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国際特許分類[G02B21/06]の内容

物理学 (1,541,580) | 光学 (228,178) | 光学要素,光学系,または光学装置 (130,785) | 顕微鏡 (4,815) | 試料照明のための手段 (1,057)

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【課題】 吸収率が低く、超高波数を高効率で伝達できる、超高波数伝達素子を提供する。
【解決手段】 本発明に係る超高波数伝達素子100は、等周波数曲線の傾きが互いに相補的である少なくとも2つの異方性媒質101,102を有し、超高波数を伝達するように2つの各異方性媒質101,102を積層してなることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】走査型顕微鏡において、低ノイズの画像を高速で取得する。
【解決手段】走査型顕微鏡は、光源ユニット、第1の走査手段114a、第1の光制限体115a、および光量検出器118を有する。光源ユニットは試料に照射する照射光を第1、第2の出射点から出射する。第1の走査手段114aは照射光の偏向方向を変える。第1の光制限体115aは照射光を通過させる複数の孔部115asを有する。光量検出器118は試料への照射により生じる信号光の受光量を検出する。第1の走査手段114aは走査点を照射光の偏向方向を変えることにより第1の走査方向に沿って移動可能である。複数の孔部115asは、第1の走査手段114aによる偏向方向の連続的な変化に応じて、第1、第2の出射点から出射された照射光が異なる時期に孔部115asを通過するように、配置される (もっと読む)


【課題】
観察方法の切換え時の光軸上に対する素子の挿脱操作を1回でも少ない回数で行える操作性のよい顕微鏡を提供する。
【解決手段】
コンデンサレンズ5Eにおいて、ターレット24にはDICプリズム20とRCスリット21のみを搭載し、照明光軸L1上の位置でその上方に、DIC観察用ポラライザ23とRC観察用ポラライザ22との機能を共用する1個の共用ポラライザ34を配置させたものである。この共用ポラライザ34は、モータ43を利用した電動制御で自動的に、RC観察用ポラライザ22用の第1の振動方向の位置(角度)とDIC観察用ポラライザ23用の第2の振動方向の位置(角度)とを記憶させ、記憶させた第1または第2の振動方向の位置を選択的に再現保持可能に構成されている。 (もっと読む)


【課題】走査型顕微鏡において、低ノイズの画像を高速で取得する。
【解決手段】走査型顕微鏡は、光源ユニット120、対物レンズ115、スキャナユニット114、ピンホールアレイ113、光学的分離器112、光量検出器116、および位置検出システム117を有する。光源ユニット120は光パルスを複数の出射点から順番に繰返し出射する。対物レンズ15は光パルスを試料上に結像させる。スキャナユニット114は対物レンズにより結像された光パルスを試料に走査させる。ピンホールアレイ113は試料に反射された反射光および蛍光の少なくとも一方の結像位置にピンホールが形成される。光学的分離器112は反射光および蛍光の少なくとも一方を偏向させることにより透過光の光路から分離する。光量検出器116は反射光または蛍光の光量を検出する。位置検出システム117は照射光の照射位置を検出する。 (もっと読む)


【課題】第1及び第2の偏向素子を近づけて配置することができ、全体を小型化した走査型顕微鏡を提供する。
【解決手段】走査型顕微鏡10は、光源20と、対物レンズ36と、走査ユニット33と、を有する。この走査ユニット33は、第1〜第3の偏向素子33aから33cを有し、光源20側から入射した照明光を第1の偏向素子33a及び第2の偏向素子33bで反射して、この照明光により試料面50上を所定方向に走査するように第1及び第2の偏向素子33a,33bが配置されるとともに、第1及び第2の偏向素子33a,33bによる照明光の回転中心が、第1の偏向素子33aよりも光源20側、若しくは、第2の偏向素子33bよりも試料面50側に位置するように、第1及び第2の偏向素子33a,33bが回転し、さらに、この回転中心に反射面が位置し、試料面50上を所定の方向と略直交する方向に走査するように第3の偏向素子33bが配置される。 (もっと読む)


