タッチパネル
【課題】タッチパネルにおいて、シールド膜と電位供給用端子との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査する。
【解決手段】タッチパネルは、タッチパネル本体（１１０）と、タッチパネル本体の裏面に設けられたシールド膜（１２０）と、シールド膜に接続された接続基板（１３０）と、接続基板上に設けられた電位供給線（１７３）と、接続基板におけるシールド膜に面する側に設けられ、電位供給線及びシールド膜に電気的に接続された電位供給用接続端子（１７１）と、電位供給用接続端子に電位供給線を介して電気的に接続された第１の検査用端子（１７２）と、接続基板におけるシールド膜に面する側に設けられ、シールド膜に電気的に接続された検査用接続端子（１９１）と、検査用接続端子に電気的に接続された第２の検査用端子（１９２）とを備える。
【解決手段】タッチパネルは、タッチパネル本体（１１０）と、タッチパネル本体の裏面に設けられたシールド膜（１２０）と、シールド膜に接続された接続基板（１３０）と、接続基板上に設けられた電位供給線（１７３）と、接続基板におけるシールド膜に面する側に設けられ、電位供給線及びシールド膜に電気的に接続された電位供給用接続端子（１７１）と、電位供給用接続端子に電位供給線を介して電気的に接続された第１の検査用端子（１７２）と、接続基板におけるシールド膜に面する側に設けられ、シールド膜に電気的に接続された検査用接続端子（１９１）と、検査用接続端子に電気的に接続された第２の検査用端子（１９２）とを備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネルの技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
タッチパネルとしては、抵抗膜方式、静電容量方式、超音波方式、光学方式等のものが知られている（例えば特許文献１及び２参照）。タッチパネルは、液晶パネル等の表示パネルに重なるように配置されることが多い。
【０００３】
例えば、静電容量方式のタッチパネルでは、表示パネルからの電磁的なノイズを防ぐシールドとして、タッチパネルにおける表示パネル側の面（即ち、入力面とは反対側の面）に透明導電膜が設けられることがある（例えば特許文献１の図６参照）。このような透明導電膜は、タッチパネルに接続されたフレキシブル基板上に形成された電位供給用端子（或いは電位供給線）を介して所定電位が供給されることで、上述したシールドとして機能することが可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特表２００３−５１１７９９号公報
【特許文献２】特開２００４−１１８７５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述したシールドとしての透明導電膜が設けられたタッチパネルでは、その検査工程において、電位供給用端子と透明導電膜とが互いに電気的に接続されているか否かの検査が行われる。このような検査は、一般的には、電位供給端子における透明導電膜に接続される側とは反対側の端部と、透明導電膜とに検査用プローブを接触させて、その電位供給用端子及び透明導電膜間の抵抗値を測定することにより行われる。このように検査用プローブを透明導電膜に接触させる場合、検査用プローブの透明導電膜に対する接触状態が不安定となり、電位供給用端子及び透明導電膜間の抵抗値を安定して測定することが困難になるおそれがある。また、検査用プローブを透明導電膜に接触させるので、透明導電膜に傷がついてしまったり、透明導電膜が形成されたガラス基板が割れてしまったりするおそれがある。
【０００６】
本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、シールド膜と電位供給用端子との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することが可能なタッチパネルを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明のタッチパネルは上記課題を解決するために、タッチパネル本体と、前記タッチパネル本体の入力面とは反対側の裏面に設けられたシールド膜と、前記タッチパネルの前記シールド膜に接続された接続基板と、前記接続基板上に設けられ、所定電位を供給する電位供給線と、前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記電位供給線及び前記シールド膜に電気的に接続された電位供給用接続端子と、前記電位供給用接続端子に前記電位供給線を介して電気的に接続された第１の検査用端子と、前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記シールド膜に電気的に接続された検査用接続端子と、前記検査用接続端子に電気的に接続された第２の検査用端子とを備える。
【０００８】
本発明のタッチパネルによれば、例えば、指やタッチペン等の対象物体の位置を検出する位置検出素子が例えばガラス基板等の基板上に形成されてなるタッチパネル本体の裏面（例えば、タッチパネル本体を構成する基板における位置検出素子が形成される一の基板面とは反対側の他の基板面）に、例えばＩＴＯ（Indium Tin Oxide）等の導電膜からなるシールド膜が設けられる。本発明のタッチパネルは、例えば液晶パネル等の表示パネルに重なるように配置された状態（即ち、タッチパネル本体の裏面側に表示パネルが配置された状態）で用いられる。本発明のタッチパネルの動作時には、タッチパネル本体に接続された例えばフレキシブル基板等である接続基板上に設けられた電位供給線によってシールド膜に所定電位が供給される。これにより、シールド膜は、表示パネルからの電磁的なノイズを防ぐシールドとして機能することができる。尚、所定電位は、例えば、接地電位或いはグランド電位の如く、時間軸に対して完全に一定電位に固定された電位であってもよいし、或いは、時間軸に対して変動する電位であってもよい。
【０００９】
接続基板は、例えば、タッチパネル本体の入力面側に接続される本体部と、この本体部から例えば裏面側に回り込むように延設され、シールド膜に接続される延設部とを有する。例えば、延設部には、電位供給線に電気的に接続された電位供給用接続端子がシールド膜に面するように設けられており、電位供給用接続端子がシールド膜に接触することにより、電位供給線とシールド膜との電気的な導通が可能となる。電位供給線は、例えば、接続基板の本体部に実装された集積回路（ＩＣ：Integrated Circuit）から接続基板の延設部に設けられた電位供給用接続端子まで引き回される。
【００１０】
尚、接続基板がシールド膜に接続される接続部は、２つに分離していても（或は二股に分かれる構成であっても）よく、２つの部材からなっていてもよい。
【００１１】
本発明では特に、シールド膜と電位供給用接続端子との電気的な接続状態の検査を行うための第１及び第２の検査用端子並びに検査用接続端子を備える。第１の検査用端子は、例えば、接続基板の本体部に設けられ、電位供給用接続端子に電位供給線を介して電気的に接続される。検査用接続端子は、例えば接続基板の延設部におけるシールド膜に面する側に設けられ、シールド膜に電気的に接続される。第２の検査用端子は、例えば接続基板の本体部及び延設部の少なくとも一方に設けられ、検査用接続端子に電気的に接続される。例えば、第２の検査用端子が接続基板の延設部に設けられる場合には、第２の検査用端子は、延設部におけるシールド膜に面しない側に設けられ、例えば延設部に形成されたスルーホールを介して、延設部におけるシールド膜に面する側に設けられた検査用接続端子に電気的に接続される。
【００１２】
