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Fターム[5J034AB07]の内容

半導体素子を用いたパルス発生器 (1,143) | 目的、効果 (486) | 出力レベルの安定化 (38)

Fターム[5J034AB07]に分類される特許

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【課題】開示する発明の一態様は、安定して動作することが可能なパルス信号出力回路及
びそれを含むシフトレジスタを提供することを課題の一とする。
【解決手段】開示する発明の一態様のパルス信号出力回路は、第1乃至第10のトランジ
スタを有し、第1のトランジスタおよび第3のトランジスタのチャネル長Lに対するチャ
ネル幅Wの比W/Lは、第6のトランジスタのW/Lよりも大きく、第5のトランジスタ
のW/Lは、第6のトランジスタのW/Lよりも大きく、第5のトランジスタのW/Lは
、第7のトランジスタのW/Lと等しく、第3のトランジスタのW/Lは、第4のトラン
ジスタのW/Lよりも大きくする。これによって、安定して動作することが可能なパルス
信号出力回路及びそれを含むシフトレジスタを提供することができる。 (もっと読む)


【課題】トランジスタのリーク電流を低減し、論理回路の誤動作を抑制する。
【解決手段】チャネル形成層としての機能を有する酸化物半導体層を含み、チャネル幅1
μmあたりのオフ電流が1×10−13A以下であるトランジスタを有し、入力信号とし
て、第1の信号、第2の信号、及びクロック信号である第3の信号が入力され、入力され
た第1の信号乃至第3の信号に応じて電圧状態が設定された第4の信号及び第5の信号を
出力信号として出力する構成とする。 (もっと読む)


【課題】 ストアとリコールを容易かつ安定に行える不揮発性フリップフロップを提供する。
【解決手段】 不揮発性記憶部2_1は、スレーブラッチ部1S_1のインバータ208の出力ノードと共通ノードCNとの間のNチャネルトランジスタ209および抵抗変化型素子224と、スレーブラッチ部1S_1のインバータ207の出力ノードと共通ノードNSとの間のNチャネルトランジスタ210および抵抗変化型素子223と、共通ノードNSと接地との間のNチャネルトランジスタ211を有する。ストア時は、Nチャネルトランジスタ209、210がON、Nチャネルトランジスタ211がOFFとされ、スレーブラッチ部1S_1の記憶データに応じた大小関係が抵抗変化型素子224および210の各抵抗値間に生じる。リコール時は、Nチャネルトランジスタ209〜211をONとし、揮発性フリップフロップ部1_1に対する電源電圧を立ち上げる。 (もっと読む)


【課題】所望のタイミングでデータの評価、書き換えを行うことができる半導体装置を提供する。
【解決手段】フリップフロップ回路と、選択回路と、選択回路を介して前記フリップフロップ回路と電気的に接続する不揮発性記憶回路と、を含むレジスタ回路と、ビット線と、データ線と、を有し、データ線はフリップフロップ回路と電気的に接続し、ビット線は、選択回路を介して不揮発性記憶回路と電気的に接続し、選択回路は、データ線の電位またはビット線の電位に応じたデータを選択的に不揮発性記憶回路に格納する半導体装置。 (もっと読む)


【課題】開示する発明の一態様は、安定して動作することが可能なパルス信号出力回路及
びそれを含むシフトレジスタを提供することを課題の一とする。
【解決手段】開示する発明の一態様のパルス信号出力回路は、第1乃至第10のトランジ
スタを有し、第1のトランジスタおよび第3のトランジスタのチャネル長Lに対するチャ
ネル幅Wの比W/Lは、第6のトランジスタのW/Lよりも大きく、第5のトランジスタ
のW/Lは、第6のトランジスタのW/Lよりも大きく、第5のトランジスタのW/Lは
、第7のトランジスタのW/Lと等しく、第3のトランジスタのW/Lは、第4のトラン
ジスタのW/Lよりも大きくする。これによって、安定して動作することが可能なパルス
信号出力回路及びそれを含むシフトレジスタを提供することができる。 (もっと読む)


【課題】安定して動作することが可能なパルス信号出力回路及びそれを含むシフトレジス
タを提供することを課題の一とする。
【解決手段】開示する発明の一態様のパルス信号出力回路は、出力端子と接続するノード
を構成するトランジスタのチャネル長を、出力端子として機能するトランジスタのチャネ
ル長よりも大きくする。これによって、該ノードからの電流のリークを抑制して、長期間
にわたって安定して電位を保持することが可能となり、パルス信号出力回路の誤作動を防
止することができる。 (もっと読む)


【課題】Dラッチ回路またはDフリップフロップの消費電力の増大を抑制しつつ、低電圧におけるDラッチ回路またはDフリップフロップの誤動作を防止する。
【解決手段】内部信号出力回路320は、内部透過開始タイミングから内部透過終了タイミングまでの間においてはデータ信号を反転した信号を内部信号として出力する。内部信号出力回路320は、内部透過終了タイミングから内部透過開始タイミングまでの間においては所定値に値を固定した信号を内部信号として出力する。nMOSトランジスタ330は、保持指示遅延タイミングからデータの透過が指示されるまでの間に内部透過終了タイミングが含まれるように前記出力された内部信号を遅延させる。 (もっと読む)


