タイヤ試験装置及びタイヤ試験方法
【課題】タイヤのフラットスポットの評価(発生量評価、回復評価)を効率よく、高精度に行うことができるタイヤ試験装置及びタイヤ試験方法を提供する。
【解決手段】第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４により走行位置に移動させ、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴを、回転駆動されるドラム１２に荷重を掛けて押し付けて予備走行し、タイヤのユニフォーミティ成分を測定する。第１のタイヤスピンドル１４をフラットスポット生成位置に位置させ、表面温度が上昇したタイヤＴを第１の擬似路面１８に押し当て、タイヤＴにフラットスポットＳ１を生成する。第１のタイヤスピンドル１４を走行位置に位置させ、再び、回転駆動されるドラム１２に荷重を掛けて押し当て、フラットスポットが生成されたタイヤを回復走行させ、タイヤのユニフォーミティ成分を測定してタイヤのフラットスポットの回復を評価する。
【解決手段】第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４により走行位置に移動させ、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴを、回転駆動されるドラム１２に荷重を掛けて押し付けて予備走行し、タイヤのユニフォーミティ成分を測定する。第１のタイヤスピンドル１４をフラットスポット生成位置に位置させ、表面温度が上昇したタイヤＴを第１の擬似路面１８に押し当て、タイヤＴにフラットスポットＳ１を生成する。第１のタイヤスピンドル１４を走行位置に位置させ、再び、回転駆動されるドラム１２に荷重を掛けて押し当て、フラットスポットが生成されたタイヤを回復走行させ、タイヤのユニフォーミティ成分を測定してタイヤのフラットスポットの回復を評価する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タイヤ試験装置及びタイヤ試験方法に関し、さらに詳しくは、タイヤのユニフォーミティ測定機能とタイヤのフラットスポット生成機能を備えてなるタイヤ試験装置及びタイヤ試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
路面上を転動するタイヤは、複数種類のゴムやコード補強材などで造られた複合材製品であるため、製造されたタイヤごとのユニフォーミティ（寸法や剛性や重量分布などの均一性）にバラツキが生じる。このため、製造後のタイヤは、タイヤユニフォーミティ測定装置（タイヤ試験装置）を用いて測定された結果により良品または不良品に選別される。
この種のタイヤユニフォーミティ測定装置は、通常、表面が平滑な回転ドラムを路面の代用として用い、予め決められた測定条件下で、被測定用のタイヤを、回転駆動される回転ドラムの外周面に荷重を掛けて押し付け、回転するタイヤに発生する力の大きさや力の変動の大きさ、外径変動の大きさをユニフォーミティ値として測定するものである（特許文献１、２参照）。
【０００３】
ユニフォーミティ値としては、タイヤの径方向における軸力の変動量であってタイヤの上下方向力の変動量を表すＲＦＶ（Radial Force Variation）、タイヤの幅方向の変動量を表すＬＦＶ（Lateral Force Variation）、タイヤ接線方向の変動量を表すＴＦＶ（Tractive Force Variation）、タイヤの１周分におけるタイヤ表面の外径の変動量を表すＲＲＯ（Radial Run Out）などがあり、これらユニフォーミティ値はタイヤの均一性を評価する尺度となる。
【０００４】
ところで、自動車を高速走行させると、タイヤのトレッド面が４０℃〜６０℃程度に上昇し、タイヤがこのような状態にある自動車を比較的長時間停車させ、タイヤを冷却させると、タイヤの接地部位にフラットスポットが発生する。ただし、自動車を再び走行させれば、タイヤの表面部の温度上昇に伴いフラットスポットはなくなり、タイヤは元の状態に回復される。
しかしながら、フラットスポットが発生したタイヤは自動車の走行初期時に振動源となり、乗り心地の悪化の要因となる。
従って、タイヤのフラットスポットの発生量評価、回復評価は、タイヤの特性を評価する上で比較的優先順位の高い評価項目となっている。
【０００５】
タイヤのフラットスポットの回復評価を可能にした従来のタイヤ試験装置では、回転可能に支持されたスピンドル軸にタイヤを装着し、このタイヤを回転駆動されるドラムに押し当てて一定の時間予備走行させることでタイヤの表面温度を４０℃〜６０℃の温度に上昇させる。そして、この状態のタイヤのユニフォーミティを測定し、初期のユニフォーミティ値を得る。
その後、この温度上昇したタイヤの初期ユニフォーミティの波形から、周上の一箇所を決定し、回転を停止させた前記ドラムの周面に一定時間押し付けて、タイヤの周面にフラットスポットを生成する。
そして、フラットスポットの生じたタイヤをドラムに押し付けた状態でドラムを再度回転して一定時間回復走行させ、タイヤの表面温度の上昇と共にタイヤのフラットスポットを回復させる。この時のフラットスポットの回復の評価は、回復走行時に定期的に測定したユニフォーミティ値と、前記の初期のユニフォーミティ値とを比較して行うようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００６−８４３１０号公報
【特許文献２】特開２００７−２７６６９７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
フラットスポットの生成方法には、上述したように、予備走行で表面温度を上昇させたタイヤをスピンドル軸に取り付けたままドラムに押し付けることによりドラムでフラットスポットを生成する方法１の他に、予備走行で表面温度を上昇させたタイヤをスピンドル軸から取り外し、フラットスポット生成用治具を用いてフラットスポットを生成する方法２がある。
上記方法２では、一度外したタイヤを再度スピンドル軸に取り付けた時、初期状態と全く同じ状態に取り付けることは困難であり、その影響がフラットスポットの評価(発生量評価、回復評価)結果に大きく影響することになる。したがって、フラットスポットの評価においては、上記方法１の方が好ましい。
【０００８】
しかしながら、上記方法１では、スピンドル軸にタイヤを装着したタイヤを回転駆動されるドラムに押し当てて一定時間予備走行させることでタイヤの表面温度を上昇させる工程と、前記ドラムの回転を停止させこの温度上昇したタイヤを前記ドラムに一定時間押し付けてフラットスポットを生成する工程と、前記ドラムを回転駆動させフラットスポットの生じたタイヤをドラムに押し付けて一定時間回復走行させる工程との３つの工程をドラムを用いて行うため、１本のタイヤのフラットスポット評価には、タイヤ試験装置のドラムを２時間以上占有してしまう。
その結果、タイヤ試験装置の試験効率が悪く、生産性も低くなり、試験コストも上昇するという問題があった。
【０００９】
本発明は、上記のような事情に鑑みなされたものであり、その目的は、タイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に行うことができるタイヤ試験装置及びタイヤ試験方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために本発明のタイヤ試験装置は、回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着されるタイヤスピンドルと、前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤにフラットスポットを生成する擬似路面と、前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤを前記ドラムに押し当てる走行位置と、前記タイヤを前記擬似路面に押し当てるフラットスポット生成位置とに前記タイヤスピンドルを移動させる移動手段と、前記走行位置での前記タイヤのユニフォーミティ成分を測定するユニフォーミティ測定手段とを備えることを特徴とする。
また、本発明のタイヤ試験装置は、回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着され前記ドラムの周囲の異なった箇所に前記ドラムの軸線と軸線を平行させて配置された複数のタイヤスピンドルと、前記各タイヤスピンドル毎に設けられタイヤにフラットスポットを生成する複数の擬似路面と、前記各タイヤスピンドルに装着されたタイヤを前記ドラムに押し当てる走行位置と、前記タイヤを前記擬似路面に押し当てるフラットスポット生成位置と、前記タイヤを前記ドラムと前記擬似路面との双方から離したタイヤ交換位置とに、前記各タイヤスピンドルを移動させる移動手段と、前記走行位置での前記各タイヤのユニフォーミティ成分を測定するユニフォーミティ測定手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】
また、本発明のタイヤ試験方法は、回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着されるタイヤスピンドルと、前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤにフラットスポットを生成する擬似路面とを設け、前記タイヤスピンドルを移動させ前記タイヤを前記ドラムに押し当てて予備走行させタイヤのユニフォーミティ成分を測定する予備走行工程と、前記タイヤスピンドルを移動させ前記予備走行後のタイヤを前記擬似路面に押し当てて当該タイヤにフラットスポットを生成するフラットスポット生成工程と、前記タイヤスピンドルを移動させ前記フラットスポットが生成された前記タイヤを前記ドラムに再度押し当てて回復走行させ、タイヤのユニフォーミティ成分を測定してタイヤのフラットスポットの回復を評価する回復走行工程と、前記タイヤスピンドルに対して前記フラットスポットが回復された後の試験済みタイヤを試験前のタイヤに交換するタイヤ交換工程とを備えることを特徴とする。
また、本発明のタイヤ試験方法は、回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着される複数のタイヤスピンドルと、前記各タイヤスピンドルに装着されたタイヤのそれぞれにフラットスポットを生成する複数の擬似路面とを設け、前記タイヤスピンドル毎に前記タイヤを前記ドラムに押し当てて予備走行させタイヤのユニフォーミティ成分を測定する予備走行工程と、前記タイヤスピンドル毎に前記予備走行後のタイヤを前記擬似路面に押し当てて当該タイヤにフラットスポットを生成するフラットスポット生成工程と、前記タイヤスピンドル毎に前記フラットスポットが生成された前記タイヤを前記ドラムに再度押し当てて回復走行させ、タイヤのユニフォーミティ成分を測定してタイヤのフラットスポットの回復を評価する回復走行工程と、前記タイヤスピンドル毎に前記フラットスポットが回復された後の試験済みタイヤを試験前のタイヤに交換するタイヤ交換工程を備え、前記予備走行工程、前記フラットスポット生成工程、前記回復走行工程及び前記タイヤ交換工程が前記各タイヤスピンドル毎に時間をずらして実行されることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明にかかるタイヤ試験装置及びタイヤ試験方法によれば、タイヤのフラットスポット評価(発生量評価、回復評価)を効率よく、高精度に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明かかるタイヤ試験装置の第１の実施の形態を示す概略正面図である。
【図２】本発明かかるタイヤ試験装置の第２の実施の形態を示す概略正面図である。
【図３】第２の実施の形態のタイヤ試験装置を用いてタイヤのフラットスポットの評価試験を行う場合の説明用タイムテーブルである。
【図４】本発明かかるタイヤ試験装置の第３の実施の形態を示す概略正面図である。
【図５】本発明かかるタイヤ試験装置の第４の実施の形態を示す概略平面図である。
【図６】本発明かかるタイヤ試験装置の第５の実施の形態を示す概略正面図である。
【図７】本発明かかるタイヤ試験装置の第６の実施の形態を示す概略正面図である。
【図８】本発明かかるタイヤ試験装置の第７の実施の形態を示す概略正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