よって、タッチパネルの検査工程において、例えば、第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。具体的には、例えば、第１及び第２の検査用端子の各々に検査用プローブを接触させて、第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定する。ここで、例えば、第１の検査用端子は、接続基板の本体部に設けられ、第２の検査用端子は、接続基板の本体部、或いは接続基板の延設部におけるシールド膜に面しない側に設けられているので、例えば検査用プローブを容易に安定して接触させることができ、第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を安定して測定することができる。したがって、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を確実に検査することができる。尚、検査用プローブを用いて第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定するのではなく、第１及び第２の検査用端子の各々を、接続基板上に或いは外部に設けられた検査用回路に電気的に接続し、この検査用回路によって第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定するように構成することもできる。
【００１３】
仮に、検査用接続端子及び第２の検査用端子が設けられず、第１の検査用端子とシールド膜との各々に検査用プローブを接触させて、第１の検査用端子とシールド膜との間の電気的な抵抗値を測定することにより、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を検査する場合には、検査用プローブのシールド膜に対する接触状態が不安定となり、第１の検査用端子とシールド膜との間の電気的な抵抗値を安定して測定することが困難になってしまうおそれがある。また、検査用プローブをシールド膜に接触させるので、シールド膜に傷がついてしまったり、シールド膜が形成された、タッチパネル本体を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりするおそれがある。しかるに、本発明によれば、上述したように、第１、第２及びの検査用端子並びに検査用接続端子を備えるので、第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。更に、検査用プローブをシールド膜に接触させずに、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を検査することができるので、シールド膜に傷がついてしまったり、シールド膜が形成された、タッチパネル本体を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりする事態を回避することができる。
【００１４】
以上説明したように、本発明のタッチパネルによれば、検査工程において、シールド膜と電位供給用接続端子との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。この結果、当該タッチパネルの信頼性を高めることができる。
【００１５】
本発明のタッチパネルの一態様では、前記第２の検査用端子は、前記接続基板に設けられる。
【００１６】
この態様によれば、第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値をより安定して測定することができる。
【００１７】
本発明のタッチパネルの他の態様では、前記接続基板は、前記タッチパネル本体に信号を供給する本体部を有する。
【００１８】
この態様によれば、タッチパネル本体に信号を確実に供給することができる。
【００１９】
上述した接続基板が本体部を有する態様では、前記接続基板は、前記本体部から分離した延設部を有し、前記延設部には前記電位供給用接続端子と前記検査用接続端子が設けられてもよい。
【００２０】
この場合には、電位供給用接続端子及び検査用接続端子を互いに近接して配置することができる。
【００２１】
本発明のタッチパネルの他の態様では、前記第２の検査用端子は、前記接続基板における前記シールド膜に面しない側に設けられ、前記接続基板に形成されたスルーホールを介して前記検査用接続端子に電気的に接続される。
【００２２】
この態様によれば、第２の検査用端子は、例えば、接続基板の延設部におけるシールド膜に面しない側（即ち、延設部に対して第２の検査用端子の反対側）に設けられ、延設部に形成されたスルーホールを介して検査用接続端子に電気的に接続されるので、検査用接続端子と第２の検査用端子とを電気的に接続するための配線を接続基板上に形成する必要がない。よって、例えば、接続基板の本体部における他の配線或いは電子素子のレイアウトの自由度が高まる。或いは、接続基板の本体部を小さくすることも可能となる。
【００２３】
本発明のタッチパネルの他の態様では、前記接続基板は、前記タッチパネル本体の前記入力面側に接続され、前記接続基板は、前記入力面側から前記裏面側に回り込むように形成される。
【００２４】
この態様によれば、例えば、接続基板は、その本体部がタッチパネル本体の入力面側に接続され、この本体部から裏面側に回り込むように形成された延設部を有している。よって、タッチパネル本体の入力面側に形成された、例えば位置検出素子に電気的に接続された端子等の各種端子に、接続基板の本体部上に形成された接続端子を電気的に接続することができる共に、タッチパネル本体部の裏面側に設けられたシールド膜に、接続基板の延設部に設けられた電位供給用接続端子及び検査用接続端子を電気的に接続することができる。
【００２５】
本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】第１実施形態に係るタッチパネルの全体構成を概略的に示す断面図である。
【図２】第１実施形態に係るタッチパネルの構成を示す斜視図である。
【図３】第１実施形態に係るＦＰＣ延設部の構成を示す斜視図である。
【図４】図２のＣ１部分の拡大斜視図である。
【図５】第１実施形態に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。
【図６】比較例に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。
【図７】第２実施形態に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。
【図８】第２実施形態に係るＦＰＣ延設部に設けられた２つの検査用端子の接続構成を示す断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
以下では、本発明の実施形態について図を参照しつつ説明する。
【００２８】
＜第１実施形態＞
第１実施形態に係るタッチパネルについて、図１から図５を参照して説明する。
【００２９】
先ず、本実施形態に係るタッチパネルの全体構成について、図１及び図２を参照して概略的に説明する。
【００３０】
図１は、本実施形態に係るタッチパネルの全体構成を概略的に示す断面図である。尚、図１では、本実施形態に係るタッチパネルを備えるタッチパネル付き液晶装置を示している。
【００３１】
図１において、本実施形態に係るタッチパネル付き液晶装置は、液晶パネル２０と、バックライト４０と、本実施形態に係るタッチパネル１００とを備えている。
【００３２】
液晶パネル２０は、例えばガラス等の透光性材料から夫々形成された第１基板２１及び第２基板２２間に液晶層（図示省略）が挟持された構造を有する透過型の液晶パネルとして構成されている。第１基板２１及び第２基板２２は、枠状のシール材（図示省略）によって互いに貼り合わされている。この枠状のシール材によって規定される領域に液晶層が設けられている。尚、本発明では、液晶パネル２０は、特定の構成に限定されず、周知の種々の構成を採り得る。
【００３３】
より具体的には、液晶パネル２０の第１基板２１は、当該第１基板２１の一辺において第２基板２２より張り出した基板張出部２１ｔを有している。基板張出部２１ｔ（より正確には、基板張出部２１ｔにおける第２基板２２側の表面）上には、例えば液晶パネル２０を駆動するための駆動回路等を含む電子部品２５が実装されている。第１基板２１及び第２基板２２の外面側には、偏光板２７及び２８が配置されている。
【００３４】
バックライト４０は、液晶パネル２０に対して照射光を照射するバックライト（照明装置）として構成されている。
