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国際特許分類[G01B5/008]の内容

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国際特許分類[G01B5/008]に分類される特許

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【課題】被験者に抵抗感を与えることがなく、測定作業の効率化および測定精度の向上に資することが可能な三次元位置測定用マーカを提供する。
【解決手段】被験者104の身体の所定の部位に取り付けられ、各部位の三次元位置を測定する三次元位置測定器102のプローブ108の接触を受ける三次元位置測定用マーカ100であって、平板状の基部と、基部の表面の中央に形成された凹部112とを備える。 (もっと読む)


【課題】多関節型測定アームに測定誤差要因となるストレスがかからない測定姿勢を維持させる。
【解決手段】測定アームの各関節の角度に基づき、1)測定アームの第1リンクと第2リンクがなす角度が所定値を超えて180°に近づいた、2)手首関節からアーム支点への距離が所定値を超えて遠くなった、3)バランサーにより発生される力に基づいて定められる所定範囲を超えて第2リンクが曲げられた、のいずれかの条件が成立した場合、ユーザへの警告を行ない、専用プロセッサからの空間座標値の出力を中止する。 (もっと読む)


【課題】常に高精度な補正パラメータを算出できる三次元測定機を提供する。
【解決手段】三次元測定機を構成する補正パラメータ算出装置10は、測定子211Aに当接する当接面611を有し、当接面611に測定子211Aが当接することで測定子211Aの中心を回転中心とする回転変位を拘束することなく測定子211Aの並進変位を拘束する拘束手段6と、駆動機構の動作を制御してプローブを移動させることで、当接面611に近接する方向に測定子211Aを移動させる移動制御手段と、プローブの移動量、及び駆動機構の移動量を取得する情報取得手段と、情報取得手段にて取得されたプローブ21の移動量、及び駆動機構の移動量に基づいて、補正パラメータを算出する補正パラメータ算出手段とを備える。当接面611は、測定子211Aが当接した際に測定子211Aと1点で点接触する。 (もっと読む)


【課題】高い正確度、高い信頼性および耐久性、相当な
使い易さ、ならびに低コストを有する間接式アームを提供する。
【解決手段】関節式アームCMM1は、複数の伝達部材20と、少なくとも2つの伝達部材20を互いに接続する複数の関節部材30〜36と、遠端における座標取得部材50と、近端におけるベース10とを備える。関節部材30〜36の少なくとも2つは、少なくとも1つのエンコーダを備えることが可能であり、少なくとも2つのエンコーダは、ともに、単一のモノブロックハウジング内に収容されることが可能である。 (もっと読む)


【課題】定常状態で測定が行えるとともに、複数の断面形状が直接測定できる断面形状測定方法を提供すること。
【解決手段】 接触式のプローブ17を用いてワーク30の複数の測定位置S1,S2,…での断面形状F1,F2,…を測定する断面形状測定方法であって、測定位置S1,S2,…を通りかつワーク30を一巡する経路に沿ってプローブ17を移動させる際に、プローブ17を測定対象物の一周分である測定区間Enに所定の重複区間である加速区間Eaおよび減速区間Edだけ長い距離を加えて移動させるとともに、次の測定位置へとプローブ17を移動させる際の変移経路Emとし、プローブ17の移動方向を断面形状が隣接する連続方向Lに対して傾斜させて重複区間分を相殺する。 (もっと読む)


【課題】検出部を被検物に対して移動させて測定位置毎に停止させて測定する場合の測定速度を向上させることができる形状測定装置を提供する。
【解決手段】形状測定装置は、被検物に対しての相対位置が変更されて被検物の表面の形状を検出する検出部(20)と、検出部により検出された被検物の表面の形状の変位を示す情報に基づいて、被検物に対して検出部が相対的に静止しているか否かを判定する判定部(静止判定部58)と、判定部により検出部が相対的に静止していると判定された場合の形状に基づいて、被検物の表面の形状データを算出する算出部(座標算出部53)と、を備える。 (もっと読む)


【課題】座標測定装置を用いて一連のワークピースを測定して検査するに際し、迅速かつ高速度に測定を実施しつつも、正確な測定結果を得ることを可能にする。
【解決手段】座標測定装置上で較正済み加工品を高速測定する工程(28)と、較正済み加工品と測定された加工品との間の差に対応する誤差マップを生成する工程(30)と、続くワークピースを同じ高速度で測定する工程(34)と、当該続くワークピースの測定値を誤差マップを用いて補正する工程(36)と、を実行するよう座標測定装置を構成する。加工品とは、ワークピースの一つであってもよい。 (もっと読む)


【課題】装置の高コスト化を抑えながら、被検面の形状を高精度に計測することができる技術を提供する。
【解決手段】被検物を保持する保持面を含む保持部と、被検面と被検面の形状を計測するための基準となる基準位置との間の距離を計測する距離計測部と、基準位置が被検面に沿うように距離計測部を駆動する駆動部と、駆動部によって駆動される距離計測部の基準位置を測定する位置測定部と、距離計測部によって計測された被検面と基準位置との間の距離と位置測定部によって測定された基準位置とに基づいて被検面の形状を算出する処理部と、を有し、位置測定部は、距離計測部に配置されて互いに異なる測定軸を有するレーザ干渉計と、レーザ干渉計のそれぞれからの光をそれぞれ反射する基準ミラーとを含み、レーザ干渉計の原点と基準ミラーとの間の距離を測定することで基準位置を測定し、基準ミラーの法線が保持面を含む面に交差するように配置される。 (もっと読む)


【課題】制御性能を向上させる制御装置、および測定装置を提供する。
【解決手段】駆動制御回路3は、測定子を変位させる駆動機構25を駆動制御し、駆動機構25に流れる電流を検出する電流検出センサ27と、駆動機構25を駆動させる駆動速度に応じた目標電流を設定する速度制御部32と、目標電流および電流検出センサ27により検出された検出電流の電流偏差に、積分ゲインおよび比例ゲインをかけて駆動機構25に出力する出力電流を設定する電流制御部33と、を具備し、電流制御部33は、駆動機構25の駆動速度に応じて、積分ゲインおよび比例ゲインのうちの少なくともいずれか一方を切り替える。 (もっと読む)


【課題】JIS B 7440−2に関する三次元座標測定機の寸法検査(目盛校正)の簡易検査と同時にJISB 7440−5に関するマルチスタイラスの簡易検査およびそれぞれのスタイラスまたは方向性の相関の評価も行える三次元座標測定機簡易検査用ゲージを提供する。
【解決手段】三次元座標測定機簡易検査用ゲージ1は、基台3と、前記基台3上に設けられる半球状の本体4と、それぞれ一方の端部に保持具6を介して球体7が取り付けられ、もう一方の端部が前記本体4に固定される複数本のシャフト5からなり、該複数本のシャフト5(5−1〜5−9)のうち、1本のシャフト5−9は前記本体の極から鉛直方向に延びるように取り付けられ、残りのシャフト5−1〜5−8は平面視したときに隣のシャフトと一定の角度をなすように且つ斜め上方向に延びるように取り付けられている。 (もっと読む)


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