【課題】反転クロック信号を用いないフリップフロップ回路及びシフトレジスタ回路では、信号の遅延期間中に書き換えを行う場合があるが、充電を阻害する電流が流れてしまい、書き換えに時間がかかり、充電が完了せず動作が不安定になる可能性がある。そこで、反転クロック信号を用いない安定性の高いフリップフロップ回路及びシフトレジスタ回路を提供することを目的とする。
【解決手段】書き換え時に充電を阻害する電流が流れるノードの、充電を阻害する電流をトランジスタで遮断することで書き換えをすばやく行い、安定性の高いフリップフロップ回路及びシフトレジスタ回路を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】しきい値が従来例では動作しないような値でも動作させることが可能な半導体装置である。
【解決手段】第1乃至第3のN型トランジスタと、第1乃至第3のP型トランジスタと、アナログスイッチと、容量手段とを有し、容量手段の一方は、アナログスイッチ、第3のN型トランジスタのソース又はドレインの他方、及び第3のP型トランジスタのソース又はドレインの他方と電気的に接続され、容量手段の容量は、第1のP型トランジスタ及び第1のN型トランジスタで発生する容量より大きく、アナログスイッチには、第1のラッチ信号、第2のラッチ信号、及びデータ信号が入力され、第1のラッチ信号は、第2のP型トランジスタのゲート、及び第3のN型トランジスタのゲートに入力され、第2のラッチ信号は、第2のN型トランジスタのゲート、及び第3のP型トランジスタのゲートに入力される半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】アクティブマトリクス型表示装置の誤動作を抑制する。
【解決手段】駆動回路に対してデータ信号が入力される期間(取り込み期間)前の期間(リセット期間)に、当該データ信号の反転信号を当該駆動回路に入力する。例えば、データ信号がHレベルの電位(3V)である場合には、それが入力される前にLレベルの電位(0V)の電位を入力する。これにより、駆動回路内のノードの電位変動が大きくなり、当該駆動回路が正確に動作しやすくなる。 (もっと読む)


【課題】センスアンプを構成するMOS型トランジスタのボディ電位を整える。
【解決手段】センスアンプ回路は、第1及び第2のラッチ回路と伝達制御部4905を備えている。伝達制御部4905を有することで、第1のラッチ回路と第2のラッチ回路とを電気的に接続したり、切り離したりすることが可能となる。例えば、第1のラッチ回路によって増幅・ラッチされた信号を第2のラッチ回路で受けて、その後に伝達制御部4905を用いて、第1、第2のラッチ回路を電気的に切り離すことで、第1のラッチ回路を構成するMOS型トランジスタ4901にステップ波形電圧5003を印加してボディ電位を整えると同時に、第2のラッチ回路受けた信号を、第2のラッチ回路で増幅・ラッチ動作させ、その出力信号を利用することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】新規な不揮発性のラッチ回路及びそれを用いた半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の素子の出力が第2の素子の入力に電気的に接続され、第2の素子の出力が第1の素子の入力に電気的に接続されるループ構造を有するラッチ部と、ラッチ部のデータを保持するデータ保持部とを有し、このラッチ部とデータ保持部とにより不揮発性のラッチ回路が構成される。データ保持部は、チャネル形成領域を構成する半導体材料として酸化物半導体を用いたトランジスタをスイッチング素子として用いている。またこのトランジスタのソース電極又はドレイン電極に電気的に接続された容量を有している。 (もっと読む)


【課題】電源電圧が一時的に大きく低下した場合でも、電源電圧が低下する以前の論理データを保持することが可能なデータ保持回路を提供する。
【解決手段】データ保持回路と電源の間に、ダイオードと容量で構成した電源電圧維持回路を挿入し、データ保持回路を入力端子にダイオードによって遮断された側の電圧が入力されたときにデータが変化する構成とした。 (もっと読む)


【課題】回路動作の安定性の向上と、消費電力の低減とを両立できるようにした分周回路及び半導体装置を提供する。
【解決手段】発振回路に近い前段の側にあって高い周波数で動作するFF回路10と、発振回路から遠い後段の側にあって低い周波数で動作するFF回路10と、を備え、前段と後段の各FF回路10は、分周回路の動作時に通常、オン、オフを繰り返すFB−SOI−MOSFET11〜14、21、25をそれぞれ有し、前段の各FF回路10が有するMOSFET11〜14、21、25の閾値電圧の絶対値を│Vth1│とし、後段の各FF回路10が有するMOSFET11〜14、21、25の閾値電圧の絶対値を│Vth2│としたとき、│Vth1│<│Vth2│に設定されている。 (もっと読む)