【００３５】
図２は、本実施形態に係るタッチパネルの構成を示す斜視図である。尚、図２は、本実施形態に係るタッチパネルをその裏面側から見た場合の斜視図である。
【００３６】
図１及び図２において、タッチパネル１００は、本発明に係る「タッチパネル本体」の一例としてのセンサー基板１１０と、シールド膜１２０と、フレキシブル基板（ＦＰＣ（Flexible printed circuits））１３０と、コントローラＩＣ１４０（図１参照）と、接着層１５０（図１参照）と、カバー部材１６０とを備えている。
【００３７】
センサー基板１１０は、例えばガラス基板上に位置検出素子等が形成されてなり、例えば静電容量方式のタッチパネルセンサー基板として構成されている。センサー基板１１０は、その入力面１１０ｓにおいて例えば指やタッチペン等の対象物体の位置を検出可能に構成されている。
【００３８】
シールド膜１２０は、例えばＩＴＯ等の透明導電膜からなり、センサー基板１１０の入力面１１０ｓとは反対側の裏面１１０ｒのほぼ全面にベタ状に形成されている。シールド膜１２０は、本実施形態に係るタッチパネル付きの液晶装置の動作時に、後述するコントローラＩＣ１４０から所定電位が供給されるように構成されており、液晶パネル２０からの電磁的なノイズを防ぐシールドとして機能する。尚、シールド膜１２０に供給される所定電位は、例えば、接地電位或いはグランド電位の如く、時間軸に対して完全に一定電位に固定された電位であってもよいし、或いは、時間軸に対して変動する電位であってもよい。
【００３９】
ＦＰＣ１３０は、センサー基板１１０の入力面１１０ｓ側に接続されるＦＰＣ本体部１３１と、このＦＰＣ本体部１３１から延設され、シールド膜１２０に接続されるＦＰＣ延設部１３２とを有している。ＦＰＣ本体部１３１の端部には、外部回路を接続するための接続端子部１３３（図２参照）が形成されている。ＦＰＣ本体部１３１には、コントローラＩＣ１４０が実装されている。ＦＰＣ延設部１３２は、センサー基板１１０の入力面１１０ｓ側から裏面１１０ｒ側に回り込むように形成されている。尚、図３から図５を参照して後に詳細に説明するように、本実施形態では、ＦＰＣ１３０上には、シールド膜１２０に所定電位を供給するための電位供給線１７３及び電位供給用端子１７１や検査用端子１７２、１９１及び１９２などが、例えば銅（Ｃｕ）などの金属をパターニングすることにより形成されている。電位供給用端子１７１は、本発明に係る「電位供給用接続端子」の一例である。
【００４０】
コントローラＩＣ１４０は、ＦＰＣ本体部１３１に実装されており、センサー基板１１０（より正確には、センサー基板１１０が有する位置検出素子）を駆動するための回路及びシールド膜１２０に所定電位を供給するための回路を含んでいる。
【００４１】
接着層１５０は、透光性を有する接着材からなり、センサー基板１１０とカバー部材１６０とを接着する。
【００４２】
カバー部材１６０は、例えばガラス基板或いはプラスチック基板等の透明基板からなり、タッチパネル基板１１０を入力面１１０ｓ側から覆うように設けられている。カバー部材１６０は、接着層１５０によってセンサー基板１１０の入力面１１０ｓに接着されている。尚、カバー部材１６０には、センサー基板１１０の入力面１１０ｓの周囲を囲む遮光膜が形成されていてもよい。
【００４３】
次に、本実施形態に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子について、図３から図５を参照して説明する。
【００４４】
図３は、本実施形態に係るＦＰＣ延設部の構成を示す斜視図である。図４は、図２のＣ１部分の拡大斜視図である。図５は、本実施形態に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。尚、図３から図５は、本実施形態に係るタッチパネルの裏面側からＦＰＣ１３０を見た場合の斜視図である。
【００４５】
図１及び図２を参照して上述したように、ＦＰＣ１３０は、センサー基板１１０の入力面１１０ｓ側に接続されるＦＰＣ本体部１３１と、このＦＰＣ本体部１３１から延設され、シールド膜１２０に接続されるＦＰＣ延設部１３２とを有している。
【００４６】
図３及び図５において、ＦＰＣ１３０上には、シールド膜１２０に所定電位を供給するための電位供給線１７３が形成されている。電位供給線１７３の一端は、図１を参照して上述したコントローラＩＣ１４０に電気的に接続されており、電位供給線１７３の他端は、ＦＰＣ延設部１３２の端部１３２ａに形成された電位供給用端子１７１に電気的に接続されている。電位供給線１７３は、ＦＰＣ本体部１３１におけるコントローラＩＣ１４０が形成された部分からＦＰＣ延設部１３２の端部１３２ａまで引き回されている。尚、本実施形態では、電位供給線１７３は、ＦＰＣ１３０におけるコントローラＩＣ１４０が実装された面とは反対側の面に形成されている。
【００４７】
図３及び図４に示すように、ＦＰＣ延設部１３２は、電位供給用端子１７１がシールド膜１２０に接触して電気的に接続されるように、センサー基板１１０の入力面１１０ｓ側から裏面１１０ｒ側に回り込むように曲げられている。電位供給用端子１７１とシールド膜１２０とは、例えばＡＣＦ（Anisotropic Conductive Film：異方性導電フィルム）によって接続されている。本実施形態に係るタッチパネル付き液晶装置の動作時には、コントローラＩＣ１４０から電位供給線１７３及び電位供給用端子１７１を介して所定電位がシールド膜１２０に供給される。
【００４８】
尚、図３において、センサー基板１１０におけるＦＰＣ本体部１３１が接続される一辺に沿って支持部材１３９が設けられている。支持部材１３９は、ＦＰＣ本体部１３１をセンサー基板１１０の裏面１１０ｒ側から支持する。
【００４９】
図３及び図５において、本実施形態では特に、シールド膜１２０と電位供給用端子１７１との電気的な接続状態の検査を行うための検査用端子１７２、１９１及び１９２がＦＰＣ１３０上に設けられている。
【００５０】
検査用端子１７２は、本発明に係る「第１の検査用端子」の一例であり、ＦＰＣ本体部１３１に設けられ、電位供給用端子１７１に電位供給線１７３を介して電気的に接続されている。
【００５１】
検査用端子１９１は、本発明に係る「検査用接続端子」の一例であり、ＦＰＣ延設部１３２におけるシールド膜１２０に面する側に（より具体的には、ＦＰＣ延設部１３２の端部１３２ａにおいて電位供給用端子１７１と並んで）設けられ、シールド膜１２０に電気的に接続されている。検査用端子１９１とシールド膜１２０とは、例えばＡＣＦによって接続されている。
【００５２】
検査用端子１９２は、本発明に係る「第２の検査用端子」の一例であり、ＦＰＣ本体部１３１に設けられ、上述した検査用端子１９１に検査用配線１９３を介して電気的に接続されている。検査用配線１９３は、検査用端子１９１及び１９２間を電気的に接続するように、ＦＰＣ１３０上に形成されている。
【００５３】
以上のように構成された検査用端子１７２、１９１及び１９２によれば、本実施形態に係るタッチパネルの検査工程において、例えば、検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。具体的には、例えば、検査用端子１７２及び１９２の各々に検査用プローブを接触させて、検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を測定する。ここで、検査用端子１７２及び１９２は、いずれもＦＰＣ本体部１３１上に設けられているので、例えば検査用プローブを容易に安定して接触させることができ、検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を安定して測定することができる。したがって、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を確実に検査することができる。尚、検査用プローブを用いて検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を測定するのではなく、検査用端子１７２及び１９２の各々を、ＦＰＣ１３０上に或いは外部に設けられた検査用回路に電気的に接続し、この検査用回路によって検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を測定するように構成してもよい。
