説明

レーザ走査顕微鏡

【課題】本発明は、走査速度の変動に依らず走査軌跡上のレーザ照射密度を均一化することのできるレーザ走査顕微鏡を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明のレーザ走査顕微鏡は、レーザ光で被観察面上を走査するスキャナ(11)と、前記走査の速度変化を検出する検出手段(11,203)と、前記検出された前記速度変化に応じて前記レーザ光のパワーを変化させるパワー制御手段(204,205)とを備えたことを特徴とする。したがって、走査軌跡に与えられるレーザ光の照射密度は均一となる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、レーザ走査顕微鏡に関する。
【背景技術】
【0002】
レーザ走査顕微鏡は、レーザ光で標本上を走査するガルバノスキャナと、標本で発した光を検出する検出器と、検出器の出力信号を基に標本の画像を生成する画像生成装置とを備える。このレーザ走査顕微鏡では、通常、走査軌跡上のレーザ照射密度を均一化するため、レーザ光のパワーを一定に保つ制御が行われる(特許文献1等を参照)。
【特許文献1】特開2005−308974号公報
【特許文献2】特開2005−241321号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
しかし、ガルバノスキャナによるレーザ光の走査速度(線速度)は一定とは限らないので、レーザ光のパワー制御が高精度に行われても、走査軌跡上のレーザ照射密度は均一化されない可能性がある。
因みに、特許文献2では、特殊なパターンの走査軌跡を採用することで走査速度の安定化を図っているが、特殊なパターンの走査軌跡は、複雑な画像生成処理を要するので望ましくない。
【0004】
そこで本発明は、走査速度の変動に依らず走査軌跡上のレーザ照射密度を均一化することのできるレーザ走査顕微鏡を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明のレーザ走査顕微鏡は、レーザ光で被観察面上を走査するスキャナと、前記走査の速度変化を検出する検出手段と、前記検出された前記速度変化に応じて前記レーザ光のパワーを変化させるパワー制御手段とを備えたことを特徴とする。
なお、前記速度変化は、前記スキャナのポジション信号から算出してもよい。
【発明の効果】
【0006】
本発明によれば、走査速度の変動に依らず走査軌跡上のレーザ照射密度を均一化することのできるレーザ走査顕微鏡が実現する。
【発明を実施するための最良の形態】
【0007】
[実施形態]
以下、実施形態を説明する。本実施形態は、蛍光共焦点レーザ走査顕微鏡システムの実施形態である。
先ず、本システムの構成を説明する。
図1は、本システムの構成図である。図1に示すとおり、本システムは、顕微鏡本体100、コントローラ20、コンピュータ21、モニタ22、入力器23などを備える。
【0008】
顕微鏡本体100には、レーザユニット1、光ファイバ7、コリメートレンズ8、ダイクロイックミラー9、ガルバノスキャナ11、リレーレンズ14、対物レンズ15、標本16、集光レンズ17、共焦点検出用のピンホール絞り18、光検出器19などが配置される。標本16は、不図示のステージ上に支持された蛍光観察用の標本(蛍光色素が添加された標本)である。
【0009】
ガルバノスキャナ11は、直列の関係で配置された主走査用ガルバノミラーと副走査用ガルバノミラーとを備えると共に、主走査用ガルバノミラーの配置角度をリアルタイムで表す角度信号を生成するポジションセンサと、副走査用ガルバノミラーの配置角度をリアルタイムで表す角度信号を生成するポジションセンサとを備える。また、ガルバノスキャナ11は、これらの角度信号を外部へ出力するための出力端子も備えている。
【0010】
レーザユニット1には、自己変調型のレーザ光源2(例えば半導体レーザ)と、非自己変調型のレーザ光源3(例えばHe−Neレーザ)とが搭載されている。レーザ光源2の射出光路と、レーザ光源3の射出光路とは、コンバイナミラー4によって共通光路に統合され、ファイバカプラ6へ向かう。
レーザ光源3(非自己変調型のレーザ光源)の単独光路には、音響光学フィルタ(AOTF)5が挿入されており、このAOTF5を制御することにより、レーザ光源3のレーザパワーを制御することが可能である。因みに、レーザ光源2(自己変調型のレーザ光源)のレーザパワーは、レーザ光源2を直接制御することで制御可能である。
【0011】
また、前述した共通光路には、レーザ光の一部を反射する分岐ミラー4’が挿入される。その分岐ミラー4’で反射したレーザ光は、パワーモニタ1Aへ入射し、電気信号に変換される。この電気信号は、レーザユニット1から射出するレーザ光のパワー、つまり標本16へ入射するレーザ光のパワーをリアルタイムで表す。
レーザユニット1から射出したレーザ光は、光ファイバ7の一端へ入射した後、光ファイバ7の内部を伝搬し、光ファイバ7の他端から射出すると、コリメートレンズ8において平行光束化された後、ダイクロイックミラー9へ入射する。そのレーザ光は、ダイクロイックミラー9を通過し、ガルバノスキャナ11の2つのガルバノミラーで順次反射した後、リレーレンズ14及び対物レンズ15を通り標本16上の1点に集光する。この状態でガルバノスキャナ11が駆動されると、レーザ光が標本16上を走査する。
