【課題】検査者の慣れの必要なしにブロンジングを容易に検査することのできる画質検査方法および装置を提供する。
【解決手段】印刷が施された被検査印刷媒体（１）を少なくとも一部に入射光を正反射する部材（２）が設けられた保持部材（２）に重ねて配置し、正反射する部材（２）への光源の写り込みの位置により被検査印刷媒体（１）の検査対象領域を特定し、光源（３）からの光の入射に対して正反射となる方向から検査対象領域を検査する。 （もっと読む）

【課題】被試験物に結露する結露量を安定して制御することができる環境試験装置を提供することを課題とする。
【解決手段】環境試験装置１００は、結露検出器８と調節器４を有している。結露検出器８は、受光部８２が受光する反射光量の変化で被試験物Ｗ自体の結露状態を検出し信号を出力する。また、調節器４の演算部４５は、結露検出器８からの信号と腐食状態評価データとを照合し被試験物Ｗの結露状態を判断する。そして、被試験物Ｗの結露状態に基づいて、調節器４の制御部４２が温湿度発生器３を制御する。 （もっと読む）

既知の強度の光でシーンを照らすための光源と、照射する既知の強度の光からシーンによって反射される光に応じてシーンを結像する光軸および光心を有するカメラと、カメラによって結像されるシーンの面要素までの距離を決定するように制御可能なレンジファインダと、カメラからの面要素の距離、照射する光の既知の強度、およびカメラによって結像される面要素からの光に応じてカメラによって結像されるシーンの面要素の反射率を決定するように構成uされたコントローラとを備える撮像システム。
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【課題】反射グレアの発生を、反射グレアの発生源であるディスプレイにおいて検出する反射グレア検出技術を提供する。
【解決手段】反射グレア検出装置１００は、ディスプレイに入射する外光の大きさＰ１を測定する第１の光センサ１０と、ディスプレイ表示部のフロントパネルを透過する外光の大きさＰ２を測定する第２の光センサ１１と、光の強度Ｐ１、Ｐ２と、フロントパネルの光の透過率μ_１から、ディスプレイで反射される外光の反射光の量Ｐrの推定値を算出する反射光量推定手段２０と、反射光量推定装置２０で推定した外光の反射光量Ｐrと、予め設定した閾値Ｓ１とを比較して、反射光量Ｐrが、閾値Ｓ１より大きい場合に、ディスプレイにおいて、外光による反射グレアが発生していると判定する反射グレア発生判定装置３０と、を有して構成されている。 （もっと読む）

【課題】材料の損失や劣化を伴うことなく、溶融状態での相変化膜の光学特性を正確に測定可能な光学特性測定装置を提供する。
【解決手段】薄膜試料１０７は、固体相から溶融相に相変化する相変化膜と、相変化膜に積層された保護膜とを有している。ヒーター１０８は、薄膜試料１０７を、中心部分と周辺部分とに温度差を与えるように加熱する。薄膜試料１０７内の相変化膜は、測定用ビーム１１３の光の径よりも大きな領域が溶融相に相変化し、周辺部分は固定相に保たれる。 （もっと読む）

マイクログロスは、ターゲット表面領域から光がどのくらい反射するかを示す新規な二次元表現である。マイクログロスを測定するシステムおよび方法は、表面の外観が重要になる様々な製品の反射特性を示すデータを算出することができる。これらの製品は、紙、プラスチック、およびセラミックを含む。マイクログロス特性は、製紙におけるスーパーカレンダリングプロセスを制御するためのパラメータとして使用することができる。製品を等級分けするのに、マイクログロス特性を標準グロスとともに使用することができる。 （もっと読む）

【課題】シリコン半導体薄膜の結晶性の評価を迅速かつ正確に行うことができるシリコン半導体薄膜の結晶性評価装置を提供すること。
【解決手段】励起光レーザ３と、赤外光レーザ４と、赤外光の波長よりも小さな直径の小孔６ａを有し、当該小孔６ａの一方の開口に照射された赤外光を、当該孔６ａの他方の開口から滲み出る近接場光Ｌ１としてシリコン半導体薄膜２ｂに照射することが可能な金属膜６と、赤外光レーザ４から放射された赤外光のうち孔６ａの他方の開口の手前側で反射された反射光の強度を検出してその検出信号を出力する光検出器２３と、前記検出信号に基づいて薄膜２ｂの結晶性を評価するためのデータを作成する信号処理装置２６とを備えている。 （もっと読む）

【課題】光透過性を有する基材の厚み寸法のバラつきに伴い結晶性評価精度が悪化するのを抑制することができる半導体薄膜の結晶性の評価方法を提供する。
【解決手段】シリコン半導体薄膜の所定の照射領域にキャリア励起光を照射する励起レーザ１と、赤外光を放射する半導体レーザ１０と、半導体レーザ１０に対し強度変調された電流を供給することにより、当該半導体レーザ１０に波長の異なる複数種の赤外光を照射させることが可能な高周波パルス電源１８と、シリコン半導体薄膜５ａ又は基材５ｂにおいて反射された反射光であって、前記複数種の赤外光のうちの少なくとも２種の赤外光を含む反射光の強度を検出してその検出信号を出力する光検出器１３と、前記検出信号に基づいて前記シリコン半導体薄膜５ａの結晶性を評価するためのデータを作成する信号処理装置９とを備えている。 （もっと読む）

【課題】試料の耐擦傷性，防眩性，反射防止性を測定する。
【解決手段】 試料１１の一部に擦傷領域を形成する。試料１１をステージ１２にセットする。ステージ１２をステージ移動機構１４で移動させ、試料１１または反射率既知の基準反射板１３を測定位置選択的に位置させる。投光器１５は、平行光を検査光として入射角θ１で試料１１または基準反射板１３に照射する。受光器１６によって、基準反射板１３の正反射光と試料１１の非擦傷領域の正反射光を測定して試料１１の反射率を求める。また、測定位置を中心に所定の角度範囲で受光器１６を回動させて試料１１の擦傷領域と非擦傷領域をそれぞれ測定し、それらの測定結果から耐擦傷性を示す値と、防眩性を示す値とを求める。 （もっと読む）

【課題】汚れ検出用のセンサの数を制限しながらも、光学窓に付着した微細物まで検出することができる光学窓汚れ検出装置を提供する。
【解決手段】光学窓１０２が設けられたケーシング１０１に、投光部３と、投光部３から出力された測定光を光学窓１０２を通して測定対象空間に偏向走査する走査機構４と、対象物からの反射光を光学窓１０２を通して検出する受光部５が収容されている走査式測距装置の光学窓汚れ検出装置であって、光学窓１０２の外側に光学窓１０２に沿って複数の反射式光電センサ１を設けるとともに、光学窓１０２を通過した反射式光電センサ１からの検出光を反射式光電センサ１に向けて反射する再帰性反射部材２を走査機構４に取付けている。 （もっと読む）