信号処理装置、信号処理方法、表示装置及び電子機器
【課題】焼き付きを精度よく補正する。
【解決手段】測定部２５１は、ダミー画素回路６０９ａ，６０９ｂに複数レベルの階調値を設定して輝度を測定し、階調値と輝度値とを対応付けた測定情報を生成する。階調劣化特性算出部２５３は、ダミー画素回路（非発光）６０９ａを初期時の特性と見なし、測定情報に基づき、ダミー画素回路（非発光）６０９ａと、ダミー画素回路（発光）６０９ｂとが同一の輝度となる階調値を対応付け、階調劣化特性を算出する。変換効率劣化値算出部２５５は、階調劣化特性に基づき変換効率劣化値を算出する。電流量劣化値算出部２５７は、階調劣化特性に基づき電流量劣化値を算出する。
【解決手段】測定部２５１は、ダミー画素回路６０９ａ，６０９ｂに複数レベルの階調値を設定して輝度を測定し、階調値と輝度値とを対応付けた測定情報を生成する。階調劣化特性算出部２５３は、ダミー画素回路（非発光）６０９ａを初期時の特性と見なし、測定情報に基づき、ダミー画素回路（非発光）６０９ａと、ダミー画素回路（発光）６０９ｂとが同一の輝度となる階調値を対応付け、階調劣化特性を算出する。変換効率劣化値算出部２５５は、階調劣化特性に基づき変換効率劣化値を算出する。電流量劣化値算出部２５７は、階調劣化特性に基づき電流量劣化値を算出する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示に用いる発光素子の劣化成分を補正する信号処理装置、信号処理方法、表示装置及び電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
表示装置には、複数の画素をマトリックス状に配置した画素部を有し、表示すべき画像情報に応じて画素部を制御することによって画像を表示するものがある。近年、この画素部に自発光素子、例えば有機ＥＬ（Electroluminescence）素子を用いた表示装置が注目されている。このような表示装置では、有機ＥＬ素子を含む画素回路をマトリックス状に配置し、表示画面を構成する。しかし、この有機ＥＬ素子は表示対象となる画像データに応じて発光量を変えることにより階調を表現するため、有機ＥＬ素子の劣化の度合いが画素回路ごとに異なる。このため、時間の経過に応じて劣化の度合いが大きい画素と、劣化の度合いが少ない画素とが表示画面上に混在する。このとき、劣化の大きい画素が周辺の画素よりも暗くなることによって直前に表示されていた画像が残っているように見える現象（いわゆる、焼き付き）が生じる。
【０００３】
このような焼き付き現象を防止するため、未使用期間中に劣化の度合いの小さい発光素子の劣化を進行させて、劣化の度合いの大きい発光素子の劣化の度合いと均一にする表示装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−１７６２７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、未使用期間中に劣化の度合いの小さい発光素子の劣化を進行させて、劣化の度合いの大きい発光素子の劣化の度合いと均一にする表示装置では、発光素子全体の劣化を進行させる恐れがある。また、表示装置の未使用期間に焼き付きの補正を行うため、表示装置の使用中には補正できないという問題点もある。そこで、表示装置の使用中に発光素子自体の劣化を考慮して、映像信号の階調値を変更することにより、焼き付きを補正する方法が考えられる。
【０００６】
例えば、映像信号を表示させる画素回路の劣化の度合いに合わせて映像信号の階調値を指定し、その変更した映像信号を用いて発光素子を発光させる方法が考えられる。例えば、予め一般的な画素回路の駆動時間と輝度の劣化の度合いとを対応付けた劣化情報を装置に内蔵しておき、駆動時間の経過に応じてその劣化情報に基づいて推定される各画素の輝度劣化量に合わせて映像信号の階調値を変更することが考えられる。しかし、画素の劣化は画素回路ごとに異なるとともに、画素回路に供給される映像信号も表示対象ごとに異なる。このため、一般的な劣化情報を用いて精度よく焼き付き補正を行うことは、容易ではなかった。
【０００７】
また、一般に、劣化時には発光素子の変換効率が劣化する変換効率劣化と、画素回路の駆動電流が減少する電流量劣化とが発生する。このため、画素回路の劣化状態を実測して劣化情報を生成しようとした場合、実測値から変換効率劣化成分と電流量劣化成分とを分離することが容易ではなかった。
【０００８】
このような点に鑑み、精度の高い劣化情報を得ることによって、焼き付きを精度よく補正することが可能な信号処理装置、信号処理方法、表示装置及び電子機器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、測定部、階調劣化特性算出部、変換効率劣化値算出部及び電流量劣化値算出部を有する信号処理装置が提供される。測定部は、所定の更新時間ごとに、発光素子を有する所定の画素回路に対し、発光素子の発光の度合いを指示する階調値を複数レベルに設定して実際の輝度を測定する。そして、階調値と、測定した輝度値とを対応付けた測定情報を生成する。階調劣化特性算出部は、この測定情報と、予め登録された所定の画素回路が補正の基準状態にあるときの階調値と輝度値との関係と、に基づいて、同一の輝度値が得られる測定時の階調値と補正の基準状態における階調値とを対応付けた階調劣化特性を算出する。変換効率劣化値算出部は、この階調劣化特性に基づき、所定の画素回路の発光素子が階調値に応じて供給される駆動電流を輝度に変換する変換効率の劣化に関する変換効率劣化値を算出する。そして、この所定の画素回路に関する変換効率劣化特性情報を生成する。電流量劣化値算出部は、階調劣化特性に基づき、所定の画素回路の駆動電流の劣化に関する電流量劣化値を算出し、所定の画素回路に関する電流量劣化特性情報を生成する。
【００１０】
このような信号処理装置によれば、測定部は、所定の更新時間ごとに、所定の画素回路に対して設定した複数レベルの階調値と、階調値に対応する輝度値とを測定情報として生成する。階調劣化特性算出部は、同一の輝度が得られる測定時の階調値と、補正の基準状態における階調値とを対応付け、階調劣化特性を生成する。変換効率劣化値算出部は、階調劣化特性に基づいて変換効率劣化値を算出し、変換効率劣化特性情報を生成する。電流量劣化値算出部は、階調劣化特性に基づいて電流量劣化値を算出し、電流量劣化特性情報を生成する。
【００１１】
また、上記課題を解決するために、上記の信号処理装置と同様の信号処理を行う信号処理方法、表示装置及び電子機器が提供される。
【発明の効果】
【００１２】
開示の信号処理装置、信号処理方法、表示装置及び電子機器によれば、実際の画素回路を用いて測定した測定情報に基づいて、画素回路の変換効率劣化特性情報と電流量劣化特性情報を得ることができる。これにより、実際の測定値に基づく精度の高い変換効率劣化値と電流量劣化値を得ることができる。また、精度の高い変換効率劣化値と電流量劣化値と、に基づいて焼き付き補正を行うことによって、焼き付き補正を精度よく行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施の形態の表示装置の構成例を示した概念図である。
【図２】画素回路の構成例を模式的に示す回路図である。
【図３】画素回路の経時輝度変化の一例を示した図である。
【図４】映像信号の階調値と輝度値との関係を示した図である。
【図５】焼き付き補正部のハードウェア構成の一例を示した図である。
【図６】焼き付き補正部の機能構成の一例を示した図である。
【図７】劣化特性情報生成部の機能構成の一例を示した図である。
【図８】階調劣化特性の算出処理の一例を示した図である。
【図９】階調劣化情報の一例とその階調劣化特性線を示した図である。
【図１０】階調劣化情報の生成例を示した図である。
【図１１】変換効率劣化特性情報及び電流量劣化特性情報の生成例を示した図である。
【図１２】変換効率劣化曲線と電流量劣化曲線の一例を示した図である。
【図１３】変換効率劣化補正パターンの生成例を示した図である。
【図１４】電流量劣化補正パターンの生成例を示した図である。
【図１５】焼き付き補正部の焼き付き補正処理の手順例を示したフローチャートである。
【図１６】劣化特性情報生成部の劣化特性情報生成処理の手順例を示したフローチャートである。
【図１７】実施の形態の表示装置を備えたテレビジョンセットを示す斜視図である。
【図１８】実施の形態の表示装置を備えたデジタルスチルカメラを示す斜視図である。
【図１９】実施の形態の表示装置を備えたノート型パーソナルコンピュータを示す斜視図である。
【図２０】実施の形態の表示装置を備えた携帯端末装置を示す模式図である。
【図２１】実施の形態の表示装置を備えたビデオカメラを示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
図１は、実施の形態の表示装置の構成例を示した概念図である。表示装置１００は、焼き付き補正部２００と、ライトスキャナ（ＷＳＣＮ；Write SCaNner）４１０、水平セレクタ（ＨＳＥＬ；Horizontal SELector）４２０、電源スキャナ（ＤＳＣＮ；Drive SCaNner）４３０及び画素アレイ部５００を有する。
【００１５】
画素アレイ部５００は、ｎ×ｍ（ｎ，ｍは２以上の整数）個の２次元マトリックス状に配列された画素回路６００〜６０８を有する。図１では、便宜上、１行目、２行目及びｍ行目における１列目、２列目及びｎ列目に配置された９個の画素回路６００〜６０８が示されている。画素回路６００〜６０８は、それぞれ走査線（ＷＳＬ；Write Scan Line）４１１を介してライトスキャナ（ＷＳＣＮ）４１０に接続する。また、データ線（ＤＴＬ；DaTa Line）４２１を介して水平セレクタ（ＨＳＥＬ）４２０、電源線（ＤＳＬ；Drive Scan Line）４３１を介して電源スキャナ（ＤＳＣＮ）４３０に接続する。図１では、便宜上、走査線（ＷＳＬ）４１１、データ線（ＤＴＬ）４２１、電源線（ＤＳＬ）４３１には、接続する画素回路の列番号（１，・・・，ｎ）または行番号（１，・・・，ｍ）が振られている。例えば、１行目、１列目に配置されている画素回路６００には、走査線ＷＳＬ１、データ線ＤＴＬ１及び電源線ＤＳＬ１が接続している。
【００１６】
焼き付き補正部２００は、映像信号の階調値を入力し、画素回路６００〜６０８のそれぞれの劣化の度合いに合わせて映像信号の階調値を変更することによって焼き付きを補正する信号処理回路である。また、信号処理装置として構成することもできる。ここで、階調値とは、画素回路６００〜６０８が所定の輝度で発光するように駆動を指示する駆動信号であり、発光の度合いを示すレベル（段階）を指定する。例えば、発光の輝度の大きさを２５６段階（階調）で表現することができる。階調値の信号レベルが大きくなるほど、発光の輝度が大きくなるとする。なお、映像信号の階調値は、表示用の映像信号として焼き付き補正部２００に入力する階調値を言う。ここで、画素回路６００が初期状態のときに発光の輝度が２００ｎｉｔとなる映像信号の階調値を「階調値２００」とする。所定の時間経過後では、画素回路６００の劣化により、「階調値２００」を出力しても発光の輝度が１００ｎｉｔしか得られなくなるとする。同様に、「階調値３００」のときの発光の輝度が初期状態の３００ｎｉｔから２００ｎｉｔに劣化したとする。この場合、焼き付き補正部２００は、「階調値２００」の初期状態の輝度（２００ｎｉｔ）を得るため、例えば、出力する映像信号の階調値を「階調値４００」に変更する。焼き付き補正部２００は、この変更した映像信号を、信号線２０９を介して水平セレクタ（ＨＳＥＬ）４２０に供給する。これにより、画素回路６００は、２００ｎｉｔの輝度で発光することになり、焼き付きを補正することができる。
【００１７】
ライトスキャナ（ＷＳＣＮ）４１０は、行単位により画素回路６００〜６０８を順次走査する線順次走査を行う。水平セレクタ（ＨＳＥＬ）４２０は、ライトスキャナ（ＷＳＣＮ）４１０による線順次走査に合わせて、画素回路６００〜６０８における発光輝度の大きさを設定するためのデータ信号を、各列の画素回路６００〜６０８に供給する。電源スキャナ（ＤＳＣＮ）４３０は、ライトスキャナ（ＷＳＣＮ）４１０による線順次走査に合わせて、画素回路６００〜６０８を駆動させるための電源信号を行単位に生成する。そして、画素回路６００〜６０８は、走査線（ＷＳＬ）４１１からの操作信号に基づいて、データ線（ＤＴＬ）４２１からの映像信号の電位を保持して、その保持した電位に応じて所定の期間発光する。
【００１８】
図２は、画素回路の構成例を模式的に示す回路図である。図２は、画素回路６００について示したが、他の画素回路も同様の構成である。
【００１９】
画素回路６００は、書込みトランジスタ６１０と、駆動トランジスタ６２０と、保持容量６３０と、発光素子６４０と、を有する。図２の例では、書込みトランジスタ６１０及び駆動トランジスタ６２０がそれぞれｎチャンネル型トランジスタである場合を想定している。なお、書込みトランジスタ６１０及び駆動トランジスタ６２０は、この組み合わせに限定されない。例えば、ｐチャンネル型トランジスタを適用することもできるし、トランジスタは、エンハンスメント型、デプレション型やデュアルゲート型であってもよい。
【００２０】
この画素回路６００において、書込みトランジスタ６１０のゲート端子及びドレイン端子には、走査線（ＷＳＬ）４１１及びデータ線（ＤＴＬ）４２１がそれぞれ接続されている。また、書込みトランジスタ６１０のソース端子には、駆動トランジスタ６２０のゲート端子（ｇ）及び保持容量６３０の一方の電極（一端）が接続されている。図２では、この接続電位を第１ノード（ＮＤ１）６５０とする。また、駆動トランジスタ６２０のドレイン端子（ｄ）には、電源線（ＤＳＬ）４３１が接続され、ソース端子（ｓ）には保持容量６３０の他方の電極（他端）及び発光素子６４０のアノード電極が接続されている。図２では、この接続電位を第２ノード（ＮＤ２）６６０とする。
【００２１】
書込みトランジスタ６１０は、走査線（ＷＳＬ）４１１からの走査信号に従って、データ線（ＤＴＬ）４３１からのデータ信号を第１ノード（ＮＤ１）６５０に供給するトランジスタである。この書込みトランジスタ６１０は、画素回路６００の駆動トランジスタ６２０の閾値のバラつきを取り除くために、データ信号の基準電位を保持容量６３０の一端に供給する。ここにいう基準電位とは、駆動トランジスタ６２０の閾値電圧に相当する電圧を保持容量６３０の保持させるための基準となる固定電位のことである。また、書込みトランジスタ６１０は、駆動トランジスタ６２０の閾値電圧に相当する電圧が保持容量６３０に保持された後に、データ信号の信号電位を保持容量６３０の一端に順次書き込む。
【００２２】
駆動トランジスタ６２０は、発光素子６４０を発光させるために、信号電位に応じて保持容量６３０に保持された信号電圧に基づいて、駆動電流を発光素子６４０に出力する。この駆動トランジスタ６２０は、駆動トランジスタ６２０を駆動させるための電源電位が電源線（ＤＳＬ）４３１から印加されている状態において、保持容量６３０に保持された信号電圧に応じた駆動電流を発光素子６４０に出力する。
【００２３】
保持容量６３０は、書込みトランジスタ６１０によって供給されたデータ信号に応じた電圧を保持する。すなわち、保持容量６３０は、書込みトランジスタ６１０によって書き込まれた信号電位に応じた信号電圧を保持する役割を果たす。
【００２４】
発光素子６４０は、駆動トランジスタ６２０から出力された駆動電流の大きさに応じて発光する。また、発光素子６４０は、出力端子がカソード線６８０に接続されている。このカソード線６８０からは、発光素子６４０の基準電位としてカソード電位（Ｖｃａｔ）が供給されている。この発光素子６４０は、例えば、有機ＥＬにより実現することができる。
【００２５】
なお、画素回路６００の構成は、図２に示した回路構成に限定されない。すなわち、駆動トランジスタ６２０及び発光素子６４０を含むものであれば、画素回路６００に適用できる。例えば、３つ以上のトランジスタで発光を制御するとしてもよい。
【００２６】
以上、説明したように、表示装置１００の画素回路６００は、データ線（ＤＴＬ）４２１を介して供給される信号電位に応じた駆動電流が発光素子６４０に供給されることにより、駆動電流に応じた輝度で発光する。したがって、画素回路６００を構成する駆動トランジスタ６２０や発光素子６４０等が劣化すると、駆動電流の量や発光の量の変化により、信号電位に対する輝度の値が初期の状態からズレてしまう。全ての画素回路において同じ量のズレが発生するのであれば、いわゆる焼き付き現象が生じることはない。しかしながら、有機ＥＬ素子は表示する画像データに応じて発光する量を変えることにより階調を表現するため、有機ＥＬ素子の劣化の度合いが表示画面の画素回路ごとに異なる。このため、劣化の大きい画素回路の表示が周辺の画素回路の表示より暗くなることによって、焼き付き現象が生じる。
【００２７】
図３は、画素回路の経時輝度変化の一例を示した図である。図３は、発光素子として有機ＥＬ素子を有する画素回路に対し、発光素子６４０を２００ｎｉｔの輝度で発光させる階調値を出力して駆動したときの経過時間に応じた発光の輝度の値（輝度値）の変化を示している。図３の横軸は初期状態を起点として累積した経過時間を表わしている。図３の縦軸は、経過時間に応じた経時輝度を補正の基準の基準輝度「２００ｎｉｔ」に対する比で表わしている。ここで、初期状態は、対象の画素回路が補正の基準状態にある状態を指し、初期状態にあるときを経過時間「０」としている。経過時間が「０」の初期状態では、経時輝度の基準輝度に対する比は「１．０」、すなわち、経時輝度は２００ｎｉｔである。図３からは、画素回路の駆動時間が経過するに従って輝度が低下していることがわかる。例えば、４０００時間経過すると、画素回路に初期状態と同じ階調値を出力しても、得られる輝度は初期状態の「０．８」、すなわち１６０ｎｉｔになる。そこで、４０００時間経過後の画素回路で２００ｎｉｔの輝度を得るには、輝度劣化量に相当する補正量を映像信号の階調値に加える補正を行えばよい。これにより、この画素回路は、見かけ上、２００ｎｉｔで発光することになる。
【００２８】
図４は、映像信号の階調値と輝度値との関係を示した図である。図４の横軸は焼き付き補正部２００に入力される映像信号の階調値、縦軸は画素回路６００〜６０８において得られた輝度値をそれぞれ表わしている。また、画素特性曲線（初期）７１０は、初期状態の画素回路における入力された階調値と輝度値との関係を表わし、画素特性曲線（劣化）７２０は、初期状態から所定の時間が経過した画素回路における入力された階調値と輝度値との関係を表わしている。
【００２９】
画素特性曲線（初期）７１０について説明する。この画素特性曲線（初期）７１０は、例えば、次に示す二次関数により表現される。
Ｌ＝ Ａ×Ｓ2 ・・・（１）
【００３０】
ここで、Ｌは輝度値である。Ａは、発光素子６４０に供給される駆動電流を輝度に変換するときの変換の効率に応じて定まる係数（以下、変換効率とする）である。またＳ2は、駆動トランジスタ６２０の二乗特性を用いて算出した値であって、発光素子６４０に供給される駆動電流に相当する値である。このように、輝度値Ｌは、駆動電流Ｓ2に発光素子６４０の変換効率Ａを乗算することによって算出することができる。
【００３１】
画素特性曲線（劣化）７２０は、時間の経過によって発光素子６４０が劣化し、駆動電流を輝度に変換する変換効率に劣化が生じるため、画素特性曲線（初期）７１０よりも曲線の傾きが緩やかになっている。また、この画素特性曲線（劣化）７２０は、画素特性曲線（初期）７１０と比較して、横軸方向に駆動電流量減少成分Ｄ１の分だけ右側へシフトしている。この駆動電流量減少成分Ｄ１は、駆動電流の減少した量（駆動電流減少量）を示す成分であり、駆動トランジスタ６２０及び発光素子６４０の劣化に起因して生じる。すなわち、駆動トランジスタ６２０が劣化すると、信号電圧に応じて発光素子６４０に供給する駆動電流が減少する。また、発光素子６４０が劣化すると、発光素子６４０の閾値電圧が増加するため、信号電圧が減少し、駆動電流の電流量が減少する。このように、駆動電流量減少成分Ｄ１は、信号電圧に応じて供給される駆動電流量の減少と、信号電圧の減少とに起因して生じる。
