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Fターム[5F173AC35]の内容

半導体レーザ (89,583) | 垂直共振器を有するレーザの構造 (4,657) | 光閉じ込め、電流狭窄構造 (1,413) | 位置 (733) | 活性層より上側 (612)

Fターム[5F173AC35]に分類される特許

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【課題】作製プロセスにおいて段差構造の形状が変動したとしても、この変動がFFPに与える影響を抑制することができる面発光レーザ、および、該面発光レーザを用いた画像形成装置を提供する。
【解決手段】面発光レーザ100は、半導体基板110上に、下部ミラー112、活性層114、上部ミラー116が積層され、上部ミラー上に凸型の段差構造150が設けられている。その第1の領域160と第2の領域162との間の第3の領域165に遮光部材が配されている。 (もっと読む)


【課題】製造工程における歩留りを向上させ、品質の良い面発光レーザを提供する。
【解決手段】面発光レーザ素子1は、アルミニウムを含まない材料からなる基板1a上に、第1の半導体多層膜(下部半導体DBR1b)と活性層1cおよび第2の半導体多層膜(上部半導体DBR1d)からなるアルミニウムを含む半導体層1eを有しており、この半導体層1eを、基板1aにいたる深さまでエッチングして第1の分離溝1fを形成し、半導体層1eに保護膜1gを形成し、第1の分離溝1fの中心部における基板1aを予め定められた深さまでエッチングして第2の分離溝1iを形成し、この第2の分離溝1iに沿って分離してなる。 (もっと読む)


【課題】素子特性を低下させることなく、長寿命化を図ることができる面発光レーザ素子の製造方法を提供する。
【解決手段】 基板上に下部反射鏡、活性層を含む共振器構造体、及び被選択酸化層を含む上部反射鏡が積層された積層体にメサ構造体を形成し(S403)、被選択酸化層の一部を酸化してメサ構造体に電流通過領域を形成し(S405)、電流通過領域を介して活性層に電流を供給するための電極を形成し(S413)、通常のESD試験装置と同等の構成を持つ装置を用いて、p側電極とn側電極との間に静電耐圧以下の電圧を印加する(S421)。 (もっと読む)


【課題】高コスト化を招くことなく、放熱性及び耐腐食性に優れた面発光レーザ素子を提供する。
【解決手段】 下部半導体DBRは、第1下部半導体DBR103aと第2下部半導体DBR103bから構成され、共振器構造体に近い第2下部半導体DBR103bは、n−Al0.98Ga0.02Asからなる低屈折率層と、n−Al0.3Ga0.7Asからなる高屈折率層のペアを3ペア有している。そして、第2下部半導体DBR103bの低屈折率層は、隣接する組成傾斜層の1/2を含んで、3λ/4の光学的厚さとなるように設定されている。また、第2下部半導体DBR103bの低屈折率層は、第1下部半導体DBR103aの低屈折率層であるn−AlAsと高屈折率層であるn−Al0.3Ga0.7Asとの間の熱抵抗率を有している。 (もっと読む)


【課題】発振閾値付近の低出力側及び低温時において立ち上がりを速くすることが可能な画像形成用光源の提供。
【解決手段】1次元または2次元にアレイ状に配列された面発光レーザ素子は、第一のグループと第二のグループにそれぞれ属する複数の面発光レーザ素子によって構成され、画像の1ライン分を形成する1本ずつの各線上に、第一のグループに属する1つの面発光レーザ素子110と、第二のグループに属する1つの面発光レーザ素子120とが配置されており、第二のグループの面発光レーザ素子は、上部多層膜反射鏡106の上に、第一のグループの面発光レーザ素子よりも厚い吸収層121が設けられ、第二のグループの発光素子の最高発振光出力が、第一のグループの発光素子の最高発振光出力よりも小さく、且つ、第二のグループの発光素子の電流注入開始から光を発する立ち上がり時間が、第一のグループの発光素子よりも短くなる。 (もっと読む)


【課題】850nm帯面発光レーザにおける、高速変調化に伴う素子信頼性低下の課題を解決するための技術を提供する。
【解決手段】第1導電型GaAs基板上に、第1導電型多層膜ブラッグ反射鏡(DBR)層、活性層、及び第2導電型DBR層を有する発振波長が820nm以上880nm以下の面発光レーザであって、前記活性層が、圧縮性の歪みを有するInxGa1-xAs1−y1−z1y1Sbz1ウェル層と、引張性の歪みを有するGaAs1−y2y2バリア層を有する量子井戸構造を有することを特徴とする面発光レーザ。 (もっと読む)