【００５４】
更に、本実施形態では特に、検査用端子１９２は、ＦＰＣ延設部１３２よりも大きく形成されるＦＰＣ本体部１３１に設けられるので、レイアウトの自由度が比較的高く、実践上有利である。
【００５５】
図６は、比較例に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。尚、図６において、図１から図５に示した第１実施形態に係る構成要素と同様の構成要素に同一の参照符合を付し、それらの説明は適宜省略する。
【００５６】
図６に比較例として示すように、仮に、ＦＰＣ１３０上に上述した検査用端子１９１及び１９２が設けられず、検査用端子１７２とシールド膜１２０との各々に検査用プローブＰｂ１及びＰｂ２を接触させて、検査用端子１７２とシールド膜１２０との間の電気的な抵抗値を測定することにより、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を検査する場合には、検査用プローブＰｂ２のシールド膜１２０に対する接触状態が不安定となり、検査用端子１７２とシールド膜１２０との間の電気的な抵抗値を安定して測定することが困難になってしまうおそれがある。また、検査用プローブＰｂ２をシールド膜１２０に接触させるので、シールド膜１２０に傷がついてしまったり、シールド膜１２０が形成された、センサー基板１１０を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりするおそれがある。
【００５７】
しかるに、本実施形態によれば、上述したように、検査用端子１７２、１９１及び１９２を備えるので、検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。更に、検査用プローブをシールド膜１２０に接触させずに、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を検査することができるので、シールド膜１２０に傷がついてしまったり、シールド膜１２０が形成された、センサー基板１１０を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりする事態を回避することができる。
【００５８】
以上説明したように、本実施形態によれば、検査工程において、シールド膜１２０と電位供給用端子１７１との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。この結果、当該装置の信頼性を高めることができる。
【００５９】
＜第２実施形態＞
第２実施形態に係るタッチパネルについて、図７及び図８を参照して説明する。
【００６０】
図７は、第２実施形態に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。図８は、第２実施形態に係るＦＰＣ延設部に設けられた２つの検査用端子の接続構成を示す断面図である。
【００６１】
第２実施形態に係るタッチパネルは、上述した検査用端子１９２に代えて検査用端子２９２を備える点で、上述した第１実施形態に係るタッチパネルと異なり、その他の点については、上述した第１実施形態に係るタッチパネルと概ね同様に構成されている。
【００６２】
図７及び図８において、検査用端子２９２は、本発明に係る「第２の検査用端子」の一例であり、ＦＰＣ延設部１３２におけるシールド膜１２０に面しない側に設けられており、ＦＰＣ延設部１３２に形成されたスルーホール２９３を介して検査用端子１９１に電気的に接続されている。
【００６３】
よって、本実施形態に係るタッチパネルの検査工程において、例えば、検査用端子１７２と検査用端子２９２との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。具体的には、例えば、検査用端子１７２及び２９２の各々に検査用プローブを接触させて、検査用端子１７２と検査用端子２９２との間の電気的な抵抗値を測定する。ここで、検査用端子１７２は、ＦＰＣ本体部１３１上に設けられ、検査用端子２９２は、ＦＰＣ延設部１３２におけるシールド膜１２０に面しない側に設けられているので、例えば検査用プローブを容易に安定して接触させることができ、検査用端子１７２と検査用端子２９２との間の電気的な抵抗値を安定して測定することができる。したがって、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を確実に検査することができる。尚、検査用プローブを用いて検査用端子１７２と検査用端子２９２との間の電気的な抵抗値を測定するのではなく、検査用端子１７２及び２９２の各々を、ＦＰＣ１３０上に或いは外部に設けられた検査用回路に電気的に接続し、この検査用回路によって検査用端子１７２と検査用端子２９２との間の電気的な抵抗値を測定するように構成してもよい。
【００６４】
更に、本実施形態では特に、検査用端子２９２は、ＦＰＣ延設部１３２におけるシールド膜１３２に面しない側（即ち、ＦＰＣ延設部１３２に対して検査用端子１９１の反対側）に設けられ、ＦＰＣ延設部１３２に形成されたスルーホール２９３を介して検査用端子１９１に電気的に接続されるので、検査用端子１９１と検査用端子２９２とを電気的に接続するための配線をＦＰＣ本体部１３１上に形成する必要がない。よって、ＦＰＣ本体部１３１における他の配線或いは電子素子のレイアウトの自由度が高まる。或いは、ＦＰＣ本体部１３１を小さくすることも可能となる。
【００６５】
本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、特許請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴うタッチパネルもまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００６６】
２０…液晶パネル、４０…バックライト、１００…タッチパネル、１１０…センサー基板、１２０…シールド膜、１３０…ＦＰＣ、１３１…ＦＰＣ本体部、１３２…ＦＰＣ延設部、１４０…コントローラＩＣ、１５０…接着層、１６０…カバー部材、１７１…電位供給用端子、１７２…検査用端子、１７３…電位供給線、１９１、１９２…検査用端子、１９３…検査用配線、２９２…検査用端子、２９３…スルーホール
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネルの技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
タッチパネルとしては、抵抗膜方式、静電容量方式、超音波方式、光学方式等のものが知られている（例えば特許文献１及び２参照）。タッチパネルは、液晶パネル等の表示パネルに重なるように配置されることが多い。
【０００３】
例えば、静電容量方式のタッチパネルでは、表示パネルからの電磁的なノイズを防ぐシールドとして、タッチパネルにおける表示パネル側の面（即ち、入力面とは反対側の面）に透明導電膜が設けられることがある（例えば特許文献１の図６参照）。このような透明導電膜は、タッチパネルに接続されたフレキシブル基板上に形成された電位供給用端子（或いは電位供給線）を介して所定電位が供給されることで、上述したシールドとして機能することが可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特表２００３−５１１７９９号公報
【特許文献２】特開２００４−１１８７５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述したシールドとしての透明導電膜が設けられたタッチパネルでは、その検査工程において、電位供給用端子と透明導電膜とが互いに電気的に接続されているか否かの検査が行われる。このような検査は、一般的には、電位供給端子における透明導電膜に接続される側とは反対側の端部と、透明導電膜とに検査用プローブを接触させて、その電位供給用端子及び透明導電膜間の抵抗値を測定することにより行われる。このように検査用プローブを透明導電膜に接触させる場合、検査用プローブの透明導電膜に対する接触状態が不安定となり、電位供給用端子及び透明導電膜間の抵抗値を安定して測定することが困難になるおそれがある。また、検査用プローブを透明導電膜に接触させるので、透明導電膜に傷がついてしまったり、透明導電膜が形成されたガラス基板が割れてしまったりするおそれがある。