（第１の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第１の実施の形態について、図１を参照して詳細に説明する。
タイヤ試験装置は、図１に示すように、回転駆動される１つのドラム１２と、被試験用のタイヤＴが着脱可能に装着される第１のタイヤスピンドル１４と、タイヤＴにフラットスポットＳ１(図２参照)を生成する第１の擬似路面１８を含んで構成される。
【００１５】
ドラム１２は、支持基台１２０２上で水平方向に延在する回転軸１２０４を介して回転可能に支持されている。また、ドラム１２は支持基台１２０２に設けられた駆動装置１２０６により回転駆動される。
また、第１の擬似路面１８は、ドラム１２の軸線と直交する方向に配置され、ドラム１２に対向して配置されている。
第１のタイヤスピンドル１４は、ドラム１２と第１の擬似路面１８との間に配置され、第１のタイヤスピンドル１４の軸線とドラム１２の軸線とは平行している。すなわち、第１２の疑似路面１８は、ドラム１２の軸線と直交する方向でタイヤスピンドル１４よりもドラム１２から離れた箇所に配置されている。
【００１６】
第１のタイヤスピンドル１４は、ドラム１２と第１の擬似路面１８との間に配置された支持台１４０２に回転可能に支持されている。
ドラム１２の支持基台１２０２の第１のタイヤスピンドル１４側に第１の基台２２が設けられ、支持台１４０２は、この第１の基台２２上に設けられた案内部２２０２上に、ドラム１２と第１の擬似路面１８に対して接近及び離間する方向に移動可能に載置されている。
また、第１の基台２２には、第１のタイヤスピンドル１４を走行位置とフラットスポット生成位置とタイヤ交換位置とに移動させる移動手段１４０４が設けられている。
走行位置では、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴがドラム１２に所定の荷重を掛けた状態で押し当てられる。
また、フラットスポット生成位置では、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴが第１の擬似路面１８に所定の荷重を掛けた状態で押し当てられる。
また、タイヤ交換位置では、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴがドラム１２と第１の擬似路面１８の双方から離される。
なお、タイヤスピンドル１４には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶを測定するユニフォーミティ測定手段１４０６が設けられ、ＲＲＯは、外付けのレーザー測定器で測定をする。
なお、移動手段１４０４には、雌ねじが形成され回転不能かつ直線移動可能に支持された雌ねじ部材を支持基台１４０２に連結し、前記雌ねじに螺合させた雄ねじ部材の正逆転により支持基台１４０２を往復直線運動させるなど、従来公知の様々な機構が採用可能である。
【００１７】
第１の擬似路面１８は第１の基台２２上に立設した支持部材１８０２に設けられている。この第１の擬似路面１８がタイヤＴと接する面の形状は、ドラム１２がタイヤＴと接する面の形状と同一に形成されている。
具体的には、第１の擬似路面１８は、ドラム１２の外周面と同一の曲率で形成されている。これにより、予備走行後の加熱されたタイヤＴをドラム１２に押し付けてフラットスポットＳ１を生成する状態を、第１の擬似路面１８を用いて再現できるようにしている。
また、第１の擬似路面１８は、ドラム１２の熱伝導率と同等もしくは一定の差（１０％未満）を有する熱伝導率の材料から構成されていることが好ましい。第１の擬似路面１８の熱伝導率をこのように設定すると、予備走行後の加熱されたタイヤＴをドラム１２に押し付けてフラットスポットＳ１を生成した状態を再現する上で有利となる。
【００１８】
さらに、支持部材１８０２には、第１の擬似路面１８がタイヤＴと接する面の温度を調節する温度調節手段１８０４が設けられている。この温度調節手段１８０４により、第１の擬似路面１８がタイヤＴと接する面の温度を任意の温度、例えば室温や室温より低い温度または室温−１０℃の温度などに調節することで、フラットスポットの生成時間を短縮し、タイヤ試験に費やす時間を短縮する上で有利となる。
【００１９】
次に、第１の実施の形態に示すタイヤ試験装置を用いてタイヤのフラットスポットの評価試験を行う場合について説明する。
まず、ドラム１２を駆動装置１２０６により回転駆動し、この状態で、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４によりドラム１２方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４を走行位置に位置させ、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴをドラム１２の外周面に一定の荷重を掛けて押し付け、一定の時間、例えば４５分間予備走行する（予備走行工程）。これにより、タイヤＴの表面温度は、例えば４０℃〜６０℃に上昇する。予備走行工程の実行時で温度上昇後、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１４０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、初期データを得る。
予備走行工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４によりドラム１２から離間する方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４をフラットスポット生成位置に位置させ、表面温度が上昇したタイヤＴを静止した状態で第１の擬似路面１８に一定の時間、例えば６０分、一定の荷重を掛けて押し当てタイヤＴにフラットスポットＳ１を生成する（フラットスポット生成工程）。そして、従来公知の様々な方法によりフラットスポットＳ１の発生量を評価する。
【００２０】
フラットスポット生成工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４により第１の擬似路面１８から離間する方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４を走行位置に位置させ、再び、速度Ａで回転駆動されるドラム１２に一定の時間、例えば３０分一定の荷重を掛けて押し当て、フラットスポットの回復走行を実行する（回復走行工程）。
回復走行工程の実行時には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１４０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、この測定データと前記の初期データとを比較してタイヤのフラットスポットの回復を評価する。
回復走行工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を、移動手段１４０４によりタイヤ交換位置とし、フラットスポットの評価試験が終了したタイヤＴは第１のタイヤスピンドル１４から取り外され、評価試験がなされていないタイヤに交換される（タイヤ交換工程）。
以下、同様にして、新規なタイヤについて予備走行工程、フラットスポット生成工程、回復走行工程及びタイヤ交換工程が実行される。
【００２１】
このような本実施の形態によれば、単一のドラム１２と、単一のタイヤスピンドル１４とに加えて、単一の擬似路面１８を設け、予備走行工程、フラットスポット生成工程、回復走行工程、タイヤ交換工程の一連の工程を実行するようにした。
そのため、ドラム１２を占有する時間を短縮でき、また、タイヤＴをタイヤスピンドル１４から取り外すことなくタイヤのフラットスポット試験を行うことができ、タイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に行う上で有利となる。
また、擬似路面を任意の温度で設定できるので、フラットスポット生成を効率的に行うことも可能となる。
（第２の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第２の実施の形態について、図２、図３を参照して詳細に説明する。なお、以下の実施の形態の説明では、第１の実施の形態の同一または対応する部分には同一の符号を付してその説明を省略しあるいは簡単に行い、第１の実施の形態と異なる点を重点に述べる。
タイヤ試験装置は、図２に示すように、回転駆動される１つのドラム１２と、被試験用のタイヤＴが着脱可能に装着される第１、第２の２つのタイヤスピンドル１４，１６と、各タイヤＴ毎にフラットスポットＳ１を生成する第１、第２の２つの擬似路面１８，２０を含んで構成される。
すなわち、複数のタイヤスピンドル１４，１６が設けられ、各タイヤスピンドル１４，１６毎に擬似路面１８，２０が複数設けられている。
なお、第２の実施の形態では、第１、第２の２つのタイヤスピンドル１４，１６に異なった構造(種類)のタイヤＴが装着されている。
【００２２】
第１のタイヤスピンドル１４と第２のタイヤスピンドル１６は、ドラム１２を挟んでドラム１２の左右両側に、それらの軸線をドラム１２の回転軸１２０４の軸線と平行させて配設されている。
また、第１の擬似路面１８は第１のタイヤスピンドル１４を挟んでドラム１２に対向配置され、さらに、第２の擬似路面２０は第２のタイヤスピンドル１６を挟んでドラム１２に対向配置されている。すなわち、第１、第２の疑似路面１８、２０は、ドラム１２の軸線と直交する方向でタイヤスピンドル１４、１６よりもドラム１２から離れた箇所に配置されている。
なお、ドラム１２と、第１のタイヤスピンドル１４と、第１の擬似路面１８とは前記第１の実施の形態と同様であるので説明を省略する。
【００２３】
第２のタイヤスピンドル１６は、ドラム１２と第２の擬似路面２０との間に配置された支持台１６０２に回転可能に支持されている。
ドラム１２の支持基台１２０２の第２のタイヤスピンドル１６側に第２の基台２４が設けられ、支持台１６０２は、この第２の基台２４上に設けられた案内部２４０２上に、ドラム１２と第２の擬似路面２０に対して接近及び離間する方向に移動可能に載置されている。
また、第２の基台２４には、第２のタイヤスピンドル１６を走行位置とフラットスポット生成位置とタイヤ交換位置とに移動させる移動手段１６０４が設けられている。
走行位置では、第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴがドラム１２に所定の荷重を掛けた状態で押し当てられる。
また、フラットスポット生成位置では、第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴが第２の擬似路面２０に所定の荷重を掛けた状態で押し当てられる。
また、タイヤ交換位置では、第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴがドラム１２と第２の擬似路面２０の双方から離される。
なお、支持台１６０２には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶを測定するユニフォーミティ測定手段１６０６が設けられ、ＲＲＯは外付けのレーザー測定器で測定をする。
【００２４】
第２の擬似路面２０は第２の基台２４上に立設した支持部材２００２に装着されている。この第２の擬似路面２０がタイヤＴと接する面の形状は、ドラム１２のタイヤＴと接する面の形状と同一に形成されている。
具体的には、第２の擬似路面２０は、ドラム１２の外周面と同一の曲率で形成されている。これにより、予備走行後の加熱されたタイヤＴをドラム１２に押し付けてフラットスポットＳ１を生成した状態を、第２の擬似路面２０を用いて再現できるようにしている。
また、第２の擬似路面２０は、ドラム１２の熱伝導率と同等もしくは一定の差（１０％未満）を有する熱伝導率の材料から構成されていることが好ましい。第２の擬似路面２０の熱伝導率をこのように設定すると、予備走行後の加熱されたタイヤＴをドラム１２に押し付けてフラットスポットＳ１を生成した状態を再現する上で有利となる。
【００２５】
