説明

ディスク装置

【課題】ピックアップの再生信号をAGC手段で所定の振幅レベルにし、A/D変換してデジタル信号処理する場合、RF信号振幅の絶対値レベルの検出が難しいという点である。
【解決手段】ディスク上の記録領域または未記録領域を検出する際、まず正常な記録がなされているトラックを再生してAGC手段100を動作させ、所望の振幅に収束したときのゲインをAGC手段100のゲインとして固定する。AGC手段100のゲインを固定した状態でRF信号の振幅検出を行い、所定のレベルで2値化処理することで、記録、未記録を判定する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、デジタル情報を記録再生するディスク装置に関し、特にディスクの記録と未記録の検出をA/D変換後のデジタル回路で実施する方法に関する。
【背景技術】
【0002】
昨今、デジタルデータを記録できる記録媒体として、CD−R、CD-RW、DVD−R、DVD−RW、DVD+R、DVD+RWといったディスクフォーマットが実用化されている。これらの記録媒体は、基本的には追記型の記録であり、重ね書きしないように記録する前に記録終端位置を検索し、追記する必要性がある。この記録終端位置検索に関して、トラッキングエラー信号の振幅を検出して大まかな検索をし、EFM変調信号の有無を検出して詳細な検索を実施する方法が特許文献1で提案されている。
【0003】
この提案によると最終的にはEFM変調信号の有無で確認となっているが、DVD−R、DVD−RWのように、テスト領域に意味のあるデータを記録しなくてもよい場合には、変調信号の確認では記録の有無は判断できない。この課題に対しては、RF信号振幅の有無で記録の有無を判断すればよいが、ピックアップの再生信号をA/D変換してデジタル信号処理をする装置において、デジタル信号処理でRF信号振幅の有無を検出する方法は提案されていない。
【0004】
昨今、回路の低コスト化が進み、従来アナログ回路で処理していたことをプロセスアップによってチップ面積が減らせるC−MOSのデジタル回路で処理する方法がコスト的に有利である。しかし、ピックアップの再生信号をA/D変換してデジタル信号処理をする場合は前処理回路としてAGC手段が必須であり、このAGC後の信号でRF信号振幅検出を実施する場合、記録の有無を判別するための信号振幅の絶対値レベルの検出が難しかった。
【特許文献1】特開2002−304731号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
解決しようとする課題は、ピックアップの再生信号をAGC手段で所定の振幅レベルにし、A/D変換してデジタル信号処理する場合、RF信号振幅の絶対値レベルの検出が難しいという点である。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明は、AGC手段のゲインを、正常な記録がなされているトラックを再生してAGCを動作させ、所望の振幅に収束したときのゲインに固定し、A/D変換されたRF信号を用いて振幅検出を行い、所定のレベルで2値化することを最も主要な特徴とする。
【発明の効果】
【0007】
本発明のディスク装置は、AGC手段のゲインを、正常な記録がなされているトラックを再生してAGCを動作させて所望の振幅に収束したときのゲインに固定し、このAGC手段を経由してA/D変換されたRF信号を用いて振幅検出を行い、所定のレベルで2値化することによって、ピックアップの再生信号をA/D変換してデジタル信号処理する場合にAGC手段を経由した信号でもRF信号振幅の絶対値レベルを精度よく検出することができるという利点がある。また、デジタル化することにより、低コスト化できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0008】
ピックアップの再生信号をAGC手段経由でA/D変換しデジタル信号処理する場合にRF信号振幅の絶対値レベルを精度よく検出するという目的を、AGCゲイン制御値の読み出しや再設定やホールドなどのデジタル信号処理の特徴を利用して、最小の部品追加で実現した。
【0009】
(実施の形態1)
図1は、本発明装置の1実施例のブロック図であって、1は光ディスク、2は光ピックアップ、3はディスクから読み取った入力信号に対して所定のゲインを乗じるゲインコントロールアンプ、4〜11はゲインコントロールアンプ3の出力が所定の振幅となるようゲイン調整を行うゲイン調整手段であって、4はA/D変換手段、5は振幅検出手段、6はコンパレータ、7は目標レベル設定手段、8は積分器、9はモニタ手段、10はD/A変換手段、11は初期値設定手段である。12、13は入力信号が記録済信号であるか未記録信号であるかを判定する判定手段であって、12は2値化手段、13はスライスレベル設定手段である。3〜11でAGC手段100を構成している。A/D変換手段4と振幅検出手段5は他の処理機能と兼用である。