【課題】回路動作の安定性を高め、消費電力の低減を可能とした半導体装置を提供する。
【解決手段】フローティングボディ型のPD−SOI−MOSFET21〜26を有する分周回路を備え、この分周回路の動作時は、MOSFET22、23,24、26の各ゲート(G)に固定電圧が印加されてMOSFET22、24がオンすると共に、MOSFET23、26がオフする。また、MOSFET21、25の各ゲート(G)に振幅電圧が印加されて、MOSFET21、25がオン、オフを繰り返す。このように動作する分周回路において、MOSFET23、26の閾値電圧の絶対値は、例えばチャネルドープにより、MOSFET21、25の閾値電圧の絶対値よりも大きく設定されている。 (もっと読む)


【課題】トランジスタと容量によって情報を記憶し、リフレッシュを必要としないRFIDタグを提供する。
【解決手段】第1のトランジスタ、第2のトランジスタ、第3のトランジスタ、容量およびバッファを有するRFIDタグであり、第2のトランジスタのソースおよびドレインの一方は入力端子に電気的に接続され、ソースおよびドレインの他方は、第1のトランジスタのソースおよびドレインの一方かつ第3のトランジスタのソースおよびドレインの一方に電気的に接続され、第1のトランジスタのソースおよびドレインの他方は容量の一方の電極かつバッファの入力に電気的に接続され、容量の他方の電極は基準電圧端子に電気的に接続され、バッファの出力は出力端子および第3のトランジスタのソースおよびドレインの他方に電気的に接続される。 (もっと読む)


【課題】不揮発であってデータ読み出し動作の信頼性の向上が図れるラッチ回路を提供する。
【解決手段】ラッチ回路は、インバーター回路110,120と、インバーター回路110の出力とインバーター回路120の入力とを接続するスイッチ162と、インバーター回路120の出力とインバーター回路110の入力とを接続するスイッチ164と、インバーター回路110の入力に一端が接続されかつインバーター回路110の出力に他端が接続された強誘電体キャパシター132と、インバーター回路120の入力に一端が接続されかつインバーター回路120の出力に他端が接続された強誘電体キャパシター134と、インバーター回路110の入力と強誘電体キャパシターの一端との間のノードに一端が接続されたキャパシター142と、インバーター回路120の入力と強誘電体キャパシター134の一端との間のノードに一端が接続されたキャパシター144とを含む。 (もっと読む)


【課題】データ選択機能付きのダイナミック型フリップフロップ回路において、動作の高速性を良好に確保しながら、複数のデータの何れもが選択されていない場合であっても、正常動作するようにする。
【解決手段】例えば選択信号S0によりHのデータD0が選択されていた場合、第1ノードN1がLとなり、第2ダイナミック回路1Bの第2ノードN2はHとなっており、出力信号QはHレベルである。この状態において、選択信号S0〜S2によって複数のデータD0〜D2の何れもが選択されなくなった際には、第1ノードN1がHとなり、前記第2ノードN2は、その電荷が放電されて、出力信号QはLレベルに誤動作する状況となる。しかし、この場合には、出力ノードN3がHとなり、第4ノードN4がLとなって、前記第2ダイナミック回路1Bのn型トランジスタTr6がオフして、第2ノードN2の放電を阻止する。 (もっと読む)


【課題】通常時の速度低下や消費電力の増大を招くことなく、電源遮断後もデータを不揮発的に保持することが可能であり、かつ、どのような電源電圧を必要とするデバイスにも好適に組み込むことが可能なデータ保持装置を提供する。
【解決手段】データ保持装置において、ループ状に接続された論理ゲートを用いてデータを保持するループ構造部LOOPと、強誘電体素子のヒステリシス特性を用いてループ構造部LOOPに保持されたデータを不揮発的に記憶する不揮発性記憶部NVMは、互いに異なる電源電圧VDD1、VDD2の供給を別個に受けて駆動されるものであり、両者を電気的に分離する回路分離部SEPは、ループ構造部LOOPと不揮発性記憶部NVMとの間でやり取りされるデータの電圧レベルを変換するレベルシフタ(INV6、INV7)を有して成る。 (もっと読む)


【課題】誤動作を防止することのできる半導体集積回路及び方法を提供する。
【解決手段】入力端からの信号を論理的に反転させて出力端に出力する第1インバータ回路20と、第1インバータ回路の出力信号を反転する第2インバータ回路30と、ラッチ時に、第2インバータ回路の出力端と第1インバータ回路の入力端とを接続し、スルー時に、第2インバータ回路の出力端と第1インバータ回路の入力端とを遮断する、スルー・ラッチ切替回路群10と、第1端と第2端とを有し、第1端が第1インバータ回路の出力端における電荷容量を増加させ、第2端が第2インバータ回路の出力端における電荷容量を増加させる、容量素子群50と、ラッチ時に、第1端及び第2端をそれぞれ第1インバータ回路の出力端及び第2インバータ回路の出力端に接続し、スルー時に第1端と第2端とを電圧が平均化されるように接続する、誤動作防止切替回路群40とを具備する。 (もっと読む)


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