【０００６】
本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、シールド膜と電位供給用端子との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することが可能なタッチパネルを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明のタッチパネルは上記課題を解決するために、タッチパネル本体と、前記タッチパネル本体の入力面とは反対側の裏面に設けられたシールド膜と、前記タッチパネルの前記シールド膜に接続された接続基板と、前記接続基板上に設けられ、所定電位を供給する電位供給線と、前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記電位供給線及び前記シールド膜に電気的に接続された電位供給用接続端子と、前記電位供給用接続端子に前記電位供給線を介して電気的に接続された第１の検査用端子と、前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記シールド膜に電気的に接続された検査用接続端子と、前記検査用接続端子に電気的に接続された第２の検査用端子とを備える。
【０００８】
本発明のタッチパネルによれば、例えば、指やタッチペン等の対象物体の位置を検出する位置検出素子が例えばガラス基板等の基板上に形成されてなるタッチパネル本体の裏面（例えば、タッチパネル本体を構成する基板における位置検出素子が形成される一の基板面とは反対側の他の基板面）に、例えばＩＴＯ（Indium Tin Oxide）等の導電膜からなるシールド膜が設けられる。本発明のタッチパネルは、例えば液晶パネル等の表示パネルに重なるように配置された状態（即ち、タッチパネル本体の裏面側に表示パネルが配置された状態）で用いられる。本発明のタッチパネルの動作時には、タッチパネル本体に接続された例えばフレキシブル基板等である接続基板上に設けられた電位供給線によってシールド膜に所定電位が供給される。これにより、シールド膜は、表示パネルからの電磁的なノイズを防ぐシールドとして機能することができる。尚、所定電位は、例えば、接地電位或いはグランド電位の如く、時間軸に対して完全に一定電位に固定された電位であってもよいし、或いは、時間軸に対して変動する電位であってもよい。
【０００９】
接続基板は、例えば、タッチパネル本体の入力面側に接続される本体部と、この本体部から例えば裏面側に回り込むように延設され、シールド膜に接続される延設部とを有する。例えば、延設部には、電位供給線に電気的に接続された電位供給用接続端子がシールド膜に面するように設けられており、電位供給用接続端子がシールド膜に接触することにより、電位供給線とシールド膜との電気的な導通が可能となる。電位供給線は、例えば、接続基板の本体部に実装された集積回路（ＩＣ：Integrated Circuit）から接続基板の延設部に設けられた電位供給用接続端子まで引き回される。
【００１０】
尚、接続基板がシールド膜に接続される接続部は、２つに分離していても（或は二股に分かれる構成であっても）よく、２つの部材からなっていてもよい。
【００１１】
本発明では特に、シールド膜と電位供給用接続端子との電気的な接続状態の検査を行うための第１及び第２の検査用端子並びに検査用接続端子を備える。第１の検査用端子は、例えば、接続基板の本体部に設けられ、電位供給用接続端子に電位供給線を介して電気的に接続される。検査用接続端子は、例えば接続基板の延設部におけるシールド膜に面する側に設けられ、シールド膜に電気的に接続される。第２の検査用端子は、例えば接続基板の本体部及び延設部の少なくとも一方に設けられ、検査用接続端子に電気的に接続される。例えば、第２の検査用端子が接続基板の延設部に設けられる場合には、第２の検査用端子は、延設部におけるシールド膜に面しない側に設けられ、例えば延設部に形成されたスルーホールを介して、延設部におけるシールド膜に面する側に設けられた検査用接続端子に電気的に接続される。
【００１２】
よって、タッチパネルの検査工程において、例えば、第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。具体的には、例えば、第１及び第２の検査用端子の各々に検査用プローブを接触させて、第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定する。ここで、例えば、第１の検査用端子は、接続基板の本体部に設けられ、第２の検査用端子は、接続基板の本体部、或いは接続基板の延設部におけるシールド膜に面しない側に設けられているので、例えば検査用プローブを容易に安定して接触させることができ、第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を安定して測定することができる。したがって、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を確実に検査することができる。尚、検査用プローブを用いて第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定するのではなく、第１及び第２の検査用端子の各々を、接続基板上に或いは外部に設けられた検査用回路に電気的に接続し、この検査用回路によって第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定するように構成することもできる。
【００１３】
仮に、検査用接続端子及び第２の検査用端子が設けられず、第１の検査用端子とシールド膜との各々に検査用プローブを接触させて、第１の検査用端子とシールド膜との間の電気的な抵抗値を測定することにより、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を検査する場合には、検査用プローブのシールド膜に対する接触状態が不安定となり、第１の検査用端子とシールド膜との間の電気的な抵抗値を安定して測定することが困難になってしまうおそれがある。また、検査用プローブをシールド膜に接触させるので、シールド膜に傷がついてしまったり、シールド膜が形成された、タッチパネル本体を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりするおそれがある。しかるに、本発明によれば、上述したように、第１、第２及びの検査用端子並びに検査用接続端子を備えるので、第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。更に、検査用プローブをシールド膜に接触させずに、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を検査することができるので、シールド膜に傷がついてしまったり、シールド膜が形成された、タッチパネル本体を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりする事態を回避することができる。
【００１４】
以上説明したように、本発明のタッチパネルによれば、検査工程において、シールド膜と電位供給用接続端子との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。この結果、当該タッチパネルの信頼性を高めることができる。
【００１５】
本発明のタッチパネルの一態様では、前記第２の検査用端子は、前記接続基板に設けられる。
【００１６】
この態様によれば、第１の検査用端子と第２の検査用端子との間の電気的な抵抗値をより安定して測定することができる。
【００１７】
本発明のタッチパネルの他の態様では、前記接続基板は、前記タッチパネル本体に信号を供給する本体部を有する。