【００３２】
式（１）で表わされる画素特性（初期）７１０に対し、駆動トランジスタ６２０及び発光素子６４０が劣化した状態の画素特性（補正対象）７２０は、次に示す二次関数により表現される。
Ｌｄ＝ Ａｄ×（Ｓ−ΔＳ）2 ・・・（２）
【００３３】
ここで、Ｌｄは、補正対象となる画素回路の輝度値である。Ａｄは、補正対象となる画素回路の発光素子６４０に供給される駆動電流を輝度に変換するときの変換の効率に応じて定まる係数（変換効率）である。ΔＳは、図４では駆動電流量減少成分Ｄ１である。また（Ｓ−ΔＳ）2は、駆動電流量減少成分Ｄ１が考慮された発光素子６４０に供給される駆動電流を示す。このように、劣化した輝度値Ｌｄは、劣化した変換効率Ａｄと駆動電流量減少成分Ｄ１が考慮された駆動電流（Ｓ−ΔＳ）2によって算出することができる。
【００３４】
以上説明したように、表示装置１００の使用に伴って画素回路が劣化すると、変換効率の劣化と、駆動電流の減少とが同時に進行し、映像信号の階調値に対する輝度値が低下する。以下、画素回路の使用時間の経過によって変換効率が劣化する現象を変換効率劣化、駆動電流が減少する現象を電流量劣化とする。なお、図４に示した画素特性の図において、変換効率劣化は画素特性曲線の傾きの低下に相当し、電流量劣化は画素特性曲線の階調方向のシフトに相当する。
【００３５】
表示装置１００の焼き付き補正部２００では、補正の基準状態、例えば劣化が起きていない初期状態の画素特性（初期）７１０を基準とし、劣化が起きた画素回路の画素特性（補正対象）７２０がその基準（画素特性７１０）と一致するように入力階調値を補正する。詳細は後述するが、焼き付き補正部２００では、変換効率劣化を補正する変換効率劣化補正パターンと、電流量劣化を補正する電流量劣化補正パターンとを用意し、劣化が起きた画素回路の映像信号の階調値を補正する。このように、劣化成分を効率劣化と電流量劣化とに分けて補正することにより、より精度の高い補正が可能となる。
【００３６】
ここで、変換効率劣化成分の補正について説明する。変換効率劣化成分の補正は、次の式に基づいて映像信号の階調を変更する。式（１），（２）に基づき、補正後の階調値Ｇｏｕｔは、次の式で求められる。
Ｇｏｕｔ＝（ΔＡ）-1/2×Ｇｉｎ ・・・（３）
ΔＡ＝Ａｄ／Ａ ・・・（４）
【００３７】
ここで、Ｇｏｕｔは、焼き付き補正部２００により補正された映像信号の階調値である。また、Ｇｉｎは、焼き付き補正部２００により補正される前の映像信号の階調値である。また、ΔＡは、補正対象画素回路の変換効率Ａｄを分子とし、初期状態の画素回路の変換効率Ａを分母とした変換効率の比を表わす分数の値（変換効率劣化値）である。なお、式（３），（４）では、駆動電流減少量ΔＳは考慮していない。言い換えると、駆動電流減少量ΔＳを考慮しないときに、初期状態の画素回路において階調値Ｇｉｎを入力したときに得られる輝度値Ｌを得るために、変換効率値がＡｄに劣化した画素回路で必要な階調値がＧｏｕｔである。
【００３８】
この式（３）に基づいて入力階調値を変更するために、焼き付き補正部２００は、画素回路６００〜６０８のそれぞれの劣化についての情報を保持し、その劣化の情報から画素回路６００〜６０８のそれぞれの変換効率値を算出する。そして、焼き付き補正部２００は、ΔＡを算出し、算出したΔＡに基づいて映像信号の階調を変更することによって、映像信号の補正された階調の値（補正階調値）を生成する。このように、式（３）に基づき、変換効率劣化値（ΔＡ）に基づく補正を変換効率劣化補正とする。変換効率劣化補正は、画素特性の傾きの補正に相当する。
【００３９】
しかし、変換効率劣化補正では、まだ駆動電流減少量ΔＳの影響が考慮されていない。そこで、焼き付き補正部２００では、さらに、ΔＳの影響を考慮して補正を行う。ΔＳは、図４の画素特性の例では駆動電流量減少成分Ｄ１に相当する。そこで、電流量劣化補正後の階調値Ｇｏｕｔは、式（３）に基づいて、次の式で求めることができる。
Ｇｏｕｔ＝（ΔＡ）-1/2×Ｇｉｎ＋ΔＳ ・・・（５）
【００４０】
すなわち、変換効率劣化補正による画素特性の傾きの補正の後、補正階調値をΔＳだけシフトされることにより、補正後の画素特性を画素特性曲線（初期）７１０と同じになるようにする。このような駆動電流減少量ΔＳに基づく補正を電流量劣化補正とする。電流量劣化補正は、画素特性の階調のシフトの補正に相当する。
【００４１】
以下、焼き付き補正部の構成について詳細に説明する。
【００４２】
［焼き付き補正部の構成例］
まず、焼き付き補正部２００のハードウェア構成例を説明する。図５は、焼き付き補正部のハードウェア構成の一例を示した図である。
【００４３】
焼き付き補正部２００は、補正パターン生成部２１０、補正演算部２２０、補正パターン保持部２３０及びＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）２４０を有し、入力した映像信号の階調値を補正し、焼き付き補正映像データとして画素アレイ部５００に出力する。
【００４４】
補正パターン生成部２１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）２１０ａによって、変換効率劣化及び電流量劣化を補正する補正パターンの生成処理を行う。ＣＰＵ２１０ａには、内部バスを介して、ＲＯＭ（Read Only Memory）２１０ｂ及びＲＡＭ（Random Access Memory）２１０ｃと、補正演算部２２０及び補正パターン保持部２３０等の周辺機器が接続されている。
【００４５】
ＲＡＭ２１０ｃには、ＣＰＵ２１０ａによる処理に必要な各種データが格納される。ＲＯＭ２１０ｂには、ＯＳのプログラム、アプリケーションプログラム、及び各種データが格納される。
【００４６】
補正演算部２２０は、映像信号の階調値を取得し、焼き付き補正処理を行う。処理を高速に行うため、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）やＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）などで構成される。
【００４７】
補正パターン保持部２３０は、補正パターン生成部２１０が生成した補正パターンを保持する記憶部である。例えば、フラッシュメモリなどの半導体記憶装置により構成される。
【００４８】
ＤＲＡＭ２４０は、補正演算部２２０が参照するための補正パターンを保持する記憶部である。例えば、ＤＤＲ ＳＤＲＡＭ（Double-Data-Rate Synchronous DRAM）など、比較的高速処理が可能なメモリで構成される。
【００４９】
次に、焼き付き補正部２００の機能構成例を説明する。図６は、焼き付き補正部の機能構成の一例を示した図である。
【００５０】
図５に示した焼き付き補正部２００の補正パターン生成部２１０、補正演算部２２０及び補正パターン保持部２３０は、それぞれ、変換効率劣化の補正を行う処理部と、電流量劣化の補正を行う処理部と、が設けられている。補正パターン生成部２１０は、変換効率劣化補正パターンを生成する変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａと、電流量劣化補正パターンを生成する電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂとを有する。補正演算部２２０は、変換効率劣化の補正を行う変換効率劣化補正演算部２２１と、電流量劣化の補正を行う電流量劣化補正演算部２２２とを有する。補正パターン保持部２３０は、変換効率劣化補正パターンを保持する変換効率劣化補正パターン保持部２３１と、電流量劣化補正パターンを保持する電流量劣化補正パターン保持部２３２とを有する。さらに、焼き付き補正部２００は、画素回路の劣化状態を検出する劣化特性情報生成部２５０を有する。
【００５１】
ここで、図６に示した焼き付き補正部２００は、劣化が起きていない初期状態の画素回路における画素特性を補正の基準として、劣化が起きた画素回路６００〜６０８の画素特性がその基準と一致するように入力された映像信号の階調値を補正することを想定する。また、焼き付き補正部２００は、画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別電流減少量積算部２１３によって保持されている情報を、各フレームの補正された映像信号の階調値を１分間隔で取得することによって更新するものとする。さらに、画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別電流減少量積算部２１３に保持されている情報が更新されるごとに、画素別変換効率劣化値算出部２１２及び画素別電流量劣化値算出部２１４は、新たな補正パターンを生成するものとする。
【００５２】
以下、変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａ及び電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂの各部について説明する。
【００５３】
変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａは、画素別変換効率劣化量積算部２１１、画素別変換効率劣化値算出部２１２を有し、変換効率劣化補正パターンを生成する。ここで、変換効率劣化補正パターンは、画素回路６００〜６０８のそれぞれに対する変換効率劣化の補正値（変換効率劣化値）により構成される補正パターンであり、変換効率劣化を補正するための補正情報である。
【００５４】
画素別変換効率劣化量積算部２１１は、画素回路６００〜６０８の変換効率の劣化に関する情報（変換効率劣化情報）を保持し、予め決められた更新時間ごとに、この変換効率劣化情報を順次更新する。変換効率劣化情報とは、例えば、画素回路６００〜６０８の変換効率劣化の量を特定の階調値における発光時間に換算した値である。換算した値は、特定の階調値で画素を発光させたときに、この変換効率劣化の量と同等の劣化が生じるまでにかかる発光時間に相当する。画素別変換効率劣化量積算部２１１では、更新時間に到達するごとに、画素回路６００〜６０８の変換効率の新たな劣化量を算出する。新たな劣化量とは、前回の更新時間から今回の更新時間までの間に各画素回路に生じた劣化量を言う。例えば、補正演算部２２０から供給された補正後の映像信号に基づいて、画素回路６００〜６０８の変換効率の新たな劣化量を、効率劣化換算係数を用いて算出する。ここで、効率劣化換算係数とは、例えば、時間の経過に応じた発光素子６４０の劣化量を、発光時間及び発光時に画素回路に設定された階調値に基づいて変換するための係数である。効率劣化換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成する変換効率の劣化特性情報に基づいて算出する。こうして、変換効率劣化情報に新たな劣化量を加算し、変換効率劣化情報を更新する。更新した変換効率劣化情報は、画素別変換効率劣化値算出部２１２に供給する。このように、更新時間に到達するごとに算出した画素回路６００〜６０８の新たな劣化量をその変換効率劣化情報に順次加算することにより、その経過時間に至るまでの画素回路６００〜６０８の変換効率の総劣化量を求める。
【００５５】
画素別変換効率劣化値算出部２１２は、変換効率劣化補正パターンを生成し、変換効率劣化補正パターン保持部２３１に供給する。画素別変換効率劣化値算出部２１２は、画素回路６００〜６０８に関する変換効率劣化情報を順次取得し、係数変換情報を用いてその画素回路の変換効率を算出し、算出した変換効率を対象変換効率値とする。ここで、係数変換情報とは、例えば、特定の階調値の映像信号による発光時間に換算した値が変換効率劣化情報である場合には、その発光時間と変換効率との間の相関関係を示す情報である。また、補正の基準状態、例えば、劣化が起きていない初期状態の画素回路の変換効率を基準変換効率値とする。そして、算出した対象変換効率値と、基準変換効率値とを式（４）に適用し、変換効率劣化値ΔＡを算出する。同様の手順で画素回路６００〜６０８の全てについて変換効率劣化値を算出し、変換効率劣化補正パターンを生成する。
【００５６】
電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂは、画素別電流減少量積算部２１３及び画素別電流量劣化値算出部２１４を有し、電流量劣化補正パターンを生成する。ここで、電流量劣化補正パターンは、画素回路６００〜６０８のそれぞれに対する駆動電流減少量の補正値（電流量劣化値）により構成される補正パターンであり、電流量劣化を補正するための補正情報である。
【００５７】
画素別電流減少量積算部２１３は、画素回路６００〜６０８の駆動電流の電流量の減少に関する情報を電流量減少情報として保持し、画素回路６００〜６０８の駆動電流の新たな減少量をその電流量減少情報に積算して電流量減少情報を更新する。ここで、電流量減少情報とは、例えば、画素回路６００〜６０８の駆動電流の減少量を、特定の階調値の映像信号による発光時間に換算した値である。画素別電流減少量積算部２１３では、更新時間に到達するごとに、画素回路６００〜６０８の駆動電流の新たな減少量を算出する。例えば、補正演算部２２０から供給された補正後の映像信号に基づいて、画素回路６００〜６０８の新たな減少量に関する情報を、減少量換算係数を用いて算出する。ここで、減少量換算係数とは、例えば、時間の経過に応じた駆動電流の電流量の減少量を、発光時間及び発光時における階調に基づいて変換するための係数である。減少量換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成する電流量の劣化特性情報に基づいて算出する。そして、電流量減少情報に新たな劣化量を順次加算することにより、電流量減少情報を更新する。更新した電流量減少情報は、画素別電流量劣化値算出部２１４に供給する。
【００５８】
画素別電流量劣化値算出部２１４は、電流量劣化補正パターンを生成する。電流量劣化補正パターンは、各画素回路の電流量劣化を補正するための補正情報である。画素別電流量劣化値算出部２１４は、画素回路６００〜６０８に関する電流量減少情報を順次取得する。そして、減少量変換情報を用いて、取得した電流量減少情報からその画素回路の駆動電流減少量を算出する。駆動電流減少量は、式（２）のΔＳに相当する。ここで、減少量変換情報とは、例えば、特定の階調値における発光時間に換算した値が電流量減少情報である場合には、その発光時間と電流量減少情報との間の相関関係を示す情報である。電流量減少情報を用いて対象画素回路について算出した駆動電流減少量を対象電流量減少値とする。そして、電流量劣化補正パターンを生成するため、対象電流量減少値に基づいて、画素回路６００〜６０８ごとの電流量劣化値を算出する。例えば、駆動電流減少量が対象電流量減少値として供給された場合には、その駆動電流減少量を電流量劣化値として供給する。ここで、電流量劣化値とは、駆動電流減少量の補正対象となる画素回路に供給される映像信号の階調値を変更することによって、補正対象の画素回路と補正基準の画素回路との間の駆動電流の減少量の差をなくすための値である。同様の手順で画素回路６００〜６０８の全てに関して電流量劣化値を算出し、電流量劣化補正パターンに供給する。
【００５９】
次に、補正演算部２２０について説明する。補正演算部２２０は、入力された映像信号を補正し、信号線２０９を介して水平セレクタ（ＨＳＥＬ）４２０に供給する。また、補正後の映像信号を画素別変換効率劣化量積算部２１１と、画素別電流減少量積算部２１３に供給する。以下、補正演算部２２０の各部について説明する。
【００６０】
変換効率劣化補正演算部２２１は、変換効率劣化補正パターン保持部２３１から供給された変換効率劣化補正パターンに基づいて、信号線を介して入力された映像信号の階調値を変更することによって、変換効率劣化を補正する。また、この変換効率劣化補正演算部２２１は、その補正した映像信号を電流量劣化補正演算部２２２に供給する。
【００６１】
電流量劣化補正演算部２２２は、電流量劣化補正パターン保持部２３２から供給された電流量劣化補正パターンに基づいて、変換効率劣化補正演算部２２１から出力された映像信号の階調値を変更することによって、駆動電流減少量を補正する。また、この電流量劣化補正演算部２２２は、その補正した映像信号の階調値を、信号線２０９を介して画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別電流減少量積算部２１３と、水平セレクタ（ＨＳＥＬ）４２０とに供給する。
【００６２】
補正パターン保持部２３０について説明する。補正パターン保持部２３０は、変換効率劣化補正パターン保持部２３１と、電流量劣化補正パターン保持部２３２とを有する。変換効率劣化補正パターン保持部２３１は、画素別変換効率劣化値算出部２１２が生成した各画素回路の変換効率劣化値で構成される変換効率劣化補正パターンを保持し、変換効率劣化補正演算部２２１に供給する。電流量劣化補正パターン保持部２３２は、画素別電流量劣化値算出部２１４が生成した各画素回路の電流量劣化値で構成される電流量劣化補正パターンを保持し、電流量劣化補正演算部２２２に供給する。
【００６３】
劣化特性情報生成部２５０は、更新時間ごとにダミー画素回路６０９に、複数レベルの入力階調値を設定してダミー画素回路６０９を駆動し、そのときのダミー画素回路６０９の輝度値を測定する。そして、測定結果に基づいて、駆動電流の減少による輝度値の劣化に関する劣化特性情報を更新する。なお、ダミー画素回路６０９は、画素アレイ部５００に含まれる画素回路であるが、表示画面には含まれない画素回路であるとする。ダミー画素回路６０９を用いることにより、表示装置１００が稼働中であっても、表示画面に影響することなく、測定処理を行うことができる。なお、出荷前の検査や調整などを行う場合には、表示画面を構成する画素回路を対象として画素回路ごとの特性を取得するようにしてもよい。
【００６４】
このように、変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａ及び変換効率劣化補正演算部２２１を設けることにより、画素回路６００〜６０８の変換効率劣化を補正することができる。また、電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂ及び電流量劣化補正演算部２２２を設けることによって、画素回路６００〜６０８の駆動電流の減少に関する補正を行うことができる。このとき、変換効率劣化量の積算に用いられる効率劣化換算係数及び電流減少量の積算に用いる減少量換算係数は、ダミー画素回路６０９を複数レベルの階調値で発光し、その発光によるダミー画素回路６０９の劣化を測定し求めている。これにより、表示装置１００の実際の使用状況を反映した精度の高い焼き付き補正処理を行うことができる。
【００６５】
