ボンディング装置及びボンディング方法
【課題】電子部品をボンディングにより基板に実装する際、加圧力を高精度に制御し、製品品質を向上可能なボンディング装置及び高品質な製品を安定的に提供可能なボンディング方法の提供。
【解決手段】本発明のボンディング装置は、電子部品6を基板1上に押圧して接合するボンディングヘッド100と、前記電子部品6に対向配置された前記基板1を保持する基板ステージS下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構(例えば、荷重センサ5)と、個々の前記荷重検出機構5により検出された圧力検出値に基づいて、前記電子部品6と前記基板1との接合面における圧力状態を検知する圧力検知手段20とを少なくとも有することを特徴とする。
【解決手段】本発明のボンディング装置は、電子部品6を基板1上に押圧して接合するボンディングヘッド100と、前記電子部品6に対向配置された前記基板1を保持する基板ステージS下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構(例えば、荷重センサ5)と、個々の前記荷重検出機構5により検出された圧力検出値に基づいて、前記電子部品6と前記基板1との接合面における圧力状態を検知する圧力検知手段20とを少なくとも有することを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、電子部品をボンディングにより基板に実装する際、加圧力を高精度に制御し、製品品質を向上可能なボンディング装置及び高品質な製品を安定的に提供可能なボンディング方法に関する。
【背景技術】
【0002】
近年、コンピュータ等の電子機器の高速化、小型化に伴い、電子部品の高密度実装の要求が高まっており、1枚の基板上に複数の電子部品を積層する高集積基板が採用されている。また、高集積化を図るために、搭載する電子部品にバンプを形成し、基板上で加圧しながらバンプを熱溶着させるフリップチップボンディングが行われている。このようなフリップチップボンディングにおいては、益々小型化及び多ピン化が進んでおり、バンプ径の小型化及びバンプ接続端子間の狭ピッチ化への要求が高まっている。
しかし、前記バンプ接続端子間の狭ピッチ化が進み、ピッチが40μm以下となると、基板の製造精度、バンプ形成時の製造バラツキなどにより、±1μm以内と高精度の搭載位置決めや、安定した荷重制御が行われない場合、端子間のショート等の接続不良の発生や、電子部品に与えるダメージが懸念される。ここで、端子間のショートは、バンプの潰し過ぎ、認識後の位置ズレなどにより生じ、電子部品へのダメージとしては、バンプ、電子部品、基板の端子部等の破損が挙げられる。
【0003】
ところで、電子部品のボンディングには、従来より、昇降自在に設けられたボンディングツールと、該ボンディングツールにより電子部品を押圧したときの荷重を検出する荷重センサとを備えたボンディング装置が使用されている。該ボンディング装置においては、ボンディングツール支持部の上方に前記荷重センサを配置すると共に、前記ボンディングツール支持部に前記荷重センサを接触させ、前記ボンディングツール及び前記荷重センサを取り付けたボンディングヘッドを昇降機構により下降させて電子部品を基板に接合させる。このとき、前記ボンディングツールによる押圧荷重が、前記ボンディングツール支持部に接触配置された前記荷重センサにより検出されるようになっている。
【0004】
従来のボンディング装置としては、具体的には、ボンディングツール支持部の自重を含めてスプリングを使用して懸架する方式を採用した装置(特許文献1参照)、ボンディングツール支持部に予め所定の荷重を付加し、ボンディングツールにより電子部品を押圧した際に、検出する荷重が減少するように構成した荷重検出機構及び検出する荷重が増加するように構成した荷重検出機構を備えた装置(特許文献2参照)、シリンダに予め所定の推力を発生させてフィードバック制御を行う装置(特許文献3参照)、ボンディングヘッドに平行調整機構を設けて、平行検出センサにより平行状態を判断する装置(特許文献4参照)、などが提案されている。
【0005】
しかし、バンプ接続端子間の狭ピッチ化に伴い、高い搭載精度と荷重制御とが必要となる場合には、基板、バンプ等の部材間の精度バラツキにより、ボンディング接合時の設定荷重基準値の範囲内であっても、面内では応力のバラツキが発生しており、接続不良等が発生し、製品歩留りの低下に繋がっている。
また、ボンディング接合時の全体圧力である前記設定荷重基準値についても、ボンディングツール支持部には、昇降機構を構成する多数のスライドガイド、シャフト、シリンダ、スプリング等の機構部と、電子部品の吸着、加熱、冷却、及び傾き調整のための機構部と、更にはこれらに伴う配線、配管等の多数の構成部品が設けられているため、ボンディングツール支持部の上方に接触配置された荷重センサでは、配設位置、使用面積等が制限され、しかも前記構成部品による摩擦抵抗や熱影響を受け易く、検出値が変動し易いという問題がある。また、ここで検出されている圧力値は、あくまでも前記ボンディングツール支持部に掛かる荷重であるため、前記構成部品に対する傾斜荷重、水平分力等の逃げ荷重も含まれており、検出された荷重値は、必ずしも接合部分に印加された荷重であるとは言えず、定期的な荷重校正が必要とされる。
【0006】
したがって、前記特許文献1〜4に記載の従来の荷重検出機構を備えたボンディング装置では、製品品質の更なる向上を図ることができず、より高精度に加圧力を制御し、製品品質を向上可能なボンディング技術の開発が望まれている。
【0007】
【特許文献1】特開2000−183114号公報
【特許文献2】特開2002−76061号公報
【特許文献3】特開2001−68895号公報
【特許文献4】特開2001−223244号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
本発明は、従来における前記問題を解決し、以下の目的を達成することを課題とする。即ち、本発明は、電子部品をボンディングにより基板に実装する際、加圧力を高精度に制御し、製品品質を向上可能なボンディング装置及び高品質な製品を安定的に提供可能なボンディング方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0009】
前記課題を解決するための手段としては、以下の通りである。即ち、
本発明のボンディング装置は、電子部品を基板上に押圧して接合するボンディングヘッドと、前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構と、個々の前記荷重検出機構により検出された圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知手段とを少なくとも有することを特徴とする。
該ボンディング装置においては、前記基板ステージ下に、前記荷重検出機構を、互いに対向して略等間隔(例えば、マトリックス状)に複数配置したので、ボンディングツール支持部の近傍に前記荷重検出機構を配置する従来のボンディング装置に比して、平面上に配置するスペースの確保が容易で、しかも周囲に複雑な機構部がなく、昇降動作も不要であるため、前記基板ステージに印加される真の荷重を検出することができる。また、複数の前記荷重検出機構により、前記基板ステージ面の分布圧を測定することができ、前記ボンディングヘッドによる加圧力を高精度に制御し、製品品質を向上させることができる。
【0010】
本発明のボンディング方法は、ボンディングヘッドにより電子部品を基板上に押圧して接合する押圧工程と、前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構により検出された、個々の圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知工程とを少なくとも含むことを特徴とする。
該ボンディング方法では、前記押圧工程において、前記ボンディングヘッドにより前記電子部品が前記基板上に押圧されて接合される。前記圧力検知工程において、前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する前記基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の前記荷重検出機構により検出された、個々の圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態が検知される。その結果、前記基板ステージに印加される真の荷重が検出され、しかも前記基板ステージ面の分布圧も測定され、前記ボンディングヘッドによる加圧力が高精度に制御され、高品質な製品が安定的に、かつ高歩留まりで得られる。
【発明の効果】
【0011】
本発明によると、従来における問題を解決することができ、電子部品をボンディングにより基板に実装する際、加圧力を高精度に制御し、製品品質を向上可能なボンディング装置及び高品質な製品を安定的に提供可能なボンディング方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0012】
以下、本発明のボンディング装置及び本発明のボンディング方法について、図面を用いて詳細に説明する。
【0013】
(実施の形態1)
本発明のボンディング装置の第1の実施の形態を以下に図面を用いて説明する。
図1は、本発明の第1の実施の形態に係るボンディング装置の概略構成を示す断面図である。
図1に示すボンディング装置は、フリップチップボンディングを行う装置であり、ボンディングヘッド100を備えている。該ボンディングヘッド100は、バンプが形成された電子部品を加熱及び加圧(押圧)することにより、前記バンプと基板における接続端子とを接合する機能を有する。
【0014】
図1に示すように、ボンディングヘッド100は、電子部品6を吸着して作動するボンディングツール7と、該ボンディングツール7を加熱することにより電子部品6に形成されたバンプ6Aに熱を印加し、接合温度を180〜350℃程度となるように設定する加熱機構8とを有するボンディングツール支持部10を備えている。ボンディングツール支持部10は、突出部10Aが、コ字状の昇降ブロック12に取り付けられたシリンダ11と係合され、スライド自在なスライドガイド9を介して昇降ブロック12に保持されている。また、ボンディングツール支持部10の上部には、θモーター13が配設されており、該θモーター13は、電子部品6の位置決め時にθ回転補正を行う。