【課題】複雑な補償機構を設けることなく、群速度分散スロープによる光パルスの時間幅の広がりや波形崩れの影響を低減した高ピークパワーの短光パルスを対象物に照射できる、非線形光学装置を提供する。
【解決手段】非線形光学装置は、短光パルスを発生する短光パルス源10と、短光パルス源から発生した短光パルスを対象物に伝送するための短光パルス伝送系20とを備える。非線形光学装置内で発生する非線形光学効果が実質的に無く、該非線形光学装置内の群速度分散量が実質的に無く、短光パルス源から短光パルスが発生し、且つ、短光パルスのスペクトル幅(半値全幅)λFWHM が、λ<λFWHM<λを満たす。 (もっと読む)


【課題】簡単な光学調整および演算処理で高解像度の試料の画像を得ると共に、光軸方向に自由度を持たせた観察を行うことを目的とする。
【解決手段】本発明の顕微鏡装置1は、干渉性を有し、試料Sを励起させる励起光ELを発振するランプ光源2と、試料Sに励起光ELを照射したときに蛍光した戻り光RLを検出する撮像素子12と、励起光ELを平行光として試料Sに入射させる対物レンズ8と、対物レンズ8から直接的に入射する励起光ELと干渉させるための反射光を発生させる反射面9aを対物レンズ8の焦点Fの範囲内に配置して、反射面9aに試料Sを搭載した試料搭載部9と、を備えている。励起光ELにおいて直接光と反射光とを干渉させて定在波を発生させており、戻り光RLについても直接光と反射光とを干渉させている。これにより、分解能を高くすることができ、高解像度の画像を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】異なる波長の光を標本上に照射して得られた複数の画像について、その位置ずれを防止することができる顕微鏡を提供する。
【解決手段】レーザ光および照明光を標本Aに照射する対物レンズ31と、レーザ光が照射されることで標本Aから発せられる第1の観察光を検出する第1の検出光学系10と、照明光が照射されることで標本Aから発せられる第2の観察光を検出する第2の検出光学系20と、第1の観察光と第2の観察光とを分岐する複数の光学素子18aと、複数の光学素子18aを択一的に切り替える回転ターレット18bと、光学素子18aの切り替えによって発生する第1の観察光と第2の観察光との相対的な位置ずれに関する補正情報を記憶する記憶部32と、記憶部32に記憶された補正情報に基づいて第1の観察光と第2の観察光との相対的な位置ずれを補正する制御部33とを備える顕微鏡1を採用する。 (もっと読む)


【課題】被観察物に応じた好適な検出が可能な観察を実現する。
【解決手段】入射した光を第1の参照光と第1の測定光とに分岐する第1の分岐手段3と、被観察物に対して第1の測定光を斜入射照明する第1の照明光学系と、斜入射照明された被観察物からの透過光と第1の参照光とを合成する第1の合成手段4と、第1の参照光と被観察物からの透過光との第1の干渉光を検出する第1の検出手段16とを備えた透過型観察装置と、入射した光を第2の参照光と第2の測定光とに分岐する第2の分岐手段4と、被観察物に第2の測定光を照明する第2の照明光学系と、第2の参照光と被観察物からの反射光とを合成する第2の合成手段4と、第2の参照光と被観察物からの反射光との第2の干渉光を検出する第2の検出手段16とを備えた反射型観察装置とを備える。 (もっと読む)


【課題】撮像素子の露光時間を短縮でき、低倍率のレンズの使用や、観察対象の速い変化の撮影が可能な微弱光観察顕微鏡及び微弱光取得方法を提供する。
【解決手段】対物レンズ1aと結像レンズ1bと撮像素子1cとからなる結像光学系1を有し、結像光学系1を介して観察対象10から発せられる所定の微弱光を取得する微弱光観察顕微鏡であって、第2の対物レンズ2aと第2の結像レンズ2bと観察対象10と共役な位置に配置されるミラー2cとを有する光戻し用光学系2を、観察対象10に対して結像光学系1の反対側に有する。結像光学系1を用いて、観察対象10から第1の対物レンズ1aに入射する所定の微弱光を取得するとともに、光戻し用光学系2を用いて、観察対象10から結像光学系1とは異なる側に発せられた所定の微弱光を観察対象10に戻し、観察対象10から第1の対物レンズ1aに入射させる。 (もっと読む)


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