なお、ここでは、映像信号を１分間隔で取得し、画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別電流減少量積算部２１３に保持される情報を更新するとしたが、本発明はこれに限定されない。映像信号を取得する間隔は、適宜決めることができる。例えば、補正された映像信号を１０分間隔で取得し、その取得した映像信号によって１０分間発光するものと想定して変換効率劣化情報を更新するようにしてもよい。このように変換効率劣化情報の更新間隔を比較的長くすることにより、演算量をさらに軽減することができる。また、取得間隔を短くすることにより、さらに精度よく情報を更新することも考えられる。また、変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａ及び電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂによる補正パターンの更新周期は、画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別電流減少量積算部２１３に保持されている情報の更新周期と同じでなくてもよい。輝度が画素回路ごとにバラついたとしても、画素回路の劣化はゆっくり進行するので、変換効率劣化補正パターン及び電流量劣化補正パターンは、急激に異なるパターンに更新されるものではない。そこで、例えば、変換効率劣化情報及び電流量減少情報を１時間間隔で取得し、その取得した情報に基づいて補正パターンを１時間間隔で更新するなどにより、演算量を軽減することが考えられる。
【００６６】
［劣化特性情報生成部の構成例］
次に、劣化特性情報生成部２５０の構成例について説明する。劣化特性情報生成部２５０では、ダミー画素回路６０９を用いて画素回路の劣化特性を求める。図７は、劣化特性情報生成部の機能構成の一例を示した図である。
【００６７】
劣化特性情報生成部２５０は、測定部２５１、測定情報保持部２５２、階調劣化特性算出部２５３、階調劣化情報保持部２５４、変換効率劣化値算出部２５５、変換効率劣化特性保持部２５６、電流量劣化値算出部２５７及び電流量劣化特性保持部２５８を有する。
【００６８】
図７の構成例では、ダミー画素回路６０９は、ダミー画素回路（非発光）６０９ａと、ダミー画素回路（発光）６０９ｂとを有する。ダミー画素回路（非発光）６０９ａとダミー画素回路（発光）６０９ｂとは、画素回路を構成する素子、回路等が同じであるとし、その画素回路の劣化に関する特性は同様であるとする。ここで、ダミー画素回路（非発光）６０９ａは、測定部２５１による輝度の測定期間を除き、非発光の状態で駆動させる。一方、ダミー画素回路（発光）６０９ｂは、測定部２５１による輝度の測定期間を除き、所定の階調値を設定して駆動させる。このため、初期状態においては、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂの画素特性は同じであるが、時間の経過とともに劣化の進行状況が異なってくる。ダミー画素回路（非発光）６０９ａは、時間が経過しても画素回路の駆動に起因する劣化の度合いが非常に小さく、ダミー画素回路（発光）６０９ｂが初期状態のときと同じであると見なすことができる。これに対し、ダミー画素回路（発光）６０９ｂは、所定の階調値で駆動するため、時間の経過とともに劣化が進む。したがって、ダミー画素回路（非発光）６０９ａについての測定情報は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの初期状態の測定情報と見なすことができる。そこで、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報と、ダミー画素回路（非発光）６０９ａの測定情報を比較することにより、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの初期状態からの劣化量を算出する。このように、同じ環境下にある非発光画素回路と発光画素回路とを比較して劣化量を算出することにより、表示部の温度変化等が劣化値に与える影響を考慮する必要がなくなり、容易に劣化値を求めることができる。なお、測定部２５１による測定時間は、ダミー画素回路６０９ａ，６０９ｂの駆動時間全体と比較して非常に短いので、測定がダミー画素回路６０９ａ，６０９ｂの劣化に与える影響は無視することができる。
【００６９】
また、図７の構成例では、ダミー画素回路（非発光）６０９ａとダミー画素回路（発光）６０９ｂとを設けるとしたが、ダミー画素回路（非発光）６０９ａを設けない構成とすることもできる。この場合は、ダミー画素回路の初期状態の階調値と輝度値との関係を予め測定情報保持部２５２に保持しておき、ダミー画素回路（非発光）６０９ａの測定値と同様に利用する。以下では、ダミー画素回路（非発光）６０９ａを有する構成の場合について説明する。
【００７０】
測定部２５１は、更新周期になると、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂのそれぞれに対し、複数レベルの階調値を設定し、それぞれの階調値を設定したときの発光素子の輝度を測定する。ここでダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂに設定される階調値は、映像信号の階調値に依らない、予め設定された階調値パターン等とする。そして、測定した輝度値を階調値に対応付けた測定情報を生成し、測定情報保持部２５２に供給する。測定情報保持部２５２には、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報が供給される。以下、ダミー画素回路（非発光）６０９ａの測定情報を測定情報（非発光）、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報を測定情報（発光）とする。
【００７１】
測定情報保持部２５２は、測定部２５１から供給されたダミー画素回路（非発光）６０９ａの測定情報（非発光）と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報（発光）と、を保持する。保持している測定情報（非発光）及び測定情報（発光）は、階調劣化特性算出部２５３に供給する。
【００７２】
階調劣化特性算出部２５３は、測定情報（発光）と測定情報（非発光）を取得して比較し、同一の輝度となるダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値とを対応付け、階調劣化情報を生成する。画素回路の劣化により、初期状態と同じ階調値を設定しても輝度は低下する。そこで、劣化が進行しているダミー画素回路（発光）６０９ｂがある階調値を設定したときに得られる輝度が、初期状態のダミー画素回路（非発光）６０９ａではどの程度の階調値で得られるのかを算出する。算出された初期状態における階調値は、測定時の画素回路に設定した入力階調値を初期状態の階調値に換算した階調値であるので、以下の説明では換算階調値と呼ぶ。画素回路の駆動時間が多くなるほど、変換効率劣化及び電流量劣化が進み、画素回路に設定した入力階調値に対応する換算階調値は小さくなる。このように、階調値に基づいて画素回路の劣化状況を表わす特性を階調劣化特性と呼ぶこととする。階調劣化特性算出部２５３は、例えば、ダミー画素回路（発光）６０９ｂについてある階調値に対する輝度を測定情報（発光）から抽出し、その輝度に対応するダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値を測定情報（非発光）に基づいて算出する。算出したダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値を換算階調値と見なす。こうして、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値と、このときの輝度に対応する換算階調値とを対応付けた階調劣化情報を生成する。生成した階調劣化情報は、階調劣化情報保持部２５４に供給する。
【００７３】
階調劣化情報保持部２５４は、階調劣化特性算出部２５３が生成した階調劣化情報を保持し、変換効率劣化値算出部２５５及び電流量劣化値算出部２５７に供給する。
【００７４】
図８は、階調劣化特性の算出処理の一例を示した図である。図８の縦軸は測定された輝度値、横軸はダミー画素回路に設定された階調値を示している。
【００７５】
画素特性曲線（初期）７１０は、ダミー画素回路（非発光）６０９ａについて測定した階調値と輝度値との関係を示している。ダミー画素回路（非発光）６０９ａについては、画素回路は劣化していない初期状態と同等であると見なす。なお、画素特性曲線（初期）７１０は、測定値を用いるのではなく、予め画素回路の初期状態における初期値として、予め装置内に保持しておくとしてもよい。この画素特性曲線（初期）７１０は、式（１）によって表わすことができる。なお、式（１）では、輝度値Ｌは、変換効率と駆動電流によって表わされているが、ここでは駆動電流の代わりに階調値を用いて表わす。すると、式（１）は、以下のように表わすことができる。
Ｌ＝Ａ×入力階調値2.2 ・・・（５）
ここで、Ｌ、Ａは、式（１）と同様である。また、２．２は、初期特性として一般的に設定される値である。
【００７６】
画素特性曲線（劣化）７２０は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂについて測定した階調値と輝度値との関係を示している。ダミー画素回路（発光）６０９ｂは、所定の階調値で駆動させているので劣化が生じている。この画素特性曲線（劣化）７２０は、式（２）によって表わされるが、上記と同様に階調値を用いて表わすことができる。
Ｌｄ＝Ａｄ×（入力階調値―Δ階調）2.2 ・・・（６）
【００７７】
ここで、Ｌｄ，Ａｄは式（２）と同様である。また、Δ階調は、駆動電流の減少量ΔＳに相当する階調値の減少量である。
【００７８】
階調劣化特性算出部２５３では、画素特性曲線（劣化）７２０と、画素特性曲線（初期）７１０の同一輝度となる階調値を抽出し、対応付ける。例えば、測定情報（発光）に基づき、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値ａ１に対応する輝度を抽出する。そして、この輝度に対応するダミー画素回路（非発光）６０９ａの換算階調値ａ’１を算出する。例えば、初期状態の変換効率Ａを既知とすれば、式（５）から、換算階調値は、換算階調値＝（Ｌ／Ａ）1/2.2によって算出することができる。同様にして、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値ａ２，ａ３と同一の輝度となるダミー画素回路（非発光）６０９ａの換算階調値ａ’２，ａ’３を算出する。そして、ａ１とａ’１、ａ２とａ’２、ａ３とａ’３とを対応付け、階調劣化情報として階調劣化情報保持部２５４に供給する。階調劣化情報保持部２５４は、取得した階調劣化情報を保持する。
【００７９】
図７に戻って説明する。
【００８０】
変換効率劣化値算出部２５５は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報に基づき、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの変換効率劣化値を算出する。そして、算出した変換効率劣化値と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂを測定した測定時間の初期状態からの経過時間とに応じて、変換効率劣化特性情報を更新する。変換効率劣化情報は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂを所定の階調値で駆動したとき、初期状態からの変換効率の劣化の度合いを初期状態からの経過時間に対応付けた情報である。
【００８１】
変換効率劣化特性保持部２５６は、変換効率劣化値算出部２５５が適宜更新する変換効率劣化特性情報を保持する。
【００８２】
電流量劣化値算出部２５７は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報に基づき、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの電流量劣化値を算出する。そして、算出した電流量劣化値と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂを測定した測定時間の初期状態からの経過時間とに応じて、電流量劣化特性情報を更新する。電流量劣化特性情報は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂを所定の階調値で駆動したとき、初期状態からの駆動電流の電流量の劣化の度合いを初期状態からの経過時間に対応付けた情報である。
【００８３】
電流量劣化特性保持部２５８は、電流量劣化値算出部２５７が適宜更新する電流量劣化特性情報を保持する。
【００８４】
変換効率劣化値及び電流量劣化値の算出処理について説明する。図９は、階調劣化情報の一例とその階調劣化特性線を示した図である。（ａ）は、階調劣化情報であり、（ｂ）は階調劣化特性グラフである。
【００８５】
（ａ）階調劣化情報に示した階調劣化情報７４０は、階調劣化特性算出部２５３が上記の手順によって算出した同じ輝度を発生させるダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値と、ダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値とを対応付けたものである。階調劣化情報７４０では、ダミー画素回路（発光）６０９ｂに設定した階調値を入力階調値とし、対応するダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値を換算階調値としている。階調劣化情報７４０は、例えば、測定時のダミー画素回路（発光）６０９ｂに入力階調値「１０００」を設定したときに得られる輝度は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂが初期状態のとき、換算階調値「８２０」を設定したときに得られる輝度と同じであることを示している。他の入力階調値についても同様である。
【００８６】
（ｂ）階調劣化特性グラフは、（ａ）階調劣化情報に示した入力階調値と換算階調値をプロットしたグラフである。横軸は入力階調値、縦軸は換算階調値を示している。このときの入力階調値と換算階調値との関係は直線で近似することができる。これを階調劣化特性近似直線７４１と呼ぶこととする。ここでは、階調劣化特性近似直線７４１は、傾きがｂ、切片がｃの直線とする。
【００８７】
ここで、階調劣化特性近似直線７４１の傾きｂ及び切片ｃが、画素回路の劣化状況の何を表わすのかについて説明する。入力階調値を設定したときのダミー画素回路（発光）６０９ｂの輝度は、式（６）によって、Ａｄ×（入力階調値−Δ階調）2.2と、表わすことができる。一方、これと同じ輝度を発生させる換算階調値を設定したときのダミー画素回路（非発光）６０９ａの輝度は、式（５）によって、Ａ×換算階調値2.2と、表わすことができる。この輝度が一致することから、次の式が得られる。
Ａｄ×（入力階調値−Δ階調）2.2＝Ａ×換算階調値2.2 ・・・（７）
【００８８】
これを整理すると、換算階調値は、次の式で表わすことができる。
換算階調値＝（Ａｄ／Ａ）1/2.2（入力階調値−Δ階調） ・・・（８）
【００８９】
ここで、図９（ｂ）に示した階調劣化特性近似直線７４１は、次のように表わすことができる。
換算階調値＝ｂ×入力階調値−ｃ ・・・（９）
【００９０】
式（８）及び式（９）から、Ａｄ／Ａ及びΔ階調は、ｂとｃを用いて次のように表わすことができる。以下の説明では、Ａｄ／ＡをΔ傾きとする。
Δ傾き＝Ａｄ／Ａ＝ｂ2.2、 Δ階調＝ｃ／ｂ ・・・（１０）
【００９１】
式（４）に示したようにΔ傾きは、変換効率劣化値に相当する。また、式（６）に示したように、Δ階調は電流量劣化値に相当する。このように、図９に示した階調劣化情報及び階調劣化特性に基づいて、劣化特性情報生成部２５０は、変換効率劣化値と電流量劣化値とを算出することができる。このように、劣化特性情報生成部２５０は、実際にダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂを用いて実測した輝度に基づいて変換効率劣化値及び電流量劣化値を算出するので、精度の高い値を得ることができる。なお、ダミー画素回路（非発光）６０９ａを用いない構成とした場合にも、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの実測値に基づいて変換効率劣化値及び電流量劣化値を算出することができる。
【００９２】
以下、上記の構成の焼き付き補正部２００における変換効率劣化特性及び電流量劣化特性の生成例について、図面を参照して説明する。
【００９３】
［階調劣化情報の生成例］
図１０は、階調劣化情報の生成例を示した図である。図１０は、測定部２５１が測定した測定値に基づいて、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報（階調値２００）７４２が生成されるまでの流れを模式的に説明している。ここでは、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂの２つのダミー画素回路を用いて測定を行う場合について説明する。
【００９４】
測定部２５１は、所定の更新周期で、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂに対し、予め決められた複数レベルの階調値を設定し、そのときの輝度を測定する。測定時の初期状態からの経過時間をｔ時間とする。測定した輝度値は、階調値に対応付けて測定情報に登録し、測定情報保持部２５２に供給する。これにより、測定情報保持部２５２は、ダミー画素回路（非発光）６０９ａについて測定した測定情報（非発光）７３１と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂについて測定した測定情報（発光ｔ時間）７３２と、を保持する。ダミー画素回路（非発光）６０９ａは、非発光の状態を継続するため、発光に伴う画素回路の劣化が生じておらず、初期状態と見なすことができる。測定情報（非発光）７３１の例では、階調値「８００」に対し輝度値「８００」、階調値「６００」に対し輝度値「６００」、階調値「４００」に対し輝度値「４００」及び階調値「２００」に対し輝度値「２００」というように、輝度劣化が生じていない測定情報が得られる。これに対し、ｔ時間連続して所定の輝度（ここでは階調値「２００」とする）で発光させているダミー画素回路（発光）６０９ｂには、発光に伴う劣化が生じている。測定情報（発光ｔ時間）７３２の例では、階調値「８００」に対し輝度値「６０９」、階調値「６００」に対し輝度値「３３１」、階調値「４００」に対し輝度値「１３５」及び階調値「２００」に対し輝度値「２９」というように、輝度劣化が生じている。なお、ダミー画素回路（非発光）６０９ａを備えていないときは、測定情報（非発光）７３１には、予め初期状態における測定情報を登録しておく。
【００９５】
階調劣化特性算出部２５３は、測定情報保持部２５２が保持する測定情報（非発光）７３１と、測定情報（発光ｔ時間）７３２とを読み出し、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの入力階調値と、同じ輝度を発生させるダミー画素回路（非発光）６０９ａの換算階調値を算出する。例えば、測定情報（発光ｔ時）７３２から、入力階調値が「８００」のときの輝度値「６０９」を抽出する。そして、測定情報（非発光）７３１に基づいて、輝度値「６０９」を得る換算階調値を求める。ダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値と輝度値とは、例えば、式（５）の関係を有するとして、換算階調値を求める。図１０の例では、入力階調値「８００」に対し、換算階調値「６２４」が算出されるとしている。同様に、入力階調値「６００」、「４００」、「２００」について同様の演算を行い、換算階調値「４２８」、「２３０」、「３３」を算出する。入力階調値と、算出した換算階調値とを対応付けて階調劣化情報（階調値２００）７４２を生成し、階調劣化情報保持部２５４に供給する。階調劣化情報保持部２５４は、この階調劣化情報（階調値２００）７４２を保持し、変換効率劣化値算出部２５５及び電流量劣化値算出部２５７に供給する。