なお、シリンダ11は、該シリンダの推力を固定して使用してもよいし、フィードバック制御によりシリンダの推力を可変にする、電空レギュレータ等の後述する圧力調整手段22を用いて推力を変化させて使用してもよい。
【0015】
また、昇降ブロック12は、スライドガイド15と、送りネジ16と、該送りネジ16の上部に配設されたZモーター17とからなる昇降機構18に連結されており、コ字状の昇降ブロック12における垂直部が、スライド自在なスライドガイド15を介して送りネジ16に保持されている。そして、電子部品6に対して必要以上の荷重が印加された場合、昇降機構18に連結された昇降ブロック12を上下に変動させることにより、設定荷重にフィードバック制御を行い、基板1、電子部品6、荷重センサ5等の損傷を防止することができるようになっている。
【0016】
更に、接続端子1Aが形成された基板1は、該基板1を吸着保持する基板吸着プレート2上に載置され、該基板吸着プレート2の下部には、基板1を加熱する基板ヒーター3及び断熱材4が設けられている。更に、断熱材4は、該断熱材4の四角(マトリックス状)に配置された4個の荷重センサ5により支持されている。なお、本実施の形態では、基板プレート2、基板ヒーター3及び断熱材4により基板ステージSが構成されている。
【0017】
そして、荷重センサ5による信号が、A/Dコンバーター等の圧力検知手段20により検知されて制御部21に伝達され、電子部品6におけるバンプ6Aに印加される総荷重と、基板ステージS面に対する分布圧とを測定し、更に圧力調整手段22を制御することにより、ボンディングの設定荷重を調整するようになっている。
【0018】
従来では、荷重センサの定格は、ボンディング装置として設定荷重に適用される最大の範囲を想定して決定されており、最大で50kgf以内の荷重範囲であれば、高圧用の荷重センサの定格としては50kgfが、低圧用の荷重センサの定格としては5kgfが、それぞれ一般的に使用されている値である。このため、設定荷重が5〜15kgfの場合、高圧用の50kgf定格を使用することとなり、精度が低くなるという問題がある。
一方、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置によれば、荷重センサ5を4個使用しているので、それぞれの荷重センサ5に、最大荷重が分割して印加され、最大50kgfの荷重範囲であっても、荷重センサ5の1個当たりに印加される荷重は、50kgfの1/4、即ち12.5kgf程度であり、荷重センサ5の定格を下げることにより、直線性やヒステリシス特性の向上を図ることができる。
また、スライドガイド、スプリング、シリンダ等を備えた昇降機構の動作は、半導体装置の生産数を考慮すると、動作頻度が非常に高く、上述した複雑な構造及び制御により生じる摩擦抵抗等の影響を受け、装置状態が変化し易いが、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置では、複雑な昇降機構を有さず昇降動作も不要な、基板1の下側に荷重センサ5を4個、マトリックス状に配置したので、ボンディング時にバンプ6Aと接続端子1Aとの接合部分に印加される真の荷重と基板ステージS面に対する分布圧とを検知することができる。
【0019】
次に、本発明の第1の実施の形態に係るボンディング装置における荷重検出機構について説明する。なお、図2は、ボンディング装置における荷重検出機構を示す平面図である。
図2に示すように、基板1は、基板1に合わせて真空吸着溝が形成された基板吸着プレート2により吸着保持され、該基板吸着プレート2の下部には、基板1を加熱する基板ヒーター3が設置されており、一般に100℃程度の基板加熱が行われるようになっている。また、基板ヒーター3の下方には、断熱材4を介して荷重センサ5が配置されている。ここで、荷重センサ5の許容温度範囲は、通常50〜100℃程度であり、基板の加熱及び前記電子部品接続時の接合の際の加熱(180〜350℃程度)による温度上昇に対して、荷重センサ5と基板ステージS移動用の駆動部(不図示)とを保護する必要があるため、断熱材4及び冷却機構(不図示)が配置されている。
【0020】
本実施の形態では、第1の荷重センサ5A、第2の荷重センサ5B、第3の荷重センサ5C及び第4の荷重センサ5Dの4個の荷重センサ5が、互いに対向して略等間隔に配置されており、図2に示すように、基板吸着プレート2の平面に対して四角に(マトリックス状)位置している。そして、荷重センサ5A〜5Dそれぞれの検出信号が、A/Dコンバーター等の圧力検知手段20を経由して、制御部21に出力されるようになっている。
また、荷重センサの形態及び配置態様としては、特に制限はなく、以下に示す様に種々の変形を行うことができる。即ち、例えば、図3Aに示すように、荷重センサ5としてひずみゲージを用いて基板ステージSを固定してもよいし、図3Bに示すように、荷重センサ5としてロードセル等の他の機構を組み合わせて、更にガイド部Gにより基板ステージSを可動式に設けてもよいし、図3Cに示すように、4個の荷重センサ5A〜5Dに加えて、更に第5の荷重センサ5E、第6の荷重センサ5F、第7の荷重センサ5G及び第8の荷重センサ5Hの4個の荷重センサを、互いに対向して略等間隔に、即ちマトリックス状に配置してもよい。図3Cに示すように、荷重センサ5の個数を増加させると(図3Cでは8個)、荷重測定ポイントが増加するため、荷重検出データをより詳細に得ることができる。
【0021】
次に、ボンディング接合時のボンディング装置の動作(本発明のボンディング方法)を、図4に示すフローチャートを用いて説明する。
まず、基板1における接続端子1Aと、電子部品6におけるバンプ6Aとの接合時の加圧荷重(全体のボンディング荷重)として、基準圧力及びボンディングツール7の下降速度をマイクロコンピューター等の制御部21にて数値設定する。ここで、本実施の形態においては、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dによる、各圧力検出値を使用して、荷重センサ1個当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値の数値設定を行う。該しきい値は、基板1、バンプ6A等の材料、構造、大きさなどにより適宜決定され、1バンプ当たりに印加される圧力、及び不良となる接続端子強度データ等を基に、電子部品の1角に配置された荷重センサ1個当たり、更には荷重センサを組み合わせた電子部品の1辺(荷重センサの配列1列)に対しても圧力検出を行うことにより設定することができる。また、しきい値を超えた場合に装置アラーム通知や稼動停止を行うことにより、異常の発生を早期に検出することができる。
【0022】
次に、図5Aに示すように、実際のボンディング接合時に、ボンディング荷重の基準圧力となるように、ボンディングツール7を昇降機構18により降下させて、ボンディングツール7に吸着保持された電子部品6を、基板1に形成された接続端子1Aに向けて降下させる。そして、図5Bに示すように、電子部品6と基板1とが接触したときから、予め設定された接合時間後に停止させてボンディングツール7を上昇させるまでの間の、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dの各圧力検出値を制御部21に入力する。すると、図4に示すように、各圧力検出値に基づいて、制御部21は、予め数値設定された基準圧力と、圧力センサ1(第1の荷重センサ5A)〜圧力センサ4(第4の荷重センサ5D)の各圧力検出値の合計とを比較しながら、圧力調整手段22にフィードバック制御を行う。すると、加圧モータドライバによりデジタル流量弁が調節され、シリンダ11の流量が調整される。なお、流量は検知されて、制御部21に伝達される。そして、サンプリングされた各圧力検出値と、電子部品6の1角及び1辺に対して予め数値設定された、加圧力の上限及び下限のしきい値とを比較し、基準圧力内であっても、しきい値を超えた場合には、異常発生とみなし、装置稼動停止と装置アラーム通知とを行うことにより、電子部品6の損傷を防止することができる。また、ボンディング接合毎にサンプリングされた各圧力検出値は、時系列でモニタリングすることができ、製造状態履歴として保管することにより、製品品質の向上とトレーサビリティの確保とを実現することができる。
【0023】
次に、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dの各圧力検出状態について、図6A及び図6Bを用いて説明する。
まず、電子部品6が下降して基板1と接触し、電子部品6の1個当たりに加圧する基準圧力に到達してから、予め設定された接合時間後に停止させてボンディングツール7を上昇させるまでの間の、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dの圧力検出値の合計となる、ボンディング荷重基準圧力(電子部品1個当たりの基準圧力)Xを時系列で表すと、図6Aに示すようなグラフが得られる。
また、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dの検出状態が均等となる場合には、図6Bに示すように、荷重センサ1個当たりの圧力検出値X1は、ボンディング荷重基準圧力Xに対して1/4となる。これは、電子部品6における各バンプ6Aに均一に荷重が印加されていることを示しており、この状態においては、電子部品6の破損等の懸念は生じない。
【0024】
次いで、ボンディング接合時に不具合が生じた場合を、図7A〜図7Fに示す。図7Aでは、ボンディングツール7の傾斜による平行状態の異常が、図7Bでは、基板ステージSの傾斜による平行状態の異常が、図7Cでは、バンプ6Aの高さ異常が、それぞれ生じており、接続端子1A及びバンプ6Aの接続不良が発生している。また、図7Dでは、基板1と基板ステージSとの間に異物Dが混入し、図7Eでは、電子部品6とボンディングツール7との間に異物Dが混入し、図7Fでは、接続端子1Aとバンプ6Aとの間に異物Dが混入し、それぞれ接続不良が発生している。このほか、基板精度やチップ厚みのバラツキ等によっても接続不良が生じる。これらの接続不良は、従来のボンディング装置における荷重検出機構では検知することができず、図6Bに示す、ボンディング荷重基準圧力X(電子部品1個当たりの総荷重基準圧力)が印加されてボンディングが終了するが、本発明の第1の実施の形態では、複数個の荷重センサ5の各圧力検出値に対してしきい値を設定しているため、接続不良等の異常を検出することができる。このように、従来のボンディング荷重の検出機構では、部品破壊、接続不良等が発生した時点で、異常が検出されないため、製造を続行することとなり、即ち、電子部品全体に印加される荷重が一部に集中的に印加され、電子部品の破損に繋がり、製造歩留りが低下する一方、本発明によれば、製品品質及び製造歩留りの向上を図ることができる。
