理方法であって、乾燥工程は、半導体ウエハへガスを吹き付ける際に、複数方向からのガスが半導体ウエハの主面上において交わらないように、ガスの吹き付けを制御することとする。また、半導体ウエハの複数の面へガスを吹き付ける半導体ウエハ乾燥装置であって、半導体ウエハの一側面側からガスを噴射させる第1噴射パイプと、半導体ウエハの他の側面側からガスを噴射させる第2噴射パイプとを備え、第1噴射パイプおよび第2噴射パイプのうち少なくとも1つが移動しながら噴射可能であることとする。 (もっと読む)


【課題】処理空間の開閉動作に伴う基板の汚染を抑制しつつ開閉動作を行うことが可能な高圧処理装置を提供する。
【解決手段】上部材22と下部材21とを重ね合わせることにより形成される処理空間20内にて、基板Wに対して高圧の処理流体により処理を行う高圧処理装置において、係止用突起部211は前記処理空間20の外側にて下部材21に固定して設けられ、前記下部材21の周方向に沿って互いに間隔をおいて複数配置されると共に、各々横方向に突出してその下面が係止面212を形成し、押圧部材23は上部材22を下部材21側に押圧する。また被係止用突起部231は押圧部材23に前記複数の係止用突起部211に夫々対応して設けられ、各々横方向に突出してその上面が前記係止面212に係止される被係止面232を形成する。 (もっと読む)


【課題】湿潤、浸透効果に優れて太陽電池用基板上に存在する汚染物質に対する洗浄効果に優れるとともに、後工程のテクスチャリングに悪影響を及ぼさず、太陽電池の製造収率を向上させる洗浄液組成物を提供する。
【解決手段】本発明は太陽電池用洗浄液組成物であって、有機アルカリ化合物、水溶性グリコールエーテル化合物、過炭酸塩、有機リン酸またはその塩、及び水を含むことを特徴とする洗浄液組成物に関する。 (もっと読む)


【課題】基板の周縁部の洗浄効率を向上させること。
【解決手段】基板2を回転させるための基板回転手段19と、回転する洗浄体32で基板2の周縁部を洗浄するための周縁洗浄手段21と、基板2に洗浄液を供給するための洗浄液供給手段22とを有する基板液処理装置を用いて、回転する基板2の周縁部に回転する洗浄体32を接触させて、洗浄液で洗浄するときに、基板回転手段19による基板2の回転方向と、周縁洗浄手段21による洗浄体32の回転方向とを反対方向として、基板2と洗浄体32とが接触する洗浄部分での基板2と洗浄体32の進行方向が同一方向となるようにし、かつ、基板回転手段19による基板2の回転速度と、周縁洗浄手段21による洗浄体32の回転速度との回転速度比(基板:洗浄体)が1:1〜3.5:1の範囲となるようにした。 (もっと読む)


【課題】本発明は、表面に微細な凹凸パターンを有するシリコンウェハの製造方法において、パターン倒れを誘発しやすい洗浄工程を改善するためのシリコンウェハ用洗浄剤を提供することを課題とする。
【解決手段】シリコンウェハ用洗浄剤は少なくとも水系洗浄液と、洗浄過程中に凹凸パターンの少なくとも凹部を撥水化するための撥水性洗浄液とを含み、該撥水性洗浄液は、シリコンウェハのSiと化学的に結合可能な反応性部位と疎水性基を含む撥水性化合物と、少なくともアルコール溶媒を含む有機溶媒が混合されて含まれるものとすること。 (もっと読む)


【課題】平流しの搬送ライン上で被処理基板に供給した第1の処理液を分別回収して第2の処理液に置き換える動作を効率よくスムースに行い、現像斑の発生を抑制する。
【解決手段】被処理基板Gを平流し搬送する基板搬送路2と、前記基板搬送路を搬送される被処理基板に第1の処理液を供給する第1の処理液供給手段9と、前記基板搬送路を搬送され、前記第1の処理液が供給された前記被処理基板に対し、所定のガス流を鉛直方向乃至搬送方向下流側のいずれかに向けて吹き付ける気体供給手段21と、前記気体供給手段によりガス流が吹き付けられ、前記基板搬送路を搬送される前記被処理基板に対し、所定の流速で第2の処理液を供給する第1のリンス手段22と、前記第2の処理液が供給され、前記基板搬送路を搬送される前記被処理基板に対し、前記第1のリンス液供給手段よりも高流速で前記第2の処理液を供給する第2のリンス手段23とを備える。 (もっと読む)


【課題】減圧蒸気を用いてより効果の高い蒸気乾燥を行うことができる蒸気乾燥方法を提供する。
【解決手段】洗浄したワークを、溶剤を用いて乾燥する蒸気乾燥方法は、減圧された蒸気槽内において、洗浄後のワークを貯留された溶剤に浸漬する冷浴工程S10と、蒸気槽内に溶剤の減圧蒸気を充満させて蒸気エリアを形成し、冷浴工程S10後のワークを蒸気エリアに移動させて減圧蒸気中に留置する蒸気乾燥工程S20と、蒸気乾燥工程S20後に、ワークを蒸気エリアから蒸気槽内において減圧蒸気の希薄な冷却エリアに移動させ、ワーク表面の溶剤を気化させる冷却工程S30とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】複数枚の基板を収容した搬送容器が載置されるロードポートと、搬送容器を保管する容器保管部と、を備えた基板処理装置において、ロードポートにおける搬送容器の受け渡し回数の増大を図ることができ、これにより基板を高いスループットで処理することのできる基板処理装置を提供する。
【解決手段】横方向の位置が互いに異なる第1の搬送路102A及び第2の搬送路102Bの各々に沿って、複数枚の基板を収容した搬送容器10を搬送する第1の搬送装置104A及び第2の搬送装置104Bを利用し、第1の搬送装置104Aにより搬送容器10の受け渡しが行われる第1のロードポート21と、この第1のロードポート21に対して階段状に設けられ、前記第2の搬送装置104Bにより搬送容器10の受け渡しが行われる第2のロードポート22とを備えている。 (もっと読む)