【００１８】
この態様によれば、タッチパネル本体に信号を確実に供給することができる。
【００１９】
上述した接続基板が本体部を有する態様では、前記接続基板は、前記本体部から分離した延設部を有し、前記延設部には前記電位供給用接続端子と前記検査用接続端子が設けられてもよい。
【００２０】
この場合には、電位供給用接続端子及び検査用接続端子を互いに近接して配置することができる。
【００２１】
本発明のタッチパネルの他の態様では、前記第２の検査用端子は、前記接続基板における前記シールド膜に面しない側に設けられ、前記接続基板に形成されたスルーホールを介して前記検査用接続端子に電気的に接続される。
【００２２】
この態様によれば、第２の検査用端子は、例えば、接続基板の延設部におけるシールド膜に面しない側（即ち、延設部に対して第２の検査用端子の反対側）に設けられ、延設部に形成されたスルーホールを介して検査用接続端子に電気的に接続されるので、検査用接続端子と第２の検査用端子とを電気的に接続するための配線を接続基板上に形成する必要がない。よって、例えば、接続基板の本体部における他の配線或いは電子素子のレイアウトの自由度が高まる。或いは、接続基板の本体部を小さくすることも可能となる。
【００２３】
本発明のタッチパネルの他の態様では、前記接続基板は、前記タッチパネル本体の前記入力面側に接続され、前記接続基板は、前記入力面側から前記裏面側に回り込むように形成される。
【００２４】
この態様によれば、例えば、接続基板は、その本体部がタッチパネル本体の入力面側に接続され、この本体部から裏面側に回り込むように形成された延設部を有している。よって、タッチパネル本体の入力面側に形成された、例えば位置検出素子に電気的に接続された端子等の各種端子に、接続基板の本体部上に形成された接続端子を電気的に接続することができる共に、タッチパネル本体部の裏面側に設けられたシールド膜に、接続基板の延設部に設けられた電位供給用接続端子及び検査用接続端子を電気的に接続することができる。
【００２５】
本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】第１実施形態に係るタッチパネルの全体構成を概略的に示す断面図である。
【図２】第１実施形態に係るタッチパネルの構成を示す斜視図である。
【図３】第１実施形態に係るＦＰＣ延設部の構成を示す斜視図である。
【図４】図２のＣ１部分の拡大斜視図である。
【図５】第１実施形態に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。
【図６】比較例に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。
【図７】第２実施形態に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。
【図８】第２実施形態に係るＦＰＣ延設部に設けられた２つの検査用端子の接続構成を示す断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
以下では、本発明の実施形態について図を参照しつつ説明する。
【００２８】
＜第１実施形態＞
第１実施形態に係るタッチパネルについて、図１から図５を参照して説明する。
【００２９】
先ず、本実施形態に係るタッチパネルの全体構成について、図１及び図２を参照して概略的に説明する。
【００３０】
図１は、本実施形態に係るタッチパネルの全体構成を概略的に示す断面図である。尚、図１では、本実施形態に係るタッチパネルを備えるタッチパネル付き液晶装置を示している。
【００３１】
図１において、本実施形態に係るタッチパネル付き液晶装置は、液晶パネル２０と、バックライト４０と、本実施形態に係るタッチパネル１００とを備えている。
【００３２】
液晶パネル２０は、例えばガラス等の透光性材料から夫々形成された第１基板２１及び第２基板２２間に液晶層（図示省略）が挟持された構造を有する透過型の液晶パネルとして構成されている。第１基板２１及び第２基板２２は、枠状のシール材（図示省略）によって互いに貼り合わされている。この枠状のシール材によって規定される領域に液晶層が設けられている。尚、本発明では、液晶パネル２０は、特定の構成に限定されず、周知の種々の構成を採り得る。
【００３３】
より具体的には、液晶パネル２０の第１基板２１は、当該第１基板２１の一辺において第２基板２２より張り出した基板張出部２１ｔを有している。基板張出部２１ｔ（より正確には、基板張出部２１ｔにおける第２基板２２側の表面）上には、例えば液晶パネル２０を駆動するための駆動回路等を含む電子部品２５が実装されている。第１基板２１及び第２基板２２の外面側には、偏光板２７及び２８が配置されている。
【００３４】
バックライト４０は、液晶パネル２０に対して照射光を照射するバックライト（照明装置）として構成されている。
【００３５】
図２は、本実施形態に係るタッチパネルの構成を示す斜視図である。尚、図２は、本実施形態に係るタッチパネルをその裏面側から見た場合の斜視図である。
【００３６】
図１及び図２において、タッチパネル１００は、本発明に係る「タッチパネル本体」の一例としてのセンサー基板１１０と、シールド膜１２０と、フレキシブル基板（ＦＰＣ（Flexible printed circuits））１３０と、コントローラＩＣ１４０（図１参照）と、接着層１５０（図１参照）と、カバー部材１６０とを備えている。
【００３７】
センサー基板１１０は、例えばガラス基板上に位置検出素子等が形成されてなり、例えば静電容量方式のタッチパネルセンサー基板として構成されている。センサー基板１１０は、その入力面１１０ｓにおいて例えば指やタッチペン等の対象物体の位置を検出可能に構成されている。
【００３８】
シールド膜１２０は、例えばＩＴＯ等の透明導電膜からなり、センサー基板１１０の入力面１１０ｓとは反対側の裏面１１０ｒのほぼ全面にベタ状に形成されている。シールド膜１２０は、本実施形態に係るタッチパネル付きの液晶装置の動作時に、後述するコントローラＩＣ１４０から所定電位が供給されるように構成されており、液晶パネル２０からの電磁的なノイズを防ぐシールドとして機能する。尚、シールド膜１２０に供給される所定電位は、例えば、接地電位或いはグランド電位の如く、時間軸に対して完全に一定電位に固定された電位であってもよいし、或いは、時間軸に対して変動する電位であってもよい。
【００３９】
ＦＰＣ１３０は、センサー基板１１０の入力面１１０ｓ側に接続されるＦＰＣ本体部１３１と、このＦＰＣ本体部１３１から延設され、シールド膜１２０に接続されるＦＰＣ延設部１３２とを有している。ＦＰＣ本体部１３１の端部には、外部回路を接続するための接続端子部１３３（図２参照）が形成されている。ＦＰＣ本体部１３１には、コントローラＩＣ１４０が実装されている。ＦＰＣ延設部１３２は、センサー基板１１０の入力面１１０ｓ側から裏面１１０ｒ側に回り込むように形成されている。尚、図３から図５を参照して後に詳細に説明するように、本実施形態では、ＦＰＣ１３０上には、シールド膜１２０に所定電位を供給するための電位供給線１７３及び電位供給用端子１７１や検査用端子１７２、１９１及び１９２などが、例えば銅（Ｃｕ）などの金属をパターニングすることにより形成されている。電位供給用端子１７１は、本発明に係る「電位供給用接続端子」の一例である。
【００４０】
コントローラＩＣ１４０は、ＦＰＣ本体部１３１に実装されており、センサー基板１１０（より正確には、センサー基板１１０が有する位置検出素子）を駆動するための回路及びシールド膜１２０に所定電位を供給するための回路を含んでいる。
【００４１】
接着層１５０は、透光性を有する接着材からなり、センサー基板１１０とカバー部材１６０とを接着する。
【００４２】
カバー部材１６０は、例えばガラス基板或いはプラスチック基板等の透明基板からなり、タッチパネル基板１１０を入力面１１０ｓ側から覆うように設けられている。カバー部材１６０は、接着層１５０によってセンサー基板１１０の入力面１１０ｓに接着されている。尚、カバー部材１６０には、センサー基板１１０の入力面１１０ｓの周囲を囲む遮光膜が形成されていてもよい。
【００４３】