【0025】
また、前記異常が、電子部品6におけるバンプ6Aが変形して収束する範囲の微小な変化であっても、本実施の形態によれば、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dの圧力検出値に差が生じることから、異常を検知することができる。即ち、例えば、図7A及び図7Bに示すように、ボンディングツール7や基板ステージSの平行状態が悪化し、図2に示す、第1の荷重センサ5A及び第2の荷重センサ5Bに対して、先に接触するように、電子部品6が傾斜している場合、設定された速度にてボンディング荷重の基準圧力が印加されるように制御されているため、図8Aに示すように、第1の荷重センサ5A及び第2の荷重センサ5Bが検知する荷重が、X2で表されるように、時間軸に対して先に上昇し、加圧によるバンプ6Aの変形が進むに従って、X3で表されるように、第3の荷重センサ5C及び第4の荷重センサ5Dにも荷重が印加される。
【0026】
同様に、図2に示す、第1の荷重センサ5Aにのみ、先に接触するように電子部品6が傾斜している場合、図8Bに示すように、第1の荷重センサ5Aが検知する荷重が、X4で表されるように、時間軸に対して先に上昇し、加圧によるバンプ6Aの変形が進むに従って、X5で表されるように、第2の荷重センサ5B及び第3の荷重センサ5Cに荷重が印加され、最終的に、X6で表されるように、第4の荷重センサ4Dにも荷重が印加され、総ての荷重センサ5A〜5Dに接触した時点から荷重のバラツキが収束していく。
このように、総ての荷重センサ5A〜5Dに均一に接触している状態になるまでの間に、タイムラグが生じるが、本実施の形態に係るボンディング装置によれば、該タイムラグを検出することが可能となる。更に、先に接触する荷重センサには、他の荷重センサよりも圧力検出値が高くなる傾向が観られるため、電子部品6、バンプ6A、基板1における接続端子1A等による荷重と、電子部品6の1角及び1辺に対して予め数値設定された、加圧力の上限及び下限のしきい値とを比較し、部材の強度が許容範囲内で製造されたことを管理することが可能となり、製品の品質及び信頼性の向上を図ることができる。
【0027】
本実施の形態では、上述したように、基板1素子当たりに対してボンディングを行ったが、基板上に複数の素子が配置されている場合にも、同様にボンディングを行うことができる。例えば、図9A〜図9Dに示すように、基板30上に4個の素子31A〜31Dが配置されている場合、基板ステージを固定して、基板30を移動させる送り動作を行うことにより、図9A〜図9Dの順に、電子部品6のボンディングを行ってもよいし、基板ステージを分割してボンディングを行ってもよい。これらの態様は、多点取りに好適であり、多ピン化を図った半導体チップ、大面積の半導体チップ等のように、ボンディングの際に高荷重を要する場合にも、機構的に無理がない。
【0028】
本発明のボンディング装置及びボンディング方法によれば、荷重センサを基板ステージ側にマトリックス状に複数配置し、該荷重センサの各検出位置での許容荷重のしきい値の上限及び下限の範囲で、接合部に印加される加圧力をフィードバック制御し、しかも基板ステージ面内の応力分布をモニターすることができるので、基板と電子部品とのボンディング時(生産時)の荷重検出機構の精度及び信頼性を向上させることができる。
また、電子部品のボンディング時に、ボンディングツールの平行状態の異常、異物混入、バンプ高さのバラツキ、基板における接続端子間の接続状態、ボンディングツールの昇降動作異常、昇降機構の磨耗、故障等の不具合を、生産時に検出することができるので、異常発生や不良品の存在を即座に検知することができる。このため、常に安定した状態での生産を管理し、不良品を製造し続けることなく、高品質な商品を高歩留りで得ることができる。
更に、異常発生時に、該異常を装置アラームとして通知するほか、装置の稼動を停止することができるので、品質管理記録としてトレーサビリティに利用することができる。
【0029】
(従来例)
図10A及び図10Bに、従来のボンディング装置の概略構成を示す。
図10Aに示すボンディング装置は、ボンディングヘッド200を有しており、該ボンディングヘッド200は、電子部品206を吸着して作動するボンディングツール207と、該ボンディングツール207を加熱することにより電子部品206に形成されたバンプ206Aに熱を印加する加熱機構208とを有するボンディングツール支持部210を備えている。ボンディングツール支持部210は、突出部210Aが、コ字状の昇降ブロック212に取り付けられたシリンダ211に係合されると共に、突出部210Aの下面が、スプリング230により昇降ブロック210に付勢されている。また、ボンディングツール支持部210は、スライド自在なスライドガイド209を介して昇降ブロック212に保持されている。更に、ボンディングツール支持部210の上部には、回転モーター213が配設されており、該回転モーター213は、電子部品206の位置決め時に回転補正を行う。更に、シリンダ211の下方に位置するボンディングツール支持部210上には、ボンディングツール207の加圧力を検出するための荷重センサ205が配設されている。
【0030】
また、昇降ブロック212は、スライドガイド215と、送りネジ216と、該送りネジ216の上部に配設された昇降モーター217とからなる昇降機構218に連結されており、コ字状の昇降ブロック212における垂直部が、スライド自在なスライドガイド215を介して送りネジ216に保持されている。そして、昇降機構218に連結された昇降ブロック212を上下に変動させることにより、ボンディングツール207を昇降させるようになっている。
【0031】
更に、接続端子201Aが形成された基板201は、該基板201を吸着保持する基板吸着プレート202上に載置され、該基板吸着プレート202の下部には、基板201を加熱する基板ヒーター203及び断熱材204が設けられている。
そして、荷重センサ205による信号が、圧力検知手段220により検知されて制御部221に伝達されると、制御部221が圧力調整手段222を制御することにより、該圧力調整手段222がバルプ223の流量を調整し、ボンディングツール207の加圧力が調整されるようになっている。
また、図10Bに示す従来のボンディング装置においては、ボンディングヘッド300を有しており、該ボンディングヘッド300は、図10Aに示すボンディングヘッド200において、荷重センサ205が、ボンディングツール支持部210の突出部210Aの下方に位置する昇降ブロック212上に配設されている。
【0032】
このように、図10A及び図10Bに示す従来のボンディング装置においては、荷重センサ205の配設位置付近に、昇降機構218、ボンディングツール支持部210、加熱機構208等を構成する多くの部品が存在するため、これらの部品による摩擦抵抗や熱影響を受け易く、ボンディングツール207の荷重の検出値が変動し易い。しかも、検出値は、あくまでも、ボンディングツール210に掛かる荷重(全体の荷重)であるため、上述した第1の実施の形態のボンディング装置のように、電子部品のボンディング時に、ボンディングツールの平行状態の異常、異物混入、バンプ高さのバラツキ、基板における接続端子間の接続状態、ボンディングツールの昇降動作異常、昇降機構の磨耗、故障等の不具合を、生産時に検出することができないため、第1の実施の形態のボンディング装置を用いた場合に比して、得られる製品の品質に劣り、製造歩留りが低下する。
【0033】
本発明の好ましい態様を付記すると、以下の通りである。
(付記1) 電子部品を基板上に押圧して接合するボンディングヘッドと、
前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構と、
個々の前記荷重検出機構により検出された圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知手段とを少なくとも有することを特徴とするボンディング装置。
(付記2) 電子部品の形状が多角形であり、該多角形における各角に対応した位置に荷重検出機構が配置された付記1に記載のボンディング装置。
(付記3) 電子部品の形状が四角形であり、該四角形における四角に対応した位置に荷重検出機構が配置された付記2に記載のボンディング装置。
(付記4) 荷重検出機構がマトリックス状に配置された付記1から3のいずれかに記載のボンディング装置。
(付記5) ボンディングヘッドによる押圧力を調整する圧力調整手段と、該圧力調整手段を制御する制御部とを有してなり、前記制御部が、予め設定した基準圧力と、個々の荷重検出機構による各圧力検出値の合計とを比較しながら、前記圧力調整手段に対してフィードバック制御を行う付記1から4のいずれかに記載のボンディング装置。
(付記6) 個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構1つ当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を、前記制御部に予め設定する付記5に記載のボンディング装置。
(付記7) 個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構の1配列当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を、前記制御部に予め設定する付記5に記載のボンディング装置。
(付記8) 荷重検出機構による圧力検出値がしきい値を超えた場合に異常を表示する付記6から7のいずれかに記載のボンディング装置。
(付記9) 更にボンディング装置を停止する付記8に記載のボンディング装置。
(付記10) ボンディングヘッドにより電子部品を基板上に押圧して接合する押圧工程と、
前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構により検出された、個々の圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知工程とを少なくとも含むことを特徴とするボンディング方法。
