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国際特許分類[H01L21/336]の内容

国際特許分類[H01L21/336]に分類される特許

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【課題】本発明は、チャネル抵抗を減少させてオン電流を増加させることが可能で、かつ各トランジスタを独立して、安定して動作させることの可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】ゲート電極用溝18の底部18cから活性領域の一部が突き出すように形成されたフィン部15と、ゲート電極用溝18及びフィン部15の表面を覆うゲート絶縁膜21と、ゲート電極用溝18の下部に埋め込まれ、ゲート絶縁膜21を介してフィン部15を跨ぐように形成されたゲート電極22と、第1の不純物拡散領域28と、第2の不純物拡散領域29と、フィン部15の表面に設けられた準位形成領域30と、を備える半導体装置10を選択する。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】化学量論的組成比を超える酸素を含む領域を有する非晶質酸化物半導体層と、該非晶質酸化物半導体層上に設けられた酸化アルミニウム膜とを含んで構成される半導体装置を提供する。該非晶質酸化物半導体層は、脱水又は脱水素化処理を行った結晶性又は非晶質酸化物半導体層に対して、酸素注入処理を行い、その後、酸化アルミニウム膜を設けた状態で450℃以下の熱処理を行うことで形成される。 (もっと読む)


【課題】封止後の半導体チップの耐圧及びリーク電流の面内分布を均一にすることができる半導体装置の製造方法を得る。
【解決手段】封止後の半導体チップの耐圧及びリーク電流の面内分布が均一になるような、封止前の半導体チップのPN接合部の不純物濃度の面内分布を求める。この求めた不純物濃度の面内分布を持つPN接合部を半導体チップの裏面側に形成する。このPN接合部を形成した後に、半導体チップを樹脂で封止する。 (もっと読む)


【課題】生産性の高い新たな半導体材料を用いた大電力向けの半導体装置を提供すること
を目的の一とする。または、新たな半導体材料を用いた新たな構造の半導体装置を提供す
ることを目的の一とする。
【解決手段】第1の結晶性を有する酸化物半導体膜及び第2の結晶性を有する酸化物半導
体膜が積層された酸化物半導体積層体を有する縦型トランジスタ及び縦型ダイオードであ
る。当該酸化物半導体積層体は、結晶成長の工程において、酸化物半導体積層体に含まれ
る電子供与体(ドナー)となる不純物が除去されるため、酸化物半導体積層体は、高純度
化され、キャリア密度が低く、真性または実質的に真性な半導体であって、シリコン半導
体よりもバンドギャップが大きい。 (もっと読む)


【課題】TFTの閾値電圧がシフトしても、駆動回路の高い信頼性を確保することができ
る表示装置を提供する。
【解決手段】出力回路が有するトランジスタのゲートに、順方向バイアスの電圧または逆
方向バイアスの電圧を与えることができる電源制御回路と、出力回路が有するトランジス
タの閾値電圧の変化量をモニターするためのモニター用トランジスタと、出力回路が有す
るトランジスタの閾値電圧を補正するべく、該トランジスタのゲートに逆方向バイアスの
電圧を与えるように電源制御回路を制御する閾値制御回路と、を有する。 (もっと読む)


【課題】ゲインセルとして知られている2つのトランジスタと1つのキャパシタよりなるメモリセルを改良する。
【解決手段】キャパシタの一方の電極をビット線に接続し、他方の電極を書き込みトランジスタのドレインに接続する。また、書き込みトランジスタのソースは、ソース線に接続される。この結果、例えば、キャパシタとしてスタック型キャパシタを採用する場合には、キャパシタの電極の一方をビット線の一部とすることができる。ソース線の電位と書き込みビット線の電位を設定することで、特定の書き込みトランジスタのみをオンとし、1つのメモリセルだけを書き換えることもできる。 (もっと読む)


【課題】酸化物薄膜の結晶配置の方向を制御し、良質な酸化物薄膜を提供する。
【解決手段】酸化物層と絶縁層からなる積層構造であって、前記酸化物層のキャリア濃度が1018/cm以下、平均結晶粒径が1μm以上であり、前記酸化物層の結晶が、前記絶縁層の表面に柱状に配置していることを特徴とする積層構造。 (もっと読む)


【課題】電荷転送効率が高い転送トランジスタを備える半導体集積回路を提供することを目的とする。
【解決手段】実施形態に係る半導体集積回路は、ゲート電極を有し、当該ゲート電極及び一の拡散層が第1配線でダイオード接続された転送トランジスタと、クロック信号が供給されるクロック信号線とを備え、前記クロック信号線の一部である第1部分クロック信号線の少なくとも一部が前記ゲート電極上に形成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】耐圧の向上が図られる半導体装置を提供する。
【解決手段】n-型半導体領域には、ドレイン領域となるn-型の拡散領域が形成されている。n-型の拡散領域の周囲を取囲むようにp型の拡散領域が形成されている。p型の拡散領域には、ソース領域となるn+型の拡散領域が形成されている。n-型の拡散領域の直下には、p-型の埋め込み層13が形成されている。n-型の半導体領域の領域には、高電位が印加されるn+型の拡散領域が形成され、そのn+型の拡散領域の表面上には電極が形成されている。電極とドレイン電極とは、配線20によって電気的に接続されている。配線20の直下に位置する部分に、p-埋め込み層13に達するトレンチ3aが形成されて、ポリシリコン膜81が形成されている。 (もっと読む)


【課題】高い表示品位を有する表示装置用の薄膜トランジスタ基板およびこれらを生産効率よく実現することができる製造方法を提供する。
【解決手段】基板1上の複数の部分に配設された半導体膜2と、半導体膜2上に、該半導体膜2と接し互いに離間して配設されたソース電極およびドレイン電極4と、半導体膜2、ソース電極3およびドレイン電極4を覆うゲート絶縁膜6と、ゲート絶縁膜6を介して、ソース電極3およびドレイン電極4の間に跨るように配設された、ゲート電極7とを有した薄膜トランジスタ201と、半導体膜2上に、該半導体膜と接して配設された補助容量電極10と、下層に半導体膜2を有してソース電極から延在するソース配線31と、ゲート電極7から延在するゲート配線71と、ドレイン電極4に電気的に接続された画素電極9と、隣り合う画素の補助容量電極10どうしを電気的に接続する、補助容量電極接続配線12とを備えている。 (もっと読む)


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