説明

国際特許分類[H01S5/323]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 誘導放出を用いた装置 (18,077) | 半導体レーザ (12,571) | 活性領域の構造または形状;活性領域に用いられる材料 (2,589) | PN接合からなるもの,例.ヘテロまたはダブルヘテロ構造 (897) | A↓I↓I↓IB↓V族化合物におけるもの,例.AlGaAsレーザ (851)

国際特許分類[H01S5/323]に分類される特許

101 - 110 / 851


【課題】従来の方法では、それぞれのレーザーバーごとに溝部、及びブレイク・ラインを形成しなければならず、製造効率がわるい。
【解決手段】n型GaN基板10上に半導体積層構造12を形成することで複数の半導体レーザ14を有するウェハを形成する。次に、半導体レーザ14間の分離領域においてウェハの主面に第1の溝部22を形成する。次に、ウェハを半導体レーザ14がバー状に並んだレーザバー26に分離する。次に、第1の溝部22と同じか又は狭い幅を持つ第2の溝部30をレーザバー26の第1の溝部22内に形成する。次に、第2の溝部30に沿ってレーザバー26を個々の半導体レーザ14に分離する。 (もっと読む)


【課題】スクライビングの際に電極剥離が生じるようなことがなく、しかも動作電圧の安定した複数ビーム型の半導体発光素子を提供する。
【解決手段】基板は、第1平均転位密度を有する結晶からなる低欠陥領域中に、第1平均転位密度より高い第2平均転位密度を有する結晶からなる複数の高欠陥領域を有する。高欠陥領域が基板の中央領域と両端部との3カ所にあり、それらの間に低欠陥領域が存在している。この基板の裏面側には、幾何学的な形状のn側電極が形成されている。n側電極は、低欠陥領域の表面の一部を覆うと共に、中央領域にある高欠陥領域の表面を断続的に覆い、両端部にある高欠陥領域の表面を覆わないような形状となっている。 (もっと読む)


【課題】レーザ照射によりIII族窒化物半導体膜を下地基板から剥離する際に、III族窒化物半導体膜の破損を抑制する。
【解決手段】サファイア基板11と、サファイア基板11上に設けられているGaN膜12と、を含むサファイア/GaN構造体Wから、レーザ照射によりGaN膜12を剥離するレーザ剥離装置であって、サファイア/GaN構造体Wを、GaN膜12が下方または側方に向いた状態で、GaN膜12表面に接触することなく保持する基板保持台14と、サファイア/GaN構造体Wに対してレーザを照射するレーザ照射部と、を備えるレーザ剥離装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】 窒化物半導体レーザ素子の放熱性をよりよいものとし、閾値電流の低下や出力の向上など種々の特性を向上させることを目的とする。
【解決手段】
それぞれが窒化物半導体から構成されたn型層及びp型層を含む半導体積層部と、n型層に接続されたn電極と、p型層に接続されたp電極と、を有する窒化物半導体レーザ素子に関する。p型層にはp電極が接続された領域と異なる領域において熱伝導部が接して配されており、熱伝導部はp電極と電気的に絶縁されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】低温成長薄膜の特性を備え、様々な種類の光電素子及び電子素子を改善し、集積回路素子の品質を改善することができる反応装置を提供する。
【解決手段】反応装置500は、第1の加熱ユニット100及び第2の加熱ユニット200を備える。第1の加熱ユニット100と第2の加熱ユニット200とが向かい合うように配置して反応領域150を形成し、第1の加熱ユニット100の内側面と第2の加熱ユニット200の内側面とにより角度が形成され、第1の加熱ユニット100の温度と第2の加熱ユニット200の温度とを個別に制御する。第1の加熱ユニット100上に少なくとも1つの基板300を配置し、少なくとも1つの基板300が第1の加熱ユニット100と第2の加熱ユニット200との間に位置し、第1の加熱ユニット100上の少なくとも1つの基板300上に薄膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】動作電圧などを改善した長波長窒化物半導体レーザを提供する。
【解決手段】半極性面を主面とする窒化物半導体基板と、前記窒化物半導体基板の主面上に形成されたn側窒化物半導体層と、前記n側窒化物半導体層の上に形成され、窒化物半導体から成る発光層を有する活性層と、前記活性層の上に形成されたp側窒化物半導体層と、を備えた窒化物半導体素子であって、n側窒化物半導体層は、n型不純物を含むInaAlbGa1−a−bN(0<a<1、0<b<1、0<a+b≦1)から成る、InとAlを含むn側窒化物半導体層を有し、InとAlを含むn側窒化物半導体層におけるAlの混晶比bが0.1以上であり、かつ、Inの混晶比を横軸としAlの混晶比を縦軸とする座標系において、InとAlを含むn側窒化物半導体層のInの混晶比aとAl混晶比bを示す座標(a,b)が直線OAと直線OBによって挟まれた領域内にある。 (もっと読む)


【課題】安価に、反りの少ない窒化物半導体を成長することができる窒化物半導体の成長方法を提供する。
【解決手段】本発明の窒化物半導体の成長方法は、気相成長法により、基板10上に、窒化物半導体の結晶からなる第1凹凸構造30を形成し、該第1凹凸構造30の凸部の上部から窒化物半導体を選択的に成長させることにより、前記第1凹凸構造30上に、窒化物半導体の結晶からなる第2凹凸構造32を形成することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】段差などの乱れが少ない平坦な劈開面が得られるIII族窒化物半導体基板及びそ
の製造方法を提供する。
【解決手段】直径25mm以上、厚さ250μm以上のIII族窒化物半導体基板であって
、前記III族窒化物半導体基板の外縁から5mm以内の外周部における少なくとも前記外
縁側の部分は、前記III族窒化物半導体基板の主面内の応力が引張応力であり、且つ前記III族窒化物半導体基板の前記外縁側の部分よりも中心側の部分に比べて相対的に引張応力が大きくなっている。 (もっと読む)


【課題】半導体発光素子の信頼性および半導体発光素子の製造歩留まりをより向上させる。
【解決手段】第1の半導体層と、第2の半導体層と、前記第1の半導体層と前記第2の半導体層との間に設けられた発光層と、を含む複数の半導体積層体を、支持基板の第1の主面の上に間隙を隔てて選択的に形成する工程と、前記複数の半導体積層体のそれぞれと、他の支持基板と、を接合材により接合する工程と、前記支持基板の前記第1の主面とは反対側の第2の主面からレーザ光を入射し、前記接合材には前記レーザ光を照射せずに、前記複数の半導体積層体に前記レーザ光を照射して前記複数の半導体積層体から前記支持基板を剥離する工程と、を備えたことを特徴とする半導体発光素子の製造方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】 GaN基板上に結晶成長する各半導体層の平坦性が、半導体素子の寸法相当において向上した半導体基板を提供し、更には、この半導体基板を基礎として、特性の高性能化された半導体発光素子、半導体素子を提供する。
【解決手段】基板11と、この基板11上に積層された窒化物系III−V族化合物半導体単結晶層12と、基板11と窒化物系III−V族化合物半導体単結晶層12との間に設けられた、不純物元素を5x1017cm-3以上2x1019cm-3以下含有する層10とを備える。 (もっと読む)


101 - 110 / 851