(付記11) 電子部品の形状が多角形であり、該多角形における各角に対応した位置に荷重検出機構が配置された付記10に記載のボンディング方法。
(付記12) 電子部品の形状が四角形であり、該四角形における四角に対応した位置に荷重検出機構が配置された付記11に記載のボンディング方法。
(付記13) 荷重検出機構がマトリックス状に配置された付記10から12のいずれかに記載のボンディング方法。
(付記14) ボンディングヘッドによる押圧力を調整する圧力調整工程と、予め設定した基準圧力と、個々の荷重検出機構による各圧力検出値の合計とを比較しながら、前記押圧力のフィードバック制御を行う制御工程とを含む付記10から13のいずれかに記載のボンディング方法。
(付記15) 制御工程が、個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構1つ当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を予め設定する付記14に記載のボンディング方法。
(付記16) 制御工程が、個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構の1配列当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を予め設定する付記14に記載のボンディング方法。
(付記17) 荷重検出機構による圧力検出値がしきい値を超えた場合に異常を検知する付記15から16のいずれかに記載のボンディング方法。
(付記18) 更に押圧工程を停止する付記17に記載のボンディング方法。
(付記19) 個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、電子部品と基板との接合面における接続状態のトレーサビリティを行う付記10から18のいずれかに記載のボンディング方法。
【産業上の利用可能性】
【0034】
本発明のボンディング装置は、電子部品をボンディングにより基板に実装する際、加圧力を高精度に制御し、製品品質を向上することができる。また、異常発生時に、該異常の通知又は装置の停止を行うことができ、品質管理記録としてトレーサビリティに利用することができる。このため、フラッシュメモリ、DRAM、FRAM、等を初めとする各種半導体装置の製造に好適に使用することができる。
本発明のボンディング方法は、加圧力を高精度に制御して、常に安定した状態で電子部品を基板に実装するため、不良品を製造し続けることなく、高品質な商品を高歩留まりで得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【0035】
【図1】図1は、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の概略構成を説明するための断面図である。
【図2】図2は、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置における荷重検出機構の概略構成を説明するための平面図である。
【図3A】図3Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置における荷重検出機構の変形態様の一例を示す概略説明図(その1)である。
【図3B】図3Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置における荷重検出機構の変形態様の一例を示す概略説明図(その2)である。
【図3C】図3Cは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置における荷重検出機構の変形態様の一例を示す概略説明図(その3)である。
【図4】図4は、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の動作(ボンディング方法)を説明するためのフローチャートである。
【図5A】図5Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時の動作を示す概略説明図(その1)である。
【図5B】図5Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時の動作を示す概略説明図(その2)である。
【図6A】図6Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の基準荷重と時間との関係の一例を示すグラフである。
【図6B】図6Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の個別の荷重センサによる荷重と時間との関係を示すグラフである。
【図7A】図7Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その1)である。
【図7B】図7Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その2)である。
【図7C】図7Cは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その3)である。
【図7D】図7Dは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その4)である。
【図7E】図7Eは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その5)である。
【図7F】図7Fは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その6)である。
【図8A】図8Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の個別の荷重センサによる荷重と時間との関係の他の例を示すグラフ(その1)である。
【図8B】図8Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の個別の荷重センサによる荷重と時間との関係の他の例を示すグラフ(その2)である。
【図9A】図9Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の基板送り動作を説明するための工程図(その1)である。
【図9B】図9Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の基板送り動作を説明するための工程図(その2)である。
【図9C】図9Cは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の基板送り動作を説明するための工程図(その3)である。
【図9D】図9Dは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の基板送り動作を説明するための工程図(その4)である。
【図10A】図10Aは、従来のボンディング装置の概略構成の一例を説明するための断面図である。
【図10B】図10Bは、従来のボンディング装置の概略構成の他の例を説明するための断面図である。
【符号の説明】
【0036】
1 基板
1A 接続端子
2 基板吸着プレート
3 基板用ヒーター
4 断熱材
5 荷重センサ
5A〜5D 荷重センサ
6 電子部品
6A バンプ
7 ボンディングツール
8 加熱機構
9,15 スライドガイド
10 ボンディングツール支持部
11 シリンダ
12 昇降ブロック
13 θモーター
16 送りネジ
17 Zモーター
18 昇降機構
20 圧力検知手段
21 制御部
22 圧力調整手段
30 基板
31A〜31D 素子
100 ボンディングヘッド
S 基板ステージ
【技術分野】
【0001】
本発明は、電子部品をボンディングにより基板に実装する際、加圧力を高精度に制御し、製品品質を向上可能なボンディング装置及び高品質な製品を安定的に提供可能なボンディング方法に関する。
【背景技術】
【0002】
近年、コンピュータ等の電子機器の高速化、小型化に伴い、電子部品の高密度実装の要求が高まっており、1枚の基板上に複数の電子部品を積層する高集積基板が採用されている。また、高集積化を図るために、搭載する電子部品にバンプを形成し、基板上で加圧しながらバンプを熱溶着させるフリップチップボンディングが行われている。このようなフリップチップボンディングにおいては、益々小型化及び多ピン化が進んでおり、バンプ径の小型化及びバンプ接続端子間の狭ピッチ化への要求が高まっている。
しかし、前記バンプ接続端子間の狭ピッチ化が進み、ピッチが40μm以下となると、基板の製造精度、バンプ形成時の製造バラツキなどにより、±1μm以内と高精度の搭載位置決めや、安定した荷重制御が行われない場合、端子間のショート等の接続不良の発生や、電子部品に与えるダメージが懸念される。ここで、端子間のショートは、バンプの潰し過ぎ、認識後の位置ズレなどにより生じ、電子部品へのダメージとしては、バンプ、電子部品、基板の端子部等の破損が挙げられる。
【0003】
ところで、電子部品のボンディングには、従来より、昇降自在に設けられたボンディングツールと、該ボンディングツールにより電子部品を押圧したときの荷重を検出する荷重センサとを備えたボンディング装置が使用されている。該ボンディング装置においては、ボンディングツール支持部の上方に前記荷重センサを配置すると共に、前記ボンディングツール支持部に前記荷重センサを接触させ、前記ボンディングツール及び前記荷重センサを取り付けたボンディングヘッドを昇降機構により下降させて電子部品を基板に接合させる。このとき、前記ボンディングツールによる押圧荷重が、前記ボンディングツール支持部に接触配置された前記荷重センサにより検出されるようになっている。
【0004】
従来のボンディング装置としては、具体的には、ボンディングツール支持部の自重を含めてスプリングを使用して懸架する方式を採用した装置(特許文献1参照)、ボンディングツール支持部に予め所定の荷重を付加し、ボンディングツールにより電子部品を押圧した際に、検出する荷重が減少するように構成した荷重検出機構及び検出する荷重が増加するように構成した荷重検出機構を備えた装置(特許文献2参照)、シリンダに予め所定の推力を発生させてフィードバック制御を行う装置(特許文献3参照)、ボンディングヘッドに平行調整機構を設けて、平行検出センサにより平行状態を判断する装置(特許文献4参照)、などが提案されている。
【0005】