【課題】ヘキ開の際に金属パッドへの異物の付着を低減することができる光デバイスを提供する。
【解決手段】 1つの基板上に形成された32個の発光部と、該32個の発光部におけるp側電極と電気的に接続されている32個の電極パッドとを備えている。そして、ヘキ開工程で、シリコーン付着現象を生じるおそれがある電極パッド150は、平面視において、ヘキ開された部分に近い辺の長さが、該ヘキ開された部分に平行な方向の寸法dよりも長くなるように設定されている。この場合は、チップ形成基板の厚さが従来よりも厚い場合であっても、保護シートの密着力を低下させることができ、ヘキ開の際に各電極パッドにシリコーンが付着するのを防止することができる。その結果、製造歩留まりを向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】所望の方向に偏波したレーザ光を射出できること。
【解決手段】面発光レーザ素子300は、基板1上に下部DBRミラー2と、活性層4を含む複数の半導体層が積層され円柱状に形成されたメサポスト15と、メサポスト15上に形成された上部DBRミラー13とを有し、上部DBRミラー13の上面部に設けられたアパーチャ13aからレーザ光を射出する。上部DBRミラー13の少なくとも上面部に、レーザ光に対する光透過性を有する誘電体で形成した保護膜14を備える。保護膜14を、全体として積層面方向の断面が円形のメサポスト15に対し、アパーチャ13aを含む所定範囲内で一体に長円状に成膜されて積層し、長軸方向の端部がP電極8の上面部からメサポスト15の側面部を介し、Nクラッド層3の上面部まで成膜する。保護膜14は、応力付加膜として活性層4に対し長軸方向に応力を加える。 (もっと読む)


【課題】垂直共振器面発光レーザ用の半導体基板におけるp型結晶層をV/III比が小さいエピタキシャル条件で形成するとともにp型結晶層の電気抵抗を低減する。
【解決手段】垂直共振器面発光レーザ用の半導体基板であって、半導体基板はコンタクト層として機能するp型結晶層を有し、p型結晶層が、3−5族化合物半導体からなり、2×1018cm−3以上、1×1019cm−3以下の濃度の水素原子を含む半導体基板を提供する。p型結晶層として、p型GaAs層が挙げられる。p型結晶層が、p型不純物原子として炭素原子を含んでもよい。 (もっと読む)


【課題】基本横モード光の高出力化および偏光制御を可能にする長寿命の面発光型半導体レーザを提供する。
【解決手段】面発光型半導体レーザ10は、基板100と、n型の下部DBR102と、活性領域104と、p型の上部DBR106と、基板上に形成されたメサMと、メサM内に形成され、選択的に酸化された酸化領域108Aによって囲まれた導電領域108Bを有する電流狭窄層108と、メサMの頂部に形成され、光出射口110Aを規定する環状のp側電極110と、第1の屈折率を有し光出射口110Aを覆う第1の誘電体膜112と、第1の屈折率よりも大きい第2の屈折率を有し、第1の誘電体膜112上に形成された楕円形状の第2の誘電体膜118とを有する。 (もっと読む)


【課題】横モード制御のため反射率分布を与える段差構造を設けた面発光レーザにおいて、遠視野像の波面収差を抑制する。
【解決手段】面発光レーザ200は基板210上に下部ミラー212、活性層214、上部ミラー216が積層された積層構造を有し、表面段差構造を有する第1の構造体280を備える。表面段差構造の上部に位置している前記基板に平行な面と、前記上部ミラーの上部境界面242との間の光路長が所定の値に設定されている。 (もっと読む)


【課題】信頼性が高い面発光型半導体レーザを提供する。
【解決手段】GaAs基板100と、n型のAl組成の異なるAlGaAsから構成される下部DBR102と、下部DBR102上に形成された共振器104と、共振器104上に形成されたp型のAl組成の異なるAlGaAsから構成される上部DBR108とを有する。共振器104は、下部スペーサ層106A、活性層106Bおよび上部スペーサ層106Cからなる活性領域106と、共振器延長領域105とを含み、共振器延長領域105の光学的膜厚は、発振波長λよりも大きく、かつn型のAlGaAsPまたはAlGaInPから構成される。 (もっと読む)


【課題】電流狭窄層で一度狭窄された電流が、電流狭窄層から活性層に流れるに従って再び広がることを抑え、発光効率の低下を抑制することが可能となる垂直共振器型面発光レーザを提供する。
【解決手段】垂直共振器型面発光レーザであって、基板501上に形成された下部DBR層502と、前記下部DBR層の上に形成された下部クラッド層511と、前記下部クラッド層の上に形成された活性層513と、前記活性層の上に形成された上部クラッド層512と、前記上部クラッド層の上に形成された電流狭窄層525と、前記電流狭窄層の上に形成された上部DBR層505と、前記上部クラッド層512と前記電流狭窄層525との間に配され、前記上部DBRを構成する半導体の伝導型とは異なる伝導型からなる半導体層である異種伝導型層520と、を有している。 (もっと読む)