【００９６】
なお、上記の説明では、ダミー画素回路（発光）６０９ｂを階調値「２００」で駆動するとしたが、階調値はこれに限定されない。また、必要であれば、複数のダミー画素回路（発光）を用意し、複数の階調値について同様の測定情報を得る構成としてもよい。
【００９７】
［変換効率劣化特性及び電流量劣化特性の生成例］
図１１は、変換効率劣化特性情報及び電流量劣化特性情報の生成例を示した図である。図１１は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報（階調値２００）７４２に基づいて、変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１及び電流量劣化特性情報（階調値２００）７５２が生成されるまでの流れを模式的に説明している。
【００９８】
階調劣化情報保持部２５４は、図１０に示した処理によって階調劣化特性算出部２５３が生成した階調劣化情報（階調値２００）７４２を保持する。
【００９９】
変換効率劣化値算出部２５５は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報（階調値２００）７４２を用いて、変換効率劣化値を算出する。例えば、階調劣化情報（階調２００）７４２の入力階調値と換算階調値との相関関係に基づき、階調劣化特性を直線近似したときの近似直線の傾きを算出する。例えば、複数点の入力階調値から入力階調値の変化量と、その入力階調値に対応する換算階調値の変化量を算出し、入力階調値の変化量に対する換算階調値の変化量の割合を算出して階調劣化特性の近似直線の傾きを算出する。そして、式（１０）を用いて、階調劣化特性の近似直線の傾きからΔ傾き（変換効率劣化値）を算出する。算出した変換効率劣化値と、経過時間（ここではｔ時間）とに基づいて、変換効率劣化特性保持部２５６が保持する変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１を更新する。変換効率劣化特性保持部２５６には、予め変換効率劣化のマスタカーブとして、所定の階調値（図１１の例では「２００」）で画素回路を駆動したときの、初期状態からの経過時間と、その時点の予測変換効率劣化値とを対応付けた変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１を保持しておく。なお、予測変換効率劣化値は、所定の画素回路を用いて予め測定した測定データであってもよい。変換効率劣化値算出部２５５では、算出した変換効率劣化値を用いて変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１に設定されているマスタカーブを補正し、経過時間に応じた変換効率劣化値を更新する。
【０１００】
電流量劣化値算出部２５７は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報（階調値２００）７４２を用いて、変換効率劣化値を算出する。例えば、階調劣化情報（階調２００）７４２の入力階調値と換算階調値との相関関係に基づき、階調劣化特性を直線近似したときの近似直線の切片を算出する。例えば、変換効率劣化値算出部２５５が算出した近似直線の傾きと、階調劣化情報（階調値２００）７４２の値から切片の値を求める。そして、式（１０）を用いて、近似直線の傾きと切片の値からΔ階調（電流量劣化値）を算出する。算出した電流量劣化値と、経過時間（ここではｔ時間）とに基づいて、電流量劣化特性保持部２５８が保持する電流量劣化特性情報（階調値２００）７５２を更新する。電流量劣化特性保持部２５８には、予め電流量劣化のマスタカーブとして、所定の階調値（図１１の例では「２００」）で画素回路を駆動したときの、初期状態からの経過時間と、その時点の予測電流量劣化値とを対応付けた電流量劣化特性情報（階調値２００）７５２を保持しておく。なお、予測電流量劣化値は、所定の画素回路を用いて予め測定した測定データであってもよい。電流量劣化値算出部２５７では、算出した電流量劣化値を用いて電流量劣化特性情報（階調値２００）７５２に設定されているマスタカーブを補正し、経過時間に応じた電流量劣化値を更新する。
【０１０１】
こうして、変換効率劣化特性保持部２５６が保持する変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１が表わす変換効率劣化のマスタカーブは、実測値に基づいて補正される。同様に、電流量劣化特性保持部２５８が保持する電流量劣化特性情報（階調値２００）７５２が表わす電流量劣化のマスタカーブも、実測値に基づいて補正される。このように、変換効率劣化のマスタカーブ及び電流量劣化のマスタカーブは、更新周期ごとに測定する劣化状況の実測値に基づいて更新されるので、焼き付き補正部２００は、精度の高いマスタカーブを保持することができる。さらに、高い精度のマスタカーブを用いて焼き付き補正を行うことにより、より精度の高い焼き付き補正が可能となる。
【０１０２】
上記の処理手順によって更新された変換効率劣化のマスタカーブ（変換効率劣化曲線）と、電流量劣化のマスタカーブ（電流量劣化曲線）について説明する。図１２は、変換効率劣化曲線と電流量劣化曲線の一例を示した図である。（ａ）は変換効率劣化曲線の一例、（ｂ）は電流量劣化曲線の一例を示している。
【０１０３】
（ａ）変換効率劣化曲線の一例は、経過時間に応じた変換効率の劣化の度合いを階調値ごとに示している。図１２では、横軸は初期状態からの経過時間、縦軸はΔ傾き、をそれぞれ表わしている。変換効率劣化曲線（階調値１００）７５１ａは、画素回路を階調値１００で駆動させたときの経過時間と、Δ傾き（変換効率劣化値）との関係を表わしている。変換効率劣化曲線（階調値２００）７５１ｂは、画素回路を階調値２００で駆動させたときの経過時間と、Δ傾きとの関係を表わしている。変換効率劣化曲線（階調値４００）７５１ｃは、画素回路を階調値４００で駆動させたときの経過時間と、Δ傾きとの関係を表わしている。
【０１０４】
なお、変換効率劣化曲線（階調値１００）７５１ａ、変換効率劣化曲線（階調値２００）７５１ｂ、変換効率劣化曲線（階調値４００）７５１ｃには、相関関係がある。例えば、「階調値２００」において変換効率劣化値が所定の割合（例えば、１０パーセント）劣化するのに要する時間と、「階調値１００」において１０パーセント変換効率劣化値が同様に所定の割合劣化するのに要する時間と、には比例関係がある。したがって、１つの階調値の変換効率劣化特性情報をマスタカーブとして保持しておけば、他の階調値の変換効率劣化値を算出することができる。変換効率劣化特性保持部２５６に、例えば、変換効率劣曲線（階調値２００）７５１ｂを保持しておけば、他の階調値における変換効率劣化曲線の変換効率劣化値を算出することができる。
【０１０５】
（ｂ）電流量劣化曲線の一例は、経過時間に応じた駆動電流の電流量の劣化の度合いを階調値ごとに示している。図１２では、横軸は、初期状態からの経過時間、縦軸はΔ階調を表わしている。電流量劣化曲線（階調値１００）７５２ａは、画素回路を階調値１００で駆動させたときの経過時間と、電流量劣化値に相当するΔ階調値との関係を表わしている。電流量劣化曲線（階調値２００）７５２ｂは、画素回路を階調値２００で駆動させたときの経過時間と、Δ階調との関係を表わしている。電流量劣化曲線（階調値４００）７５２ｃは、画素回路を階調値４００で駆動させたときの経過時間と、Δ階調との関係を表わしている。
【０１０６】
なお、電流量劣化曲線（階調値１００）７５２ａ、電流量劣化曲線（階調値２００）７５２ｂ、電流量劣化曲線（階調値４００）７５２ｃは、相関関係がある。変換効率劣化曲線の場合と同様に、１つの階調値の電流量劣化特性情報をマスタカーブとして保持しておけば、他の階調値の電流量劣化値を算出することができる。例えば、電流量劣化曲線（階調値２００）７５２ｂをマスタカーブとして保持しておけば、階調値間の比例関係に基づいて、他の階調値における電流量劣化曲線の電流量劣化値を算出することができる。
【０１０７】
［変換効率劣化補正パターンの生成例］
図１３は、変換効率劣化補正パターンの生成例を示した図である。図１３は、変換効率劣化情報保持部２１１ａが保持する変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０に基づき、変換効率劣化補正パターン保持部２３１が保持する変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０が生成されるまでの流れを模式的に説明している。また、図１３では、図６に示した画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別変換効率劣化値算出部２１２に加え、変換効率劣化情報を保持する記憶手段を変換効率劣化情報保持部２１１ａとして記載している。なお、便宜上、表示装置１００に備えられている画素回路を１〜ｍにより識別する。ここで、変換効率劣化補正パターンは、補正演算部２２０が映像信号の処理周期と同じ周期、またはそれよりも長い周期で生成することができる。これは、輝度が画素回路ごとにバラついたとしても、劣化はゆっくり進行するためである。例えば、変換効率劣化補正パターンを１時間間隔で更新することにより、焼き付き補正部２００の演算量を軽減することができる。しかし、以下では、補正された映像信号の階調値が画素回路に出力されるごとに変換効率劣化補正パターンを更新する場合について説明する。
【０１０８】
画素別変換効率劣化量積算部２１１は、変換効率劣化情報保持部２１１ａに保持されている変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０を、画素回路１〜ｍの変換効率の新たな劣化量を加算することによって更新する。ここで、変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０とは、例えば、画素１〜ｍの変換効率劣化の量を、特定の階調値における発光時間に換算した値である。画素別変換効率劣化量積算部２１１は、例えば、補正演算部２２０から供給された補正後の映像信号の階調値に基づいて、画素回路１〜ｍの変換効率の新たな劣化に関する情報を、効率劣化換算係数を用いて算出する。ここで、効率劣化換算係数とは、例えば、時間の経過に応じた発光素子６４０の変換効率の劣化量を、発光時間及び発光時における階調に基づいて算出するための係数である。効率劣化換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成した変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１に基づき、変換効率の劣化量算出の前に求めておく。
【０１０９】
変換効率劣化情報保持部２１１ａは、画素別変換効率劣化量積算部２１１が供給する画素回路１〜ｍの輝度の変換効率の劣化に関する変換効率劣化情報を画素回路ごとに保持する。変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０は、変換効率劣化情報として、ｎ−１（ｎは２以上の整数）回目の更新周期の表示に基づいて変換効率劣化情報保持部２１１ａに保持されている。この変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０は、ｎ回目の更新周期の表示を補正する変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０を生成するために用いられる。変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０の左欄には画素回路の番号である画素番号、右欄にはその画素回路の変換効率劣化情報（劣化情報）が保持されている。例えば、ここでは、変換効率劣化値を、階調値２００の発光時間（経過時間）に換算した値とする。例えば、画素番号「ｉ」に対応する変換効率劣化情報として「１６０」時間が保持され、画素番号「１」、「２」、「ｍ」に対応する変換効率劣化情報として「１００」時間が保持されている。
【０１１０】
このような変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０が変換効率劣化情報保持部２１１ａに保持されている状態で、画素別変換効率劣化値算出部２１２は、ｎ回目の変換効率劣化補正パターンを更新する。まず、補正対象となる画素回路に関する変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０を取得し、この画素回路の変換効率を算出し、対象変換効率値とする。例えば、画素番号「１」の対象変換効率値が画素別変換効率劣化値算出部２１２に供給される過程について説明する。まず、画素別変換効率劣化値算出部２１２は、変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０から画素番号「１」の劣化情報「１００」を取得し、係数変換情報を用いて変換効率を算出する。係数変換情報は、予め保持しているとする。そして、算出した画素番号「１」の画素回路の変換効率と、補正の基準となる基準効率劣化値から、この画素回路の変換効率劣化値を算出し、変換効率劣化補正パターン保持部２３１に供給する。これにより、変換効率劣化補正パターン（ｎ）のｃ１に対応する変換効率劣化値が変換効率劣化補正パターン保持部２３１に保持される。
【０１１１】
こうして、変換効率劣化補正パターン保持部２３１に保持される変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０について説明する。
【０１１２】
変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０は、画素別変換効率劣化値算出部２１２により生成される変換効率劣化補正パターンを模式的に示すものである。図１３の例では、画素別変換効率劣化値算出部２１２により生成された画素回路ごとの変換効率劣化値を、表示画面を構成する画素の配置に合わせて配置した場合に終える変換効率劣化パターンを模式的に表わしている。具体的には、変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０は、変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０に基づいて生成された変換効率劣化値により構成される補正パターンの一例であり、ｎ回目の更新周期（１分間）の間に表示される各フレームに関する映像信号の階調値を補正するための補正パターンである。
【０１１３】
この変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０における変換効率劣化値ｃ１は、変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０において示した画素番号「１」に対応する画素回路を補正するための変換効率劣化値である。また、変換効率劣化値ｃ２，ｃｉ及びｃｍも変換効率劣化値ｃ１と同様に、変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０において示した画素番号「２」、「ｉ」及び「ｍ」に対応する画素回路に供給される映像信号の階調値を補正するための変換効率劣化値である。
【０１１４】
補正演算部２２０では、変換効率劣化補正演算部２２１が、この変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０に基づいて映像信号の階調値を補正する。例えば、画素番号「ｉ」の画素回路の変換効率劣化値ｃｉは、他の画素番号「１」、「２」及び「ｍ」の変換効率劣化値ｃ１、ｃ２及びｃｍよりも大きいとする。この場合、変換効率劣化補正演算部２２１は、画素番号「ｉ」に対応する画素回路の映像信号の階調値の補正量（増分）は、他の画素番号「１」、「２」及び「ｍ」の画素回路の映像信号の階調値の補正量（増分）よりも大きくする。このように、階調値を補正することによって、焼き付きを補正することができる。
【０１１５】
以上説明したように、変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａによって、画素回路ごとの変換効率劣化値の度合いに応じてその画素回路で表示される映像信号の階調値を変更するための、変換効率劣化補正パターンが生成される。変換効率劣化補正パターンに、全ての画素回路について変換効率劣化値が設定されることによって、表示画面を構成する各画素の焼き付き補正を適切に行うことができる。
【０１１６】
［電流量劣化補正パターンの生成例］
次に、電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂによる電流量劣化補正パターンの生成例について説明する。図１４は、電流量劣化補正パターンの生成例を示した図である。図１４は、電流量減少情報保持部２１４ａが保持する電流量減少情報（ｎ−１）７８０に基づき、電流量劣化補正パターン保持部２３２が保持する電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０が生成されるまでの流れを模式的に説明している。また、図１４では、図６に示した画素別電流減少量積算部２１３及び画素別電流量劣化値算出部２１４に加え、電流量減少情報を保持する記憶手段を電流量減少情報保持部２１４ａとして記載している。なお、ここでは、図１３に示した変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａと同様に、表示装置１００に備えられている画素回路を、１〜ｍにより識別するものとする。また、補正された映像信号の階調値が画素回路に出力されるごとに電流量劣化補正パターンを更新する場合について説明する。
【０１１７】
電流量減少情報（ｎ−１）７８０は、電流量減少情報保持部２１４ａに保持される各画素回路の駆動電流の減少量を示す情報である。図１４に示す例では、電流量減少情報としてｎ−１回目の更新周期の間の表示に基づいて電流量減少情報保持部２１４ａに保持される電流量減少情報を示す。この電流量減少情報（ｎ−１）７８０は、ｎ回目の更新周期の表示を補正する電流量減少補正パターン（ｎ）を生成するために用いられる。電流量減少情報（ｎ−１）７８０の左欄には画素回路の番号である画素番号、右欄にはその画素回路の電流量の減少情報が保持されている。
【０１１８】
画素別電流減少量積算部２１３は、電流量減少情報保持部２１４ａに保持されている電流量減少情報（ｎ−１）７８０に、画素回路１〜ｍの新たな駆動電流の減少量を加算することによって各画素回路の駆動電流減少量を更新する。ここで、電流量減少情報（ｎ−１）７８０とは、例えば、画素１〜ｍの駆動電流の減少量を、特定の階調値における発光時間に換算した値である。画素別電流量劣化値算出部２１４は、例えば、補正演算部２２０から供給された補正後の映像信号の階調値に基づいて、画素回路１〜ｍの駆動電流の新たな減少量に関する情報を、減少量換算係数を用いて算出する。ここで、減少量換算係数とは、例えば、時間の経過に応じた発光素子６４０の駆動電流の減少量を、発光時間及び発光時の設定した階調値に基づいて算出するための係数である。減少量換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成した電流量劣化特性情報（階調２００）７５２に基づいて算出することができる。電流量劣化特性情報（階調２００）７５２には、階調２００で画素回路を駆動したときの経過時間に応じた電流量劣化値がマスタカーブとして登録されている。このマスタカーブに基づいて、対象画素回路の発光時間と発光時の階調値とに応じた駆動電流減少量を算出する。