しかし、バンプ接続端子間の狭ピッチ化に伴い、高い搭載精度と荷重制御とが必要となる場合には、基板、バンプ等の部材間の精度バラツキにより、ボンディング接合時の設定荷重基準値の範囲内であっても、面内では応力のバラツキが発生しており、接続不良等が発生し、製品歩留りの低下に繋がっている。
また、ボンディング接合時の全体圧力である前記設定荷重基準値についても、ボンディングツール支持部には、昇降機構を構成する多数のスライドガイド、シャフト、シリンダ、スプリング等の機構部と、電子部品の吸着、加熱、冷却、及び傾き調整のための機構部と、更にはこれらに伴う配線、配管等の多数の構成部品が設けられているため、ボンディングツール支持部の上方に接触配置された荷重センサでは、配設位置、使用面積等が制限され、しかも前記構成部品による摩擦抵抗や熱影響を受け易く、検出値が変動し易いという問題がある。また、ここで検出されている圧力値は、あくまでも前記ボンディングツール支持部に掛かる荷重であるため、前記構成部品に対する傾斜荷重、水平分力等の逃げ荷重も含まれており、検出された荷重値は、必ずしも接合部分に印加された荷重であるとは言えず、定期的な荷重校正が必要とされる。
【0006】
したがって、前記特許文献1〜4に記載の従来の荷重検出機構を備えたボンディング装置では、製品品質の更なる向上を図ることができず、より高精度に加圧力を制御し、製品品質を向上可能なボンディング技術の開発が望まれている。
【0007】
【特許文献1】特開2000−183114号公報
【特許文献2】特開2002−76061号公報
【特許文献3】特開2001−68895号公報
【特許文献4】特開2001−223244号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
本発明は、従来における前記問題を解決し、以下の目的を達成することを課題とする。即ち、本発明は、電子部品をボンディングにより基板に実装する際、加圧力を高精度に制御し、製品品質を向上可能なボンディング装置及び高品質な製品を安定的に提供可能なボンディング方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0009】
前記課題を解決するための手段としては、以下の通りである。即ち、
本発明のボンディング装置は、電子部品を基板上に押圧して接合するボンディングヘッドと、前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構と、個々の前記荷重検出機構により検出された圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知手段とを少なくとも有することを特徴とする。
該ボンディング装置においては、前記基板ステージ下に、前記荷重検出機構を、互いに対向して略等間隔(例えば、マトリックス状)に複数配置したので、ボンディングツール支持部の近傍に前記荷重検出機構を配置する従来のボンディング装置に比して、平面上に配置するスペースの確保が容易で、しかも周囲に複雑な機構部がなく、昇降動作も不要であるため、前記基板ステージに印加される真の荷重を検出することができる。また、複数の前記荷重検出機構により、前記基板ステージ面の分布圧を測定することができ、前記ボンディングヘッドによる加圧力を高精度に制御し、製品品質を向上させることができる。
【0010】
本発明のボンディング方法は、ボンディングヘッドにより電子部品を基板上に押圧して接合する押圧工程と、前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構により検出された、個々の圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知工程とを少なくとも含むことを特徴とする。
該ボンディング方法では、前記押圧工程において、前記ボンディングヘッドにより前記電子部品が前記基板上に押圧されて接合される。前記圧力検知工程において、前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する前記基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の前記荷重検出機構により検出された、個々の圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態が検知される。その結果、前記基板ステージに印加される真の荷重が検出され、しかも前記基板ステージ面の分布圧も測定され、前記ボンディングヘッドによる加圧力が高精度に制御され、高品質な製品が安定的に、かつ高歩留まりで得られる。
【発明の効果】
【0011】
本発明によると、従来における問題を解決することができ、電子部品をボンディングにより基板に実装する際、加圧力を高精度に制御し、製品品質を向上可能なボンディング装置及び高品質な製品を安定的に提供可能なボンディング方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0012】
以下、本発明のボンディング装置及び本発明のボンディング方法について、図面を用いて詳細に説明する。
【0013】
(実施の形態1)
本発明のボンディング装置の第1の実施の形態を以下に図面を用いて説明する。
図1は、本発明の第1の実施の形態に係るボンディング装置の概略構成を示す断面図である。
図1に示すボンディング装置は、フリップチップボンディングを行う装置であり、ボンディングヘッド100を備えている。該ボンディングヘッド100は、バンプが形成された電子部品を加熱及び加圧(押圧)することにより、前記バンプと基板における接続端子とを接合する機能を有する。
【0014】
図1に示すように、ボンディングヘッド100は、電子部品6を吸着して作動するボンディングツール7と、該ボンディングツール7を加熱することにより電子部品6に形成されたバンプ6Aに熱を印加し、接合温度を180〜350℃程度となるように設定する加熱機構8とを有するボンディングツール支持部10を備えている。ボンディングツール支持部10は、突出部10Aが、コ字状の昇降ブロック12に取り付けられたシリンダ11と係合され、スライド自在なスライドガイド9を介して昇降ブロック12に保持されている。また、ボンディングツール支持部10の上部には、θモーター13が配設されており、該θモーター13は、電子部品6の位置決め時にθ回転補正を行う。
なお、シリンダ11は、該シリンダの推力を固定して使用してもよいし、フィードバック制御によりシリンダの推力を可変にする、電空レギュレータ等の後述する圧力調整手段22を用いて推力を変化させて使用してもよい。
【0015】
また、昇降ブロック12は、スライドガイド15と、送りネジ16と、該送りネジ16の上部に配設されたZモーター17とからなる昇降機構18に連結されており、コ字状の昇降ブロック12における垂直部が、スライド自在なスライドガイド15を介して送りネジ16に保持されている。そして、電子部品6に対して必要以上の荷重が印加された場合、昇降機構18に連結された昇降ブロック12を上下に変動させることにより、設定荷重にフィードバック制御を行い、基板1、電子部品6、荷重センサ5等の損傷を防止することができるようになっている。
【0016】
更に、接続端子1Aが形成された基板1は、該基板1を吸着保持する基板吸着プレート2上に載置され、該基板吸着プレート2の下部には、基板1を加熱する基板ヒーター3及び断熱材4が設けられている。更に、断熱材4は、該断熱材4の四角(マトリックス状)に配置された4個の荷重センサ5により支持されている。なお、本実施の形態では、基板プレート2、基板ヒーター3及び断熱材4により基板ステージSが構成されている。
【0017】
そして、荷重センサ5による信号が、A/Dコンバーター等の圧力検知手段20により検知されて制御部21に伝達され、電子部品6におけるバンプ6Aに印加される総荷重と、基板ステージS面に対する分布圧とを測定し、更に圧力調整手段22を制御することにより、ボンディングの設定荷重を調整するようになっている。
【0018】
従来では、荷重センサの定格は、ボンディング装置として設定荷重に適用される最大の範囲を想定して決定されており、最大で50kgf以内の荷重範囲であれば、高圧用の荷重センサの定格としては50kgfが、低圧用の荷重センサの定格としては5kgfが、それぞれ一般的に使用されている値である。このため、設定荷重が5〜15kgfの場合、高圧用の50kgf定格を使用することとなり、精度が低くなるという問題がある。
一方、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置によれば、荷重センサ5を4個使用しているので、それぞれの荷重センサ5に、最大荷重が分割して印加され、最大50kgfの荷重範囲であっても、荷重センサ5の1個当たりに印加される荷重は、50kgfの1/4、即ち12.5kgf程度であり、荷重センサ5の定格を下げることにより、直線性やヒステリシス特性の向上を図ることができる。
また、スライドガイド、スプリング、シリンダ等を備えた昇降機構の動作は、半導体装置の生産数を考慮すると、動作頻度が非常に高く、上述した複雑な構造及び制御により生じる摩擦抵抗等の影響を受け、装置状態が変化し易いが、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置では、複雑な昇降機構を有さず昇降動作も不要な、基板1の下側に荷重センサ5を4個、マトリックス状に配置したので、ボンディング時にバンプ6Aと接続端子1Aとの接合部分に印加される真の荷重と基板ステージS面に対する分布圧とを検知することができる。
【0019】
次に、本発明の第1の実施の形態に係るボンディング装置における荷重検出機構について説明する。なお、図2は、ボンディング装置における荷重検出機構を示す平面図である。
図2に示すように、基板1は、基板1に合わせて真空吸着溝が形成された基板吸着プレート2により吸着保持され、該基板吸着プレート2の下部には、基板1を加熱する基板ヒーター3が設置されており、一般に100℃程度の基板加熱が行われるようになっている。また、基板ヒーター3の下方には、断熱材4を介して荷重センサ5が配置されている。ここで、荷重センサ5の許容温度範囲は、通常50〜100℃程度であり、基板の加熱及び前記電子部品接続時の接合の際の加熱(180〜350℃程度)による温度上昇に対して、荷重センサ5と基板ステージS移動用の駆動部(不図示)とを保護する必要があるため、断熱材4及び冷却機構(不図示)が配置されている。
【0020】