次に、本実施形態に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子について、図３から図５を参照して説明する。
【００４４】
図３は、本実施形態に係るＦＰＣ延設部の構成を示す斜視図である。図４は、図２のＣ１部分の拡大斜視図である。図５は、本実施形態に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。尚、図３から図５は、本実施形態に係るタッチパネルの裏面側からＦＰＣ１３０を見た場合の斜視図である。
【００４５】
図１及び図２を参照して上述したように、ＦＰＣ１３０は、センサー基板１１０の入力面１１０ｓ側に接続されるＦＰＣ本体部１３１と、このＦＰＣ本体部１３１から延設され、シールド膜１２０に接続されるＦＰＣ延設部１３２とを有している。
【００４６】
図３及び図５において、ＦＰＣ１３０上には、シールド膜１２０に所定電位を供給するための電位供給線１７３が形成されている。電位供給線１７３の一端は、図１を参照して上述したコントローラＩＣ１４０に電気的に接続されており、電位供給線１７３の他端は、ＦＰＣ延設部１３２の端部１３２ａに形成された電位供給用端子１７１に電気的に接続されている。電位供給線１７３は、ＦＰＣ本体部１３１におけるコントローラＩＣ１４０が形成された部分からＦＰＣ延設部１３２の端部１３２ａまで引き回されている。尚、本実施形態では、電位供給線１７３は、ＦＰＣ１３０におけるコントローラＩＣ１４０が実装された面とは反対側の面に形成されている。
【００４７】
図３及び図４に示すように、ＦＰＣ延設部１３２は、電位供給用端子１７１がシールド膜１２０に接触して電気的に接続されるように、センサー基板１１０の入力面１１０ｓ側から裏面１１０ｒ側に回り込むように曲げられている。電位供給用端子１７１とシールド膜１２０とは、例えばＡＣＦ（Anisotropic Conductive Film：異方性導電フィルム）によって接続されている。本実施形態に係るタッチパネル付き液晶装置の動作時には、コントローラＩＣ１４０から電位供給線１７３及び電位供給用端子１７１を介して所定電位がシールド膜１２０に供給される。
【００４８】
尚、図３において、センサー基板１１０におけるＦＰＣ本体部１３１が接続される一辺に沿って支持部材１３９が設けられている。支持部材１３９は、ＦＰＣ本体部１３１をセンサー基板１１０の裏面１１０ｒ側から支持する。
【００４９】
図３及び図５において、本実施形態では特に、シールド膜１２０と電位供給用端子１７１との電気的な接続状態の検査を行うための検査用端子１７２、１９１及び１９２がＦＰＣ１３０上に設けられている。
【００５０】
検査用端子１７２は、本発明に係る「第１の検査用端子」の一例であり、ＦＰＣ本体部１３１に設けられ、電位供給用端子１７１に電位供給線１７３を介して電気的に接続されている。
【００５１】
検査用端子１９１は、本発明に係る「検査用接続端子」の一例であり、ＦＰＣ延設部１３２におけるシールド膜１２０に面する側に（より具体的には、ＦＰＣ延設部１３２の端部１３２ａにおいて電位供給用端子１７１と並んで）設けられ、シールド膜１２０に電気的に接続されている。検査用端子１９１とシールド膜１２０とは、例えばＡＣＦによって接続されている。
【００５２】
検査用端子１９２は、本発明に係る「第２の検査用端子」の一例であり、ＦＰＣ本体部１３１に設けられ、上述した検査用端子１９１に検査用配線１９３を介して電気的に接続されている。検査用配線１９３は、検査用端子１９１及び１９２間を電気的に接続するように、ＦＰＣ１３０上に形成されている。
【００５３】
以上のように構成された検査用端子１７２、１９１及び１９２によれば、本実施形態に係るタッチパネルの検査工程において、例えば、検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。具体的には、例えば、検査用端子１７２及び１９２の各々に検査用プローブを接触させて、検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を測定する。ここで、検査用端子１７２及び１９２は、いずれもＦＰＣ本体部１３１上に設けられているので、例えば検査用プローブを容易に安定して接触させることができ、検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を安定して測定することができる。したがって、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を確実に検査することができる。尚、検査用プローブを用いて検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を測定するのではなく、検査用端子１７２及び１９２の各々を、ＦＰＣ１３０上に或いは外部に設けられた検査用回路に電気的に接続し、この検査用回路によって検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を測定するように構成してもよい。
【００５４】
更に、本実施形態では特に、検査用端子１９２は、ＦＰＣ延設部１３２よりも大きく形成されるＦＰＣ本体部１３１に設けられるので、レイアウトの自由度が比較的高く、実践上有利である。
【００５５】
図６は、比較例に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。尚、図６において、図１から図５に示した第１実施形態に係る構成要素と同様の構成要素に同一の参照符合を付し、それらの説明は適宜省略する。
【００５６】
図６に比較例として示すように、仮に、ＦＰＣ１３０上に上述した検査用端子１９１及び１９２が設けられず、検査用端子１７２とシールド膜１２０との各々に検査用プローブＰｂ１及びＰｂ２を接触させて、検査用端子１７２とシールド膜１２０との間の電気的な抵抗値を測定することにより、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を検査する場合には、検査用プローブＰｂ２のシールド膜１２０に対する接触状態が不安定となり、検査用端子１７２とシールド膜１２０との間の電気的な抵抗値を安定して測定することが困難になってしまうおそれがある。また、検査用プローブＰｂ２をシールド膜１２０に接触させるので、シールド膜１２０に傷がついてしまったり、シールド膜１２０が形成された、センサー基板１１０を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりするおそれがある。
【００５７】
しかるに、本実施形態によれば、上述したように、検査用端子１７２、１９１及び１９２を備えるので、検査用端子１７２と検査用端子１９２との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。更に、検査用プローブをシールド膜１２０に接触させずに、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を検査することができるので、シールド膜１２０に傷がついてしまったり、シールド膜１２０が形成された、センサー基板１１０を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりする事態を回避することができる。
【００５８】
以上説明したように、本実施形態によれば、検査工程において、シールド膜１２０と電位供給用端子１７１との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。この結果、当該装置の信頼性を高めることができる。
【００５９】
＜第２実施形態＞
第２実施形態に係るタッチパネルについて、図７及び図８を参照して説明する。
【００６０】
図７は、第２実施形態に係るＦＰＣ上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。図８は、第２実施形態に係るＦＰＣ延設部に設けられた２つの検査用端子の接続構成を示す断面図である。
【００６１】