さらに、支持部材２００２には、第２の擬似路面２０がタイヤＴと接する面の温度を調節する温度調節手段２００４が設けられている。この温度調節手段２００４により、第２の擬似路面２０がタイヤＴと接する面の温度を任意の温度、例えば室温や室温より低い温度または室温−１０℃の温度などに調節することで、フラットスポットの生成時間を短縮し、その試験効率を向上する上で有利となる。
【００２６】
次に、第２の実施の形態に示すタイヤ試験装置を用いてタイヤのフラットスポットの評価試験を行う場合について説明する。
まず、ドラム１２を駆動装置１２０６により速度Ａで回転駆動し、この状態で、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４によりドラム１２方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４を走行位置に位置させ、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴをドラム１２の外周面に一定の荷重を掛けて押し付け、一定の時間、例えば４５分間予備走行する（予備走行工程）。これにより、タイヤＴの表面温度は、例えば４０℃〜６０℃に上昇する。予備走行工程の実行時で温度上昇後、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１４０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、初期データＡを得る。
【００２７】
予備走行工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４によりドラム１２から離間する方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４をフラットスポット生成位置に位置させ、表面温度が上昇したタイヤＴを第１の擬似路面１８に一定の時間、例えば６０分、一定の荷重を掛けて押し当てタイヤＴにフラットスポットＳ１を生成する（フラットスポット生成工程）。
【００２８】
一方、第１の擬似路面１８によるタイヤＴへのフラットスポットＳ１の生成開始に合わせて、ドラム１２を駆動装置１２０６により速度Ａとは異なる速度Ｂで回転駆動し、この状態で、支持台１６０２を含む第２のタイヤスピンドル１６を移動手段１６０４によりドラム１２方向に移動する。そして、第２のタイヤスピンドル１６を走行位置に位置させ、第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴをドラム１２の外周面に一定の荷重を掛けて押し付け、一定の時間、例えば４５分間予備走行する（予備走行工程）。これにより、タイヤＴの表面の温度は、例えば４０℃〜６０℃に上昇する。予備走行工程の実行時で温度上昇後、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１４０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、初期データＢを得る。
この第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴの予備走行工程は、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴのフラットスポット生成工程中に実行される。
【００２９】
予備走行工程が終了したならば、支持台１６０２を含む第２のタイヤスピンドル１６を移動手段１６０４によりドラム１２から離間する方向に移動する。そして、第２のタイヤスピンドル１６をフラットスポット生成位置に位置させ、表面温度が上昇したタイヤＴを第２の擬似路面２０に一定の時間、例えば６０分、一定の荷重を掛けて押し当てタイヤＴにフラットスポットＳ１を生成する（フラットスポット生成工程）。
【００３０】
第１の擬似路面１８によるタイヤＴへのフラットスポットＳ１のフラットスポット生成工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４により第１の擬似路面１８から離間する方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４を走行位置に位置させ、再び、速度Ａで回転駆動されるドラム１２に一定の時間、例えば３０分一定の荷重を掛けて押し当て、フラットスポットの回復走行を実行する（回復走行工程）。
回復走行工程の実行時には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１４０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、この測定データと前記の初期データＡとを比較してタイヤのフラットスポットの回復を評価する。
【００３１】
回復走行工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を、移動手段１４０４によりタイヤ交換位置とし、フラットスポットの評価試験が終了したタイヤＴは第１のタイヤスピンドル１４から取り外され、評価試験がなされていない新規なタイヤに交換される（タイヤ交換工程）。
この第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴの回復走行工程とタイヤ交換工程は、第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴのフラットスポット生成工程中に実行される。
【００３２】
一方、第２の擬似路面２０によるタイヤＴへのフラットスポットＳ１のフラットスポット生成工程が終了したならば、支持台１６０２を含む第２のタイヤスピンドル１６を移動手段１６０４により第２の擬似路面２０から離間する方向に移動する。そして、再び、速度Ｂで回転駆動されるドラム１２に一定の時間、例えば３０分一定の荷重を掛けて押し当て、フラットスポットの回復走行を実行する（回復走行工程）。
回復走行工程の実行時には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１６０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、この測定データと前記の初期データＢとを比較してタイヤのフラットスポットの回復を評価する。
この第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴの回復走行工程は、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴの交換工程の終了間際から予備走行工程の前に実行される。
【００３３】
回復走行工程が終了したならば、支持台１６０２を含む第２のタイヤスピンドル１６を、移動手段１６０４によりタイヤ交換位置とし、フラットスポットの評価試験が終了したタイヤＴは第２のタイヤスピンドル１６から取り外され、評価試験がなされていない新規なタイヤに交換される（タイヤ交換工程）。
この第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴのタイヤ交換工程は、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴの予備走行工程中に実行される。
【００３４】
以下、同様にして、上述した予備走行工程、フラットスポット生成工程、回復走行工程及びタイヤ交換工程が第１、第２のタイヤスピンドル毎に時間をずらして実行される。
【００３５】
このような第２の実施の形態によれば、単一のドラム１２に対して、２つのタイヤスピンドル１４，１６と、２つの擬似路面１８，２０とを設け、予備走行工程、フラットスポット生成工程、回復走行工程、タイヤ交換工程の一連の工程を、各タイヤスピンドル１４，１６毎に時間をずらして実行するようにした。
そのため、従来のタイヤ試験装置では、１本のフラットスポット評価に１３５分費やされていたのに対し、本実施の形態では、図２に示すように、１８０分で２本のタイヤのフラットスポット評価を行え、タイヤ試験に費やす時間を大幅に短縮することが可能となる。
したがって、本実施の形態によれば、タイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に行う上で有利となる。
また、タイヤスピンドルと疑似路面を複数設けたので、各タイヤスピンドル１４，１６毎に異なった構造(種類)のタイヤＴを装着でき、予備走行工程、回復走行工程でのトラム１２の回転速度を変えることにより、異なった構造(種類)のタイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に同時に行うことも可能となる。
【００３６】
（第３の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第３の実施の形態について、図４を参照して詳細に説明する。
第３の実施の形態のタイヤ試験装置は、第２の実施の形態の変形例である。
第３の実施の形態のタイヤ試験装置は、長尺な基台６２の長手方向の中間に位置して、基台６２の長手方向と直交する軸線周りに回転可能に支持され、図示省略の駆動手段により回転駆動される単一のドラム６４を有している。
ドラム６４を挟んでドラム６４の軸方向と直交する方向の両側の基台６２上に、それぞれ一対ずつのブラケット６６，６８が基台６２の長手方向に移動可能に配置されている。
一対ずつのブラケット６６，６８には、被試験用のタイヤＴが一対ずつ着脱可能に装着される第１、第２のタイヤスピンドル７０，７２が回転可能に支持され、第１、第２のタイヤスピンドル７０，７２の軸線とドラム６４の軸線は平行である。
また、第１、第２のタイヤスピンドル７０，７２に装着された各タイヤＴ毎にフラットスポットを生成する一対ずつの第１、第２の擬似路面７４，７６が、第１、第２のタイヤスピンドル７０，７２のそれぞれに装着された各タイヤＴを挟んでドラム６４の外周面に対向して配置されている。
なお、ドラム６４、第１、第２のタイヤスピンドル７０，７２、第１、第２の擬似路面７４，７６は第２の実施の形態と符号が異なるものの、第２の実施の形態のドラム１２、第１、第２のタイヤスピンドル１４、１６、第１、第２の疑似路面１８、２０と同様な構成であり、第２の実施の形態と同様な移動手段１４０４，１６０４により、走行位置、フラットスポット生成位置、タイヤ交換位置とに移動され、同様な動作がなされる。
【００３７】
第３の実施の形態のタイヤ試験装置によれば、２本のタイヤＴについて同時にタイヤ試験を行えるため、第２の実施の形態に比べて、タイヤ試験に費やす時間を１／２に短縮できる。
【００３８】
（第４の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第４の実施の形態について、図５を参照して詳細に説明する。
第４の実施の形態は、第２の実施の形態の変形例である。
第４の実施の形態が第２の実施の形態と異なる点は、第２の実施の形態のタイヤ試験装置では、ドラム１２の軸線と、第１、第２のタイヤスピンドル１４，１６の軸線とを水平方向に延在させていたのに対して、第４の実施の形態では、ドラム８４の軸線と、４つのタイヤスピンドル８６の軸線を鉛直方向に延在させていることである。
【００３９】
すなわち、ドラム８４はその軸線を鉛直方向に向けられて配置され、不図示の支持基台で支持され、駆動軸８２により鉛直軸を中心に回転駆動され、回転軸８２は不図示の駆動装置により回転駆動される。
タイヤＴが装着されるタイヤスピンドル８６は、単一のドラム８４に対して４つ設けられ、これに対応して４つの疑似路面８８が設けられている。
すなわち、タイヤＴが装着される第１、第２、第３、第４の４つのタイヤスピンドル８６は、ドラム８４の径方向外側でドラム８４の周方向に等間隔離した箇所に、それらの軸線を鉛直方向に向けて配置されている。
また、ドラム８４の径方向で各第１、第２、第３、第４の４つのタイヤスピンドル８６の外側に、それぞれフラットスポット生成用の擬似路面８８が配置されている。
【００４０】
第１、第２、第３、第４の４つのタイヤスピンドル８６は、それぞれ支持台９０上で回転可能に支持されている。
各支持台９０は、不図示の移動手段により、走行位置と、フラットスポット生成位置と、タイヤ交換位置とに個別に移動可能である。
また、各支持台９０には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶ、ＲＲＯを測定するユニフォーミティ測定手段(不図示)が設けられている。