本実施の形態では、第1の荷重センサ5A、第2の荷重センサ5B、第3の荷重センサ5C及び第4の荷重センサ5Dの4個の荷重センサ5が、互いに対向して略等間隔に配置されており、図2に示すように、基板吸着プレート2の平面に対して四角に(マトリックス状)位置している。そして、荷重センサ5A〜5Dそれぞれの検出信号が、A/Dコンバーター等の圧力検知手段20を経由して、制御部21に出力されるようになっている。
また、荷重センサの形態及び配置態様としては、特に制限はなく、以下に示す様に種々の変形を行うことができる。即ち、例えば、図3Aに示すように、荷重センサ5としてひずみゲージを用いて基板ステージSを固定してもよいし、図3Bに示すように、荷重センサ5としてロードセル等の他の機構を組み合わせて、更にガイド部Gにより基板ステージSを可動式に設けてもよいし、図3Cに示すように、4個の荷重センサ5A〜5Dに加えて、更に第5の荷重センサ5E、第6の荷重センサ5F、第7の荷重センサ5G及び第8の荷重センサ5Hの4個の荷重センサを、互いに対向して略等間隔に、即ちマトリックス状に配置してもよい。図3Cに示すように、荷重センサ5の個数を増加させると(図3Cでは8個)、荷重測定ポイントが増加するため、荷重検出データをより詳細に得ることができる。
【0021】
次に、ボンディング接合時のボンディング装置の動作(本発明のボンディング方法)を、図4に示すフローチャートを用いて説明する。
まず、基板1における接続端子1Aと、電子部品6におけるバンプ6Aとの接合時の加圧荷重(全体のボンディング荷重)として、基準圧力及びボンディングツール7の下降速度をマイクロコンピューター等の制御部21にて数値設定する。ここで、本実施の形態においては、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dによる、各圧力検出値を使用して、荷重センサ1個当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値の数値設定を行う。該しきい値は、基板1、バンプ6A等の材料、構造、大きさなどにより適宜決定され、1バンプ当たりに印加される圧力、及び不良となる接続端子強度データ等を基に、電子部品の1角に配置された荷重センサ1個当たり、更には荷重センサを組み合わせた電子部品の1辺(荷重センサの配列1列)に対しても圧力検出を行うことにより設定することができる。また、しきい値を超えた場合に装置アラーム通知や稼動停止を行うことにより、異常の発生を早期に検出することができる。
【0022】
次に、図5Aに示すように、実際のボンディング接合時に、ボンディング荷重の基準圧力となるように、ボンディングツール7を昇降機構18により降下させて、ボンディングツール7に吸着保持された電子部品6を、基板1に形成された接続端子1Aに向けて降下させる。そして、図5Bに示すように、電子部品6と基板1とが接触したときから、予め設定された接合時間後に停止させてボンディングツール7を上昇させるまでの間の、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dの各圧力検出値を制御部21に入力する。すると、図4に示すように、各圧力検出値に基づいて、制御部21は、予め数値設定された基準圧力と、圧力センサ1(第1の荷重センサ5A)〜圧力センサ4(第4の荷重センサ5D)の各圧力検出値の合計とを比較しながら、圧力調整手段22にフィードバック制御を行う。すると、加圧モータドライバによりデジタル流量弁が調節され、シリンダ11の流量が調整される。なお、流量は検知されて、制御部21に伝達される。そして、サンプリングされた各圧力検出値と、電子部品6の1角及び1辺に対して予め数値設定された、加圧力の上限及び下限のしきい値とを比較し、基準圧力内であっても、しきい値を超えた場合には、異常発生とみなし、装置稼動停止と装置アラーム通知とを行うことにより、電子部品6の損傷を防止することができる。また、ボンディング接合毎にサンプリングされた各圧力検出値は、時系列でモニタリングすることができ、製造状態履歴として保管することにより、製品品質の向上とトレーサビリティの確保とを実現することができる。
【0023】
次に、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dの各圧力検出状態について、図6A及び図6Bを用いて説明する。
まず、電子部品6が下降して基板1と接触し、電子部品6の1個当たりに加圧する基準圧力に到達してから、予め設定された接合時間後に停止させてボンディングツール7を上昇させるまでの間の、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dの圧力検出値の合計となる、ボンディング荷重基準圧力(電子部品1個当たりの基準圧力)Xを時系列で表すと、図6Aに示すようなグラフが得られる。
また、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dの検出状態が均等となる場合には、図6Bに示すように、荷重センサ1個当たりの圧力検出値X1は、ボンディング荷重基準圧力Xに対して1/4となる。これは、電子部品6における各バンプ6Aに均一に荷重が印加されていることを示しており、この状態においては、電子部品6の破損等の懸念は生じない。
【0024】
次いで、ボンディング接合時に不具合が生じた場合を、図7A〜図7Fに示す。図7Aでは、ボンディングツール7の傾斜による平行状態の異常が、図7Bでは、基板ステージSの傾斜による平行状態の異常が、図7Cでは、バンプ6Aの高さ異常が、それぞれ生じており、接続端子1A及びバンプ6Aの接続不良が発生している。また、図7Dでは、基板1と基板ステージSとの間に異物Dが混入し、図7Eでは、電子部品6とボンディングツール7との間に異物Dが混入し、図7Fでは、接続端子1Aとバンプ6Aとの間に異物Dが混入し、それぞれ接続不良が発生している。このほか、基板精度やチップ厚みのバラツキ等によっても接続不良が生じる。これらの接続不良は、従来のボンディング装置における荷重検出機構では検知することができず、図6Bに示す、ボンディング荷重基準圧力X(電子部品1個当たりの総荷重基準圧力)が印加されてボンディングが終了するが、本発明の第1の実施の形態では、複数個の荷重センサ5の各圧力検出値に対してしきい値を設定しているため、接続不良等の異常を検出することができる。このように、従来のボンディング荷重の検出機構では、部品破壊、接続不良等が発生した時点で、異常が検出されないため、製造を続行することとなり、即ち、電子部品全体に印加される荷重が一部に集中的に印加され、電子部品の破損に繋がり、製造歩留りが低下する一方、本発明によれば、製品品質及び製造歩留りの向上を図ることができる。
【0025】
また、前記異常が、電子部品6におけるバンプ6Aが変形して収束する範囲の微小な変化であっても、本実施の形態によれば、第1の荷重センサ5A〜第4の荷重センサ5Dの圧力検出値に差が生じることから、異常を検知することができる。即ち、例えば、図7A及び図7Bに示すように、ボンディングツール7や基板ステージSの平行状態が悪化し、図2に示す、第1の荷重センサ5A及び第2の荷重センサ5Bに対して、先に接触するように、電子部品6が傾斜している場合、設定された速度にてボンディング荷重の基準圧力が印加されるように制御されているため、図8Aに示すように、第1の荷重センサ5A及び第2の荷重センサ5Bが検知する荷重が、X2で表されるように、時間軸に対して先に上昇し、加圧によるバンプ6Aの変形が進むに従って、X3で表されるように、第3の荷重センサ5C及び第4の荷重センサ5Dにも荷重が印加される。
【0026】
同様に、図2に示す、第1の荷重センサ5Aにのみ、先に接触するように電子部品6が傾斜している場合、図8Bに示すように、第1の荷重センサ5Aが検知する荷重が、X4で表されるように、時間軸に対して先に上昇し、加圧によるバンプ6Aの変形が進むに従って、X5で表されるように、第2の荷重センサ5B及び第3の荷重センサ5Cに荷重が印加され、最終的に、X6で表されるように、第4の荷重センサ4Dにも荷重が印加され、総ての荷重センサ5A〜5Dに接触した時点から荷重のバラツキが収束していく。
このように、総ての荷重センサ5A〜5Dに均一に接触している状態になるまでの間に、タイムラグが生じるが、本実施の形態に係るボンディング装置によれば、該タイムラグを検出することが可能となる。更に、先に接触する荷重センサには、他の荷重センサよりも圧力検出値が高くなる傾向が観られるため、電子部品6、バンプ6A、基板1における接続端子1A等による荷重と、電子部品6の1角及び1辺に対して予め数値設定された、加圧力の上限及び下限のしきい値とを比較し、部材の強度が許容範囲内で製造されたことを管理することが可能となり、製品の品質及び信頼性の向上を図ることができる。
【0027】
本実施の形態では、上述したように、基板1素子当たりに対してボンディングを行ったが、基板上に複数の素子が配置されている場合にも、同様にボンディングを行うことができる。例えば、図9A〜図9Dに示すように、基板30上に4個の素子31A〜31Dが配置されている場合、基板ステージを固定して、基板30を移動させる送り動作を行うことにより、図9A〜図9Dの順に、電子部品6のボンディングを行ってもよいし、基板ステージを分割してボンディングを行ってもよい。これらの態様は、多点取りに好適であり、多ピン化を図った半導体チップ、大面積の半導体チップ等のように、ボンディングの際に高荷重を要する場合にも、機構的に無理がない。
【0028】
本発明のボンディング装置及びボンディング方法によれば、荷重センサを基板ステージ側にマトリックス状に複数配置し、該荷重センサの各検出位置での許容荷重のしきい値の上限及び下限の範囲で、接合部に印加される加圧力をフィードバック制御し、しかも基板ステージ面内の応力分布をモニターすることができるので、基板と電子部品とのボンディング時(生産時)の荷重検出機構の精度及び信頼性を向上させることができる。
また、電子部品のボンディング時に、ボンディングツールの平行状態の異常、異物混入、バンプ高さのバラツキ、基板における接続端子間の接続状態、ボンディングツールの昇降動作異常、昇降機構の磨耗、故障等の不具合を、生産時に検出することができるので、異常発生や不良品の存在を即座に検知することができる。このため、常に安定した状態での生産を管理し、不良品を製造し続けることなく、高品質な商品を高歩留りで得ることができる。
更に、異常発生時に、該異常を装置アラームとして通知するほか、装置の稼動を停止することができるので、品質管理記録としてトレーサビリティに利用することができる。
【0029】