【０１１９】
電流量減少情報保持部２１４ａは、画素別電流減少量積算部２１３が供給する画素回路１〜ｍの駆動電流減少量に関する電流量減少情報を画素回路ごとに保持する。電流量減少情報（ｎ−１）７８０は、ｎ−１回目の更新周期の表示に基づいて電流量減少情報保持部２１４ａに保持されている。
【０１２０】
このような電流量減少情報（ｎ−１）７８０が電流量減少情報保持部２１４ａに保持されている状態で、画素別電流量劣化値算出部２１４は、ｎ回目の電流量劣化補正パターンを更新する。まず、補正対象となる画素回路に関する電流量減少情報を取得し、この画素回路の新たな駆動電流の減少量を算出し、対象電流量減少値とする。例えば、画素番号「１」の対象電流量減少値が画素別電流量劣化値算出部２１４に供給される過程について説明する。まず、画素別電流量劣化値算出部２１４は、電流量減少情報（ｎ−１）７８０から画素番号「１」の減少情報「１００」を取得し、係数変換情報を用いて電流減少値を算出する。係数変換情報は、予め保持しているとする。そして、算出した画素番号「１」の画素回路の電流減少値と、補正の基準となる基準電流減少値から、この画素回路の電流量劣化値を算出し、電流量劣化補正パターン保持部２３２に供給する。これにより、電流量劣化補正パターン（ｎ）のｃ１に対応する電流量劣化値が電流量劣化補正パターン保持部２３２に保持される。
【０１２１】
こうして、電流量劣化補正パターン保持部２３２に保持される電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０について説明する。
【０１２２】
電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０は、画素別電流量劣化値算出部２１４により生成される電流量劣化補正パターンを模式的に示すものである。図１４の例では、画素別電流量劣化値算出部２１４により生成された画素回路ごとの電流量劣化値を、表示画面を構成する画素の配置に合わせて配置した場合における電流量劣化補正パターンを模式的に表わしている。具体的には、電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０は、電流量減少情報（ｎ−１）７８０に基づいて生成された電流量劣化値により構成される補正パターンの一例であり、ｎ回目の処理期間に表示される各フレームに関する映像信号の階調値を補正するための補正パターンである。
【０１２３】
この電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０における電流量劣化値ｊ１は、電流量減少情報（ｎ−１）７８０において示した画素番号「１」に対応する画素回路を補正するための電流量劣化値である。また、電流量劣化値ｊ２，ｊｉ及びｊｍも電流量劣化値ｊ１と同様に、電流量減少情報（ｎ−１）７８０において示した画素番号「２」、「ｉ」及び「ｍ」に対応する画素回路に供給される映像信号の階調値を補正するための電流量劣化値である。
【０１２４】
補正演算部２２０では、電流量劣化補正演算部２２２が、この電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０に基づいて映像信号の階調値を補正する。例えば、画素番号「ｉ」の画素回路の電流量劣化値ｊｉは、他の画素番号「１」、「２」及び「ｍ」よりも電流量劣化値ｊ１、ｊ２及びｊｍよりも大きいとする。この場合、電流量劣化補正演算部２２２は、画素番号「ｉ」に対応する画素回路の映像信号の階調値の補正量（増分）は、他の画素番号「１」、「２」及び「ｍ」の画素回路の映像信号の階調値の補正量（増分）よりも大きくする。このように、階調値を補正することによって、焼き付きを補正することができる。
【０１２５】
以上説明したように、電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂによって、画素回路ごとの駆動電流の減少量の度合いに応じてその画素回路で表示される映像信号の階調値を変更するための、電流量劣化補正パターンが生成される。電流量劣化補正パターンに、全ての画素回路について電流量劣化値が設定されることによって、表示画面を構成する各画素の焼き付き補正を適切に行うことができる。
【０１２６】
［焼き付き補正部の動作例］
次に、焼き付き補正部２００の動作について図面を参照して説明する。図１５は、焼き付き補正部の焼き付き補正処理の手順例を示したフローチャートである。なお、図１５の例では、映像信号の処理周期と同じ周期で補正パターンの生成処理が行われるとする。また、劣化特性情報の生成処理は、映像信号の処理周期の整数倍の更新周期で行うとする。
【０１２７】
映像信号の処理周期で、焼き付き補正部２００が起動される。
【０１２８】
［ステップＳ０１］ 劣化特性情報生成部２５０は、劣化特性情報の更新周期に到達したかどうかを判定する。更新周期であれば、処理をステップＳ０２に進める。更新周期でなければ、処理をステップＳ０３に進める。
【０１２９】
［ステップＳ０２］ 劣化特性情報生成部２５０は、劣化特性情報の更新周期であれば、ダミー画素回路６０９を用いて、ダミー画素回路６０９に関する劣化特性情報を生成する。劣化特性には、駆動電流を輝度に変換する変換効率劣化と、駆動電流が減少する電流量劣化とがある。劣化特性情報生成部２５０は、変換効率劣化に関する変換効率劣化情報と、電流量劣化に関する電流量劣化特性情報と、それぞれの劣化値を算出する。処理の詳細は後述する。
【０１３０】
［ステップＳ０３］ 変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａ及び電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂは、前回の映像信号の処理周期で補正演算部２２０から出力された補正された映像信号の階調値を取得し、それぞれの処理を開始する。
【０１３１】
［ステップＳ０４］ 変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａの画素別変換効率劣化量積算部２１１は、補正された映像信号の階調値を用いて、変換効率の新たな劣化量を算出し、変換効率劣化情報を更新する。例えば、補正された映像信号の階調値と、効率劣化換算係数とを用いて、前回の処理周期から今回の周期までの経過時間における画素回路の新たな変換効率劣化量を算出する。ここで、効率劣化換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成した変換効率劣化特性情報に基づいて予め算出しておく。そして新たに算出した変換効率劣化量を対象画素回路の変換効率劣化情報に加算し、変換効率劣化情報を更新する。
【０１３２】
［ステップＳ０５］ 変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａの画素別変換効率劣化値算出部２１２は、画素別変換効率劣化量積算部２１１によって更新された変換効率劣化情報に基づき、各画素の変換効率劣化補正パターンを生成し、変換効率劣化補正パターン保持部２３１に格納する。
【０１３３】
［ステップＳ０６］ 電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂの画素別電流減少量積算部２１３は、補正された映像信号の階調値を用いて、駆動電流の新たな減少量を算出し、電流量減少情報を更新する。例えば、補正された映像信号の階調値と、減少量換算係数とを用いて、前回の処理周期から今回の周期までの経過時間における画素回路の新たな駆動電流の減少量を算出する。ここで、減少量換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成した電流量劣化特性情報に基づいて算出しておく。そして、新たに算出した駆動電流の減少量を対象画素回路の電流量減少情報に加算し、電流量減少情報を更新する。
【０１３４】
［ステップＳ０７］ 電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂの画素別電流量劣化値算出部２１４は、画素別電流減少量積算部２１３によって更新された電流量減少情報に基づき、各画素の電流量劣化補正パターンを生成し、電流量劣化補正パターン保持部２３２に格納する。
【０１３５】
［ステップＳ０８］ 補正演算部２２０は、変換効率劣化補正演算部２２１が、入力した映像信号の階調値を、変換効率劣化補正パターンを用いて補正する。そして、補正された映像信号の階調値を、電流量劣化補正演算部２２２が電流量劣化補正パターンを用いて補正する。
【０１３６】
以上の処理手順が実行されることにより、それぞれの画素回路について変換効率劣化補正パターンと電流量劣化補正パターンが生成され、変換効率劣化補正と、電流量劣化補正とが行われる。なお、上記のフローチャートでは、変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａの処理の後、電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂが処理を行うとしたが、双方の処理を並行して行わせるとしてもよい。
【０１３７】
［劣化特性情報生成部の動作例］
次に、焼き付き補正部２００の劣化特性情報生成部２５０の動作について図面を参照して説明する。図１６は、劣化特性情報生成部の劣化特性情報生成処理の手順例を示したフローチャートである。なお、図１６では、ダミー画素回路６０９が、非発光で駆動させるダミー画素回路（非発光）６０９ａと、所定の輝度で発光させて駆動させるダミー画素回路（発光）６０９ｂと、を有するとして説明する。
【０１３８】
［ステップＳ１０１］ 測定部２５１は、予め決められた階調値パターンに基づき、複数レベルの階調値をダミー画素回路（非発光）６０９ａに設定する。そして、各レベルの階調値を設定したときのダミー画素回路（非発光）６０９ａの輝度を測定し、階調値と対応付けて測定情報保持部２５２に供給する。測定情報保持部２５２は、供給されたダミー画素回路（非発光）６０９ａに対する測定情報を保持する。
【０１３９】
［ステップＳ１０２］ 測定部２５１は、予め決められた階調値パターンに基づき、複数レベルの階調値ダミー画素回路（発光）６０９ｂに設定する。ここでは、この階調値パターンは、ステップＳ１０１の階調値パターンと同じであるとする。そして、各レベルの階調値を設定したときのダミー画素回路（発光）６０９ｂの輝度を測定し、それぞれの階調値と対応付けて測定情報保持部２５２に供給する。測定情報保持部２５２は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂに対する測定情報（発光）と、ステップＳ１０１で生成されたダミー画素回路（非発光）６０９ａに対する測定情報（非発光）と、を保持する。
【０１４０】
［ステップＳ１０３］ 測定部２５１は、測定処理の開始前にダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂに設定されていた元の階調値を設定する。ダミー画素回路（非発光）６０９ａは、非発光を設定する。ダミー画素回路（発光）６０９ｂは、予め決められた所定の階調値を設定する。このように、劣化しない初期状態と見なすことができるダミー画素回路（非発光）６０９ａと、所定の階調値で連続して駆動することによって劣化してゆくダミー画素回路（発光）６０９ｂそれぞれの測定情報を得ることができる。
【０１４１】
［ステップＳ１０４］ 階調劣化特性算出部２５３は、測定情報保持部２５２が保持するダミー画素回路（非発光）６０９ａの測定情報と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報とに基づき、階調劣化特性を算出する。例えば、それぞれの画素回路の輝度と階調値との関係を表わす測定情報に基づき、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値（入力階調値とする）と同じ輝度が得られるダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値（換算階調値とする）を算出する。算出した換算階調値を入力階調値に対応付け、階調劣化情報として階調劣化情報保持部２５４に供給する。階調劣化情報保持部２５４は、供給された階調劣化特性情報を保持する。
【０１４２】
［ステップＳ１０５］ 変換効率劣化値算出部２５５は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報に基づき、入力階調値と換算階調値との関係を近似直線で表わした階調劣化特性近似直線の傾きを算出する。そして、算出した傾きを式（１０）に適用し、Δ傾きを算出し、変換効率劣化値とする。
【０１４３】
［ステップＳ１０６］ 変換効率劣化値算出部２５５は、ステップＳ１０５で算出した変換効率劣化値を用いて変換効率劣化特性保持部２５６が保持する変換効率劣化特性情報のマスタカーブを補正し、変換効率劣化特性情報を更新する。
【０１４４】
［ステップＳ１０７］ 電流量劣化値算出部２５７は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報に基づき、入力階調値と換算階調値との関係を近似直線で表わした階調劣化特性近似直線の切片を算出する。そして、算出した切片と、ステップＳ１０５で算出した階調劣化特性近似直線の傾きとを式（１０）に適用し、Δ階調を算出し、電流量劣化値とする。
【０１４５】
［ステップＳ１０８］ 電流量劣化値算出部２５７は、ステップＳ１０７で算出した電流量劣化値を用いて電流量劣化特性保持部２５８が保持する電流量劣化特性情報のマスタカーブを補正し、電流量劣化特性情報を更新する。
【０１４６】
以上の処理手順が実行されることにより、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂに対して複数レベルの階調値を設定して輝度値が測定される。それぞれについて測定された輝度値に基づいて、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの入力階調値と同じ輝度を発生させるダミー画素回路（非発光）６０９ａの換算階調値が算出される。そして、入力階調値と換算階調値との相関関係を表わす階調劣化特性情報に基づいて、変換効率劣化特性情報及び電流量劣化特性情報が更新される。これにより、実際に測定した測定値に基づく、精度の高い変換効率劣化特性情報及び電流量劣化特性情報が得られる。また、精度の高い変換効率劣化特性情報及び電流量劣化特性情報に基づいて、映像信号の階調値を補正することにより、焼き付き補正を精度よく補正することが可能となる。
【０１４７】
なお、ダミー画素回路６０９が１つのときは、このダミー画素回路６０９をダミー画素回路（発光）６０９ｂとして用いる。また、ダミー画素回路（発光）６０９ｂが初期状態のときに階調値と輝度とを測定した測定情報を予め記憶しておく。そして、この初期状態の測定情報と、測定部２５１が測定したダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報とを用いて、同様の処理を行う。
【０１４８】
以上説明した表示装置１００は、フラットパネル形状を有し、様々な電子機器、例えば、デジタルカメラ、ノート型パーソナルコンピュータ、携帯電話、ビデオカメラ等、電子機器に入力された、もしくは、電子機器内で生成した映像信号を画像もしくは映像として表示するあらゆる分野の電子機器のディスプレイに適用することが可能である。以下このような表示装置１００が適用された電子機器の例を示す。
【０１４９】
［電子機器への適用例］
図１７は、実施の形態の表示装置を備えたテレビジョンセットを示す斜視図である。図１７に示したテレビジョンセットは、フロントパネル１２、フィルターガラス１３等から構成される映像表示画面１１を含み、表示装置１００をその映像表示画面１１に用いることにより作製される。
【０１５０】
図１８は、実施の形態の表示装置を備えたデジタルスチルカメラを示す斜視図である。図１８は、上段がデジタルスチルカメラの正面図を示し、下段がデジタルスチルカメラの背面図を示す。図１８に示したデジタルスチルカメラは、撮像レンズ、フラッシュ用の発光部１５、表示部１６、コントロールスイッチ、メニュースイッチ、シャッター１９等を含み、実施の形態の表示装置１００をその表示部１６に用いることにより作製される。
【０１５１】
図１９は、実施の形態の表示装置を備えたノート型パーソナルコンピュータを示す斜視図である。図１９に示したノート型パーソナルコンピュータは、本体２０には文字等を入力するとき操作されるキーボード２１を含み、本体カバーには画像を表示する表示部２２を含み、実施の形態の表示装置１００をその表示部２２に用いることにより作製される。
【０１５２】
図２０は、実施の形態の表示装置を備えた携帯端末装置を示す模式図である。図２０では、左側に携帯端末装置が開いた状態を示し、右側に携帯端末装置が閉じた状態を示している。図２０に示した携帯端末装置は、上側筐体２３、下側筐体２４、連結部（ここではヒンジ部）２５、ディスプレイ２６、サブディスプレイ２７、ピクチャーライト２８、カメラ２９等を含み、実施の形態の表示装置１００をそのディスプレイ２６やサブディスプレイ２７に用いることにより作製される。
【０１５３】
図２１は、実施の形態の表示装置を備えたビデオカメラを示す斜視図である。図２１に示したビデオカメラは、本体部３０、前方を向いた側面に被写体撮影用のレンズ３４、撮影時のスタート／ストップスイッチ３５、モニター３６等を含み、実施の形態の表示装置１００をそのモニター３６に用いることにより作製される。
【０１５４】
上記の電子機器によれば、特に、変換効率の劣化成分を高い精度で得ることができるので、焼き付きを精度よく解消することができる。
【０１５５】
なお、上記の処理機能は、コンピュータによって実現することができる。その場合、信号処理装置、表示装置及び電子機器が有すべき機能の処理内容を記述したプログラムが提供される。そのプログラムをコンピュータで実行することにより、上記処理機能がコンピュータ上で実現される。処理内容を記述したプログラムは、コンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録しておくことができる。コンピュータで読み取り可能な記録媒体としては、磁気記憶装置、光ディスク、光磁気記録媒体、半導体メモリなどがある。磁気記憶装置には、ハードディスク装置（ＨＤＤ）、フレキシブルディスク（ＦＤ）、磁気テープなどがある。光ディスクには、ＤＶＤ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ／ＲＷなどがある。光磁気記録媒体には、ＭＯ（Magneto-Optical disk）などがある。
【０１５６】
プログラムを流通させる場合には、例えば、そのプログラムが記録されたＤＶＤ、ＣＤ−ＲＯＭなどの可搬型記録媒体が販売される。また、プログラムをサーバコンピュータの記憶装置に格納しておき、ネットワークを介して、サーバコンピュータから他のコンピュータにそのプログラムを転送することもできる。
【０１５７】