【0010】
光ディスク1はたとえば、DVD−R、DVD−RW、DVD+R、DVD+RWなどがある。DVD−RWでの記録・未記録判別の手順を説明する。
【0011】
光ディスク1には記録部分と未記録部分が存在する。DVD−RWディスクの場合、消し残り部分も存在する。図2にそれら3つの記録状態におけるゲインコントロールアンプ3の出力信号波形を示す。
【0012】
回路の動作を説明する。まず、コントローラ14の指令により光ピックアップ2を光ディスク1の正常な記録がなされているトラックへ移動し、光ピックアップ2はRF再生信号を出力する。正常な記録トラックがない場合は事前に記録してもよい。ゲインコントロールアンプ3にはD/A変換手段10からゲイン制御電圧が入力されており、この電圧に応じたゲインを乗じてRF信号を増幅する。この増幅されたRF信号をA/D変換手段4でデジタル信号に変換する。今回は7bitのA/D変換手段として説明する。
【0013】
デジタル信号に変換されたRF信号は振幅検出手段5に入力され、たとえば上エンベロープと下エンベロープを取ってその差分で振幅値を検出する。コンパレータ6はこの振幅値と目標レベル設定手段7に設定されたレベルを比較し、目標レベルより小さければゲインが上がるようなエラー信号を、目標レベルより大きければゲインが下がるようなエラー信号を出力し、積分器8はこのエラー信号を累積加算する。この積分器8で累積加算されたデジタル信号をD/A変換手段10でゲイン制御電圧に変換してゲインコントロールアンプ3を制御し、振幅検出手段5で検出される振幅値が目標レベルになるようにAGC手段100が作用する。これを繰り返して目標レベルに収束したときの積分器8の出力値Aをモニタ手段9で読み取り、記憶しておく。
【0014】
次に、コントローラ14は上記の積分器8の出力値Aを初期値設定手段11に設定し、積分器8から常時、初期値設定手段11に設定した値を出力するように指令し、D/A変換手段10から常時出力値Aに応じたゲイン制御電圧が出力され、ゲインコントロールアンプ3のゲインを固定する。この状態で記録終端位置検索を実施する。このときコントローラ14は光ピックアップ2を目的に応じて移動する。たとえば、パワーキャリブレーション領域に移動してどこまでテスト記録されたかを検出する。具体的には、出力値Aでゲイン固定されたゲインコントロールアンプ3でRF信号を増幅し、A/D変換手段4でデジタル信号に変換して振幅検出手段5で検出された振幅値を2値化手段12へ入力し、スライスレベル設定手段13に設定されたレベルで2値化し、この2値化信号が“1”の部分は信号が存在する部分を示し、“0”の部分は信号が存在しない部分を示すエンベフラグ信号を生成してコントローラ14へ入力し、ディスクのどの領域まで記録されているかを判別する。
【0015】
たとえば、目標レベル設定手段7に7bitのダイナミックレンジ=127[LSB]の80%に相当する102[LSB]を設定すると、図2(a)のようにゲインコントロールアンプ3の出力振幅が平均的に102[LSB]になるようにAGC手段100が作用し、積分器8の出力するゲイン制御値が収束する。記録終端位置検索を実施する場合にはこのゲイン制御値に固定されるので、たとえば消し残り部分の振幅が通常記録部分の1/3であったとすればその部分は図2(b)に示すように34[LSB]になる。
【0016】
これを未記録と判定したい場合は、たとえばスライスレベル設定手段13への設定を64[LSB]に設定すると図2(d)に示すような2値化信号となり、通常記録部分では“1”、消し残り部分と未記録部分では“0”になる。このエンベフラグ信号を用いて記録、未記録を判別すれば、再生信号を復調して意味のある信号かどうか確認しなくても記録、未記録を精度よく判別することができる。
【0017】
図3は本発明のディスク装置がディスクに記録された信号が、記録済信号であるか、未記録信号であるかを判別する処理の流れを示すフローチャートである。まず通常記録領域でAGC手段100を動作させ(S100、S101)、そのときのゲイン制御値をモニタ手段9から読み出し、次にこのゲイン制御値を初期値設定手段11に設定し、D/A変換手段10でゲイン制御電圧に変換してゲインコントロールアンプ3のゲインを固定して(S102)、振幅検出手段5で検出した振幅値を2値化手段12で2値化(S103)したエンベフラグ信号で記録終端位置検索を実行する(S104)。
【0018】
これにより、再生信号を復調して意味のある信号かどうか確認しなくても記録、未記録が精度よく判別することができると共に、絶対値レベルを扱うことと同等なことができるので、消し残り部分などを未記録と処理することも可能となる。また、ゲインコントロールアンプ3以外はデジタル回路であり、C−MOSデジタル回路で実現できるので低コストである。
