合成波長を生成するための方法、特に、１次周波数と前記１次周波数の少なくとも第１の側波帯周波数とを規定する１次レーザー光源を用いる干渉式距離測定装置のための方法において、前記第１の側波帯周波数および対応する第１の波長を有するレーザー放射が供給され、前記第１の側波帯周波数が、特に１次レーザー光源を変調することにより、連続的にシフトされる。第１の波長と、１次レーザー光源により規定される第２の波長とを組み合わせること、特に、重ね合わせることにより、合成波長が生成される。
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【課題】レーザ干渉追尾測長の高精度化、信頼性向上を図る。
【解決手段】測定の基準をなす基準球１４と、測定対象に配設される測定側反射体１５と、該測定側反射体１５との距離の増減に応じて測定値を出力するレーザ干渉計３２と、該レーザ干渉計３２からの出射ビームを前記基準球１４を中心として回動するための円弧運動機構とを用いて、前記基準球１４の中心座標を基準とし、前記円弧運動機構に載ったレーザ干渉計３２からの出射光と戻り光の光軸が平行となる測定側反射体１５との距離を測定するレーザ干渉追尾測長方法において、前記レーザ干渉計３２の本体部２６から分離され、前記基準球１４と接触して、その表面をなぞりつつ測定光の方向に変位するようにされた参照側反射体３３を設け、該参照側反射体３３から測定側反射体１５迄の距離を測定する。 （もっと読む）

【課題】離れた測定対象物までの距離を高い精度にて測定することができる距離測定装置を提供すること。
【解決手段】距離測定装置のレーザ光源１１、第１スプリッタ１２、参照ミラー１４、ミラー移動部１５、第１受光素子１６はマイケルソン干渉計を構成し、参照ミラー１４が移動する所定範囲内において第１受光素子１６の入射光量が最大レベルとなる位置を算出する。また、距離測定装置のレーザ光源１１と第２受光素子１７はＴＯＦ方式による距離測定装置を構成し、飛行時間による距離を算出する。そして、マイケルソン干渉計により算出された位置と、飛行時間により算出された距離とに基づいて遠距離にある測定対象物Ｗまでの距離を算出する。 （もっと読む）

【課題】オペレータに煩雑な原点復帰の作業を強いたり、高価な絶対距離センサを付加したりすることなく、装置と再帰的反射体との距離に応じて追尾制御の制御量を適切に増減できるようにする。
【解決手段】入射された測定光Ａを入射方向に反射して戻すための再帰的反射体７０と、測定光Ａと戻り光Ｂの光軸が平行となるように測定光Ａの出射方向を回動する２軸回転機構４０を有し、装置と再帰的反射体７０の距離の増減に応じて測定値を出力する追尾式レーザ干渉計と、再帰的反射体７０との間の絶対距離Ｌを推定する際に、再帰的反射体７０からの戻り光Ｂの所定位置からのずれ量ｄを所定値ｄ₂とした時の２軸回転機構４０の角度位置変化量θ₂により、装置と再帰的反射体７０の絶対距離Ｌを演算により推定する。 （もっと読む）

【課題】視準用測定対象物にレーザ干渉計のレーザ光を照射することなく、視準用測定対象物までの距離を高精度に測定すること。
【解決手段】移動台26に設置した光波距離計32およびレーザ測長機28を移動台26とともに計測基準点Ａ位置から測点Ｂ（反射プリズム36）に接近または離反方向に10センチメートル程度（最初の10センチメートルのラウンドナンバーまで）移動させ、この位置から反射プリズム36までの距離Ｄ２を光波距離計32で計測し、レーザ測長機28の計測値を０にセットし、レーザ測長機28から反射プリズム34にレーザ光を照射しながら移動台２６を計測基準点Ａの方向に10センチメートル程度戻し、このときの移動量Ｄ３をレーザ測長機28により計測する。両計測値Ｄ２，Ｄ３から、計測基準点Ａと測点Ｂ間の距離ＬをＬ＝Ｄ２＋Ｄ３またはＤ２−Ｄ３として演算する。レーザ測長機28のレーザ光の光路長は短く、レーザ電源のパワーは小さくてよい。 （もっと読む）