プログラムを実行するコンピュータは、例えば、可搬型記録媒体に記録されたプログラムもしくはサーバコンピュータから転送されたプログラムを、自己の記憶装置に格納する。そして、コンピュータは、自己の記憶装置からプログラムを読み取り、プログラムに従った処理を実行する。なお、コンピュータは、可搬型記録媒体から直接プログラムを読み取り、そのプログラムに従った処理を実行することもできる。また、コンピュータは、ネットワークを介して接続されたサーバコンピュータからプログラムが転送されるごとに、逐次、受け取ったプログラムに従った処理を実行することもできる。
【０１５８】
また、上記の処理機能の少なくとも一部を、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、ＡＳＩＣ、ＰＬＤ（Programmable Logic Device）などの電子回路で実現することもできる。
【符号の説明】
【０１５９】
１００・・・表示装置、 ２００・・・焼き付き補正部、 ２１０・・・補正パターン生成部、 ２１０ａ・・・変換効率劣化補正パターン生成部、 ２１０ｂ・・・電流量劣化補正パターン生成部 ２１１・・・画素別変換効率劣化量積算部、 ２１２・・・画素別変換効率劣化値算出部、 ２１３・・・画素別電流減少量積算部、 ２１４・・・画素別電流量劣化値算出部、 ２２０・・・補正演算部、 ２２１・・・変換効率劣化補正演算部、 ２２２・・・電流量劣化補正演算部、 ２３０・・・補正パターン保持部、 ２３１・・・変換効率劣化補正パターン保持部、 ２３２・・・電流量劣化補正パターン保持部、 ２５０・・・劣化特性情報生成部、 ２５１・・・測定部、 ２５２・・・測定情報保持部、 ２５３・・・階調劣化特性算出部、 ２５４・・・階調劣化情報保持部、 ２５５・・・変換効率劣化値算出部、 ２５６・・・変換効率劣化特性保持部、 ２５７・・・電流量劣化値算出部、 ２５８・・・電流量劣化特性保持部、 ５００・・・画素アレイ部、 ６００・・・画素回路、 ６１０・・・書込みトランジスタ、 ６２０・・・駆動トランジスタ、 ６３０・・・保持容量、 ６４０・・・発光素子
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示に用いる発光素子の劣化成分を補正する信号処理装置、信号処理方法、表示装置及び電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
表示装置には、複数の画素をマトリックス状に配置した画素部を有し、表示すべき画像情報に応じて画素部を制御することによって画像を表示するものがある。近年、この画素部に自発光素子、例えば有機ＥＬ（Electroluminescence）素子を用いた表示装置が注目されている。このような表示装置では、有機ＥＬ素子を含む画素回路をマトリックス状に配置し、表示画面を構成する。しかし、この有機ＥＬ素子は表示対象となる画像データに応じて発光量を変えることにより階調を表現するため、有機ＥＬ素子の劣化の度合いが画素回路ごとに異なる。このため、時間の経過に応じて劣化の度合いが大きい画素と、劣化の度合いが少ない画素とが表示画面上に混在する。このとき、劣化の大きい画素が周辺の画素よりも暗くなることによって直前に表示されていた画像が残っているように見える現象（いわゆる、焼き付き）が生じる。
【０００３】
このような焼き付き現象を防止するため、未使用期間中に劣化の度合いの小さい発光素子の劣化を進行させて、劣化の度合いの大きい発光素子の劣化の度合いと均一にする表示装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−１７６２７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、未使用期間中に劣化の度合いの小さい発光素子の劣化を進行させて、劣化の度合いの大きい発光素子の劣化の度合いと均一にする表示装置では、発光素子全体の劣化を進行させる恐れがある。また、表示装置の未使用期間に焼き付きの補正を行うため、表示装置の使用中には補正できないという問題点もある。そこで、表示装置の使用中に発光素子自体の劣化を考慮して、映像信号の階調値を変更することにより、焼き付きを補正する方法が考えられる。
【０００６】
例えば、映像信号を表示させる画素回路の劣化の度合いに合わせて映像信号の階調値を指定し、その変更した映像信号を用いて発光素子を発光させる方法が考えられる。例えば、予め一般的な画素回路の駆動時間と輝度の劣化の度合いとを対応付けた劣化情報を装置に内蔵しておき、駆動時間の経過に応じてその劣化情報に基づいて推定される各画素の輝度劣化量に合わせて映像信号の階調値を変更することが考えられる。しかし、画素の劣化は画素回路ごとに異なるとともに、画素回路に供給される映像信号も表示対象ごとに異なる。このため、一般的な劣化情報を用いて精度よく焼き付き補正を行うことは、容易ではなかった。
【０００７】
また、一般に、劣化時には発光素子の変換効率が劣化する変換効率劣化と、画素回路の駆動電流が減少する電流量劣化とが発生する。このため、画素回路の劣化状態を実測して劣化情報を生成しようとした場合、実測値から変換効率劣化成分と電流量劣化成分とを分離することが容易ではなかった。
【０００８】
このような点に鑑み、精度の高い劣化情報を得ることによって、焼き付きを精度よく補正することが可能な信号処理装置、信号処理方法、表示装置及び電子機器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、測定部、階調劣化特性算出部、変換効率劣化値算出部及び電流量劣化値算出部を有する信号処理装置が提供される。測定部は、所定の更新時間ごとに、発光素子を有する所定の画素回路に対し、発光素子の発光の度合いを指示する階調値を複数レベルに設定して実際の輝度を測定する。そして、階調値と、測定した輝度値とを対応付けた測定情報を生成する。階調劣化特性算出部は、この測定情報と、予め登録された所定の画素回路が補正の基準状態にあるときの階調値と輝度値との関係と、に基づいて、同一の輝度値が得られる測定時の階調値と補正の基準状態における階調値とを対応付けた階調劣化特性を算出する。変換効率劣化値算出部は、この階調劣化特性に基づき、所定の画素回路の発光素子が階調値に応じて供給される駆動電流を輝度に変換する変換効率の劣化に関する変換効率劣化値を算出する。そして、この所定の画素回路に関する変換効率劣化特性情報を生成する。電流量劣化値算出部は、階調劣化特性に基づき、所定の画素回路の駆動電流の劣化に関する電流量劣化値を算出し、所定の画素回路に関する電流量劣化特性情報を生成する。
【００１０】
このような信号処理装置によれば、測定部は、所定の更新時間ごとに、所定の画素回路に対して設定した複数レベルの階調値と、階調値に対応する輝度値とを測定情報として生成する。階調劣化特性算出部は、同一の輝度が得られる測定時の階調値と、補正の基準状態における階調値とを対応付け、階調劣化特性を生成する。変換効率劣化値算出部は、階調劣化特性に基づいて変換効率劣化値を算出し、変換効率劣化特性情報を生成する。電流量劣化値算出部は、階調劣化特性に基づいて電流量劣化値を算出し、電流量劣化特性情報を生成する。
【００１１】
また、上記課題を解決するために、上記の信号処理装置と同様の信号処理を行う信号処理方法、表示装置及び電子機器が提供される。
【発明の効果】
【００１２】
開示の信号処理装置、信号処理方法、表示装置及び電子機器によれば、実際の画素回路を用いて測定した測定情報に基づいて、画素回路の変換効率劣化特性情報と電流量劣化特性情報を得ることができる。これにより、実際の測定値に基づく精度の高い変換効率劣化値と電流量劣化値を得ることができる。また、精度の高い変換効率劣化値と電流量劣化値と、に基づいて焼き付き補正を行うことによって、焼き付き補正を精度よく行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施の形態の表示装置の構成例を示した概念図である。
【図２】画素回路の構成例を模式的に示す回路図である。
【図３】画素回路の経時輝度変化の一例を示した図である。
【図４】映像信号の階調値と輝度値との関係を示した図である。
【図５】焼き付き補正部のハードウェア構成の一例を示した図である。
【図６】焼き付き補正部の機能構成の一例を示した図である。
【図７】劣化特性情報生成部の機能構成の一例を示した図である。
【図８】階調劣化特性の算出処理の一例を示した図である。
【図９】階調劣化情報の一例とその階調劣化特性線を示した図である。
【図１０】階調劣化情報の生成例を示した図である。
【図１１】変換効率劣化特性情報及び電流量劣化特性情報の生成例を示した図である。
【図１２】変換効率劣化曲線と電流量劣化曲線の一例を示した図である。
【図１３】変換効率劣化補正パターンの生成例を示した図である。
【図１４】電流量劣化補正パターンの生成例を示した図である。
【図１５】焼き付き補正部の焼き付き補正処理の手順例を示したフローチャートである。
【図１６】劣化特性情報生成部の劣化特性情報生成処理の手順例を示したフローチャートである。
【図１７】実施の形態の表示装置を備えたテレビジョンセットを示す斜視図である。
【図１８】実施の形態の表示装置を備えたデジタルスチルカメラを示す斜視図である。
【図１９】実施の形態の表示装置を備えたノート型パーソナルコンピュータを示す斜視図である。
【図２０】実施の形態の表示装置を備えた携帯端末装置を示す模式図である。
【図２１】実施の形態の表示装置を備えたビデオカメラを示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
図１は、実施の形態の表示装置の構成例を示した概念図である。表示装置１００は、焼き付き補正部２００と、ライトスキャナ（ＷＳＣＮ；Write SCaNner）４１０、水平セレクタ（ＨＳＥＬ；Horizontal SELector）４２０、電源スキャナ（ＤＳＣＮ；Drive SCaNner）４３０及び画素アレイ部５００を有する。
【００１５】
画素アレイ部５００は、ｎ×ｍ（ｎ，ｍは２以上の整数）個の２次元マトリックス状に配列された画素回路６００〜６０８を有する。図１では、便宜上、１行目、２行目及びｍ行目における１列目、２列目及びｎ列目に配置された９個の画素回路６００〜６０８が示されている。画素回路６００〜６０８は、それぞれ走査線（ＷＳＬ；Write Scan Line）４１１を介してライトスキャナ（ＷＳＣＮ）４１０に接続する。また、データ線（ＤＴＬ；DaTa Line）４２１を介して水平セレクタ（ＨＳＥＬ）４２０、電源線（ＤＳＬ；Drive Scan Line）４３１を介して電源スキャナ（ＤＳＣＮ）４３０に接続する。図１では、便宜上、走査線（ＷＳＬ）４１１、データ線（ＤＴＬ）４２１、電源線（ＤＳＬ）４３１には、接続する画素回路の列番号（１，・・・，ｎ）または行番号（１，・・・，ｍ）が振られている。例えば、１行目、１列目に配置されている画素回路６００には、走査線ＷＳＬ１、データ線ＤＴＬ１及び電源線ＤＳＬ１が接続している。
【００１６】
焼き付き補正部２００は、映像信号の階調値を入力し、画素回路６００〜６０８のそれぞれの劣化の度合いに合わせて映像信号の階調値を変更することによって焼き付きを補正する信号処理回路である。また、信号処理装置として構成することもできる。ここで、階調値とは、画素回路６００〜６０８が所定の輝度で発光するように駆動を指示する駆動信号であり、発光の度合いを示すレベル（段階）を指定する。例えば、発光の輝度の大きさを２５６段階（階調）で表現することができる。階調値の信号レベルが大きくなるほど、発光の輝度が大きくなるとする。なお、映像信号の階調値は、表示用の映像信号として焼き付き補正部２００に入力する階調値を言う。ここで、画素回路６００が初期状態のときに発光の輝度が２００ｎｉｔとなる映像信号の階調値を「階調値２００」とする。所定の時間経過後では、画素回路６００の劣化により、「階調値２００」を出力しても発光の輝度が１００ｎｉｔしか得られなくなるとする。同様に、「階調値３００」のときの発光の輝度が初期状態の３００ｎｉｔから２００ｎｉｔに劣化したとする。この場合、焼き付き補正部２００は、「階調値２００」の初期状態の輝度（２００ｎｉｔ）を得るため、例えば、出力する映像信号の階調値を「階調値４００」に変更する。焼き付き補正部２００は、この変更した映像信号を、信号線２０９を介して水平セレクタ（ＨＳＥＬ）４２０に供給する。これにより、画素回路６００は、２００ｎｉｔの輝度で発光することになり、焼き付きを補正することができる。
【００１７】
ライトスキャナ（ＷＳＣＮ）４１０は、行単位により画素回路６００〜６０８を順次走査する線順次走査を行う。水平セレクタ（ＨＳＥＬ）４２０は、ライトスキャナ（ＷＳＣＮ）４１０による線順次走査に合わせて、画素回路６００〜６０８における発光輝度の大きさを設定するためのデータ信号を、各列の画素回路６００〜６０８に供給する。電源スキャナ（ＤＳＣＮ）４３０は、ライトスキャナ（ＷＳＣＮ）４１０による線順次走査に合わせて、画素回路６００〜６０８を駆動させるための電源信号を行単位に生成する。そして、画素回路６００〜６０８は、走査線（ＷＳＬ）４１１からの操作信号に基づいて、データ線（ＤＴＬ）４２１からの映像信号の電位を保持して、その保持した電位に応じて所定の期間発光する。
【００１８】
図２は、画素回路の構成例を模式的に示す回路図である。図２は、画素回路６００について示したが、他の画素回路も同様の構成である。
【００１９】
画素回路６００は、書込みトランジスタ６１０と、駆動トランジスタ６２０と、保持容量６３０と、発光素子６４０と、を有する。図２の例では、書込みトランジスタ６１０及び駆動トランジスタ６２０がそれぞれｎチャンネル型トランジスタである場合を想定している。なお、書込みトランジスタ６１０及び駆動トランジスタ６２０は、この組み合わせに限定されない。例えば、ｐチャンネル型トランジスタを適用することもできるし、トランジスタは、エンハンスメント型、デプレション型やデュアルゲート型であってもよい。
【００２０】
この画素回路６００において、書込みトランジスタ６１０のゲート端子及びドレイン端子には、走査線（ＷＳＬ）４１１及びデータ線（ＤＴＬ）４２１がそれぞれ接続されている。また、書込みトランジスタ６１０のソース端子には、駆動トランジスタ６２０のゲート端子（ｇ）及び保持容量６３０の一方の電極（一端）が接続されている。図２では、この接続電位を第１ノード（ＮＤ１）６５０とする。また、駆動トランジスタ６２０のドレイン端子（ｄ）には、電源線（ＤＳＬ）４３１が接続され、ソース端子（ｓ）には保持容量６３０の他方の電極（他端）及び発光素子６４０のアノード電極が接続されている。図２では、この接続電位を第２ノード（ＮＤ２）６６０とする。
【００２１】
書込みトランジスタ６１０は、走査線（ＷＳＬ）４１１からの走査信号に従って、データ線（ＤＴＬ）４３１からのデータ信号を第１ノード（ＮＤ１）６５０に供給するトランジスタである。この書込みトランジスタ６１０は、画素回路６００の駆動トランジスタ６２０の閾値のバラつきを取り除くために、データ信号の基準電位を保持容量６３０の一端に供給する。ここにいう基準電位とは、駆動トランジスタ６２０の閾値電圧に相当する電圧を保持容量６３０の保持させるための基準となる固定電位のことである。また、書込みトランジスタ６１０は、駆動トランジスタ６２０の閾値電圧に相当する電圧が保持容量６３０に保持された後に、データ信号の信号電位を保持容量６３０の一端に順次書き込む。
【００２２】
駆動トランジスタ６２０は、発光素子６４０を発光させるために、信号電位に応じて保持容量６３０に保持された信号電圧に基づいて、駆動電流を発光素子６４０に出力する。この駆動トランジスタ６２０は、駆動トランジスタ６２０を駆動させるための電源電位が電源線（ＤＳＬ）４３１から印加されている状態において、保持容量６３０に保持された信号電圧に応じた駆動電流を発光素子６４０に出力する。
【００２３】
保持容量６３０は、書込みトランジスタ６１０によって供給されたデータ信号に応じた電圧を保持する。すなわち、保持容量６３０は、書込みトランジスタ６１０によって書き込まれた信号電位に応じた信号電圧を保持する役割を果たす。
【００２４】
発光素子６４０は、駆動トランジスタ６２０から出力された駆動電流の大きさに応じて発光する。また、発光素子６４０は、出力端子がカソード線６８０に接続されている。このカソード線６８０からは、発光素子６４０の基準電位としてカソード電位（Ｖｃａｔ）が供給されている。この発光素子６４０は、例えば、有機ＥＬにより実現することができる。
【００２５】
なお、画素回路６００の構成は、図２に示した回路構成に限定されない。すなわち、駆動トランジスタ６２０及び発光素子６４０を含むものであれば、画素回路６００に適用できる。例えば、３つ以上のトランジスタで発光を制御するとしてもよい。
【００２６】
以上、説明したように、表示装置１００の画素回路６００は、データ線（ＤＴＬ）４２１を介して供給される信号電位に応じた駆動電流が発光素子６４０に供給されることにより、駆動電流に応じた輝度で発光する。したがって、画素回路６００を構成する駆動トランジスタ６２０や発光素子６４０等が劣化すると、駆動電流の量や発光の量の変化により、信号電位に対する輝度の値が初期の状態からズレてしまう。全ての画素回路において同じ量のズレが発生するのであれば、いわゆる焼き付き現象が生じることはない。しかしながら、有機ＥＬ素子は表示する画像データに応じて発光する量を変えることにより階調を表現するため、有機ＥＬ素子の劣化の度合いが表示画面の画素回路ごとに異なる。このため、劣化の大きい画素回路の表示が周辺の画素回路の表示より暗くなることによって、焼き付き現象が生じる。
【００２７】
図３は、画素回路の経時輝度変化の一例を示した図である。図３は、発光素子として有機ＥＬ素子を有する画素回路に対し、発光素子６４０を２００ｎｉｔの輝度で発光させる階調値を出力して駆動したときの経過時間に応じた発光の輝度の値（輝度値）の変化を示している。図３の横軸は初期状態を起点として累積した経過時間を表わしている。図３の縦軸は、経過時間に応じた経時輝度を補正の基準の基準輝度「２００ｎｉｔ」に対する比で表わしている。ここで、初期状態は、対象の画素回路が補正の基準状態にある状態を指し、初期状態にあるときを経過時間「０」としている。経過時間が「０」の初期状態では、経時輝度の基準輝度に対する比は「１．０」、すなわち、経時輝度は２００ｎｉｔである。図３からは、画素回路の駆動時間が経過するに従って輝度が低下していることがわかる。例えば、４０００時間経過すると、画素回路に初期状態と同じ階調値を出力しても、得られる輝度は初期状態の「０．８」、すなわち１６０ｎｉｔになる。そこで、４０００時間経過後の画素回路で２００ｎｉｔの輝度を得るには、輝度劣化量に相当する補正量を映像信号の階調値に加える補正を行えばよい。これにより、この画素回路は、見かけ上、２００ｎｉｔで発光することになる。
【００２８】
図４は、映像信号の階調値と輝度値との関係を示した図である。図４の横軸は焼き付き補正部２００に入力される映像信号の階調値、縦軸は画素回路６００〜６０８において得られた輝度値をそれぞれ表わしている。また、画素特性曲線（初期）７１０は、初期状態の画素回路における入力された階調値と輝度値との関係を表わし、画素特性曲線（劣化）７２０は、初期状態から所定の時間が経過した画素回路における入力された階調値と輝度値との関係を表わしている。
【００２９】
画素特性曲線（初期）７１０について説明する。この画素特性曲線（初期）７１０は、例えば、次に示す二次関数により表現される。
Ｌ＝ Ａ×Ｓ2 ・・・（１）
【００３０】
ここで、Ｌは輝度値である。Ａは、発光素子６４０に供給される駆動電流を輝度に変換するときの変換の効率に応じて定まる係数（以下、変換効率とする）である。またＳ2は、駆動トランジスタ６２０の二乗特性を用いて算出した値であって、発光素子６４０に供給される駆動電流に相当する値である。このように、輝度値Ｌは、駆動電流Ｓ2に発光素子６４０の変換効率Ａを乗算することによって算出することができる。