【0019】
なお、本実施例ではパワーキャリブレーション領域を例に挙げて説明したが、通常のデータ領域での記録終端位置検出に使用してもよいことは言うまでもない。また、A/D変換手段4の変換bitを7bitで説明したが、これに限るものではない。また、本実施例ではD/A変換手段10をデジタル回路側に設けたが、ゲインコントロールアンプ3側に設けて、積分器8のゲイン制御電圧値をデジタルで送信する構成にしても何ら問題はない。また、本実施例では未記録部分のアドレス情報を読み取るための構成要素を付加しないで説明したが、LPPアドレスリード手段やADIPアドレスリード手段などを設けてもよいことは言うまでもない。また、コントローラ14は4〜13のデジタル回路をすべてコントロールすることができることも言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【0020】
回路をデジタル化してコストダウンする場合に消し残り部分の判別を制御するなど、絶対値的な管理をして精度のよい未記録・記録判別をする場合などに非常に有効である。
【図面の簡単な説明】
【0021】
【図1】本発明の1実施例を示すブロック図
【図2】ゲインコントロールアンプの出力信号波形を示す図
【図3】判別処理のフローチャート
【符号の説明】
【0022】
1 光ディスク
2 光ピックアップ
3 ゲインコントロールアンプ
4 A/D変換手段
5 振幅検出手段
6 コンパレータ
7 目標レベル設定手段
8 積分器
9 モニタ手段
10 D/A変換手段
11 初期値設定手段
12 2値化手段
13 スライスレベル設定手段
14 コントローラ
100 AGC手段

【特許請求の範囲】
【請求項1】
ディスクから読み取った入力信号に対して所定のゲインを乗じるゲイン制御手段と、
前記ゲイン制御手段の出力が所定の振幅となるよう前記所定のゲインを調整するゲイン調整手段と、
前記ゲイン制御手段の出力と所定の閾値とを比較し、前記入力信号が記録済信号または未記録信号のいずれであるかを判定する判定手段とを備え、
前記入力信号が記録済信号または未記録信号のいずれであるかを判定するとき、
前記ゲイン調整手段は、前記ディスク上の所定の領域から読み取った信号に対して調整されたゲインを前記ゲイン制御手段のゲインとして固定することを特徴とするディスク装置。
【請求項2】
前記ディスク上の所定の領域は記録済領域であり、
前記判定手段は、前記ゲイン制御手段の出力が所定の閾値よりも小さいとき、前記入力信号が未記録信号であると判定する請求項1記載のディスク装置。
【請求項3】
前記ゲイン制御手段は、ゲインコントロールアンプであり、
前記ゲイン調整手段は、
前記ゲインコントロールアンプの出力をA/D変換した信号と所定の目標値とを比較するコンパレータと、
前記コンパレータの出力に応じてゲイン制御値を累積加算する積分器と、
前記積分器の出力をアナログ信号に変換して前記ゲインコントロールアンプのゲインを決定するD/A変換手段とを備えた請求項1または2いずれかに記載のディスク装置。
【請求項4】
前記ゲイン調整手段は、初期値設定手段をさらに備え、
前記初期値設定手段は、前記ディスク上の所定の領域から読み取った入力信号に対する前記積分器の出力を保持し、
前記入力信号が記録済信号または未記録信号のいずれかであるかを判定するとき、前記積分器は前記初期値設定手段に保持された値を出力する請求項3記載のディスク装置。
【請求項5】
ディスクから読み取った入力信号が記録済信号または未記録信号のいずれであるかを判定する方法であって、
ディスク上から読み取った入力信号に対して所定のゲインを乗じる第1のステップと、
ディスク上の所定の領域から読み取った信号を入力信号とし、前記第1のステップの出力が所定の振幅となるよう前記所定のゲインを固定する第2のステップと、
前記第1のステップの出力と所定の閾値とを比較し、前記入力信号が記録済信号または未記録信号のいずれであるかを判定する第3のステップとを有するディスク制御方法。
【請求項6】
前記ディスク上の所定の領域は記録済領域であり、
前記第3のステップは、前記ゲイン制御手段の出力が所定の閾値よりも小さいとき、前記入力信号が未記録信号であると判定する請求項5記載のディスク制御方法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【公開番号】特開2006−85796(P2006−85796A)
【公開日】平成18年3月30日(2006.3.30)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2004−267921(P2004−267921)
【出願日】平成16年9月15日(2004.9.15)
【出願人】(000005821)松下電器産業株式会社 (73,050)
【Fターム(参考)】