なお、ドラム８４、タイヤスピンドル８６、疑似路面８８、移動手段、ユニフォーミティ測定手段は第２の実施の形態と符号が異なるものの、ドラム８４の軸線とタイヤスピンドル８６の軸線が鉛直方向に向けられている点以外は、同様な構成で同様な動作がなされる。
【００４１】
このような第４の実施の形態に示すタイヤ試験装置においては、第２の実施の形態の効果に加え、タイヤ試験装置を１ドラム複数ポジション用として利用でき、複数のタイヤのフラットスポット評価試験が同時に可能になり、フラットスポット評価試験に費やす試験時間を大幅に短縮する上で有利となる。
また、第２の実施の形態と同様に、タイヤスピンドル８６と疑似路面８８を複数設けたので、各タイヤスピンドル８６毎に異なった構造(種類)のタイヤＴを装着でき、予備走行工程、回復走行工程でのドラム８４の回転速度を変えることにより、異なった構造(種類)のタイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に同時に行うことも可能となる。
【００４２】
（第５の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第５の実施の形態について、図６を参照して詳細に説明する。
第５の実施の形態に示すタイヤ試験装置では、タイヤスピンドル１４を挟んでドラム１２に対向配置されタイヤＴが接触する擬似路面３０の形状が平面で形成されている。
このような第５の実施の形態に示すタイヤ試験装置においては、フラットスポット生成用の擬似路面３０を平面とすることで、平面でフラットスポットが生成された状態を再現できる。
これにより、タイヤＴをタイヤスピンドル１４から取り外さなくとも、ドラム１２を占有することなくタイヤのフラットスポット試験を行うことができ、タイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に行うことができる。
第５の実施の形態は、第１〜第４の実施の形態に適用可能である。第５の実施の形態を第２〜第４の実施の形態に適用する場合には、複数の疑似路面のうちの任意の疑似路面を平面で形成し、残りの疑似路面をドラムと同じ形状で形成してもよく、あるいは、全ての疑似路面を全て平面で形成してもよい。
【００４３】
（第６の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第６の実施の形態について、図７を参照して詳細に説明する。
第６の実施の形態に示すタイヤ試験装置は、第１の実施の形態に遮蔽板３２を加えたものである。
すなわち、タイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴとドラム１２との間に、タイヤＴ側とドラム１２側とを仕切る遮蔽板３２を設けた。
遮蔽板３２は、不図示の移動手段により、ドラム１２のタイヤスピンドル１４側が覆われる遮蔽位置（図７の実線で示す位置）と、ドラム１２がタイヤスピンドル１４に開放される非遮蔽位置（図７の仮想線で示す位置）に移動可能である。この場合、遮蔽板３２の移動方向は鉛直方向でもよく水平方向でもよい。
このような第４の実施の形態のタイヤ試験装置によれば、第１の実施の形態の効果に加え、遮蔽板３２を遮蔽位置とすることで、ドラム１２が回転駆動されている場合であっても、タイヤスピンドル１４に対するタイヤＴの交換作業を効率よく行う上で有利となる。
第６の実施の形態は、第１〜第４の実施の形態に適用可能である。第６の実施の形態を第２〜第４の実施の形態に適用する場合には、ドラムと、タイヤスピンドルに装着されたタイヤＴとの間の全ての箇所に遮蔽板３２を設けてもよく、任意の箇所のみに遮蔽板３２を設けてもよい。
【００４４】
（第７の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第７の実施の形態について、図８を参照して詳細に説明する。
第７の実施の形態に示すタイヤ試験装置は、第１の実施の形態に擬似路面１８付きの遮蔽板３２を加えたものである。
すなわち、第７の実施の形態に示すタイヤ試験装置では、第６の実施の形態と同様に、タイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴとドラム１２との間に、タイヤＴ側とドラム１２側とを仕切る遮蔽板３２が設けられている。
遮蔽板３２は、不図示の移動手段により、ドラム１２のタイヤスピンドル１４側が覆われる遮蔽位置（図８の実線で示す位置）と、ドラム１２がタイヤスピンドル１４に開放される非遮蔽位置（図８の仮想線で示す位置）に移動可能である。
さらに、遮蔽位置に位置した遮蔽板３２がタイヤＴと対向する箇所に、擬似路面１８が設けられている。
【００４５】
そして、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４により走行位置、フラットスポット生成位置、走行位置、タイヤ交換位置に移動させることで、予備走行工程、フラットスポット生成工程、回復走行工程、タイヤ交換工程が行われる。
走行位置では、遮蔽板３２は非遮蔽位置に移動され、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴがドラム１２に所定の荷重を掛けた状態で押し当てられる。
また、フラットスポット生成位置では、遮蔽板３２は遮蔽位置に移動され、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴが所定の荷重を掛けた状態で第１の擬似路面１８に押し当てられる。
また、タイヤ交換位置では、遮蔽板３２は遮蔽位置に移動され、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴは、第１の擬似路面１８から離される。
【００４６】
このような第７の実施の形態のタイヤ試験装置によれば、遮蔽板３２と疑似路面１８とが、タイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴとドラム１２との間に配置されるため、タイヤ試験装置の平面的なスペースを小さくできる効果が奏される。
第７の実施の形態は、第１〜第４の実施の形態に適用可能である。第７の実施の形態を第２〜第４の実施の形態に適用する場合には、ドラムと、タイヤスピンドルに装着されたタイヤＴとの間の全ての箇所に擬似路面１８付きの遮蔽板３２を設けてもよく、任意の箇所のみに擬似路面１８付きの遮蔽板３２を設けてもよい。
【符号の説明】
【００４７】
Ｔ……タイヤ、１２、８４……ドラム、１４、１６、８６……タイヤスピンドル、１８，２０、８８……擬似路面、１４０４，１６０４……移動手段、１４０６，１６０６……ユニフォーミティ測定手段、１８０４，２００４……温度調節手段。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タイヤ試験装置及びタイヤ試験方法に関し、さらに詳しくは、タイヤのユニフォーミティ測定機能とタイヤのフラットスポット生成機能を備えてなるタイヤ試験装置及びタイヤ試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
路面上を転動するタイヤは、複数種類のゴムやコード補強材などで造られた複合材製品であるため、製造されたタイヤごとのユニフォーミティ（寸法や剛性や重量分布などの均一性）にバラツキが生じる。このため、製造後のタイヤは、タイヤユニフォーミティ測定装置（タイヤ試験装置）を用いて測定された結果により良品または不良品に選別される。
この種のタイヤユニフォーミティ測定装置は、通常、表面が平滑な回転ドラムを路面の代用として用い、予め決められた測定条件下で、被測定用のタイヤを、回転駆動される回転ドラムの外周面に荷重を掛けて押し付け、回転するタイヤに発生する力の大きさや力の変動の大きさ、外径変動の大きさをユニフォーミティ値として測定するものである（特許文献１、２参照）。
【０００３】
ユニフォーミティ値としては、タイヤの径方向における軸力の変動量であってタイヤの上下方向力の変動量を表すＲＦＶ（Radial Force Variation）、タイヤの幅方向の変動量を表すＬＦＶ（Lateral Force Variation）、タイヤ接線方向の変動量を表すＴＦＶ（Tractive Force Variation）、タイヤの１周分におけるタイヤ表面の外径の変動量を表すＲＲＯ（Radial Run Out）などがあり、これらユニフォーミティ値はタイヤの均一性を評価する尺度となる。
【０００４】
ところで、自動車を高速走行させると、タイヤのトレッド面が４０℃〜６０℃程度に上昇し、タイヤがこのような状態にある自動車を比較的長時間停車させ、タイヤを冷却させると、タイヤの接地部位にフラットスポットが発生する。ただし、自動車を再び走行させれば、タイヤの表面部の温度上昇に伴いフラットスポットはなくなり、タイヤは元の状態に回復される。
しかしながら、フラットスポットが発生したタイヤは自動車の走行初期時に振動源となり、乗り心地の悪化の要因となる。
従って、タイヤのフラットスポットの発生量評価、回復評価は、タイヤの特性を評価する上で比較的優先順位の高い評価項目となっている。
【０００５】
タイヤのフラットスポットの回復評価を可能にした従来のタイヤ試験装置では、回転可能に支持されたスピンドル軸にタイヤを装着し、このタイヤを回転駆動されるドラムに押し当てて一定の時間予備走行させることでタイヤの表面温度を４０℃〜６０℃の温度に上昇させる。そして、この状態のタイヤのユニフォーミティを測定し、初期のユニフォーミティ値を得る。
その後、この温度上昇したタイヤの初期ユニフォーミティの波形から、周上の一箇所を決定し、回転を停止させた前記ドラムの周面に一定時間押し付けて、タイヤの周面にフラットスポットを生成する。
そして、フラットスポットの生じたタイヤをドラムに押し付けた状態でドラムを再度回転して一定時間回復走行させ、タイヤの表面温度の上昇と共にタイヤのフラットスポットを回復させる。この時のフラットスポットの回復の評価は、回復走行時に定期的に測定したユニフォーミティ値と、前記の初期のユニフォーミティ値とを比較して行うようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００６−８４３１０号公報
【特許文献２】特開２００７−２７６６９７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
フラットスポットの生成方法には、上述したように、予備走行で表面温度を上昇させたタイヤをスピンドル軸に取り付けたままドラムに押し付けることによりドラムでフラットスポットを生成する方法１の他に、予備走行で表面温度を上昇させたタイヤをスピンドル軸から取り外し、フラットスポット生成用治具を用いてフラットスポットを生成する方法２がある。
上記方法２では、一度外したタイヤを再度スピンドル軸に取り付けた時、初期状態と全く同じ状態に取り付けることは困難であり、その影響がフラットスポットの評価(発生量評価、回復評価)結果に大きく影響することになる。したがって、フラットスポットの評価においては、上記方法１の方が好ましい。
【０００８】
しかしながら、上記方法１では、スピンドル軸にタイヤを装着したタイヤを回転駆動されるドラムに押し当てて一定時間予備走行させることでタイヤの表面温度を上昇させる工程と、前記ドラムの回転を停止させこの温度上昇したタイヤを前記ドラムに一定時間押し付けてフラットスポットを生成する工程と、前記ドラムを回転駆動させフラットスポットの生じたタイヤをドラムに押し付けて一定時間回復走行させる工程との３つの工程をドラムを用いて行うため、１本のタイヤのフラットスポット評価には、タイヤ試験装置のドラムを２時間以上占有してしまう。
その結果、タイヤ試験装置の試験効率が悪く、生産性も低くなり、試験コストも上昇するという問題があった。
【０００９】
本発明は、上記のような事情に鑑みなされたものであり、その目的は、タイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に行うことができるタイヤ試験装置及びタイヤ試験方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために本発明のタイヤ試験装置は、回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着されるタイヤスピンドルと、前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤにフラットスポットを生成する擬似路面と、前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤを前記ドラムに押し当てる走行位置と、前記タイヤを前記擬似路面に押し当てるフラットスポット生成位置とに前記タイヤスピンドルを移動させる移動手段と、前記走行位置での前記タイヤのユニフォーミティ成分を測定するユニフォーミティ測定手段とを備えることを特徴とする。
