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国際特許分類[H01J49/40]の内容

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国際特許分類[H01J49/40]に分類される特許

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【課題】真空槽を大気解放することなく、且つ電気的な安全性を維持して、試料を大気側より真空槽の内部に装着することができる質量分析装置を提供する。
【解決手段】質量分析をするための分析管14aと、分析管14aの一端に接続された試料室フランジ71と、試料室フランジ71に接続された準備室フランジ73と、加速器のバックプレートとして機能する試料ステージ17と、試料ステージ17を搭載し、試料室フランジ71の内部と準備室フランジ73の内部との間を直線移動する絶縁スリーブ32と、試料ステージ17が準備室38に位置するとき、分析管14aと準備室38との真空状態を分離する第1シールリング36と、試料ステージ17が試料室27に位置するとき、分析管14aと大気との真空状態を分離する第2シールリング37と、試料ステージ17に着脱可能な試料ホルダ16とを備える。 (もっと読む)


【課題】 液体クロマトグラフからの溶離液を直接MALDIレーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計で連続的に行う。
【解決手段】 液体クロマトグラフ溶離液とイオン化支援薬剤を中空円錐キャピラー管内臓中空2重管によりサンプルプレート上のメッシュ枠内に同時に滴下する機構により、溶離液を連続的にMALDIレーザー脱離イオン化飛行時間質量分析することを可能とした。また飛行時間質量分析計のレーザー照射部にイオン引き出し・アインシェルパイプレンズ内臓対物レンズを用い、サンプルプレート上にレーザー光を数10μmに絞って照射することが可能で、これにより、溶離液スポット相互間の干渉を防止した。また本発明によれば液体クロマトグラフからの溶離液をほぼ全量分析に使うことができ、従来の液体クロマトグラフ質量分析装置に比べ著しく高感度を向上させる効果がある。 (もっと読む)


【課題】広い濃度範囲において信号成分とノイズ成分の比が高い飛行時間型質量分析装置を実現する。
【解決手段】判定部5はADC機能部4からの信号に基づいて、サンプルが数え落としの無い濃度範囲の場合には、スイッチ7、8をTDC機能部3側に設定し、TDC方式により信号処理を行う。判定部5は条件1(真の信号カウント数と計測カウント数との比が一定値以下となる場合)が成立する場合、若しくは条件2(リアルタイムに入射するイオン強度が大である場合)が成立する場合には、スイッチ7、8をADC機能部4側に切り替えて、ADC方式により信号処理を行う。 (もっと読む)


本発明の教示は、アイソバリック標識および親・娘イオン遷移モニタリング(PDITM)を用いて1つ以上のサンプルにおいて1つ以上のチロキシン化合物を分析するための方法を提供する。種々の実施形態では、この方法は以下の工程を包含する:(a)1つ以上のチロ キシン化合物を、1セットのアイソバリックタグ由来の異なるアイソバリックタグで標識する工程と;(b)このアイソバリックに標識されたチロキシン化合物の各々の少なくとも一部を合わせて、合わされたサンプルを生成する工程と;(c)この合わせたサンプルの少なくとも一部をPDITMに供する工程と; (d)伝送レポーターイオンの1つ以上のイオンシグナルを測定する工程と;(e)標準化合物の1つ以上の測定されたイオンシグナルとレポーターイオンの測定されたイオンシグナルとの比較に少なくとも基づくアイソバリックに標識されたチロキシン化合物の1つ以上の濃度を決定する工程。 (もっと読む)


【課題】周回軌道を形成するイオン光学系の空間収束条件を緩和することにより設計を容易にしながら、イオン透過効率等、必要な性能を十分に確保する。
【解決手段】イオン光学系の周回軌道が、時間収束条件として(t|x)=(t|α)=(t|δ)=0を満たし、空間収束条件として、−2<(x|x)+(α|α)<2、−2<(y|y)+(β|β)<2を満たすようにする(但し、(x|x)などは一般的なイオン光学系の表現形式において()内の記号の要素により決まる定数)。従来、空間収束条件として、(x|x)、(α|α)、(y|y)、(β、β)がいずれも±1である必要があったのに対し条件が大幅に緩和されることで、イオン光学系を構成する電極の形状等を決めるパラメータの自由度が広がる。 (もっと読む)