放射源からの電磁放射を制御可能にチャープするシステムおよび方法は、光学キャビティ構成を含む。光学キャビティ構成は、電磁放射を実質的に線形チャープレートで且つ設定可能な周期で生成することを可能にする。電磁放射を光学キャビティに選択的に注入することによって、電磁放射は、実質的に線形のチャープレートで周波数シフトされた単一共振モードで生成されてもよい。電磁放射を単一共振モードで生成することにより、電磁放射のコヒーレンス長が長くなり、これは、電磁放射が様々な用途で実現されるときに有利なことがある。例えば、光学キャビティ構成によって生成される電磁放射は、レンジ、速度、精度および／またはレーザレーダシステムの他の態様を強化する。
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【課題】光検出器において２光子吸収させ、当該光検出器が出力する電気的な検出信号の周波数スペクトルから前記反射点までの距離を高精度で測定することができるが低コストで製造可能な距離検出装置に関する。
【解決手段】第１レーザ光源および第２レーザ光源と、２つのレーザ光を同一の変調周波数で変調する変調器と、第１レーザ光源から出射された光の反射光と、第２レーザ光源からのレーザ光とが結合されてなるレーザ光を増幅する第２光増幅器と、第２光増幅器からのレーザ光を受光し２光子吸収により電気出力を発生する光検出器と、光検出器の出力信号に含まれる正弦波成分を抽出して、第１レーザ光源の光路を反射して戻ってくる光の反射位置に対応する周波数成分を検出する周波数検出器とを備える。 （もっと読む）

【課題】これまでの内視鏡において対象物までの距離を測るには対象物にスポット光を照射し、三角法に基づいて距離を求めていたが、基線長が短く精度に問題があった。また自己混合半導体レーザによれば近距離でも精度よく距離が測れるが、多点における計測が困難であった。
【解決手段】観察範囲の中央部を自己混合半導体レーザによる距離測定とし、周辺部をパターン投影法による距離測定とすることにより、自己混合半導体レーザの測定点の少なさを解消し、対象物の三次元計測の精度向上ができる。また、中央部において自己混合半導体レーザにより測定した結果を、パターン投影法による測定結果に反映させることにより、パターン投影法による測定結果の補正も行える。 （もっと読む）

【課題】測定可能な距離が長く、かつ、小型であって長寿命のレーザ測定装置を提供する。
【解決手段】ＶＣＳＥＬ１１と、これが発するレーザビームの線幅を狭窄化する外部共振器とを備えた光源部１０とする。この外部共振器は、光ファイバーの両端付近に回折格子であるグレーティング１４が配置されたファイバーグレーティング型の共振器である。これにより、レーザビームの線幅を細くでき、測定可能な距離を長くできるとともに、小型かつ長寿命にできる。 （もっと読む）

【課題】回転機構のランアウトに対してロバストで、且つ、基準球表面の疵や埃の影響を受け難くい追尾式レーザ干渉計。
【解決手段】追尾式レーザ干渉計において、固定配設された基準球２１２、基準球の中心を中心として回動するようにされたキャリッジ２１４、キャリッジ上に設けられたレトロリフレクタの変位に応じた変位信号を出力するレーザ干渉計２１６、基準球と変位計との相対的な変位に応じた変位信号を出力する変位計２１８、２１９、変位計が出力する変位信号、レーザ干渉計が出力する変位信号とから基準球のレトロリフレクタの変位を算出するデータ処理装置２５０、レトロリフレクタからレーザ干渉計に戻ってくるレーザビームが、その光軸と直交する方向にずれたとき、そのずれ量に応じた位置信号を出力する位置検出手段２３８と位置検出手段からの位置信号に基づいて、ずれ量がゼロになるようにキャリッジの回動を制御する制御手段２５２とを備える。 （もっと読む）