また、本発明のタイヤ試験装置は、回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着され前記ドラムの周囲の異なった箇所に前記ドラムの軸線と軸線を平行させて配置された複数のタイヤスピンドルと、前記各タイヤスピンドル毎に設けられタイヤにフラットスポットを生成する複数の擬似路面と、前記各タイヤスピンドルに装着されたタイヤを前記ドラムに押し当てる走行位置と、前記タイヤを前記擬似路面に押し当てるフラットスポット生成位置と、前記タイヤを前記ドラムと前記擬似路面との双方から離したタイヤ交換位置とに、前記各タイヤスピンドルを移動させる移動手段と、前記走行位置での前記各タイヤのユニフォーミティ成分を測定するユニフォーミティ測定手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】
また、本発明のタイヤ試験方法は、回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着されるタイヤスピンドルと、前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤにフラットスポットを生成する擬似路面とを設け、前記タイヤスピンドルを移動させ前記タイヤを前記ドラムに押し当てて予備走行させタイヤのユニフォーミティ成分を測定する予備走行工程と、前記タイヤスピンドルを移動させ前記予備走行後のタイヤを前記擬似路面に押し当てて当該タイヤにフラットスポットを生成するフラットスポット生成工程と、前記タイヤスピンドルを移動させ前記フラットスポットが生成された前記タイヤを前記ドラムに再度押し当てて回復走行させ、タイヤのユニフォーミティ成分を測定してタイヤのフラットスポットの回復を評価する回復走行工程と、前記タイヤスピンドルに対して前記フラットスポットが回復された後の試験済みタイヤを試験前のタイヤに交換するタイヤ交換工程とを備えることを特徴とする。
また、本発明のタイヤ試験方法は、回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着される複数のタイヤスピンドルと、前記各タイヤスピンドルに装着されたタイヤのそれぞれにフラットスポットを生成する複数の擬似路面とを設け、前記タイヤスピンドル毎に前記タイヤを前記ドラムに押し当てて予備走行させタイヤのユニフォーミティ成分を測定する予備走行工程と、前記タイヤスピンドル毎に前記予備走行後のタイヤを前記擬似路面に押し当てて当該タイヤにフラットスポットを生成するフラットスポット生成工程と、前記タイヤスピンドル毎に前記フラットスポットが生成された前記タイヤを前記ドラムに再度押し当てて回復走行させ、タイヤのユニフォーミティ成分を測定してタイヤのフラットスポットの回復を評価する回復走行工程と、前記タイヤスピンドル毎に前記フラットスポットが回復された後の試験済みタイヤを試験前のタイヤに交換するタイヤ交換工程を備え、前記予備走行工程、前記フラットスポット生成工程、前記回復走行工程及び前記タイヤ交換工程が前記各タイヤスピンドル毎に時間をずらして実行されることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明にかかるタイヤ試験装置及びタイヤ試験方法によれば、タイヤのフラットスポット評価(発生量評価、回復評価)を効率よく、高精度に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明かかるタイヤ試験装置の第１の実施の形態を示す概略正面図である。
【図２】本発明かかるタイヤ試験装置の第２の実施の形態を示す概略正面図である。
【図３】第２の実施の形態のタイヤ試験装置を用いてタイヤのフラットスポットの評価試験を行う場合の説明用タイムテーブルである。
【図４】本発明かかるタイヤ試験装置の第３の実施の形態を示す概略正面図である。
【図５】本発明かかるタイヤ試験装置の第４の実施の形態を示す概略平面図である。
【図６】本発明かかるタイヤ試験装置の第５の実施の形態を示す概略正面図である。
【図７】本発明かかるタイヤ試験装置の第６の実施の形態を示す概略正面図である。
【図８】本発明かかるタイヤ試験装置の第７の実施の形態を示す概略正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
（第１の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第１の実施の形態について、図１を参照して詳細に説明する。
タイヤ試験装置は、図１に示すように、回転駆動される１つのドラム１２と、被試験用のタイヤＴが着脱可能に装着される第１のタイヤスピンドル１４と、タイヤＴにフラットスポットＳ１(図２参照)を生成する第１の擬似路面１８を含んで構成される。
【００１５】
ドラム１２は、支持基台１２０２上で水平方向に延在する回転軸１２０４を介して回転可能に支持されている。また、ドラム１２は支持基台１２０２に設けられた駆動装置１２０６により回転駆動される。
また、第１の擬似路面１８は、ドラム１２の軸線と直交する方向に配置され、ドラム１２に対向して配置されている。
第１のタイヤスピンドル１４は、ドラム１２と第１の擬似路面１８との間に配置され、第１のタイヤスピンドル１４の軸線とドラム１２の軸線とは平行している。すなわち、第１２の疑似路面１８は、ドラム１２の軸線と直交する方向でタイヤスピンドル１４よりもドラム１２から離れた箇所に配置されている。
【００１６】
第１のタイヤスピンドル１４は、ドラム１２と第１の擬似路面１８との間に配置された支持台１４０２に回転可能に支持されている。
ドラム１２の支持基台１２０２の第１のタイヤスピンドル１４側に第１の基台２２が設けられ、支持台１４０２は、この第１の基台２２上に設けられた案内部２２０２上に、ドラム１２と第１の擬似路面１８に対して接近及び離間する方向に移動可能に載置されている。
また、第１の基台２２には、第１のタイヤスピンドル１４を走行位置とフラットスポット生成位置とタイヤ交換位置とに移動させる移動手段１４０４が設けられている。
走行位置では、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴがドラム１２に所定の荷重を掛けた状態で押し当てられる。
また、フラットスポット生成位置では、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴが第１の擬似路面１８に所定の荷重を掛けた状態で押し当てられる。
また、タイヤ交換位置では、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴがドラム１２と第１の擬似路面１８の双方から離される。
なお、タイヤスピンドル１４には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶを測定するユニフォーミティ測定手段１４０６が設けられ、ＲＲＯは、外付けのレーザー測定器で測定をする。
なお、移動手段１４０４には、雌ねじが形成され回転不能かつ直線移動可能に支持された雌ねじ部材を支持基台１４０２に連結し、前記雌ねじに螺合させた雄ねじ部材の正逆転により支持基台１４０２を往復直線運動させるなど、従来公知の様々な機構が採用可能である。
【００１７】
第１の擬似路面１８は第１の基台２２上に立設した支持部材１８０２に設けられている。この第１の擬似路面１８がタイヤＴと接する面の形状は、ドラム１２がタイヤＴと接する面の形状と同一に形成されている。
具体的には、第１の擬似路面１８は、ドラム１２の外周面と同一の曲率で形成されている。これにより、予備走行後の加熱されたタイヤＴをドラム１２に押し付けてフラットスポットＳ１を生成する状態を、第１の擬似路面１８を用いて再現できるようにしている。
また、第１の擬似路面１８は、ドラム１２の熱伝導率と同等もしくは一定の差（１０％未満）を有する熱伝導率の材料から構成されていることが好ましい。第１の擬似路面１８の熱伝導率をこのように設定すると、予備走行後の加熱されたタイヤＴをドラム１２に押し付けてフラットスポットＳ１を生成した状態を再現する上で有利となる。
【００１８】
さらに、支持部材１８０２には、第１の擬似路面１８がタイヤＴと接する面の温度を調節する温度調節手段１８０４が設けられている。この温度調節手段１８０４により、第１の擬似路面１８がタイヤＴと接する面の温度を任意の温度、例えば室温や室温より低い温度または室温−１０℃の温度などに調節することで、フラットスポットの生成時間を短縮し、タイヤ試験に費やす時間を短縮する上で有利となる。
【００１９】
次に、第１の実施の形態に示すタイヤ試験装置を用いてタイヤのフラットスポットの評価試験を行う場合について説明する。
まず、ドラム１２を駆動装置１２０６により回転駆動し、この状態で、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４によりドラム１２方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４を走行位置に位置させ、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴをドラム１２の外周面に一定の荷重を掛けて押し付け、一定の時間、例えば４５分間予備走行する（予備走行工程）。これにより、タイヤＴの表面温度は、例えば４０℃〜６０℃に上昇する。予備走行工程の実行時で温度上昇後、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１４０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、初期データを得る。
予備走行工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４によりドラム１２から離間する方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４をフラットスポット生成位置に位置させ、表面温度が上昇したタイヤＴを静止した状態で第１の擬似路面１８に一定の時間、例えば６０分、一定の荷重を掛けて押し当てタイヤＴにフラットスポットＳ１を生成する（フラットスポット生成工程）。そして、従来公知の様々な方法によりフラットスポットＳ１の発生量を評価する。
【００２０】
フラットスポット生成工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４により第１の擬似路面１８から離間する方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４を走行位置に位置させ、再び、速度Ａで回転駆動されるドラム１２に一定の時間、例えば３０分一定の荷重を掛けて押し当て、フラットスポットの回復走行を実行する（回復走行工程）。
回復走行工程の実行時には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１４０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、この測定データと前記の初期データとを比較してタイヤのフラットスポットの回復を評価する。
回復走行工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を、移動手段１４０４によりタイヤ交換位置とし、フラットスポットの評価試験が終了したタイヤＴは第１のタイヤスピンドル１４から取り外され、評価試験がなされていないタイヤに交換される（タイヤ交換工程）。
以下、同様にして、新規なタイヤについて予備走行工程、フラットスポット生成工程、回復走行工程及びタイヤ交換工程が実行される。
【００２１】
