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国際特許分類[H01L21/306]の内容

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【課題】スルーホールの位置精度を向上させるとともに、スルーホール周辺の機械強度を高めること。
【解決手段】スルーホールの形成方法では、シリコン基板101の第1の面においてスルーホールが形成される領域の周囲に、シリコン基板101よりも不純物濃度が高い第1の不純物領域102aを形成し、シリコン基板101の深さ方向において第1の不純物領域102aに隣接する位置に、第1の不純物領域102aよりも不純物濃度が高い第2の不純物領域102bを形成する。そして、前記第1の面の上に、エッチングストップ層103を形成し、シリコン基板101の前記第1の面に対向する第2の面の上に、開口部を有するエッチングマスク層104を形成する。そして、前記開口部を通して、少なくともエッチングストップ層103が露出するまで、シリコン基板101をエッチングする工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】エッチング液から高い除去率でケイ素化合物を除去することができ、エッチング液を処分することなく再利用する。
【解決手段】取り出されたエッチング液を霧化する霧化手段11と、霧化によって析出および/または凝集されるエッチング液中のケイ素化合物を、エッチング液から分離除去して再生エッチング液を得る分離手段12を備えている。また、エッチング液の温度調整を行う温度調整手段23を備えて、エッチング液が霧化手段11によって霧化されたときのケイ素化合物の析出および/または凝集を制御して分離手段12によるケイ素化合物のエッチング液からの分離除去が制御された残留濃度に調整し、ケイ素化合物濃度を任意に調整し得るようにしている。 (もっと読む)


【課題】複数の吐出口から処理液を吐出させて基板に対して所定の表面処理を行う際に、基板を支持部材に均一に押圧させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】2つのノズル3A,3Bが単一のノズルアーム31に装着される。このノズルアーム31が移動されてノズル挿入孔52A,52Bの各々にノズル3A,3Bが同時に挿入される。各ノズル3A,3Bには単一の吐出口301aが開口しているのみであり、ノズル挿入孔52A,52Bの開口部521を小さくすることができる。これにより、間隙空間SPに発生する気流の乱れが低減される。しかも、各ノズル3A,3Bは互いに同一形状に形成されるとともに各ノズル挿入孔52A,52Bが互いに同一形状に形成されているので、間隙空間SPに発生する気流に与える影響を均一にすることができる。 (もっと読む)


【課題】2回のマスク工程によるライン線幅の臨界寸法の不均一性を改善させることができる半導体素子の微細パターン形成方法の提供。
【解決手段】被エッチング層201上に第1エッチング阻止膜202を形成し、阻止膜上に第2エッチング阻止膜203を形成し、阻止膜上に第1犠牲膜を形成し、第1犠牲膜を選択的にエッチングして、第1犠牲パターンを形成し、第1犠牲パターンを含む阻止膜の上面に沿って第2犠牲膜209を形成し、第1犠牲パターンが露出するように、第2犠牲膜と、阻止膜とをエッチングし、第1犠牲パターンを除去し、第2犠牲膜と、阻止膜とをエッチングして、第2犠牲パターンを形成する。第2犠牲パターンをエッチングバリア層として、第1エッチング阻止膜をエッチングし、第2犠牲パターンと、第1エッチング阻止膜とをエッチングバリア層として、被エッチング層をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】基板の主面の全域に対し、均一にエッチング処理を行うことができる基板処理装置および基板処理方法を提供すること。
【解決手段】ウエハWの上面におけるフッ硝酸の着液点P1は、アーム支持軸を中心とする円弧形状(ほぼ直線状)のスキャン経路S1に沿って移動する。スキャン経路S1は、ウエハWの回転中心Cを通る円弧形状の軌道のうち、ウエハWの回転中心Cから微小間隔L1だけ隔てた近接位置S11と、この近接位置S11よりもウエハWの回転半径方向に設けられ、ウエハWの回転中心Cから間隔L2だけ隔てた離隔位置S12との間を結ぶ線分とみなせる。フッ硝酸の着液点P1は、近接位置S11と、離隔位置S12との間で往復移動する。フッ硝酸は、ウエハWの上面の回転中心Cおよび周縁領域には直接供給されない。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板の裏面における貫通穴の開口を小さく形成すると共に、貫通穴を効率良く形成する。
【解決手段】開口部7を有するエッチングマスク層6をシリコン基板1の裏面に形成する工程と、シリコン基板1の裏面からエッチングマスク層6の開口部7にレーザ光を照射してシリコン基板1の内部に変質層8を形成する工程と、シリコン基板1の裏面からエッチングマスク層6の開口部7にレーザ光を照射してシリコン基板1の裏面からシリコン基板1の表面まで貫通しない複数の先導孔9を形成する工程と、先導孔9及び変質層8が形成されたシリコン基板1に異方性エッチングを施してシリコン基板1の表面まで貫通する貫通穴としてのインク供給口11を形成する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】マスクの品質を向上させ欠陥を防止するとともに、マスクの生産性を向上させることができるマスクの製造方法およびマスク製造装置を提供する。
【解決手段】原子層堆積法を用い、基板S上にマスク材料の原子を堆積させて原子層堆積膜Aを形成する第一工程と、基板S上の原子層堆積膜Aを選択的に酸化または窒化する第二工程と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】内面の断面形状が略楕円形に形成された処理液供給ノズルを、簡単かつ安価に製造することができる処理液供給ノズルの製造方法を提供すること。
【解決手段】加熱ステップでは、チューブ20の端部21が加熱され(図A参照。)、チューブ20の端部21が軟化する。挿入ステップでは、軟化したチューブ20の端部21の内部に、整形用治具22が挿入される(図B参照。)。整形用治具22の挿入により、チューブ20の端部21が、整形用治具22の挿入により、チューブ20のうち整形部27の両側の側辺側辺27A,27Bと当接する部分は拡げられ、それ以外の部分がチューブ20の弾性力により狭められる。冷却ステップでは、チューブ20の端部21にスプレー状の冷却剤が吹き付けられて(図C参照。)、チューブ20の端部21が急冷される。 (もっと読む)


【課題】円形基板を加圧された気体と処理薬液を混合し吐出させて洗浄処理において、基板面内を均一に洗浄する基板処理方法を提供する。
【解決手段】加圧された気体と薬液を混合し、ミストを形成する2流体ノズルを用いて、パターン形成された基板にミストを吐出する処理を行うことで、基板上のパーティクルを除去することができる。その基板処理において、2流体ノズル移動速度vの基板動径成分vrが、基板中心からの距離rに反比例するように設定することで、基板面内において、単位面積あたりの洗浄走査時間のばらつきを低減し、洗浄ばらつきを低減する。 (もっと読む)


半導体およびMEMSデバイスの製造におけるウェットエッチング処理で用いる新規保護被膜層を提供する。この層は、プライマー層、第1の保護層、および所望により第2の保護層を含む。プライマー層は、好ましくは溶媒系にオルガノシラン化合物を含む。第1の保護層は、スチレン、アクリロニトリルから調製される熱可塑性コポリマー、ならびにエポキシ基を含む、モノマー、オリゴマー、ポリマー;ポリ(スチレン−共重合−アリルアルコール);およびこれらの混合物等の相溶性化合物を含む。第2の保護層は、加熱時に架橋してもしなくてもよい塩化ポリマーのような高度にハロゲン化したポリマーを含む。 (もっと読む)


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