【００３１】
画素特性曲線（劣化）７２０は、時間の経過によって発光素子６４０が劣化し、駆動電流を輝度に変換する変換効率に劣化が生じるため、画素特性曲線（初期）７１０よりも曲線の傾きが緩やかになっている。また、この画素特性曲線（劣化）７２０は、画素特性曲線（初期）７１０と比較して、横軸方向に駆動電流量減少成分Ｄ１の分だけ右側へシフトしている。この駆動電流量減少成分Ｄ１は、駆動電流の減少した量（駆動電流減少量）を示す成分であり、駆動トランジスタ６２０及び発光素子６４０の劣化に起因して生じる。すなわち、駆動トランジスタ６２０が劣化すると、信号電圧に応じて発光素子６４０に供給する駆動電流が減少する。また、発光素子６４０が劣化すると、発光素子６４０の閾値電圧が増加するため、信号電圧が減少し、駆動電流の電流量が減少する。このように、駆動電流量減少成分Ｄ１は、信号電圧に応じて供給される駆動電流量の減少と、信号電圧の減少とに起因して生じる。
【００３２】
式（１）で表わされる画素特性（初期）７１０に対し、駆動トランジスタ６２０及び発光素子６４０が劣化した状態の画素特性（補正対象）７２０は、次に示す二次関数により表現される。
Ｌｄ＝ Ａｄ×（Ｓ−ΔＳ）2 ・・・（２）
【００３３】
ここで、Ｌｄは、補正対象となる画素回路の輝度値である。Ａｄは、補正対象となる画素回路の発光素子６４０に供給される駆動電流を輝度に変換するときの変換の効率に応じて定まる係数（変換効率）である。ΔＳは、図４では駆動電流量減少成分Ｄ１である。また（Ｓ−ΔＳ）2は、駆動電流量減少成分Ｄ１が考慮された発光素子６４０に供給される駆動電流を示す。このように、劣化した輝度値Ｌｄは、劣化した変換効率Ａｄと駆動電流量減少成分Ｄ１が考慮された駆動電流（Ｓ−ΔＳ）2によって算出することができる。
【００３４】
以上説明したように、表示装置１００の使用に伴って画素回路が劣化すると、変換効率の劣化と、駆動電流の減少とが同時に進行し、映像信号の階調値に対する輝度値が低下する。以下、画素回路の使用時間の経過によって変換効率が劣化する現象を変換効率劣化、駆動電流が減少する現象を電流量劣化とする。なお、図４に示した画素特性の図において、変換効率劣化は画素特性曲線の傾きの低下に相当し、電流量劣化は画素特性曲線の階調方向のシフトに相当する。
【００３５】
表示装置１００の焼き付き補正部２００では、補正の基準状態、例えば劣化が起きていない初期状態の画素特性（初期）７１０を基準とし、劣化が起きた画素回路の画素特性（補正対象）７２０がその基準（画素特性７１０）と一致するように入力階調値を補正する。詳細は後述するが、焼き付き補正部２００では、変換効率劣化を補正する変換効率劣化補正パターンと、電流量劣化を補正する電流量劣化補正パターンとを用意し、劣化が起きた画素回路の映像信号の階調値を補正する。このように、劣化成分を効率劣化と電流量劣化とに分けて補正することにより、より精度の高い補正が可能となる。
【００３６】
ここで、変換効率劣化成分の補正について説明する。変換効率劣化成分の補正は、次の式に基づいて映像信号の階調を変更する。式（１），（２）に基づき、補正後の階調値Ｇｏｕｔは、次の式で求められる。
Ｇｏｕｔ＝（ΔＡ）-1/2×Ｇｉｎ ・・・（３）
ΔＡ＝Ａｄ／Ａ ・・・（４）
【００３７】
ここで、Ｇｏｕｔは、焼き付き補正部２００により補正された映像信号の階調値である。また、Ｇｉｎは、焼き付き補正部２００により補正される前の映像信号の階調値である。また、ΔＡは、補正対象画素回路の変換効率Ａｄを分子とし、初期状態の画素回路の変換効率Ａを分母とした変換効率の比を表わす分数の値（変換効率劣化値）である。なお、式（３），（４）では、駆動電流減少量ΔＳは考慮していない。言い換えると、駆動電流減少量ΔＳを考慮しないときに、初期状態の画素回路において階調値Ｇｉｎを入力したときに得られる輝度値Ｌを得るために、変換効率値がＡｄに劣化した画素回路で必要な階調値がＧｏｕｔである。
【００３８】
この式（３）に基づいて入力階調値を変更するために、焼き付き補正部２００は、画素回路６００〜６０８のそれぞれの劣化についての情報を保持し、その劣化の情報から画素回路６００〜６０８のそれぞれの変換効率値を算出する。そして、焼き付き補正部２００は、ΔＡを算出し、算出したΔＡに基づいて映像信号の階調を変更することによって、映像信号の補正された階調の値（補正階調値）を生成する。このように、式（３）に基づき、変換効率劣化値（ΔＡ）に基づく補正を変換効率劣化補正とする。変換効率劣化補正は、画素特性の傾きの補正に相当する。
【００３９】
しかし、変換効率劣化補正では、まだ駆動電流減少量ΔＳの影響が考慮されていない。そこで、焼き付き補正部２００では、さらに、ΔＳの影響を考慮して補正を行う。ΔＳは、図４の画素特性の例では駆動電流量減少成分Ｄ１に相当する。そこで、電流量劣化補正後の階調値Ｇｏｕｔは、式（３）に基づいて、次の式で求めることができる。
Ｇｏｕｔ＝（ΔＡ）-1/2×Ｇｉｎ＋ΔＳ ・・・（５）
【００４０】
すなわち、変換効率劣化補正による画素特性の傾きの補正の後、補正階調値をΔＳだけシフトされることにより、補正後の画素特性を画素特性曲線（初期）７１０と同じになるようにする。このような駆動電流減少量ΔＳに基づく補正を電流量劣化補正とする。電流量劣化補正は、画素特性の階調のシフトの補正に相当する。
【００４１】
以下、焼き付き補正部の構成について詳細に説明する。
【００４２】
［焼き付き補正部の構成例］
まず、焼き付き補正部２００のハードウェア構成例を説明する。図５は、焼き付き補正部のハードウェア構成の一例を示した図である。
【００４３】
焼き付き補正部２００は、補正パターン生成部２１０、補正演算部２２０、補正パターン保持部２３０及びＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）２４０を有し、入力した映像信号の階調値を補正し、焼き付き補正映像データとして画素アレイ部５００に出力する。
【００４４】
補正パターン生成部２１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）２１０ａによって、変換効率劣化及び電流量劣化を補正する補正パターンの生成処理を行う。ＣＰＵ２１０ａには、内部バスを介して、ＲＯＭ（Read Only Memory）２１０ｂ及びＲＡＭ（Random Access Memory）２１０ｃと、補正演算部２２０及び補正パターン保持部２３０等の周辺機器が接続されている。
【００４５】
ＲＡＭ２１０ｃには、ＣＰＵ２１０ａによる処理に必要な各種データが格納される。ＲＯＭ２１０ｂには、ＯＳのプログラム、アプリケーションプログラム、及び各種データが格納される。
【００４６】
補正演算部２２０は、映像信号の階調値を取得し、焼き付き補正処理を行う。処理を高速に行うため、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）やＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）などで構成される。
【００４７】
補正パターン保持部２３０は、補正パターン生成部２１０が生成した補正パターンを保持する記憶部である。例えば、フラッシュメモリなどの半導体記憶装置により構成される。
【００４８】
ＤＲＡＭ２４０は、補正演算部２２０が参照するための補正パターンを保持する記憶部である。例えば、ＤＤＲ ＳＤＲＡＭ（Double-Data-Rate Synchronous DRAM）など、比較的高速処理が可能なメモリで構成される。
【００４９】
次に、焼き付き補正部２００の機能構成例を説明する。図６は、焼き付き補正部の機能構成の一例を示した図である。
【００５０】
図５に示した焼き付き補正部２００の補正パターン生成部２１０、補正演算部２２０及び補正パターン保持部２３０は、それぞれ、変換効率劣化の補正を行う処理部と、電流量劣化の補正を行う処理部と、が設けられている。補正パターン生成部２１０は、変換効率劣化補正パターンを生成する変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａと、電流量劣化補正パターンを生成する電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂとを有する。補正演算部２２０は、変換効率劣化の補正を行う変換効率劣化補正演算部２２１と、電流量劣化の補正を行う電流量劣化補正演算部２２２とを有する。補正パターン保持部２３０は、変換効率劣化補正パターンを保持する変換効率劣化補正パターン保持部２３１と、電流量劣化補正パターンを保持する電流量劣化補正パターン保持部２３２とを有する。さらに、焼き付き補正部２００は、画素回路の劣化状態を検出する劣化特性情報生成部２５０を有する。
【００５１】
ここで、図６に示した焼き付き補正部２００は、劣化が起きていない初期状態の画素回路における画素特性を補正の基準として、劣化が起きた画素回路６００〜６０８の画素特性がその基準と一致するように入力された映像信号の階調値を補正することを想定する。また、焼き付き補正部２００は、画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別電流減少量積算部２１３によって保持されている情報を、各フレームの補正された映像信号の階調値を１分間隔で取得することによって更新するものとする。さらに、画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別電流減少量積算部２１３に保持されている情報が更新されるごとに、画素別変換効率劣化値算出部２１２及び画素別電流量劣化値算出部２１４は、新たな補正パターンを生成するものとする。
【００５２】
以下、変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａ及び電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂの各部について説明する。
【００５３】
変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａは、画素別変換効率劣化量積算部２１１、画素別変換効率劣化値算出部２１２を有し、変換効率劣化補正パターンを生成する。ここで、変換効率劣化補正パターンは、画素回路６００〜６０８のそれぞれに対する変換効率劣化の補正値（変換効率劣化値）により構成される補正パターンであり、変換効率劣化を補正するための補正情報である。
【００５４】
画素別変換効率劣化量積算部２１１は、画素回路６００〜６０８の変換効率の劣化に関する情報（変換効率劣化情報）を保持し、予め決められた更新時間ごとに、この変換効率劣化情報を順次更新する。変換効率劣化情報とは、例えば、画素回路６００〜６０８の変換効率劣化の量を特定の階調値における発光時間に換算した値である。換算した値は、特定の階調値で画素を発光させたときに、この変換効率劣化の量と同等の劣化が生じるまでにかかる発光時間に相当する。画素別変換効率劣化量積算部２１１では、更新時間に到達するごとに、画素回路６００〜６０８の変換効率の新たな劣化量を算出する。新たな劣化量とは、前回の更新時間から今回の更新時間までの間に各画素回路に生じた劣化量を言う。例えば、補正演算部２２０から供給された補正後の映像信号に基づいて、画素回路６００〜６０８の変換効率の新たな劣化量を、効率劣化換算係数を用いて算出する。ここで、効率劣化換算係数とは、例えば、時間の経過に応じた発光素子６４０の劣化量を、発光時間及び発光時に画素回路に設定された階調値に基づいて変換するための係数である。効率劣化換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成する変換効率の劣化特性情報に基づいて算出する。こうして、変換効率劣化情報に新たな劣化量を加算し、変換効率劣化情報を更新する。更新した変換効率劣化情報は、画素別変換効率劣化値算出部２１２に供給する。このように、更新時間に到達するごとに算出した画素回路６００〜６０８の新たな劣化量をその変換効率劣化情報に順次加算することにより、その経過時間に至るまでの画素回路６００〜６０８の変換効率の総劣化量を求める。
【００５５】
画素別変換効率劣化値算出部２１２は、変換効率劣化補正パターンを生成し、変換効率劣化補正パターン保持部２３１に供給する。画素別変換効率劣化値算出部２１２は、画素回路６００〜６０８に関する変換効率劣化情報を順次取得し、係数変換情報を用いてその画素回路の変換効率を算出し、算出した変換効率を対象変換効率値とする。ここで、係数変換情報とは、例えば、特定の階調値の映像信号による発光時間に換算した値が変換効率劣化情報である場合には、その発光時間と変換効率との間の相関関係を示す情報である。また、補正の基準状態、例えば、劣化が起きていない初期状態の画素回路の変換効率を基準変換効率値とする。そして、算出した対象変換効率値と、基準変換効率値とを式（４）に適用し、変換効率劣化値ΔＡを算出する。同様の手順で画素回路６００〜６０８の全てについて変換効率劣化値を算出し、変換効率劣化補正パターンを生成する。
【００５６】
電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂは、画素別電流減少量積算部２１３及び画素別電流量劣化値算出部２１４を有し、電流量劣化補正パターンを生成する。ここで、電流量劣化補正パターンは、画素回路６００〜６０８のそれぞれに対する駆動電流減少量の補正値（電流量劣化値）により構成される補正パターンであり、電流量劣化を補正するための補正情報である。
【００５７】
画素別電流減少量積算部２１３は、画素回路６００〜６０８の駆動電流の電流量の減少に関する情報を電流量減少情報として保持し、画素回路６００〜６０８の駆動電流の新たな減少量をその電流量減少情報に積算して電流量減少情報を更新する。ここで、電流量減少情報とは、例えば、画素回路６００〜６０８の駆動電流の減少量を、特定の階調値の映像信号による発光時間に換算した値である。画素別電流減少量積算部２１３では、更新時間に到達するごとに、画素回路６００〜６０８の駆動電流の新たな減少量を算出する。例えば、補正演算部２２０から供給された補正後の映像信号に基づいて、画素回路６００〜６０８の新たな減少量に関する情報を、減少量換算係数を用いて算出する。ここで、減少量換算係数とは、例えば、時間の経過に応じた駆動電流の電流量の減少量を、発光時間及び発光時における階調に基づいて変換するための係数である。減少量換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成する電流量の劣化特性情報に基づいて算出する。そして、電流量減少情報に新たな劣化量を順次加算することにより、電流量減少情報を更新する。更新した電流量減少情報は、画素別電流量劣化値算出部２１４に供給する。
【００５８】
画素別電流量劣化値算出部２１４は、電流量劣化補正パターンを生成する。電流量劣化補正パターンは、各画素回路の電流量劣化を補正するための補正情報である。画素別電流量劣化値算出部２１４は、画素回路６００〜６０８に関する電流量減少情報を順次取得する。そして、減少量変換情報を用いて、取得した電流量減少情報からその画素回路の駆動電流減少量を算出する。駆動電流減少量は、式（２）のΔＳに相当する。ここで、減少量変換情報とは、例えば、特定の階調値における発光時間に換算した値が電流量減少情報である場合には、その発光時間と電流量減少情報との間の相関関係を示す情報である。電流量減少情報を用いて対象画素回路について算出した駆動電流減少量を対象電流量減少値とする。そして、電流量劣化補正パターンを生成するため、対象電流量減少値に基づいて、画素回路６００〜６０８ごとの電流量劣化値を算出する。例えば、駆動電流減少量が対象電流量減少値として供給された場合には、その駆動電流減少量を電流量劣化値として供給する。ここで、電流量劣化値とは、駆動電流減少量の補正対象となる画素回路に供給される映像信号の階調値を変更することによって、補正対象の画素回路と補正基準の画素回路との間の駆動電流の減少量の差をなくすための値である。同様の手順で画素回路６００〜６０８の全てに関して電流量劣化値を算出し、電流量劣化補正パターンに供給する。
【００５９】
次に、補正演算部２２０について説明する。補正演算部２２０は、入力された映像信号を補正し、信号線２０９を介して水平セレクタ（ＨＳＥＬ）４２０に供給する。また、補正後の映像信号を画素別変換効率劣化量積算部２１１と、画素別電流減少量積算部２１３に供給する。以下、補正演算部２２０の各部について説明する。
【００６０】
変換効率劣化補正演算部２２１は、変換効率劣化補正パターン保持部２３１から供給された変換効率劣化補正パターンに基づいて、信号線を介して入力された映像信号の階調値を変更することによって、変換効率劣化を補正する。また、この変換効率劣化補正演算部２２１は、その補正した映像信号を電流量劣化補正演算部２２２に供給する。
【００６１】
電流量劣化補正演算部２２２は、電流量劣化補正パターン保持部２３２から供給された電流量劣化補正パターンに基づいて、変換効率劣化補正演算部２２１から出力された映像信号の階調値を変更することによって、駆動電流減少量を補正する。また、この電流量劣化補正演算部２２２は、その補正した映像信号の階調値を、信号線２０９を介して画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別電流減少量積算部２１３と、水平セレクタ（ＨＳＥＬ）４２０とに供給する。
【００６２】
補正パターン保持部２３０について説明する。補正パターン保持部２３０は、変換効率劣化補正パターン保持部２３１と、電流量劣化補正パターン保持部２３２とを有する。変換効率劣化補正パターン保持部２３１は、画素別変換効率劣化値算出部２１２が生成した各画素回路の変換効率劣化値で構成される変換効率劣化補正パターンを保持し、変換効率劣化補正演算部２２１に供給する。電流量劣化補正パターン保持部２３２は、画素別電流量劣化値算出部２１４が生成した各画素回路の電流量劣化値で構成される電流量劣化補正パターンを保持し、電流量劣化補正演算部２２２に供給する。
【００６３】
劣化特性情報生成部２５０は、更新時間ごとにダミー画素回路６０９に、複数レベルの入力階調値を設定してダミー画素回路６０９を駆動し、そのときのダミー画素回路６０９の輝度値を測定する。そして、測定結果に基づいて、駆動電流の減少による輝度値の劣化に関する劣化特性情報を更新する。なお、ダミー画素回路６０９は、画素アレイ部５００に含まれる画素回路であるが、表示画面には含まれない画素回路であるとする。ダミー画素回路６０９を用いることにより、表示装置１００が稼働中であっても、表示画面に影響することなく、測定処理を行うことができる。なお、出荷前の検査や調整などを行う場合には、表示画面を構成する画素回路を対象として画素回路ごとの特性を取得するようにしてもよい。
【００６４】
このように、変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａ及び変換効率劣化補正演算部２２１を設けることにより、画素回路６００〜６０８の変換効率劣化を補正することができる。また、電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂ及び電流量劣化補正演算部２２２を設けることによって、画素回路６００〜６０８の駆動電流の減少に関する補正を行うことができる。このとき、変換効率劣化量の積算に用いられる効率劣化換算係数及び電流減少量の積算に用いる減少量換算係数は、ダミー画素回路６０９を複数レベルの階調値で発光し、その発光によるダミー画素回路６０９の劣化を測定し求めている。これにより、表示装置１００の実際の使用状況を反映した精度の高い焼き付き補正処理を行うことができる。