(従来例)
図10A及び図10Bに、従来のボンディング装置の概略構成を示す。
図10Aに示すボンディング装置は、ボンディングヘッド200を有しており、該ボンディングヘッド200は、電子部品206を吸着して作動するボンディングツール207と、該ボンディングツール207を加熱することにより電子部品206に形成されたバンプ206Aに熱を印加する加熱機構208とを有するボンディングツール支持部210を備えている。ボンディングツール支持部210は、突出部210Aが、コ字状の昇降ブロック212に取り付けられたシリンダ211に係合されると共に、突出部210Aの下面が、スプリング230により昇降ブロック210に付勢されている。また、ボンディングツール支持部210は、スライド自在なスライドガイド209を介して昇降ブロック212に保持されている。更に、ボンディングツール支持部210の上部には、回転モーター213が配設されており、該回転モーター213は、電子部品206の位置決め時に回転補正を行う。更に、シリンダ211の下方に位置するボンディングツール支持部210上には、ボンディングツール207の加圧力を検出するための荷重センサ205が配設されている。
【0030】
また、昇降ブロック212は、スライドガイド215と、送りネジ216と、該送りネジ216の上部に配設された昇降モーター217とからなる昇降機構218に連結されており、コ字状の昇降ブロック212における垂直部が、スライド自在なスライドガイド215を介して送りネジ216に保持されている。そして、昇降機構218に連結された昇降ブロック212を上下に変動させることにより、ボンディングツール207を昇降させるようになっている。
【0031】
更に、接続端子201Aが形成された基板201は、該基板201を吸着保持する基板吸着プレート202上に載置され、該基板吸着プレート202の下部には、基板201を加熱する基板ヒーター203及び断熱材204が設けられている。
そして、荷重センサ205による信号が、圧力検知手段220により検知されて制御部221に伝達されると、制御部221が圧力調整手段222を制御することにより、該圧力調整手段222がバルプ223の流量を調整し、ボンディングツール207の加圧力が調整されるようになっている。
また、図10Bに示す従来のボンディング装置においては、ボンディングヘッド300を有しており、該ボンディングヘッド300は、図10Aに示すボンディングヘッド200において、荷重センサ205が、ボンディングツール支持部210の突出部210Aの下方に位置する昇降ブロック212上に配設されている。
【0032】
このように、図10A及び図10Bに示す従来のボンディング装置においては、荷重センサ205の配設位置付近に、昇降機構218、ボンディングツール支持部210、加熱機構208等を構成する多くの部品が存在するため、これらの部品による摩擦抵抗や熱影響を受け易く、ボンディングツール207の荷重の検出値が変動し易い。しかも、検出値は、あくまでも、ボンディングツール210に掛かる荷重(全体の荷重)であるため、上述した第1の実施の形態のボンディング装置のように、電子部品のボンディング時に、ボンディングツールの平行状態の異常、異物混入、バンプ高さのバラツキ、基板における接続端子間の接続状態、ボンディングツールの昇降動作異常、昇降機構の磨耗、故障等の不具合を、生産時に検出することができないため、第1の実施の形態のボンディング装置を用いた場合に比して、得られる製品の品質に劣り、製造歩留りが低下する。
【0033】
本発明の好ましい態様を付記すると、以下の通りである。
(付記1) 電子部品を基板上に押圧して接合するボンディングヘッドと、
前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構と、
個々の前記荷重検出機構により検出された圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知手段とを少なくとも有することを特徴とするボンディング装置。
(付記2) 電子部品の形状が多角形であり、該多角形における各角に対応した位置に荷重検出機構が配置された付記1に記載のボンディング装置。
(付記3) 電子部品の形状が四角形であり、該四角形における四角に対応した位置に荷重検出機構が配置された付記2に記載のボンディング装置。
(付記4) 荷重検出機構がマトリックス状に配置された付記1から3のいずれかに記載のボンディング装置。
(付記5) ボンディングヘッドによる押圧力を調整する圧力調整手段と、該圧力調整手段を制御する制御部とを有してなり、前記制御部が、予め設定した基準圧力と、個々の荷重検出機構による各圧力検出値の合計とを比較しながら、前記圧力調整手段に対してフィードバック制御を行う付記1から4のいずれかに記載のボンディング装置。
(付記6) 個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構1つ当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を、前記制御部に予め設定する付記5に記載のボンディング装置。
(付記7) 個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構の1配列当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を、前記制御部に予め設定する付記5に記載のボンディング装置。
(付記8) 荷重検出機構による圧力検出値がしきい値を超えた場合に異常を表示する付記6から7のいずれかに記載のボンディング装置。
(付記9) 更にボンディング装置を停止する付記8に記載のボンディング装置。
(付記10) ボンディングヘッドにより電子部品を基板上に押圧して接合する押圧工程と、
前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構により検出された、個々の圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知工程とを少なくとも含むことを特徴とするボンディング方法。
(付記11) 電子部品の形状が多角形であり、該多角形における各角に対応した位置に荷重検出機構が配置された付記10に記載のボンディング方法。
(付記12) 電子部品の形状が四角形であり、該四角形における四角に対応した位置に荷重検出機構が配置された付記11に記載のボンディング方法。
(付記13) 荷重検出機構がマトリックス状に配置された付記10から12のいずれかに記載のボンディング方法。
(付記14) ボンディングヘッドによる押圧力を調整する圧力調整工程と、予め設定した基準圧力と、個々の荷重検出機構による各圧力検出値の合計とを比較しながら、前記押圧力のフィードバック制御を行う制御工程とを含む付記10から13のいずれかに記載のボンディング方法。
(付記15) 制御工程が、個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構1つ当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を予め設定する付記14に記載のボンディング方法。
(付記16) 制御工程が、個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構の1配列当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を予め設定する付記14に記載のボンディング方法。
(付記17) 荷重検出機構による圧力検出値がしきい値を超えた場合に異常を検知する付記15から16のいずれかに記載のボンディング方法。
(付記18) 更に押圧工程を停止する付記17に記載のボンディング方法。
(付記19) 個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、電子部品と基板との接合面における接続状態のトレーサビリティを行う付記10から18のいずれかに記載のボンディング方法。
【産業上の利用可能性】
【0034】
本発明のボンディング装置は、電子部品をボンディングにより基板に実装する際、加圧力を高精度に制御し、製品品質を向上することができる。また、異常発生時に、該異常の通知又は装置の停止を行うことができ、品質管理記録としてトレーサビリティに利用することができる。このため、フラッシュメモリ、DRAM、FRAM、等を初めとする各種半導体装置の製造に好適に使用することができる。
本発明のボンディング方法は、加圧力を高精度に制御して、常に安定した状態で電子部品を基板に実装するため、不良品を製造し続けることなく、高品質な商品を高歩留まりで得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【0035】
【図1】図1は、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の概略構成を説明するための断面図である。
【図2】図2は、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置における荷重検出機構の概略構成を説明するための平面図である。
【図3A】図3Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置における荷重検出機構の変形態様の一例を示す概略説明図(その1)である。
【図3B】図3Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置における荷重検出機構の変形態様の一例を示す概略説明図(その2)である。
【図3C】図3Cは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置における荷重検出機構の変形態様の一例を示す概略説明図(その3)である。
【図4】図4は、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の動作(ボンディング方法)を説明するためのフローチャートである。
【図5A】図5Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時の動作を示す概略説明図(その1)である。
【図5B】図5Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時の動作を示す概略説明図(その2)である。