このような本実施の形態によれば、単一のドラム１２と、単一のタイヤスピンドル１４とに加えて、単一の擬似路面１８を設け、予備走行工程、フラットスポット生成工程、回復走行工程、タイヤ交換工程の一連の工程を実行するようにした。
そのため、ドラム１２を占有する時間を短縮でき、また、タイヤＴをタイヤスピンドル１４から取り外すことなくタイヤのフラットスポット試験を行うことができ、タイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に行う上で有利となる。
また、擬似路面を任意の温度で設定できるので、フラットスポット生成を効率的に行うことも可能となる。
（第２の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第２の実施の形態について、図２、図３を参照して詳細に説明する。なお、以下の実施の形態の説明では、第１の実施の形態の同一または対応する部分には同一の符号を付してその説明を省略しあるいは簡単に行い、第１の実施の形態と異なる点を重点に述べる。
タイヤ試験装置は、図２に示すように、回転駆動される１つのドラム１２と、被試験用のタイヤＴが着脱可能に装着される第１、第２の２つのタイヤスピンドル１４，１６と、各タイヤＴ毎にフラットスポットＳ１を生成する第１、第２の２つの擬似路面１８，２０を含んで構成される。
すなわち、複数のタイヤスピンドル１４，１６が設けられ、各タイヤスピンドル１４，１６毎に擬似路面１８，２０が複数設けられている。
なお、第２の実施の形態では、第１、第２の２つのタイヤスピンドル１４，１６に異なった構造(種類)のタイヤＴが装着されている。
【００２２】
第１のタイヤスピンドル１４と第２のタイヤスピンドル１６は、ドラム１２を挟んでドラム１２の左右両側に、それらの軸線をドラム１２の回転軸１２０４の軸線と平行させて配設されている。
また、第１の擬似路面１８は第１のタイヤスピンドル１４を挟んでドラム１２に対向配置され、さらに、第２の擬似路面２０は第２のタイヤスピンドル１６を挟んでドラム１２に対向配置されている。すなわち、第１、第２の疑似路面１８、２０は、ドラム１２の軸線と直交する方向でタイヤスピンドル１４、１６よりもドラム１２から離れた箇所に配置されている。
なお、ドラム１２と、第１のタイヤスピンドル１４と、第１の擬似路面１８とは前記第１の実施の形態と同様であるので説明を省略する。
【００２３】
第２のタイヤスピンドル１６は、ドラム１２と第２の擬似路面２０との間に配置された支持台１６０２に回転可能に支持されている。
ドラム１２の支持基台１２０２の第２のタイヤスピンドル１６側に第２の基台２４が設けられ、支持台１６０２は、この第２の基台２４上に設けられた案内部２４０２上に、ドラム１２と第２の擬似路面２０に対して接近及び離間する方向に移動可能に載置されている。
また、第２の基台２４には、第２のタイヤスピンドル１６を走行位置とフラットスポット生成位置とタイヤ交換位置とに移動させる移動手段１６０４が設けられている。
走行位置では、第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴがドラム１２に所定の荷重を掛けた状態で押し当てられる。
また、フラットスポット生成位置では、第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴが第２の擬似路面２０に所定の荷重を掛けた状態で押し当てられる。
また、タイヤ交換位置では、第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴがドラム１２と第２の擬似路面２０の双方から離される。
なお、支持台１６０２には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶを測定するユニフォーミティ測定手段１６０６が設けられ、ＲＲＯは外付けのレーザー測定器で測定をする。
【００２４】
第２の擬似路面２０は第２の基台２４上に立設した支持部材２００２に装着されている。この第２の擬似路面２０がタイヤＴと接する面の形状は、ドラム１２のタイヤＴと接する面の形状と同一に形成されている。
具体的には、第２の擬似路面２０は、ドラム１２の外周面と同一の曲率で形成されている。これにより、予備走行後の加熱されたタイヤＴをドラム１２に押し付けてフラットスポットＳ１を生成した状態を、第２の擬似路面２０を用いて再現できるようにしている。
また、第２の擬似路面２０は、ドラム１２の熱伝導率と同等もしくは一定の差（１０％未満）を有する熱伝導率の材料から構成されていることが好ましい。第２の擬似路面２０の熱伝導率をこのように設定すると、予備走行後の加熱されたタイヤＴをドラム１２に押し付けてフラットスポットＳ１を生成した状態を再現する上で有利となる。
【００２５】
さらに、支持部材２００２には、第２の擬似路面２０がタイヤＴと接する面の温度を調節する温度調節手段２００４が設けられている。この温度調節手段２００４により、第２の擬似路面２０がタイヤＴと接する面の温度を任意の温度、例えば室温や室温より低い温度または室温−１０℃の温度などに調節することで、フラットスポットの生成時間を短縮し、その試験効率を向上する上で有利となる。
【００２６】
次に、第２の実施の形態に示すタイヤ試験装置を用いてタイヤのフラットスポットの評価試験を行う場合について説明する。
まず、ドラム１２を駆動装置１２０６により速度Ａで回転駆動し、この状態で、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４によりドラム１２方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４を走行位置に位置させ、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴをドラム１２の外周面に一定の荷重を掛けて押し付け、一定の時間、例えば４５分間予備走行する（予備走行工程）。これにより、タイヤＴの表面温度は、例えば４０℃〜６０℃に上昇する。予備走行工程の実行時で温度上昇後、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１４０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、初期データＡを得る。
【００２７】
予備走行工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４によりドラム１２から離間する方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４をフラットスポット生成位置に位置させ、表面温度が上昇したタイヤＴを第１の擬似路面１８に一定の時間、例えば６０分、一定の荷重を掛けて押し当てタイヤＴにフラットスポットＳ１を生成する（フラットスポット生成工程）。
【００２８】
一方、第１の擬似路面１８によるタイヤＴへのフラットスポットＳ１の生成開始に合わせて、ドラム１２を駆動装置１２０６により速度Ａとは異なる速度Ｂで回転駆動し、この状態で、支持台１６０２を含む第２のタイヤスピンドル１６を移動手段１６０４によりドラム１２方向に移動する。そして、第２のタイヤスピンドル１６を走行位置に位置させ、第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴをドラム１２の外周面に一定の荷重を掛けて押し付け、一定の時間、例えば４５分間予備走行する（予備走行工程）。これにより、タイヤＴの表面の温度は、例えば４０℃〜６０℃に上昇する。予備走行工程の実行時で温度上昇後、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１４０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、初期データＢを得る。
この第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴの予備走行工程は、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴのフラットスポット生成工程中に実行される。
【００２９】
予備走行工程が終了したならば、支持台１６０２を含む第２のタイヤスピンドル１６を移動手段１６０４によりドラム１２から離間する方向に移動する。そして、第２のタイヤスピンドル１６をフラットスポット生成位置に位置させ、表面温度が上昇したタイヤＴを第２の擬似路面２０に一定の時間、例えば６０分、一定の荷重を掛けて押し当てタイヤＴにフラットスポットＳ１を生成する（フラットスポット生成工程）。
【００３０】
第１の擬似路面１８によるタイヤＴへのフラットスポットＳ１のフラットスポット生成工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４により第１の擬似路面１８から離間する方向に移動する。そして、第１のタイヤスピンドル１４を走行位置に位置させ、再び、速度Ａで回転駆動されるドラム１２に一定の時間、例えば３０分一定の荷重を掛けて押し当て、フラットスポットの回復走行を実行する（回復走行工程）。
回復走行工程の実行時には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１４０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、この測定データと前記の初期データＡとを比較してタイヤのフラットスポットの回復を評価する。
【００３１】
回復走行工程が終了したならば、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を、移動手段１４０４によりタイヤ交換位置とし、フラットスポットの評価試験が終了したタイヤＴは第１のタイヤスピンドル１４から取り外され、評価試験がなされていない新規なタイヤに交換される（タイヤ交換工程）。
この第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴの回復走行工程とタイヤ交換工程は、第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴのフラットスポット生成工程中に実行される。
【００３２】
一方、第２の擬似路面２０によるタイヤＴへのフラットスポットＳ１のフラットスポット生成工程が終了したならば、支持台１６０２を含む第２のタイヤスピンドル１６を移動手段１６０４により第２の擬似路面２０から離間する方向に移動する。そして、再び、速度Ｂで回転駆動されるドラム１２に一定の時間、例えば３０分一定の荷重を掛けて押し当て、フラットスポットの回復走行を実行する（回復走行工程）。
回復走行工程の実行時には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶをユニフォーミティ測定手段１６０６により測定し、ＲＲＯは外付けしたレーザー測定器で測定し、この測定データと前記の初期データＢとを比較してタイヤのフラットスポットの回復を評価する。
この第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴの回復走行工程は、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴの交換工程の終了間際から予備走行工程の前に実行される。
【００３３】
回復走行工程が終了したならば、支持台１６０２を含む第２のタイヤスピンドル１６を、移動手段１６０４によりタイヤ交換位置とし、フラットスポットの評価試験が終了したタイヤＴは第２のタイヤスピンドル１６から取り外され、評価試験がなされていない新規なタイヤに交換される（タイヤ交換工程）。
この第２のタイヤスピンドル１６に装着されたタイヤＴのタイヤ交換工程は、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴの予備走行工程中に実行される。
【００３４】
以下、同様にして、上述した予備走行工程、フラットスポット生成工程、回復走行工程及びタイヤ交換工程が第１、第２のタイヤスピンドル毎に時間をずらして実行される。
【００３５】
このような第２の実施の形態によれば、単一のドラム１２に対して、２つのタイヤスピンドル１４，１６と、２つの擬似路面１８，２０とを設け、予備走行工程、フラットスポット生成工程、回復走行工程、タイヤ交換工程の一連の工程を、各タイヤスピンドル１４，１６毎に時間をずらして実行するようにした。