【課題】イオン移動度分析計を含む装置
【解決手段】第1のチャンバ(10)と第2のチャンバ(5)とを含むマススペクトロメータが開示される。第2のチャンバ(5)は、第1のチャンバ(10)の下流に位置し、2つのチャンバ(5,10)間には、チャンバ間アパーチャ(12)が提供される。第1のチャンバ(10)内には、イオンガイド(13)が位置し、第2のチャンバ(5)内には、イオン移動度分析計(6)が位置する。第1のチャンバ(10)に、ヘリウムガスが提供される。イオンは、比較的低圧の領域からイオン移動度分析計(6)に向かって加速されるに際し、先ず、第1のチャンバ(10)内に入る。第1のチャンバ(10)内に提供されるヘリウムガスは、イオンが比較的高圧の領域内へと加速される際のイオンフラグメンテーション効果およびイオン識別効果を最小限に抑える。イオンは、次いで、イオンガイド(13)によって伝送され、引き続き、第2のチャンバ(5)内に位置するイオン移動度分析計(6)へと伝送される。 (もっと読む)


本発明は、分析すべきイオンの質量-対-電荷比の公知の特徴的な関数を有する質量分析計で使用するためのタンデム質量分光測定方法であって、(a)分析すべき一次イオン供給源を用意する工程、(b)該一次イオンの、該一次イオンピーク出現を含む一次質量スペクトルを、解離を行わずに発生させる工程、(c)該一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値から、および該ピークに関連する電荷値から、該一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、特徴的な関数値の可能な全ての多重組が適合する必要がある相関法則を決定する工程、(d)一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンを同時に解離させ、該親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を得る工程、(e)該解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生させる工程、(f)該特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成する工程、(g)該潜在的な多重組の中から、該相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する工程、(h)それぞれ問題とする親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生する工程を含んでなる、方法を提案する。
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【課題】本発明はプロダクトイオンスペクトル作成方法及び装置に関し、イオンゲートにて各同位体ピークを選択し、MS/MS測定をすることができ、主要な同位体ピークを選択したMS/MSスペクトルを再構成し、1つのプロダクトイオンスペクトルを作成することにより、モノアイソトピックイオンのみを選択する場合と比較して、質量精度を落とすことなく、感度のよいスペクトルを得ることができるプロダクトイオンスペクトル作成方法及び装置を提供することを目的としている。
【解決手段】サンプルをイオン化するイオン源40と、イオンをパルス的に加速するための加速手段と、飛行時間型質量分析計と、特定の質量をもつイオンを選択するイオンゲート46と、選択したイオンを開裂させる手段47と、反射電場を含む反射型飛行時間型質量分析計と、反射型飛行時間型質量分析計を通過したイオンを検出する検出器49とを含んで構成される。 (もっと読む)


検出システムは、いくつかの従来型コンピュータ(1、2、3)を有し、それらのPCIスロット(18、19)に1つまたは2つのIMS検出器(20、21)が取り付けられる。検出器(20、21)のふるいパック(26、27)は、交換の間の期間を延長するためにそれを大きくできるように、検出器ケース自体の外部でコンピュータハウジング(10)の内部に取り付けることができる。検出器(20、21)の電力供給および少なくとも一部の処理は、コンピュータ(1、2、3)によって行われる。コンピュータ(1、2、3)は、有害物質の検出表示を遠隔地で行うことができるように、ネットワークシステム内に接続される。
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【課題】簡単な構造かつ低コストで不要イオンの入射がもたらす悪影響を回避することのできる飛行時間型質量分析方法および装置を提供する。
【解決手段】複数の積層電場で構成されたらせん軌道を用いてイオンの質量電荷比を測定する飛行時間型質量分析方法において、検出器の上流に置かれたイオンゲートにより、所定の質量電荷比を有するイオンのみを選択的に排除するようにした。 (もっと読む)


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