説明

国際特許分類[H01L21/3213]の内容

国際特許分類[H01L21/3213]に分類される特許

31 - 40 / 611


【課題】 シリコン基板を貫通するビアホールの形成時におけるノッチの発生を抑制することができ、製造歩留まり及び信頼性の向上をはかる。
【解決手段】 シリコン基板貫通電極を有する半導体装置の製造方法であって、表面側に機能素子と配線層15が形成され、且つ配線層15の下層にエッチング停止層12を有するシリコン基板10の表面側に支持基板30を取着した後、基板10の裏面側を研削して厚みを減少させる。次いで、基板10の裏面側に、ビアホール用開口及び該開口よりも小径のダミーホール用開口を有するマスクを形成した後、基板10の裏面側からエッチングすることにより、配線層15の一部に達するビアホール42を形成すると共に、基板10の途中までダミーホール43を形成する。次いで、ビアホール42の側面に絶縁膜44を形成した後、ビアホール42内に配線材料を形成する。 (もっと読む)


【課題】高い表示品位を有する表示装置用の薄膜トランジスタ基板およびこれらを生産効率よく実現することができる製造方法を提供する。
【解決手段】基板1上の複数の部分に配設された半導体膜2と、半導体膜2上に、該半導体膜2と接し互いに離間して配設されたソース電極およびドレイン電極4と、半導体膜2、ソース電極3およびドレイン電極4を覆うゲート絶縁膜6と、ゲート絶縁膜6を介して、ソース電極3およびドレイン電極4の間に跨るように配設された、ゲート電極7とを有した薄膜トランジスタ201と、半導体膜2上に、該半導体膜と接して配設された補助容量電極10と、下層に半導体膜2を有してソース電極から延在するソース配線31と、ゲート電極7から延在するゲート配線71と、ドレイン電極4に電気的に接続された画素電極9と、隣り合う画素の補助容量電極10どうしを電気的に接続する、補助容量電極接続配線12とを備えている。 (もっと読む)


【課題】レジスト膜の厚みを比較的小さくしてかつオーバーエッチングするパターン状金属膜の製造方法において、所望パターンの金属膜を安定的に製造することができる製造方法を提供する。
【解決手段】金属膜上にパターン状のレジスト膜を形成する工程(A)、前記金属膜をエッチングする工程(B)を順次有するパターン状金属膜の製造方法であって、前記レジスト膜は厚みが5μm以下でかつ鉛筆硬度がB以下であり、前記工程(B)において前記レジスト膜の線幅100%に対してパターン状金属膜の線幅が80%以下となるようにオーバーエッチングする、パターン状金属膜の製造方法。 (もっと読む)


【課題】微細なパターンと比較的サイズが大きめのパターンとを有するパターン形成方法で、サイズが大きめのパターンを従来に比して精度良く形成することができるパターン形成方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、加工対象上の芯材膜31に開口を形成した後、マスク膜32をコンフォーマルに形成する。マスク膜32をエッチバックして芯材膜31の側面に第1の幅のマスク膜32を残す。開口の形成領域以外の領域にレジストパターン35aを形成し、これをマスクに芯材膜31をエッチングする。さらに、芯材膜31をスリミングして第1の幅より小さい第2の幅のラインアンドスペース状のパターンを形成する。側壁膜をコンフォーマルに形成した後、エッチバックし、さらに芯材膜31を除去して、加工対象上に側壁膜からなる側壁パターンを形成する。そして側壁パターンで加工対象をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】CD(限界寸法)誤差を低減し、シュリンク処理の形状依存を補正できるパターン化フォトレジスト層を実現するコンピュータ読み取り可能な媒体を備えた装置を提供する。
【解決手段】媒体614は形状レイアウトを受信するためのコンピュータ読み取り可能なコードと、形状レイアウトに対してシュリンク補正を適用するためのコンピュータ読み取り可能なコードとを備える。シュリンク補正を適用するためのコンピュータ読み取り可能なコードは、パターン化層に形状を形成するための角切り欠き部を提供して、線の幅および長さ、形の修正などを調整する。 (もっと読む)


【課題】有機膜中における気泡の残存を抑制する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、開口(コンタクトホール36)を有する層間絶縁膜37を形成する工程と、層間絶縁膜37上及び開口内に導体膜39を形成する工程と、導体膜39上に第1感光性有機膜1を塗布形成する工程を有する。この製造方法は更に、第1感光性有機膜1において開口外の部位を露光する工程と、第1感光性有機膜1において開口外の部位を現像により除去する工程と、第1感光性有機膜1において開口内の部位を紫外線により硬化させることによって第1有機膜11を形成する工程を有する。この製造方法は更に、第1有機膜11を覆うように導体膜39上に第2感光性有機膜2を塗布形成する工程と、第2感光性有機膜2を紫外線により硬化させて第2有機膜12を少なくとも第1有機膜11上に形成する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、絶縁膜を金属に密着させることができる半導体装置の製造方法と半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本願の発明に係る半導体装置の製造方法は、基板上に多結晶の金属を形成する工程と、該金属の表面粗さRaが0.051μmより大きくなり、かつ該金属の表面に1〜10μm径のランダムな方向に伸びる複数の穴が形成されるように、該金属の表面を1.0μm/min未満のエッチングレートでウェットエッチする工程と、該金属の表面に絶縁膜を形成する工程と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】配線幅若しくは配線間隔の縮小に伴い、加工限界の制約を受けるために微細な配線形成が困難になりつつある。
【解決手段】絶縁層(第1の絶縁層12及び第2の絶縁層13)に溝15を形成し、導体膜(バリア膜16及び金属膜17)を溝15を埋設しない膜厚で形成し、続いて導体膜をエッチバックすることで溝15の側壁にサイドウォール状の配線18を形成することで、配線幅は導体膜の膜厚で制御できるために加工限界の制約を受けず、配線抵抗は配線高さを高くすることにより所定の配線抵抗を維持することができる。 (もっと読む)


【課題】相互接続領域の具現が困難なパッドレイアウトを具現化し、オーバレイマージンを増大できる半導体素子の形成方法を提供する。
【解決手段】半導体基板に被食刻層、第1のハードマスク物質層、第1の分割パターン物質層及び第2のハードマスク物質層を形成して選択食刻し第2のハードマスクパターンを形成し、これをマスクとし第1の分割パターン物質層を食刻し第1の分割パターンを形成する。第1のハードマスク物質層の上部にスペーサ物質層及び第2の分割パターン物質層を形成し、第1の分割パターンが現われるまでスペーサ物質層及び第2の分割パターン物質層を部分食刻しスペーサ物質層を露出させ、複数の第1の分割パターン間に第2の分割パターンを形成し、第1、第2の分割パターンをマスクとしスペーサ物質層及び第1のハードマスク物質層を食刻し第1のハードマスクパターンを形成し、これをマスクとし被食刻層を食刻し微細パターンを形成する。 (もっと読む)


【課題】段差を有する膜構造を高精度にエッチングするプラズマ処理装置またはドライエッチング方法を提供する。
【解決手段】真空容器107と、この真空容器内部の処理室内に配置されその上面にエッチング対象のウェハ112が載せられる下部電極113と、下部電極113にバイアス電位を形成するための高周波電力を供給するバイアス印加装置118,120と、前記処理室内に反応性ガスを導入するガス供給手段111と、前記処理室内にプラズマを生成するための電界を供給する電界供給手段101〜103と、前記高周波電力により前記ウェハ112に入射する前記プラズマ中のイオンのエネルギーの分布を調節する調節装置127とを備えたプラズマ処理装置。 (もっと読む)


31 - 40 / 611