【課題】半導体素子を検査する検査治具のプローブ端子を損傷することなく、低接触抵抗値を維持し、信頼性の高いプローブカードの洗浄方法を得る。
【解決手段】ウエハ一括コンタクトボード60を構成するニッケル(Ni)からなる半球状のバンプ(プローブ端子)22を備えたバンプ付きメンブレンリング10を、フッ素濃度が1wt%未満の酸性フッ化アンモン水溶液に浸漬する。これにより、半導体素子を検査した時にアルミニウムパッドから剥がれてバンプ22に付着したアルミニウムや酸化アルミニウムを、バンプ22を損傷することなく除去することが可能である。また、バンプ22を構成するニッケル(Ni)を溶解すること無く、バンプの表面に形成されたニッケル酸化物(NiO)を除去することができる。 (もっと読む)


【課題】処理槽から引き上げられた被処理体から立ち上る処理液の蒸気が、搬送駆動部の設けられた隔壁の他方側に侵入することを防止すること。
【解決手段】処理装置は、間隙25を有する隔壁28と、隔壁28の一方側に配置され、被処理体Wgを処理する処理液C1が貯留された処理槽31と、隔壁28の間隙25を通過可能な支持部21と、隔壁28の他方側に設けられ支持部21を移動させる搬送駆動部23と、を有する搬送機構と、を備えている。隔壁28の間隙25には、間隙25を覆う遮蔽部12が設けられている。遮蔽部12は、可塑性を有し、上下方向に延在する複数の延在遮蔽部13を有している。 (もっと読む)


【課題】被処理体へ悪影響を及ぼすことなく、被処理体を連続して処理する際におけるスループットを向上させること。
【解決手段】処理装置は、延長可能液処理機構40,45と、一の被処理体と他の被処理体を順次取り扱う共有取扱部10と、を備えている。処理装置は、リンス液処理工程と、共有取扱工程と、を有するレシピを算出するレシピ算出部51も備えている。レシピ算出部51は、共有取扱部10が一の被処理体を取り扱う一の共有取扱工程と共有取扱部10が他の被処理体を取り扱う他の共有取扱工程とが時間的に重複する場合に、他の被処理体についての延長可能液処理工程を延長し、かつ、延長可能液処理工程を延長した分だけ他の共有取扱工程をシフトさせることによって、一の共有取扱工程と他の共有取扱工程とが時間的に重複しないようにする。 (もっと読む)


【課題】基板上に滞留した洗浄液を一定方向に流し去ることにより液切り効果を向上させることが可能となる洗浄基板の液切り装置を提供する。
【解決手段】基板30上に滞留する洗浄液90を排除する液切りローラー20は、基板30を搬送する搬送ローラー40により洗浄工程を経て搬入されてきた基板30を、接触して上下から挟み込んで配備され、且つ、基板30上に滞留する洗浄液90が一方向に流出するよう、基板30の進行方向に対し直角を除く任意の角度で設置される。 (もっと読む)


【課題】稼動中に装置が使用する電力、エア、純水の消費量を、待機中のとき大幅削減し、且つ、再稼動において、直ちに洗浄を開始することができる液晶枚葉洗浄装置を提供する。
【解決手段】搬送手段15を具備するロードバッファ部10とアンロードバッファ部50と、ブラシ洗浄手段25を具備するロールブラシ部20と、バブルジェット手段35を具備するバブルジェットアクアナイフ部30と、エア噴射手段45を具備するエアナイフ部40と、純水供給制御手段64を具備する純水供給部60と、装置コントロール手段75を具備する装置制御部70とを有し、装置コントロール手段75は、待機のとき、待機信号により純水供給機能以外の全ての機能を停止させ、純水供給制御手段64は、待機信号を受けて純水供給手段62の純水の供給を制御する。 (もっと読む)


【課題】主領域が撥液面でその外周の周縁領域が親液面である基板の表面に付着した液体を液切りして除去する場合に、基板表面にウォータマークが発生することを確実に防止することができる装置を提供する。
【解決手段】基板Wの搬送方向に対して交差するように、基板表面へその幅方向全体にわたって気体を吐出するエアナイフ32を配設し、エアナイフより基板搬送方向における後方側に、基板の周縁領域2へ基板搬送方向における後方かつ基板外方に向けて気体を吐出する補助気体ノズル36を配設し、基板の周縁領域に滞留した液体を除去しもしくは周縁領域に液体が滞留するのを防止するようにした。 (もっと読む)


【課題】薬液処理後の基板を水洗処理する場合に、純水の使用量を節減し、排液量を少なくし、処理時間を短縮することができる装置を提供する。
【解決手段】基板搬送方向における長さが基板Wの寸法より短くされた置換水洗室10、置換水洗室内において基板を一方向へ連続して搬送する搬送ローラ、置換水洗室内の入口付近に配設された入口ノズル16、入口ノズルより基板搬送方向における前方側に配設された高圧ノズル18、および、置換水洗室内の出口側に配設されたエアーノズル22を備えて置換水洗部2を構成した。置換水洗室10内へ基板Wが搬入される前に入口ノズル16および高圧ノズル18からの洗浄水の吐出を開始し、置換水洗室内から基板が搬出された後に入口ノズルおよび高圧ノズルからの洗浄水の吐出を停止するように制御する。 (もっと読む)


21 - 40 / 85