そのため、従来のタイヤ試験装置では、１本のフラットスポット評価に１３５分費やされていたのに対し、本実施の形態では、図２に示すように、１８０分で２本のタイヤのフラットスポット評価を行え、タイヤ試験に費やす時間を大幅に短縮することが可能となる。
したがって、本実施の形態によれば、タイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に行う上で有利となる。
また、タイヤスピンドルと疑似路面を複数設けたので、各タイヤスピンドル１４，１６毎に異なった構造(種類)のタイヤＴを装着でき、予備走行工程、回復走行工程でのトラム１２の回転速度を変えることにより、異なった構造(種類)のタイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に同時に行うことも可能となる。
【００３６】
（第３の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第３の実施の形態について、図４を参照して詳細に説明する。
第３の実施の形態のタイヤ試験装置は、第２の実施の形態の変形例である。
第３の実施の形態のタイヤ試験装置は、長尺な基台６２の長手方向の中間に位置して、基台６２の長手方向と直交する軸線周りに回転可能に支持され、図示省略の駆動手段により回転駆動される単一のドラム６４を有している。
ドラム６４を挟んでドラム６４の軸方向と直交する方向の両側の基台６２上に、それぞれ一対ずつのブラケット６６，６８が基台６２の長手方向に移動可能に配置されている。
一対ずつのブラケット６６，６８には、被試験用のタイヤＴが一対ずつ着脱可能に装着される第１、第２のタイヤスピンドル７０，７２が回転可能に支持され、第１、第２のタイヤスピンドル７０，７２の軸線とドラム６４の軸線は平行である。
また、第１、第２のタイヤスピンドル７０，７２に装着された各タイヤＴ毎にフラットスポットを生成する一対ずつの第１、第２の擬似路面７４，７６が、第１、第２のタイヤスピンドル７０，７２のそれぞれに装着された各タイヤＴを挟んでドラム６４の外周面に対向して配置されている。
なお、ドラム６４、第１、第２のタイヤスピンドル７０，７２、第１、第２の擬似路面７４，７６は第２の実施の形態と符号が異なるものの、第２の実施の形態のドラム１２、第１、第２のタイヤスピンドル１４、１６、第１、第２の疑似路面１８、２０と同様な構成であり、第２の実施の形態と同様な移動手段１４０４，１６０４により、走行位置、フラットスポット生成位置、タイヤ交換位置とに移動され、同様な動作がなされる。
【００３７】
第３の実施の形態のタイヤ試験装置によれば、２本のタイヤＴについて同時にタイヤ試験を行えるため、第２の実施の形態に比べて、タイヤ試験に費やす時間を１／２に短縮できる。
【００３８】
（第４の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第４の実施の形態について、図５を参照して詳細に説明する。
第４の実施の形態は、第２の実施の形態の変形例である。
第４の実施の形態が第２の実施の形態と異なる点は、第２の実施の形態のタイヤ試験装置では、ドラム１２の軸線と、第１、第２のタイヤスピンドル１４，１６の軸線とを水平方向に延在させていたのに対して、第４の実施の形態では、ドラム８４の軸線と、４つのタイヤスピンドル８６の軸線を鉛直方向に延在させていることである。
【００３９】
すなわち、ドラム８４はその軸線を鉛直方向に向けられて配置され、不図示の支持基台で支持され、駆動軸８２により鉛直軸を中心に回転駆動され、回転軸８２は不図示の駆動装置により回転駆動される。
タイヤＴが装着されるタイヤスピンドル８６は、単一のドラム８４に対して４つ設けられ、これに対応して４つの疑似路面８８が設けられている。
すなわち、タイヤＴが装着される第１、第２、第３、第４の４つのタイヤスピンドル８６は、ドラム８４の径方向外側でドラム８４の周方向に等間隔離した箇所に、それらの軸線を鉛直方向に向けて配置されている。
また、ドラム８４の径方向で各第１、第２、第３、第４の４つのタイヤスピンドル８６の外側に、それぞれフラットスポット生成用の擬似路面８８が配置されている。
【００４０】
第１、第２、第３、第４の４つのタイヤスピンドル８６は、それぞれ支持台９０上で回転可能に支持されている。
各支持台９０は、不図示の移動手段により、走行位置と、フラットスポット生成位置と、タイヤ交換位置とに個別に移動可能である。
また、各支持台９０には、タイヤＴのユニフォーミティ成分ＲＦＶやＬＦＶ、ＴＦＶ、ＲＲＯを測定するユニフォーミティ測定手段(不図示)が設けられている。
なお、ドラム８４、タイヤスピンドル８６、疑似路面８８、移動手段、ユニフォーミティ測定手段は第２の実施の形態と符号が異なるものの、ドラム８４の軸線とタイヤスピンドル８６の軸線が鉛直方向に向けられている点以外は、同様な構成で同様な動作がなされる。
【００４１】
このような第４の実施の形態に示すタイヤ試験装置においては、第２の実施の形態の効果に加え、タイヤ試験装置を１ドラム複数ポジション用として利用でき、複数のタイヤのフラットスポット評価試験が同時に可能になり、フラットスポット評価試験に費やす試験時間を大幅に短縮する上で有利となる。
また、第２の実施の形態と同様に、タイヤスピンドル８６と疑似路面８８を複数設けたので、各タイヤスピンドル８６毎に異なった構造(種類)のタイヤＴを装着でき、予備走行工程、回復走行工程でのドラム８４の回転速度を変えることにより、異なった構造(種類)のタイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に同時に行うことも可能となる。
【００４２】
（第５の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第５の実施の形態について、図６を参照して詳細に説明する。
第５の実施の形態に示すタイヤ試験装置では、タイヤスピンドル１４を挟んでドラム１２に対向配置されタイヤＴが接触する擬似路面３０の形状が平面で形成されている。
このような第５の実施の形態に示すタイヤ試験装置においては、フラットスポット生成用の擬似路面３０を平面とすることで、平面でフラットスポットが生成された状態を再現できる。
これにより、タイヤＴをタイヤスピンドル１４から取り外さなくとも、ドラム１２を占有することなくタイヤのフラットスポット試験を行うことができ、タイヤのフラットスポット評価を効率よく、高精度に行うことができる。
第５の実施の形態は、第１〜第４の実施の形態に適用可能である。第５の実施の形態を第２〜第４の実施の形態に適用する場合には、複数の疑似路面のうちの任意の疑似路面を平面で形成し、残りの疑似路面をドラムと同じ形状で形成してもよく、あるいは、全ての疑似路面を全て平面で形成してもよい。
【００４３】
（第６の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第６の実施の形態について、図７を参照して詳細に説明する。
第６の実施の形態に示すタイヤ試験装置は、第１の実施の形態に遮蔽板３２を加えたものである。
すなわち、タイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴとドラム１２との間に、タイヤＴ側とドラム１２側とを仕切る遮蔽板３２を設けた。
遮蔽板３２は、不図示の移動手段により、ドラム１２のタイヤスピンドル１４側が覆われる遮蔽位置（図７の実線で示す位置）と、ドラム１２がタイヤスピンドル１４に開放される非遮蔽位置（図７の仮想線で示す位置）に移動可能である。この場合、遮蔽板３２の移動方向は鉛直方向でもよく水平方向でもよい。
このような第４の実施の形態のタイヤ試験装置によれば、第１の実施の形態の効果に加え、遮蔽板３２を遮蔽位置とすることで、ドラム１２が回転駆動されている場合であっても、タイヤスピンドル１４に対するタイヤＴの交換作業を効率よく行う上で有利となる。
第６の実施の形態は、第１〜第４の実施の形態に適用可能である。第６の実施の形態を第２〜第４の実施の形態に適用する場合には、ドラムと、タイヤスピンドルに装着されたタイヤＴとの間の全ての箇所に遮蔽板３２を設けてもよく、任意の箇所のみに遮蔽板３２を設けてもよい。
【００４４】
（第７の実施の形態）
本発明にかかるタイヤ試験装置の第７の実施の形態について、図８を参照して詳細に説明する。
第７の実施の形態に示すタイヤ試験装置は、第１の実施の形態に擬似路面１８付きの遮蔽板３２を加えたものである。
すなわち、第７の実施の形態に示すタイヤ試験装置では、第６の実施の形態と同様に、タイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴとドラム１２との間に、タイヤＴ側とドラム１２側とを仕切る遮蔽板３２が設けられている。
遮蔽板３２は、不図示の移動手段により、ドラム１２のタイヤスピンドル１４側が覆われる遮蔽位置（図８の実線で示す位置）と、ドラム１２がタイヤスピンドル１４に開放される非遮蔽位置（図８の仮想線で示す位置）に移動可能である。
さらに、遮蔽位置に位置した遮蔽板３２がタイヤＴと対向する箇所に、擬似路面１８が設けられている。
【００４５】
そして、支持台１４０２を含む第１のタイヤスピンドル１４を移動手段１４０４により走行位置、フラットスポット生成位置、走行位置、タイヤ交換位置に移動させることで、予備走行工程、フラットスポット生成工程、回復走行工程、タイヤ交換工程が行われる。
走行位置では、遮蔽板３２は非遮蔽位置に移動され、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴがドラム１２に所定の荷重を掛けた状態で押し当てられる。
また、フラットスポット生成位置では、遮蔽板３２は遮蔽位置に移動され、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴが所定の荷重を掛けた状態で第１の擬似路面１８に押し当てられる。
また、タイヤ交換位置では、遮蔽板３２は遮蔽位置に移動され、第１のタイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴは、第１の擬似路面１８から離される。
【００４６】
このような第７の実施の形態のタイヤ試験装置によれば、遮蔽板３２と疑似路面１８とが、タイヤスピンドル１４に装着されたタイヤＴとドラム１２との間に配置されるため、タイヤ試験装置の平面的なスペースを小さくできる効果が奏される。
第７の実施の形態は、第１〜第４の実施の形態に適用可能である。第７の実施の形態を第２〜第４の実施の形態に適用する場合には、ドラムと、タイヤスピンドルに装着されたタイヤＴとの間の全ての箇所に擬似路面１８付きの遮蔽板３２を設けてもよく、任意の箇所のみに擬似路面１８付きの遮蔽板３２を設けてもよい。
【符号の説明】
【００４７】
Ｔ……タイヤ、１２、８４……ドラム、１４、１６、８６……タイヤスピンドル、１８，２０、８８……擬似路面、１４０４，１６０４……移動手段、１４０６，１６０６……ユニフォーミティ測定手段、１８０４，２００４……温度調節手段。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転駆動されるドラムと、
被試験用のタイヤが着脱可能に装着されるタイヤスピンドルと、
前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤにフラットスポットを生成する擬似路面と、
前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤを前記ドラムに押し当てる走行位置と、前記タイヤを前記擬似路面に押し当てるフラットスポット生成位置とに前記タイヤスピンドルを移動させる移動手段と、
前記走行位置での前記タイヤのユニフォーミティ成分を測定するユニフォーミティ測定手段と、
を備えることを特徴とするタイヤ試験装置。
【請求項２】
前記移動手段は、前記走行位置と前記フラットスポット生成位置とに加え、前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤを、前記ドラムと前記擬似路面との双方から離したタイヤ交換位置に移動する、
ことを特徴とする請求項１記載のタイヤ試験装置。
【請求項３】
回転駆動されるドラムと、
被試験用のタイヤが着脱可能に装着され前記ドラムの周囲の異なった箇所に前記ドラムの軸線と軸線を平行させて配置された複数のタイヤスピンドルと、