本発明は、ライダーシステムを使用して、特に航空機上で使用して、乱気流を測定する方法に関し、該方法では予め定めた波長の拡張パルスレーザービーム(12)を空間領域に向けて放射し、その空間領域からの後方散乱光を受信する。レーザーパルス（L）を放射後の第１の時点t1と第２の時点t2において後方散乱光の断面内の強度分布を測定し、両方の強度分布の比較によって、時点t1およびt2で画定される測定フィールド内の乱気流を決定する。スペックルパターン画像はカメラ(21、22)を利用して記録する。評価ユニット(30)は、乱気流を視覚化し、モニター(35)上に表示するために相互相関を実施する。 （もっと読む）

【課題】例えばレーザ光の干渉成分等の信号レベルの低下を確実に検出して、その誤認識を防ぐことのできる簡易な構成の信号検出回路を提供する。
【解決手段】物理量の変化に応じて周波数が変化する信号を入力し、その周波数を分析して前記物理量を検出するものであって、互いに異なるヒステリシスレベルが設定された第１および第２のヒステリシスコンパレータと、これらの各ヒステリシスコンパレータの出力を比較して前記信号のレベル低下を判定する。例えば前記各コンパレータの出力を第１および第２のカウンタを用いてそれぞれ計数し、これらの計数値の比を予め設定した閾値と比較して信号レベルの低下を判定する。 （もっと読む）

【課題】 産業上において重要な分野で利用されているレーザ変位計について、レーザ干渉計を用いて動的線形性を正確且つ容易に計測し、評価できるようにする。
【解決手段】 金属棒の一端部に二重発射管から同心円上の２個の飛翔体を単独に、及び同時に又は微少な所定時間間隔で衝突させて金属棒内に弾性波パルスを発生させる。各飛翔体の衝突で発生した弾性波パルスが金属棒の他端部に到達したときに生じる端面の運動速度及びひずみを、評価対象となるレーザ変位計で計測する。また基準となるレーザ干渉計で計測し、計測信号を演算し、また適宜補正を行う。その演算結果とレーザ変位計の計測値を時間領域及び周波数領域で比較することによりレーザ変位計の動的線形性を計測し、評価を行う。 （もっと読む）

【課題】 半導体レーザ素子の自己結合効果を利用した状態検出装置であって、光分離素子や光アイソレータ等の特殊な光学素子を用いることなしに戻り光が直接受光素子に入射することを防ぎ、レーザ素子の出力光の強度を確実に検出することのできる簡易な構成の状態検出装置を提供する。
【解決手段】 レーザ素子の出力光を集光して検出対象物に照射すると共に、上記出力光の一部を側方に反射する集光レンズを、前記レーザ素子の出力光出射面に対してそのレンズ面を傾斜させて設け、この集光レンズレンズにて反射した前記出力光を受光する受光素子を、前記検出対象物により反射されて上記集光レンズを介して前記レーザ素子に入射する戻り光の光路を避けた位置に設ける。 （もっと読む）