第２実施形態に係るタッチパネルは、上述した検査用端子１９２に代えて検査用端子２９２を備える点で、上述した第１実施形態に係るタッチパネルと異なり、その他の点については、上述した第１実施形態に係るタッチパネルと概ね同様に構成されている。
【００６２】
図７及び図８において、検査用端子２９２は、本発明に係る「第２の検査用端子」の一例であり、ＦＰＣ延設部１３２におけるシールド膜１２０に面しない側に設けられており、ＦＰＣ延設部１３２に形成されたスルーホール２９３を介して検査用端子１９１に電気的に接続されている。
【００６３】
よって、本実施形態に係るタッチパネルの検査工程において、例えば、検査用端子１７２と検査用端子２９２との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。具体的には、例えば、検査用端子１７２及び２９２の各々に検査用プローブを接触させて、検査用端子１７２と検査用端子２９２との間の電気的な抵抗値を測定する。ここで、検査用端子１７２は、ＦＰＣ本体部１３１上に設けられ、検査用端子２９２は、ＦＰＣ延設部１３２におけるシールド膜１２０に面しない側に設けられているので、例えば検査用プローブを容易に安定して接触させることができ、検査用端子１７２と検査用端子２９２との間の電気的な抵抗値を安定して測定することができる。したがって、電位供給用端子１７１とシールド膜１２０との電気的な接続状態を確実に検査することができる。尚、検査用プローブを用いて検査用端子１７２と検査用端子２９２との間の電気的な抵抗値を測定するのではなく、検査用端子１７２及び２９２の各々を、ＦＰＣ１３０上に或いは外部に設けられた検査用回路に電気的に接続し、この検査用回路によって検査用端子１７２と検査用端子２９２との間の電気的な抵抗値を測定するように構成してもよい。
【００６４】
更に、本実施形態では特に、検査用端子２９２は、ＦＰＣ延設部１３２におけるシールド膜１３２に面しない側（即ち、ＦＰＣ延設部１３２に対して検査用端子１９１の反対側）に設けられ、ＦＰＣ延設部１３２に形成されたスルーホール２９３を介して検査用端子１９１に電気的に接続されるので、検査用端子１９１と検査用端子２９２とを電気的に接続するための配線をＦＰＣ本体部１３１上に形成する必要がない。よって、ＦＰＣ本体部１３１における他の配線或いは電子素子のレイアウトの自由度が高まる。或いは、ＦＰＣ本体部１３１を小さくすることも可能となる。
【００６５】
本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、特許請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴うタッチパネルもまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００６６】
２０…液晶パネル、４０…バックライト、１００…タッチパネル、１１０…センサー基板、１２０…シールド膜、１３０…ＦＰＣ、１３１…ＦＰＣ本体部、１３２…ＦＰＣ延設部、１４０…コントローラＩＣ、１５０…接着層、１６０…カバー部材、１７１…電位供給用端子、１７２…検査用端子、１７３…電位供給線、１９１、１９２…検査用端子、１９３…検査用配線、２９２…検査用端子、２９３…スルーホール
【特許請求の範囲】
【請求項１】
タッチパネル本体と、
前記タッチパネル本体の入力面とは反対側の裏面に設けられたシールド膜と、
前記タッチパネルの前記シールド膜に接続された接続基板と、
前記接続基板上に設けられ、所定電位を供給する電位供給線と、
前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記電位供給線及び前記シールド膜に電気的に接続された電位供給用接続端子と、
前記電位供給用接続端子に前記電位供給線を介して電気的に接続された第１の検査用端子と、
前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記シールド膜に電気的に接続された検査用接続端子と、
前記検査用接続端子に電気的に接続された第２の検査用端子と
を備えることを特徴とするタッチパネル。
【請求項２】
前記第２の検査用端子は、前記接続基板に設けられることを特徴とする請求項１に記載のタッチパネル。
【請求項３】
前記接続基板は、前記タッチパネル本体に信号を供給する本体部を有することを特徴とする請求項１に記載のタッチパネル。
【請求項４】
前記接続基板は、前記本体部から分離した延設部を有し、前記延設部には前記電位供給用接続端子と前記検査用接続端子が設けられることを特徴とする請求項３に記載のタッチパネル。
【請求項５】
前記第２の検査用端子は、前記接続基板における前記シールド膜に面しない側に設けられ、前記接続基板に形成されたスルーホールを介して前記検査用接続端子に電気的に接続されることを特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載のタッチパネル。
【請求項６】
前記接続基板は、前記タッチパネル本体の前記入力面側に接続され、
前記接続基板は、前記入力面側から前記裏面側に回り込むように形成される
ことを特徴とする請求項１から５のいずれか一項に記載のタッチパネル。
【請求項１】
タッチパネル本体と、
前記タッチパネル本体の入力面とは反対側の裏面に設けられたシールド膜と、
前記タッチパネルの前記シールド膜に接続された接続基板と、
前記接続基板上に設けられ、所定電位を供給する電位供給線と、
前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記電位供給線及び前記シールド膜に電気的に接続された電位供給用接続端子と、
前記電位供給用接続端子に前記電位供給線を介して電気的に接続された第１の検査用端子と、
前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記シールド膜に電気的に接続された検査用接続端子と、
前記検査用接続端子に電気的に接続された第２の検査用端子と
を備えることを特徴とするタッチパネル。
【請求項２】
前記第２の検査用端子は、前記接続基板に設けられることを特徴とする請求項１に記載のタッチパネル。
【請求項３】
前記接続基板は、前記タッチパネル本体に信号を供給する本体部を有することを特徴とする請求項１に記載のタッチパネル。
【請求項４】
前記接続基板は、前記本体部から分離した延設部を有し、前記延設部には前記電位供給用接続端子と前記検査用接続端子が設けられることを特徴とする請求項３に記載のタッチパネル。
【請求項５】
前記第２の検査用端子は、前記接続基板における前記シールド膜に面しない側に設けられ、前記接続基板に形成されたスルーホールを介して前記検査用接続端子に電気的に接続されることを特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載のタッチパネル。
【請求項６】
前記接続基板は、前記タッチパネル本体の前記入力面側に接続され、
前記接続基板は、前記入力面側から前記裏面側に回り込むように形成される
ことを特徴とする請求項１から５のいずれか一項に記載のタッチパネル。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１０−２０５２２０（Ｐ２０１０−２０５２２０Ａ）
【公開日】平成２２年９月１６日（２０１０．９．１６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−５３０２９（Ｐ２００９−５３０２９）
【出願日】平成２１年３月６日（２００９．３．６）
【出願人】（３０４０５３８５４）エプソンイメージングデバイス株式会社 (2,386)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年９月１６日（２０１０．９．１６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年３月６日（２００９．３．６）
【出願人】（３０４０５３８５４）エプソンイメージングデバイス株式会社 (2,386)
【Ｆターム（参考）】
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