【課題】小型で製造が容易な光変調器付き面発光型半導体レーザ装置を提供する。
【解決手段】面発光型半導体レーザ装置10は、VCSEL10Aと光変調器10Bとを含む。VCSEL10Aは、GaAs基板100と、基板上に形成されたn型の下部DBR102と、活性領域104と、電流狭窄層108と、p型の上部DBR106と、環状のp側電極110とを有する。光変調器10Bは、上部DBR106上に形成されかつ発振波長に対して光学的に透明であるp型の第1の透明半導体膜120と、第1の透明半導体膜120上に形成されかつ発振波長に対して光学的に透明であるn型の第2の透明半導体膜122と、第2の透明半導体膜122に電気的に接続された変調電極130とを含む。p型電極110は、第1の透明半導体膜120にも電気的に接続されている。 (もっと読む)


【課題】面発光レーザを構成する基板の法線方向に対し、遠視野像(FFP)の重心方向を傾けることが可能となる面発光レーザ等を提供する。
【解決手段】基板110上に、下部反射鏡112と活性層114と上部反射鏡116が積層され、上部反射鏡116における光出射面142の上部に表面レリーフ構造150を備えた面発光レーザ100であって、表面レリーフ構造150は、面発光レーザ100の出射光の少なくとも一部が透過できる材料により形成され、基板110の法線方向に所定の光学厚さを有する複数の領域が基板110の面内方向に隣接して構成され、前記光学厚さの基板110の面内方向の分布が、面発光レーザ100の発光領域の中心軸に対して非対称な光学厚さの分布とされている。 (もっと読む)


【課題】垂直共振器面発光レーザ用の半導体基板の製造において、原料ガスのコストを低減する。垂直共振器面発光レーザ用の半導体基板におけるp型半導体層の不純物濃度を制御する。
【解決手段】p型結晶層を有する垂直共振器面発光レーザ用の半導体基板であって、p型結晶層が、3−5族化合物半導体からなり、p型不純物原子として炭素原子を含み、かつ、6×1017cm−3以上、6×1019cm−3以下の濃度の水素原子を含む半導体基板を提供する。 (もっと読む)


【課題】基本横モードの光出力を低下させることなく高次横モードの発振を抑制しつつ、素子寿命の長い面発光レーザ素子を提供する。
【解決手段】 基板101上に、下部半導体DBR103、活性層105を含む共振器構造体、被選択酸化層108を有する上部半導体DBR107などが積層されている。そして、出射領域は、全面がP−SiNからなる光学的に透明な誘電体で被覆され、相対的に反射率が高い高反射率部分と相対的に反射率が低い低反射率部分とを有している。また、メサの上面における辺縁部は2層の誘電体層で被覆され、下側の誘電体層111aは上側の誘電体層111bによって覆われており表面に露出していない。 (もっと読む)


【課題】 本願発明は、十分な光出力を確保しつつ、電子写真装置の光源として好適な面発光レーザおよび該面発光レーザを用いた画像形成装置の提供を目的とする。
【解決手段】 上部ミラーの上部に第1の表面段差構造を有し、第1の領域における光路長と、第2の領域における光路長との差Lが、(1/4+N)λ<|L|<(3/4+N)λ(Nは整数)を満たす。 (もっと読む)


【課題】面内やウエハ毎における特性のばらつきを抑制し、単一基本横モードで発振することが可能となる面発光レーザの製造方法を提供する。
【解決手段】面発光レーザの製造方法であって、選択酸化工程の後に、
表面レリーフ構造のパターンが形成された第1の半導体層をエッチングマスクとし第3の半導体層をエッチングストップとして、第2の半導体層をエッチングし、表面レリーフ構造の底面を露出させる工程と、
第2の半導体層と第3の半導体層をエッチングストップとして表面レリーフ構造のパターンが形成された第1の半導体層をエッチングし表面レリーフ構造の上面を露出させる工程と、
表面レリーフ構造の上面側と反対側である該表面レリーフ構造の底面の外周側に位置する、コンタクト部として機能する第1の半導体層領域を保護するコンタクト部保護工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】表面レリーフ構造の中心位置と電流狭窄構造の中心位置とを精度良く位置合わせでき、基本横モードと高次横モードの間に十分な損失差を導入できる表面レリーフ構造の形成が可能な面発光レーザの製造方法を提供する。
【解決手段】電流狭窄構造の形成後に、第二のエッチングストップ層及び第三のエッチングストップ層を用いて、半導体層上における誘電体膜の除去と、第一のエッチングストップ層を第2のパターンに沿って除去することを同一工程で実施する。
また、表面レリーフ構造が下層、中間層、上層の三層から構成され、該下層、中間層、上層の合計層厚が1/4波長の奇数倍の光学的厚さ(λ/4nの奇数倍、λ:発振波長、n:半導体層の屈折率)とし、
下層の直下が、第二のエッチングストップ層とし、また二のエッチングストップ層の直上に、第一のエッチングストップ層が積層されている構造とする。 (もっと読む)


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