【課題】インピーダンス素子の両側に２つのコンデンサがデルタ型又はπ型に接続されてなり、基板に内蔵されるコンデンサ回路内の各コンデンサの容量を、コンデンサを回路に接続したままの状態で、簡易な装置構成により、正確かつ容易に測定できるコンデンサ容量測定方法を提供する。
【解決手段】第１の測定段階では、両コンデンサＣ１，Ｃ２を並列接続したときの両コンデンサＣ１，Ｃ２の合成容量を測定する。第２の測定段階では、両コンデンサＣ１，Ｃ２の容量比を測定する。算出段階では、第１の測定段階で測定された合成容量と、第２の測定段階で測定された容量比とに基づいて、両コンデンサＣ１，Ｃ２の容量をそれぞれ算出する。 （もっと読む）

【課題】信頼性が高い検査結果を得ることができる検査治具を提供すること。
【解決手段】検出電極１０２を有する静電容量センサーシート１００の検査をするために検出電極１０２に接続される検査装置に適用される検査治具１０であって、静電容量センサーシート１００との間に空気層を生じさせる凹部１３を有し静電容量センサーシート１００が載置される載置台１１と、凹部１３内に設けられ、載置台１１に載置された静電容量センサーシート１００の厚さ方向からみたときに検出電極１０２と重なる位置で静電容量センサーシート１００を支持する柱状部１５と、検査装置と電気的に接続され柱状部１５との間に検出電極１０２が挟まれるように静電容量センサーシート１００に押し当てられる押し子１７と、静電容量センサーシート１００の厚さ方向の一方の表面を柱状部１５に密着させる密着手段と、を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】単位時間当たりの測定数を向上させた電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】
第１及び第２回転テーブル（１１，５１）と、第１及び第２回転駆動手段（１７，５７）と、第１及び第２プローブ（２０，６０）と、第１及び第２進退駆動手段（２３，６２）と、測定手段（８０）と、制御手段（８２）と、を有し、第１前進開始動作（Ｍ１３）より後であって第１前進完了動作（Ｍ１４）より前に第１回転停止動作（Ｍ１２）が行われ、第１後退開始動作（Ｍ１５）より後であって第１後退完了動作（Ｍ１６）より前に第１回転開始動作（Ｍ１１）が行われ、第２前進開始動作（Ｍ２３）より後であって第２前進完了動作（Ｍ２４）より前に、第２回転停止動作（Ｍ２２）が行われ、第２後退開始動作（Ｍ２５）より後であって第２後退完了動作（Ｍ２６）より前に第２回転開始動作（Ｍ２１）が行われる電子部品特性測定装置。 （もっと読む）

【課題】測定値に対する演算処理を行うことのできる測定装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置１は、予め設定された測定条件に基づく複数の測定処理を、所定の順序で測定部２に実行させる測定制御手段と、測定条件に従って測定部２が測定した測定値を使用して、タッチパネル１０に表示されている、演算式入力設定窓２３の入力操作領域２３ａを操作して、予め設定された演算式表示領域２３ｂに表示されている演算式で演算を行う演算手段とを備えるものである。 （もっと読む）

【課題】オフセット調整用キャパシタのダイナミックレンジを拡大することができる静電容量検出回路の提供。
【解決手段】この発明は、駆動回路１と、オフセット調整用キャパシタＣｃと、容量電圧変換回路２とを備えている。駆動回路１は、可変電圧源１５ａ、１５ｂ、１６ａ、１６ｂを含んでいる。オフセット調整用キャパシタＣｃは、駆動回路１の出力端子１４と容量電圧変換回路２の入力端子１との間に接続されている。被測定キャパシタＣｓは、駆動回路１の出力端子１３と容量電圧変換回路２の入力端子１との間に接続される。容量電圧変換回路２は、被測定キャパシタＣｓの静電容量と、オフセット調整用キャパシタＣｃの静電容量との差に応じた電圧を出力する。 （もっと読む）