【図6A】図6Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の基準荷重と時間との関係の一例を示すグラフである。
【図6B】図6Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の個別の荷重センサによる荷重と時間との関係を示すグラフである。
【図7A】図7Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その1)である。
【図7B】図7Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その2)である。
【図7C】図7Cは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その3)である。
【図7D】図7Dは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その4)である。
【図7E】図7Eは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その5)である。
【図7F】図7Fは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置を用いたボンディング方法におけるボンディング接合時に生じる不具合の一例を示す概略説明図(その6)である。
【図8A】図8Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の個別の荷重センサによる荷重と時間との関係の他の例を示すグラフ(その1)である。
【図8B】図8Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の個別の荷重センサによる荷重と時間との関係の他の例を示すグラフ(その2)である。
【図9A】図9Aは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の基板送り動作を説明するための工程図(その1)である。
【図9B】図9Bは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の基板送り動作を説明するための工程図(その2)である。
【図9C】図9Cは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の基板送り動作を説明するための工程図(その3)である。
【図9D】図9Dは、本発明の第1の実施の形態のボンディング装置の基板送り動作を説明するための工程図(その4)である。
【図10A】図10Aは、従来のボンディング装置の概略構成の一例を説明するための断面図である。
【図10B】図10Bは、従来のボンディング装置の概略構成の他の例を説明するための断面図である。
【符号の説明】
【0036】
1 基板
1A 接続端子
2 基板吸着プレート
3 基板用ヒーター
4 断熱材
5 荷重センサ
5A〜5D 荷重センサ
6 電子部品
6A バンプ
7 ボンディングツール
8 加熱機構
9,15 スライドガイド
10 ボンディングツール支持部
11 シリンダ
12 昇降ブロック
13 θモーター
16 送りネジ
17 Zモーター
18 昇降機構
20 圧力検知手段
21 制御部
22 圧力調整手段
30 基板
31A〜31D 素子
100 ボンディングヘッド
S 基板ステージ
【特許請求の範囲】
【請求項1】
電子部品を基板上に押圧して接合するボンディングヘッドと、
前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構と、
個々の前記荷重検出機構により検出された圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知手段とを少なくとも有することを特徴とするボンディング装置。
【請求項2】
電子部品の形状が多角形であり、該多角形における各角に対応した位置に荷重検出機構が配置された請求項1に記載のボンディング装置。
【請求項3】
電子部品の形状が四角形であり、該四角形における四角に対応した位置に荷重検出機構が配置された請求項2に記載のボンディング装置。
【請求項4】
荷重検出機構がマトリックス状に配置された請求項1から3のいずれかに記載のボンディング装置。
【請求項5】
ボンディングヘッドによる押圧力を調整する圧力調整手段と、該圧力調整手段を制御する制御部とを有してなり、前記制御部が、予め設定した基準圧力と、個々の荷重検出機構による各圧力検出値の合計とを比較しながら、前記圧力調整手段に対してフィードバック制御を行う請求項1から4のいずれかに記載のボンディング装置。
【請求項6】
個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構1つ当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を、前記制御部に予め設定する請求項5に記載のボンディング装置。
【請求項7】
個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構の1配列当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を、前記制御部に予め設定する請求項5に記載のボンディング装置。
【請求項8】
荷重検出機構による圧力検出値がしきい値を超えた場合に異常を表示する請求項6から7のいずれかに記載のボンディング装置。
【請求項9】
ボンディングヘッドにより電子部品を基板上に押圧して接合する押圧工程と、
前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構により検出された、個々の圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知工程とを少なくとも含むことを特徴とするボンディング方法。
【請求項10】
個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、電子部品と基板との接合面における接続状態のトレーサビリティを行う請求項9に記載のボンディング方法。
【請求項1】
電子部品を基板上に押圧して接合するボンディングヘッドと、
前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構と、
個々の前記荷重検出機構により検出された圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知手段とを少なくとも有することを特徴とするボンディング装置。
【請求項2】
電子部品の形状が多角形であり、該多角形における各角に対応した位置に荷重検出機構が配置された請求項1に記載のボンディング装置。
【請求項3】
電子部品の形状が四角形であり、該四角形における四角に対応した位置に荷重検出機構が配置された請求項2に記載のボンディング装置。
【請求項4】
荷重検出機構がマトリックス状に配置された請求項1から3のいずれかに記載のボンディング装置。
【請求項5】
ボンディングヘッドによる押圧力を調整する圧力調整手段と、該圧力調整手段を制御する制御部とを有してなり、前記制御部が、予め設定した基準圧力と、個々の荷重検出機構による各圧力検出値の合計とを比較しながら、前記圧力調整手段に対してフィードバック制御を行う請求項1から4のいずれかに記載のボンディング装置。
【請求項6】
個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構1つ当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を、前記制御部に予め設定する請求項5に記載のボンディング装置。
【請求項7】
個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、前記荷重検出機構の1配列当たりの加圧力の上限及び下限のしきい値を、前記制御部に予め設定する請求項5に記載のボンディング装置。
【請求項8】
荷重検出機構による圧力検出値がしきい値を超えた場合に異常を表示する請求項6から7のいずれかに記載のボンディング装置。
【請求項9】
ボンディングヘッドにより電子部品を基板上に押圧して接合する押圧工程と、
前記電子部品に対向配置された前記基板を保持する基板ステージ下に、互いに対向して略等間隔に配置された複数の荷重検出機構により検出された、個々の圧力検出値に基づいて、前記電子部品と前記基板との接合面における圧力状態を検知する圧力検知工程とを少なくとも含むことを特徴とするボンディング方法。
【請求項10】
個々の荷重検出機構による各圧力検出値に基づいて、電子部品と基板との接合面における接続状態のトレーサビリティを行う請求項9に記載のボンディング方法。
【図1】
【図2】
【図3A】
【図3B】
【図3C】
【図4】
【図5A】
【図5B】
【図6A】
【図6B】
【図7A】
【図7B】
【図7C】
【図7D】
【図7E】
【図7F】
【図8A】
【図8B】
【図9A】
【図9B】
【図9C】
【図9D】
【図10A】
【図10B】
【図2】
【図3A】
【図3B】
【図3C】
【図4】
【図5A】
【図5B】
【図6A】
【図6B】
【図7A】
【図7B】
【図7C】
【図7D】
【図7E】
【図7F】
【図8A】
【図8B】
【図9A】
【図9B】
【図9C】
【図9D】
【図10A】
【図10B】
【公開番号】特開2007−251051(P2007−251051A)
【公開日】平成19年9月27日(2007.9.27)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−75375(P2006−75375)
【出願日】平成18年3月17日(2006.3.17)
【公序良俗違反の表示】
(特許庁注:以下のものは登録商標)
1.FRAM
【出願人】(000005223)富士通株式会社 (25,993)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成19年9月27日(2007.9.27)
【国際特許分類】
【出願日】平成18年3月17日(2006.3.17)
【公序良俗違反の表示】
(特許庁注:以下のものは登録商標)
1.FRAM
【出願人】(000005223)富士通株式会社 (25,993)
【Fターム(参考)】
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