【0012】
レーザ光の集光位置で生じた蛍光は、そのレーザ光と同じ光路を逆に辿り、ダイクロイックミラー9へ向かう。その蛍光は、ダイクロイックミラー9で反射し、集光レンズ17によって集光され、ピンホール絞り18を通過した後、光検出器19へ入射して蛍光信号へと変換される。
本システムのコントローラ20は、以上のレーザユニット1、ガルバノスキャナ11、光検出器19を同期制御することにより、レーザ光で標本16上を二次元的に走査しながら蛍光信号を繰り返し取り込む。さらに、取り込んだ蛍光信号を基に、コントローラ20は、標本16上の走査範囲の蛍光画像データを生成する。この蛍光画像データは、コンピュータ21へ送出され、必要に応じてモニタ22へ出力されたり、コンピュータ20において保存されたりする。
【0013】
本システムのユーザは、以上の同期制御に先立ち、入力器23を操作して必要な情報をコンピュータ21へ入力する。その情報には、光源種類I、標本16上の走査範囲A、レーザ光のパワーP、レーザ光の走査速度Vの各情報が含まれる。因みに、ユーザの入力したパワーがPであり、ユーザの入力した走査速度がVであるとき、走査軌跡に与えられるべきレーザ光の照射密度(エネルギー密度)は、E=P/Vである。以下、このエネルギー密度Eを、ユーザの入力したエネルギー密度とみなす。
【0014】
なお、ここでは、ユーザが入力する情報を、パワーPと走査速度Vとの組み合わせとしたが、パワーPとエネルギー密度Eとの組み合わせや、走査速度Vとエネルギー密度Eとしても構わない。また、ユーザによる情報の入力方法は、数値入力であっても選択式であっても構わない。
ユーザが入力した各情報は、コンピュータ21からコントローラ20へと与えられる。コントローラ20は、各情報に従って顕微鏡本体100を設定・制御し、前述した同期制御を行うが、本実施形態では、走査軌跡に与えられるレーザ光のエネルギー密度を均一化するため、前述した同期制御中にレーザ光のパワー制御も行う。
【0015】
次に、パワー制御に関するコントローラ20の動作を詳しく説明する。なお、前述した同期制御に関するコントローラ20の動作は周知なので説明を省略する。
図2は、パワー制御に関するコントローラ20の機能ブロック図である。図2に示すとおり、コントローラ20には、CPU,ROM,RAMなどからなる制御部201と、制御部201に接続されたスキャナ駆動部202、速度検出部203、パワー演算部204、パワー制御部205、インタフェース部206などが備えられる。このうち、インタフェース部206がコンピュータ21へ接続され、スキャナ駆動部202がガルバノスキャナ11の入力端子(駆動信号の入力端子)に接続され、速度検出部203がガルバノスキャナ11の出力端子(角度信号の出力端子)に接続され、パワー制御部205がレーザユニット1内のパワーモニタ1A、AOTF5、レーザ光源2に接続される。
【0016】
制御部201は、インタフェース部206を介してコンピュータ21と通信を行い、そのコンピュータ21からユーザの入力した光源種類I、走査範囲A、パワーP、走査速度Vの情報を取り込む。このうち、光源種類I、パワーPの情報はパワー制御部205へ与えられ、走査範囲A、走査速度Vの情報はスキャナ駆動部202へ与えられ、エネルギー密度E(=P/V)の情報はパワー演算部204へ与えられる。以下、ユーザの入力した光源種類Iがレーザ光源3(非自己変調型)であった場合を説明する。
【0017】
このとき、レーザユニット1の駆動対象は、レーザ光源3となる。パワー制御部205は、レーザ光源3の射出光路中のAOTF5に対し制御信号cを与える。この制御信号cは、標本16に入射するレーザ光のパワーを、ユーザの入力したパワーPに設定するための信号である。これによって、標本16には、レーザ光源3からのレーザ光がパワーPで入射することになる。
【0018】
また、スキャナ駆動部202は、走査範囲Aを走査速度Vでレーザ走査するための駆動信号SX,SYを生成し、それをガルバノスキャナ11の入力端子へ与える。この駆動信号SX,SYに応じて、ガルバノスキャナ11の2つのガルバノミラーが駆動され、標本16上の走査範囲Aをレーザ光が二次元的に走査する。
この走査中、ガルバノスキャナ11の出力端子からは、2つのガルバノミラーの角度信号θX,θYが出力される。角度信号θX,θYは、速度検出部203へと順次取り込まれ、レーザ光の走査速度を示す走査速度信号vへと順次変換される。この変換を行うために、速度検出部203は、取り込んだ角度信号θX,θYに対し時間微分の処理を施す。
【0019】
速度検出部203が生成する走査速度信号vは、パワー演算部204へと順次取り込まれ、目標パワー信号p0へと順次変換される。目標パワー信号p0は、走査軌跡上のエネルギー密度をユーザの入力したエネルギー密度Eに一致させるのに必要なパワーに相当し、レーザ光の走査速度が速いほど高い値を採る。具体的に、走査速度信号v(単位:m/sec)と、ユーザの入力したエネルギー密度E(単位:J/m)とに対し、目標パワー信号p0は、p0=v×E(単位:W)で与えられる。
【0020】