【課題】被測定キャパシタの測定精度の向上が図れる静電容量検出回路の提供。
【解決手段】この発明は、駆動回路１と、オフセット調整用キャパシタＣｃと可変抵抗Ｒｃとを含む可変調整回路４と、容量電圧変換回路２と、制御回路５と、メモリ６と、を備えている。容量電圧変換回路２は、被測定キャパシタＣｓの静電容量と、オフセット調整用キャパシタＣｃの静電容量との差に応じた電圧を出力する。制御回路５は、可変抵抗Ｒｃの抵抗値及びオフセット調整用キャパシタＣｃの静電容量を調整する。メモリ６は、制御回路５で調整後の可変抵抗Ｒｃの抵抗値及びオフセット調整用キャパシタＣｃの静電容量値を記憶する。 （もっと読む）

【課題】運用中の電力用機器の電磁操作機構に使用されるコンデンサによる駆動に支障を与えずに、定期的にコンデンサの容量測定が可能なコンデンサ容量測定装置及びコンデンサ容量測定装置を備えた電力用機器を提供することを目的としている。
【解決手段】コンデンサ容量測定装置１は、コンデンサ２に充電する充電回路３と、充電エネルギを放電させるためコンデンサ２に並列に接続され、放電抵抗５及び放電スイッチ４とにより構成される放電回路６と、放電時のコンデンサ電圧低下を測定するためコンデンサ２に並列に接続された抵抗分圧回路９と、充電回路３にコンデンサ２への充電の停止指令及び放電回路６の放電スイッチ４に導通指令を出すとともに抵抗分圧回路９の分圧点Ａの電圧Ｖａからコンデンサ２の容量を算出するコンデンサ容量算出回路１０とから構成されている。 （もっと読む）

【課題】曲線的充放電特性の電気二重層キャパシタにおいて、内部抵抗Ｒ及び静電容量Ｃを測定する方法及び装置を提供する。
【解決手段】
計測された端子電圧Ｖ、充電時間ｔ_ｃｈ及び放電時間ｔから、充電時の電荷Ｑ_ｃｈと放電時の電荷Ｑとの差ΔＱと、放電時に端子から放出される放出エネルギーＷと、を算出し、ΔＱと、放出エネルギーＷと直線的放電特性の放出エネルギーＷ_０との差である乖離エネルギーΔＷと、の算定式から内部抵抗Ｒを解析的に求め、算出された内部抵抗ＲとΔＱとから、電気二重層キャパシタの静電容量における電圧に依存する成分αＶ_ｃの電圧係数αを算出し、算出された内部抵抗Ｒと電圧係数αとから、静電容量Ｃを算出する。 （もっと読む）

【課題】簡便且つ精度良く絶縁性材料の誘電率を測定する方法を提供すること。
【解決手段】本発明に係る誘電率の測定方法は、極性基の含有率と誘電率とが既知である標準材料を用いて作成された、極性基の含有率と誘電率との関係を示す検量線を準備する工程と、絶縁性材料の近赤外吸収スペクトルを用いて絶縁性材料における極性基の含有率を求める工程と、得られた絶縁性材料における極性基の含有率と検量線とを照合することにより絶縁性材料の誘電率を求める工程とを備えている。 （もっと読む）

【課題】本発明は、特別な装置を用いずに、微細素子の容量を直接測定することができる容量測定回路、半導体装置および容量測定方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る容量測定回路１は、少なくとも１つの第１リングオシレータ（測定用リングオシレータ４）と、第１周辺回路部（測定用周辺回路部５）と、第２リングオシレータ（参照用リングオシレータ６）と、第２周辺回路部（参照用周辺回路部７）とを備えている。第１リングオシレータおよび第２リングオシレータに電力を供給する電源と、第１周辺回路部および第２周辺回路部に電力を供給する電源とは異なる。容量測定回路１は、第１出力信号の周波数および第１リングオシレータに流れる電流値より算出した第１容量から、第２出力信号の周波数および第２リングオシレータに流れる電流値より算出した第２容量を差引くことで測定対象の容量を測定することができる。 （もっと読む）