オブジェクト（１５）及びセンサの動きを互いに対して相対的に測定するための相対的動きセンサであって、相対的動きセンサは、それぞれの測定ビームを生成し、オブジェクトを照明するための複数のレーザ（３，５）と、レーザ共振器における光波及びそれぞれのレーザ共振器に再入射する反射された測定ビーム放射の干渉によりもたらされる各々のレーザ共振器の動作における変化を測定するための複数の関連フォトダイオード（４，６）とを有する。複数のレーザ（３，５）は、レーザの副集合（即ち、１つ又はそれ以上）のみが何れかの一時点で動作され、残りのレーザは休止状態であるように、時間多重化されるように動作される。これは、ピーク電力損失を低減し、他のレーザの共振器に入射する一のレーザからの測定ビーム放射によりもたらされる間違った干渉を回避することができる。
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本発明は、干渉法による絶対距離測定の方法に関する。方法は、少なくとも１つの測定する目標物への周波数変調した電磁放射線、及び、ヘテロダインの混合を備えた放射線の受信で行なう。放射線は、基準の干渉長さを介して平行に案内される。目標物で散乱され戻る放射線の第１のデジタル化した干渉図形および基準長さで案内される放射線の第２のデジタル化した干渉図形が、受信器で受信される。第２干渉図形の位相曲線データから、仮想干渉図形又はその位相曲線を合成し、第１干渉図形の位相曲線データを仮想干渉図形の位相曲線データと比較して距離測定を行う。
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放射源からの電磁波を制御可能にチャープするためのシステム及び方法は、光共振器配列を含む。光共振器配列により、電磁波を実質的に線形のチャープレートで設定変更可能な周期で生成することができる。電磁波を光共振器に選択的に導入することにより、実質的に線形のチャープレートで周波数シフトされた信号共鳴モードを有して電磁波が生成される。単一共鳴モードを有する電磁波を生成することにより、電磁波のコヒーレンス長が増加する。これは、電磁波を種々のアプリケーションで実現する場合に有利となる。例えば、光共振器配列により生成された電磁波は、レンジ、速度、精度、及び／またはレーザレーダシステムの他の側面を向上させる。
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【課題】 対象物までの距離を高い精度で迅速に測定する。
【解決手段】 超短パルスファイバレーザ２２からのパルス光を光分岐器２４により参照光Ａと信号光とに分岐し、信号光についてはスキャニングミラー装置２８により対象物１０に照射してその反光である散乱光を受光し、参照光Ａについては光路長調整部３０により光路長を変更する。そして、光路長が変更された参照光Ａと散乱光Ｂとの干渉の程度を干渉信号として差動検出器４０により検出し、干渉信号が最大となる光路長に対応する光路長調整部３０の調整値からスキャニングミラー装置２８から対象物１０までの距離を演算することにより、対象物１０のパルス光が照射された位置のまでの距離を測定する。 （もっと読む）

本発明は、測定装置（１０）とターゲット（８）との間の区間（９）に応じて絶対距離値を測定する方法及び測定装置（１０）に関する。この場合、多数の個々の測定ステップが、絶対距離値を測定する絶対距離測定器（１）によって実施される。これらの個々の測定ステップと少なくともほぼ同時に、測定装置（１０）とターゲット（８）との間の距離変化も、相対距離測定器（２）によってその都度測定され、この距離変化が、絶対距離を算定するために考慮される。特にフィゾー法にしたがって、絶対距離値を測定するため、多数のサンプリングステップによる反復法が使用される。この場合、出力値（Ａ）が、各サンプリングステップで入力値（ｆ_n ，ｆ_n+1 ，ｆ_n+2 ，．．．）から生成されて測定され、この出力値（Ａ）は、入力値（ｆ_n ，ｆ_n+1 ，ｆ_n+2 ，．．．）及び距離に依存する。この場合、サンプリングステップと後続するサンプリングステップとの間で生じる距離変化が、その都度測定され、後続するサンプリングステップに対する入力値（ｆ_n+1 ，ｆ_n+2 ，ｆ_n+3 ，．．．）の算定時にこの距離変化を校正するために使用される。 （もっと読む）

本発明のいくつかの実施態様にしたがって、個体を遠隔的にモニターするシステムおよび方法。特に、該個体の一つまたはそれ以上の生理学的機能と身体的活動力、またはそれらの何れかをモニターすることができる。該個体をモニターするために、該個体の一つまたはそれ以上の表面（すなわち、皮膚、衣類、唇など）上の一つまたはそれ以上の点に対する距離と距離の変化の速度、またはそれらの何れかを時間を通して測定することができる。該個体の表面上の点の距離と距離の速度、またはそれらの何れかの測定に基づいて、該個体の一つまたはそれ以上の生理学的機能と身体的活動力またはそれらの何れかをモニターすることができる。これは生理学的機能と身体的活動力またはそれらの何れかを該個体に接近したり、近傍に配置したりすることなしに遠隔的にモニターすることを可能にしている。 （もっと読む）