パワー演算部204が生成する目標パワー信号p0は、パワー制御部205へと順次取り込まれる。パワー制御部205は、取り込まれた目標パワー信号p0と、パワーモニタ1Aが生成する電気信号(パワー信号)pとの差分をとり、その差分がゼロに近づく方向に制御信号c(AOTF5に与える制御信号)を調節する。
以上の速度検出部203、パワー演算部204、パワー制御部205における各処理は、何れも高速に実行される。したがって、標本16へ入射するレーザ光のパワーは、そのレーザ光の走査速度に追従することになる。これによって、標本16の走査軌跡上のエネルギー密度は、均一になる。
【0021】
例えば、本システムのユーザがFRAP(Fluorescence recovery after photobleaching)の実験を行うため、図3(a)に示すような円形の走査範囲Aを入力し、このときの走査軌跡のパターンが、図3(a)に示すとおり連続曲線状に設定されたとする。このような走査軌跡によると、走査速度は、図3(b)に示すとおり正弦波状に変化するが、本システムでは、レーザ光のパワーがレーザ光の走査速度に追従し、図3(c)に示すとおり正弦波状に変化するので、走査軌跡上のエネルギー密度は均一になる。
【0022】
[その他]
なお、上述した説明では、ユーザの入力した光源種類Iをレーザ光源3(非自己変調型)としたが、レーザ光源2(自己変調型)であった場合、パワー制御部205は、AOTF5へ制御信号を与える代わりにレーザ光源2へ制御信号を与えればよい。
また、上述した速度検出部203、パワー演算部204、パワー制御部205は、パワー制御の応答性を高めるため、制御部201とは別に用意された回路としてコントローラ20に搭載されることが望ましいが、制御部201の演算速度が十分に高い場合には、制御部201が実行するソフトウエアとしてコントローラ20に搭載されてもよい。
【0023】
また、上述した顕微鏡本体100では、ポジションセンサを搭載したガルバノスキャナ11を使用したが、速度計を搭載したガルバノスキャナを使用してもよい。その場合、ガルバノスキャナから速度信号が出力されるので、速度検出部203は不要となる。
また、上述した顕微鏡本体100では、ポジションセンサ又は速度計を内蔵したガルバノスキャナを使用したが、ポジションセンサも速度計も内蔵されていないガルバノスキャナを使用してもよい。その場合、ポジションセンサ又は速度計を用意して、ガルバノスキャナ11へ搭載すればよい。
【0024】
また、上述した顕微鏡本体100では、ガルバノスキャナ11の運動からレーザ光の走査速度を間接的に検出したが、レーザ光の走査速度を直接検出してもよい。
また、上述した顕微鏡本体100では、光源ユニット1に搭載される光源を2種類としたが、1種類又は3種類以上としてもよい。
また、上述した顕微鏡本体100には、ガルバノスキャナ11として、走査範囲Aを設定可能な制御型のガルバノスキャナが使用されたが、走査範囲の固定された共振型ガルバノスキャナを使用してもよい。その場合であっても、走査軌跡上のエネルギー密度を均一化することができる。
【0025】
また、上述した顕微鏡本体100は、蛍光検出の機能と共焦点検出の機能との双方を搭載したレーザ走査顕微鏡であったが、蛍光検出の機能と共焦点検出の機能の一方又は双方を搭載しないレーザ走査顕微鏡にも本発明は適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【0026】
【図1】実施形態のシステムの構成図である。
【図2】パワー制御に関するコントローラ20の機能ブロック図である。
【図3】本システムの動作を説明する図である。
【符号の説明】
【0027】
1…レーザユニット,5…AOTF,7…光ファイバ,14…リレーレンズ,15…対物レンズ,16…標本,17…集光レンズ,18…ピンホール絞り,19…光検出器,11…ガルバノスキャナ,20…コントローラ,21…コンピュータ


【特許請求の範囲】
【請求項1】
レーザ光で被観察面上を走査するスキャナと、
前記走査の速度変化を検出する検出手段と、
前記検出された前記速度変化に応じて前記レーザ光のパワーを変化させるパワー制御手段と
を備えたことを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
【請求項2】
前記速度変化は、前記スキャナのポジション信号から算出する
ことを特徴とする請求項1に記載のレーザ走査顕微鏡。


【図1】
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【図2】
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【図3】
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【公開番号】特開2008−15030(P2008−15030A)
【公開日】平成20年1月24日(2008.1.24)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−183578(P2006−183578)
【出願日】平成18年7月3日(2006.7.3)
【出願人】(000004112)株式会社ニコン (12,601)
【Fターム(参考)】