前記各タイヤスピンドル毎に設けられタイヤにフラットスポットを生成する複数の擬似路面と、
前記各タイヤスピンドルに装着されたタイヤを前記ドラムに押し当てる走行位置と、前記タイヤを前記擬似路面に押し当てるフラットスポット生成位置と、前記タイヤを前記ドラムと前記擬似路面との双方から離したタイヤ交換位置とに、前記各タイヤスピンドルを移動させる移動手段と、
前記走行位置での前記各タイヤのユニフォーミティ成分を測定するユニフォーミティ測定手段と、
を備えることを特徴とするタイヤ試験装置。
【請求項４】
前記疑似路面は、前記ドラムの軸線と直交する方向で前記タイヤスピンドルよりも前記ドラムから離れた箇所に配置されている、
ことを特徴とする請求項１乃至４に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項５】
前記擬似路面の前記タイヤと接する面の温度を調節する温度調節手段を備えることを特徴とする請求項１乃至４に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項６】
前記擬似路面は、前記ドラムの熱伝導率と同等もしくは一定の差を有する熱伝導率の材料から構成されていることを特徴とする請求項１乃至５に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項７】
前記擬似路面の前記タイヤと接する面の形状は、前記ドラムの前記タイヤと接する面の形状と同一であることを特徴とする請求項１乃至６に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項８】
前記擬似路面の前記タイヤと接する面の形状は平面であることを特徴とする請求項１乃至６に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項９】
前記タイヤスピンドルに装着された前記タイヤと前記ドラムとの間に、前記タイヤ側と前記ドラム側とを仕切る遮蔽板が移動可能に設けられていることを特徴とする請求項１乃至８に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項１０】
前記タイヤスピンドルと前記ドラムとの間に、前記タイヤ側と前記ドラム側とを仕切る遮蔽板が移動可能に設けられ、前記遮蔽板に前記擬似路面が設けられていることを特徴とする請求項１乃至３または請求項５乃至８に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項１１】
回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着されるタイヤスピンドルと、前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤにフラットスポットを生成する擬似路面とを設け、
前記タイヤスピンドルを移動させ前記タイヤを前記ドラムに押し当てて予備走行させタイヤのユニフォーミティ成分を測定する予備走行工程と、
前記タイヤスピンドルを移動させ前記予備走行後のタイヤを前記擬似路面に押し当てて当該タイヤにフラットスポットを生成するフラットスポット生成工程と、
前記タイヤスピンドルを移動させ前記フラットスポットが生成された前記タイヤを前記ドラムに再度押し当てて回復走行させ、タイヤのユニフォーミティ成分を測定してタイヤのフラットスポットの回復を評価する回復走行工程と、
前記タイヤスピンドルに対して前記フラットスポットが回復された後の試験済みタイヤを試験前のタイヤに交換するタイヤ交換工程と、
を備えることを特徴とするタイヤ試験方法。
【請求項１２】
回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着される複数のタイヤスピンドルと、前記各タイヤスピンドルに装着されたタイヤのそれぞれにフラットスポットを生成する複数の擬似路面とを設け、
前記タイヤスピンドル毎に前記タイヤを前記ドラムに押し当てて予備走行させタイヤのユニフォーミティ成分を測定する予備走行工程と、
前記タイヤスピンドル毎に前記予備走行後のタイヤを前記擬似路面に押し当てて当該タイヤにフラットスポットを生成するフラットスポット生成工程と、
前記タイヤスピンドル毎に前記フラットスポットが生成された前記タイヤを前記ドラムに再度押し当てて回復走行させ、タイヤのユニフォーミティ成分を測定してタイヤのフラットスポットの回復を評価する回復走行工程と、
前記タイヤスピンドル毎に前記フラットスポットが回復された後の試験済みタイヤを試験前のタイヤに交換するタイヤ交換工程を備え、
前記予備走行工程、前記フラットスポット生成工程、前記回復走行工程及び前記タイヤ交換工程が前記各タイヤスピンドル毎に時間をずらして実行される、
ことを特徴とするタイヤ試験方法。
【請求項１３】
前記少なくとも一つのタイヤスピンドルに装着されるタイヤの予備走行工程と回復走行工程における前記ドラムの回転速度と、前記残りのタイヤスピンドルに装着されるタイヤの予備走行工程と回復走行工程における前記ドラムの回転速度とは異ならせる、
ことを特徴とする請求項１２記載のタイヤ試験方法。
【請求項１】
回転駆動されるドラムと、
被試験用のタイヤが着脱可能に装着されるタイヤスピンドルと、
前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤにフラットスポットを生成する擬似路面と、
前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤを前記ドラムに押し当てる走行位置と、前記タイヤを前記擬似路面に押し当てるフラットスポット生成位置とに前記タイヤスピンドルを移動させる移動手段と、
前記走行位置での前記タイヤのユニフォーミティ成分を測定するユニフォーミティ測定手段と、
を備えることを特徴とするタイヤ試験装置。
【請求項２】
前記移動手段は、前記走行位置と前記フラットスポット生成位置とに加え、前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤを、前記ドラムと前記擬似路面との双方から離したタイヤ交換位置に移動する、
ことを特徴とする請求項１記載のタイヤ試験装置。
【請求項３】
回転駆動されるドラムと、
被試験用のタイヤが着脱可能に装着され前記ドラムの周囲の異なった箇所に前記ドラムの軸線と軸線を平行させて配置された複数のタイヤスピンドルと、
前記各タイヤスピンドル毎に設けられタイヤにフラットスポットを生成する複数の擬似路面と、
前記各タイヤスピンドルに装着されたタイヤを前記ドラムに押し当てる走行位置と、前記タイヤを前記擬似路面に押し当てるフラットスポット生成位置と、前記タイヤを前記ドラムと前記擬似路面との双方から離したタイヤ交換位置とに、前記各タイヤスピンドルを移動させる移動手段と、
前記走行位置での前記各タイヤのユニフォーミティ成分を測定するユニフォーミティ測定手段と、
を備えることを特徴とするタイヤ試験装置。
【請求項４】
前記疑似路面は、前記ドラムの軸線と直交する方向で前記タイヤスピンドルよりも前記ドラムから離れた箇所に配置されている、
ことを特徴とする請求項１乃至４に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項５】
前記擬似路面の前記タイヤと接する面の温度を調節する温度調節手段を備えることを特徴とする請求項１乃至４に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項６】
前記擬似路面は、前記ドラムの熱伝導率と同等もしくは一定の差を有する熱伝導率の材料から構成されていることを特徴とする請求項１乃至５に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項７】
前記擬似路面の前記タイヤと接する面の形状は、前記ドラムの前記タイヤと接する面の形状と同一であることを特徴とする請求項１乃至６に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項８】
前記擬似路面の前記タイヤと接する面の形状は平面であることを特徴とする請求項１乃至６に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項９】
前記タイヤスピンドルに装着された前記タイヤと前記ドラムとの間に、前記タイヤ側と前記ドラム側とを仕切る遮蔽板が移動可能に設けられていることを特徴とする請求項１乃至８に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項１０】
前記タイヤスピンドルと前記ドラムとの間に、前記タイヤ側と前記ドラム側とを仕切る遮蔽板が移動可能に設けられ、前記遮蔽板に前記擬似路面が設けられていることを特徴とする請求項１乃至３または請求項５乃至８に何れか１項記載のタイヤ試験装置。
【請求項１１】
回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着されるタイヤスピンドルと、前記タイヤスピンドルに装着されたタイヤにフラットスポットを生成する擬似路面とを設け、
前記タイヤスピンドルを移動させ前記タイヤを前記ドラムに押し当てて予備走行させタイヤのユニフォーミティ成分を測定する予備走行工程と、
前記タイヤスピンドルを移動させ前記予備走行後のタイヤを前記擬似路面に押し当てて当該タイヤにフラットスポットを生成するフラットスポット生成工程と、
前記タイヤスピンドルを移動させ前記フラットスポットが生成された前記タイヤを前記ドラムに再度押し当てて回復走行させ、タイヤのユニフォーミティ成分を測定してタイヤのフラットスポットの回復を評価する回復走行工程と、
前記タイヤスピンドルに対して前記フラットスポットが回復された後の試験済みタイヤを試験前のタイヤに交換するタイヤ交換工程と、
を備えることを特徴とするタイヤ試験方法。
【請求項１２】
回転駆動されるドラムと、被試験用のタイヤが着脱可能に装着される複数のタイヤスピンドルと、前記各タイヤスピンドルに装着されたタイヤのそれぞれにフラットスポットを生成する複数の擬似路面とを設け、
前記タイヤスピンドル毎に前記タイヤを前記ドラムに押し当てて予備走行させタイヤのユニフォーミティ成分を測定する予備走行工程と、
前記タイヤスピンドル毎に前記予備走行後のタイヤを前記擬似路面に押し当てて当該タイヤにフラットスポットを生成するフラットスポット生成工程と、
前記タイヤスピンドル毎に前記フラットスポットが生成された前記タイヤを前記ドラムに再度押し当てて回復走行させ、タイヤのユニフォーミティ成分を測定してタイヤのフラットスポットの回復を評価する回復走行工程と、
前記タイヤスピンドル毎に前記フラットスポットが回復された後の試験済みタイヤを試験前のタイヤに交換するタイヤ交換工程を備え、
前記予備走行工程、前記フラットスポット生成工程、前記回復走行工程及び前記タイヤ交換工程が前記各タイヤスピンドル毎に時間をずらして実行される、
ことを特徴とするタイヤ試験方法。
【請求項１３】
前記少なくとも一つのタイヤスピンドルに装着されるタイヤの予備走行工程と回復走行工程における前記ドラムの回転速度と、前記残りのタイヤスピンドルに装着されるタイヤの予備走行工程と回復走行工程における前記ドラムの回転速度とは異ならせる、
ことを特徴とする請求項１２記載のタイヤ試験方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１２−１８１１２０（Ｐ２０１２−１８１１２０Ａ）
【公開日】平成２４年９月２０日（２０１２．９．２０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−４４５８０（Ｐ２０１１−４４５８０）
【出願日】平成２３年３月２日（２０１１．３．２）
【出願人】（０００００６７１４）横浜ゴム株式会社 (4,905)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年９月２０日（２０１２．９．２０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年３月２日（２０１１．３．２）
【出願人】（０００００６７１４）横浜ゴム株式会社 (4,905)
【Ｆターム（参考）】
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