【００６５】
なお、ここでは、映像信号を１分間隔で取得し、画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別電流減少量積算部２１３に保持される情報を更新するとしたが、本発明はこれに限定されない。映像信号を取得する間隔は、適宜決めることができる。例えば、補正された映像信号を１０分間隔で取得し、その取得した映像信号によって１０分間発光するものと想定して変換効率劣化情報を更新するようにしてもよい。このように変換効率劣化情報の更新間隔を比較的長くすることにより、演算量をさらに軽減することができる。また、取得間隔を短くすることにより、さらに精度よく情報を更新することも考えられる。また、変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａ及び電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂによる補正パターンの更新周期は、画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別電流減少量積算部２１３に保持されている情報の更新周期と同じでなくてもよい。輝度が画素回路ごとにバラついたとしても、画素回路の劣化はゆっくり進行するので、変換効率劣化補正パターン及び電流量劣化補正パターンは、急激に異なるパターンに更新されるものではない。そこで、例えば、変換効率劣化情報及び電流量減少情報を１時間間隔で取得し、その取得した情報に基づいて補正パターンを１時間間隔で更新するなどにより、演算量を軽減することが考えられる。
【００６６】
［劣化特性情報生成部の構成例］
次に、劣化特性情報生成部２５０の構成例について説明する。劣化特性情報生成部２５０では、ダミー画素回路６０９を用いて画素回路の劣化特性を求める。図７は、劣化特性情報生成部の機能構成の一例を示した図である。
【００６７】
劣化特性情報生成部２５０は、測定部２５１、測定情報保持部２５２、階調劣化特性算出部２５３、階調劣化情報保持部２５４、変換効率劣化値算出部２５５、変換効率劣化特性保持部２５６、電流量劣化値算出部２５７及び電流量劣化特性保持部２５８を有する。
【００６８】
図７の構成例では、ダミー画素回路６０９は、ダミー画素回路（非発光）６０９ａと、ダミー画素回路（発光）６０９ｂとを有する。ダミー画素回路（非発光）６０９ａとダミー画素回路（発光）６０９ｂとは、画素回路を構成する素子、回路等が同じであるとし、その画素回路の劣化に関する特性は同様であるとする。ここで、ダミー画素回路（非発光）６０９ａは、測定部２５１による輝度の測定期間を除き、非発光の状態で駆動させる。一方、ダミー画素回路（発光）６０９ｂは、測定部２５１による輝度の測定期間を除き、所定の階調値を設定して駆動させる。このため、初期状態においては、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂの画素特性は同じであるが、時間の経過とともに劣化の進行状況が異なってくる。ダミー画素回路（非発光）６０９ａは、時間が経過しても画素回路の駆動に起因する劣化の度合いが非常に小さく、ダミー画素回路（発光）６０９ｂが初期状態のときと同じであると見なすことができる。これに対し、ダミー画素回路（発光）６０９ｂは、所定の階調値で駆動するため、時間の経過とともに劣化が進む。したがって、ダミー画素回路（非発光）６０９ａについての測定情報は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの初期状態の測定情報と見なすことができる。そこで、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報と、ダミー画素回路（非発光）６０９ａの測定情報を比較することにより、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの初期状態からの劣化量を算出する。このように、同じ環境下にある非発光画素回路と発光画素回路とを比較して劣化量を算出することにより、表示部の温度変化等が劣化値に与える影響を考慮する必要がなくなり、容易に劣化値を求めることができる。なお、測定部２５１による測定時間は、ダミー画素回路６０９ａ，６０９ｂの駆動時間全体と比較して非常に短いので、測定がダミー画素回路６０９ａ，６０９ｂの劣化に与える影響は無視することができる。
【００６９】
また、図７の構成例では、ダミー画素回路（非発光）６０９ａとダミー画素回路（発光）６０９ｂとを設けるとしたが、ダミー画素回路（非発光）６０９ａを設けない構成とすることもできる。この場合は、ダミー画素回路の初期状態の階調値と輝度値との関係を予め測定情報保持部２５２に保持しておき、ダミー画素回路（非発光）６０９ａの測定値と同様に利用する。以下では、ダミー画素回路（非発光）６０９ａを有する構成の場合について説明する。
【００７０】
測定部２５１は、更新周期になると、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂのそれぞれに対し、複数レベルの階調値を設定し、それぞれの階調値を設定したときの発光素子の輝度を測定する。ここでダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂに設定される階調値は、映像信号の階調値に依らない、予め設定された階調値パターン等とする。そして、測定した輝度値を階調値に対応付けた測定情報を生成し、測定情報保持部２５２に供給する。測定情報保持部２５２には、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報が供給される。以下、ダミー画素回路（非発光）６０９ａの測定情報を測定情報（非発光）、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報を測定情報（発光）とする。
【００７１】
測定情報保持部２５２は、測定部２５１から供給されたダミー画素回路（非発光）６０９ａの測定情報（非発光）と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報（発光）と、を保持する。保持している測定情報（非発光）及び測定情報（発光）は、階調劣化特性算出部２５３に供給する。
【００７２】
階調劣化特性算出部２５３は、測定情報（発光）と測定情報（非発光）を取得して比較し、同一の輝度となるダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値とを対応付け、階調劣化情報を生成する。画素回路の劣化により、初期状態と同じ階調値を設定しても輝度は低下する。そこで、劣化が進行しているダミー画素回路（発光）６０９ｂがある階調値を設定したときに得られる輝度が、初期状態のダミー画素回路（非発光）６０９ａではどの程度の階調値で得られるのかを算出する。算出された初期状態における階調値は、測定時の画素回路に設定した入力階調値を初期状態の階調値に換算した階調値であるので、以下の説明では換算階調値と呼ぶ。画素回路の駆動時間が多くなるほど、変換効率劣化及び電流量劣化が進み、画素回路に設定した入力階調値に対応する換算階調値は小さくなる。このように、階調値に基づいて画素回路の劣化状況を表わす特性を階調劣化特性と呼ぶこととする。階調劣化特性算出部２５３は、例えば、ダミー画素回路（発光）６０９ｂについてある階調値に対する輝度を測定情報（発光）から抽出し、その輝度に対応するダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値を測定情報（非発光）に基づいて算出する。算出したダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値を換算階調値と見なす。こうして、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値と、このときの輝度に対応する換算階調値とを対応付けた階調劣化情報を生成する。生成した階調劣化情報は、階調劣化情報保持部２５４に供給する。
【００７３】
階調劣化情報保持部２５４は、階調劣化特性算出部２５３が生成した階調劣化情報を保持し、変換効率劣化値算出部２５５及び電流量劣化値算出部２５７に供給する。
【００７４】
図８は、階調劣化特性の算出処理の一例を示した図である。図８の縦軸は測定された輝度値、横軸はダミー画素回路に設定された階調値を示している。
【００７５】
画素特性曲線（初期）７１０は、ダミー画素回路（非発光）６０９ａについて測定した階調値と輝度値との関係を示している。ダミー画素回路（非発光）６０９ａについては、画素回路は劣化していない初期状態と同等であると見なす。なお、画素特性曲線（初期）７１０は、測定値を用いるのではなく、予め画素回路の初期状態における初期値として、予め装置内に保持しておくとしてもよい。この画素特性曲線（初期）７１０は、式（１）によって表わすことができる。なお、式（１）では、輝度値Ｌは、変換効率と駆動電流によって表わされているが、ここでは駆動電流の代わりに階調値を用いて表わす。すると、式（１）は、以下のように表わすことができる。
Ｌ＝Ａ×入力階調値2.2 ・・・（５）
ここで、Ｌ、Ａは、式（１）と同様である。また、２．２は、初期特性として一般的に設定される値である。
【００７６】
画素特性曲線（劣化）７２０は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂについて測定した階調値と輝度値との関係を示している。ダミー画素回路（発光）６０９ｂは、所定の階調値で駆動させているので劣化が生じている。この画素特性曲線（劣化）７２０は、式（２）によって表わされるが、上記と同様に階調値を用いて表わすことができる。
Ｌｄ＝Ａｄ×（入力階調値―Δ階調）2.2 ・・・（６）
【００７７】
ここで、Ｌｄ，Ａｄは式（２）と同様である。また、Δ階調は、駆動電流の減少量ΔＳに相当する階調値の減少量である。
【００７８】
階調劣化特性算出部２５３では、画素特性曲線（劣化）７２０と、画素特性曲線（初期）７１０の同一輝度となる階調値を抽出し、対応付ける。例えば、測定情報（発光）に基づき、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値ａ１に対応する輝度を抽出する。そして、この輝度に対応するダミー画素回路（非発光）６０９ａの換算階調値ａ’１を算出する。例えば、初期状態の変換効率Ａを既知とすれば、式（５）から、換算階調値は、換算階調値＝（Ｌ／Ａ）1/2.2によって算出することができる。同様にして、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値ａ２，ａ３と同一の輝度となるダミー画素回路（非発光）６０９ａの換算階調値ａ’２，ａ’３を算出する。そして、ａ１とａ’１、ａ２とａ’２、ａ３とａ’３とを対応付け、階調劣化情報として階調劣化情報保持部２５４に供給する。階調劣化情報保持部２５４は、取得した階調劣化情報を保持する。
【００７９】
図７に戻って説明する。
【００８０】
変換効率劣化値算出部２５５は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報に基づき、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの変換効率劣化値を算出する。そして、算出した変換効率劣化値と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂを測定した測定時間の初期状態からの経過時間とに応じて、変換効率劣化特性情報を更新する。変換効率劣化情報は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂを所定の階調値で駆動したとき、初期状態からの変換効率の劣化の度合いを初期状態からの経過時間に対応付けた情報である。
【００８１】
変換効率劣化特性保持部２５６は、変換効率劣化値算出部２５５が適宜更新する変換効率劣化特性情報を保持する。
【００８２】
電流量劣化値算出部２５７は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報に基づき、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの電流量劣化値を算出する。そして、算出した電流量劣化値と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂを測定した測定時間の初期状態からの経過時間とに応じて、電流量劣化特性情報を更新する。電流量劣化特性情報は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂを所定の階調値で駆動したとき、初期状態からの駆動電流の電流量の劣化の度合いを初期状態からの経過時間に対応付けた情報である。
【００８３】
電流量劣化特性保持部２５８は、電流量劣化値算出部２５７が適宜更新する電流量劣化特性情報を保持する。
【００８４】
変換効率劣化値及び電流量劣化値の算出処理について説明する。図９は、階調劣化情報の一例とその階調劣化特性線を示した図である。（ａ）は、階調劣化情報であり、（ｂ）は階調劣化特性グラフである。
【００８５】
（ａ）階調劣化情報に示した階調劣化情報７４０は、階調劣化特性算出部２５３が上記の手順によって算出した同じ輝度を発生させるダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値と、ダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値とを対応付けたものである。階調劣化情報７４０では、ダミー画素回路（発光）６０９ｂに設定した階調値を入力階調値とし、対応するダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値を換算階調値としている。階調劣化情報７４０は、例えば、測定時のダミー画素回路（発光）６０９ｂに入力階調値「１０００」を設定したときに得られる輝度は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂが初期状態のとき、換算階調値「８２０」を設定したときに得られる輝度と同じであることを示している。他の入力階調値についても同様である。
【００８６】
（ｂ）階調劣化特性グラフは、（ａ）階調劣化情報に示した入力階調値と換算階調値をプロットしたグラフである。横軸は入力階調値、縦軸は換算階調値を示している。このときの入力階調値と換算階調値との関係は直線で近似することができる。これを階調劣化特性近似直線７４１と呼ぶこととする。ここでは、階調劣化特性近似直線７４１は、傾きがｂ、切片がｃの直線とする。
【００８７】
ここで、階調劣化特性近似直線７４１の傾きｂ及び切片ｃが、画素回路の劣化状況の何を表わすのかについて説明する。入力階調値を設定したときのダミー画素回路（発光）６０９ｂの輝度は、式（６）によって、Ａｄ×（入力階調値−Δ階調）2.2と、表わすことができる。一方、これと同じ輝度を発生させる換算階調値を設定したときのダミー画素回路（非発光）６０９ａの輝度は、式（５）によって、Ａ×換算階調値2.2と、表わすことができる。この輝度が一致することから、次の式が得られる。
Ａｄ×（入力階調値−Δ階調）2.2＝Ａ×換算階調値2.2 ・・・（７）
【００８８】
これを整理すると、換算階調値は、次の式で表わすことができる。
換算階調値＝（Ａｄ／Ａ）1/2.2（入力階調値−Δ階調） ・・・（８）
【００８９】
ここで、図９（ｂ）に示した階調劣化特性近似直線７４１は、次のように表わすことができる。
換算階調値＝ｂ×入力階調値−ｃ ・・・（９）
【００９０】
式（８）及び式（９）から、Ａｄ／Ａ及びΔ階調は、ｂとｃを用いて次のように表わすことができる。以下の説明では、Ａｄ／ＡをΔ傾きとする。
Δ傾き＝Ａｄ／Ａ＝ｂ2.2、 Δ階調＝ｃ／ｂ ・・・（１０）
【００９１】
式（４）に示したようにΔ傾きは、変換効率劣化値に相当する。また、式（６）に示したように、Δ階調は電流量劣化値に相当する。このように、図９に示した階調劣化情報及び階調劣化特性に基づいて、劣化特性情報生成部２５０は、変換効率劣化値と電流量劣化値とを算出することができる。このように、劣化特性情報生成部２５０は、実際にダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂを用いて実測した輝度に基づいて変換効率劣化値及び電流量劣化値を算出するので、精度の高い値を得ることができる。なお、ダミー画素回路（非発光）６０９ａを用いない構成とした場合にも、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの実測値に基づいて変換効率劣化値及び電流量劣化値を算出することができる。
【００９２】
以下、上記の構成の焼き付き補正部２００における変換効率劣化特性及び電流量劣化特性の生成例について、図面を参照して説明する。
【００９３】
［階調劣化情報の生成例］
図１０は、階調劣化情報の生成例を示した図である。図１０は、測定部２５１が測定した測定値に基づいて、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報（階調値２００）７４２が生成されるまでの流れを模式的に説明している。ここでは、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂの２つのダミー画素回路を用いて測定を行う場合について説明する。
【００９４】
測定部２５１は、所定の更新周期で、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂに対し、予め決められた複数レベルの階調値を設定し、そのときの輝度を測定する。測定時の初期状態からの経過時間をｔ時間とする。測定した輝度値は、階調値に対応付けて測定情報に登録し、測定情報保持部２５２に供給する。これにより、測定情報保持部２５２は、ダミー画素回路（非発光）６０９ａについて測定した測定情報（非発光）７３１と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂについて測定した測定情報（発光ｔ時間）７３２と、を保持する。ダミー画素回路（非発光）６０９ａは、非発光の状態を継続するため、発光に伴う画素回路の劣化が生じておらず、初期状態と見なすことができる。測定情報（非発光）７３１の例では、階調値「８００」に対し輝度値「８００」、階調値「６００」に対し輝度値「６００」、階調値「４００」に対し輝度値「４００」及び階調値「２００」に対し輝度値「２００」というように、輝度劣化が生じていない測定情報が得られる。これに対し、ｔ時間連続して所定の輝度（ここでは階調値「２００」とする）で発光させているダミー画素回路（発光）６０９ｂには、発光に伴う劣化が生じている。測定情報（発光ｔ時間）７３２の例では、階調値「８００」に対し輝度値「６０９」、階調値「６００」に対し輝度値「３３１」、階調値「４００」に対し輝度値「１３５」及び階調値「２００」に対し輝度値「２９」というように、輝度劣化が生じている。なお、ダミー画素回路（非発光）６０９ａを備えていないときは、測定情報（非発光）７３１には、予め初期状態における測定情報を登録しておく。
【００９５】
階調劣化特性算出部２５３は、測定情報保持部２５２が保持する測定情報（非発光）７３１と、測定情報（発光ｔ時間）７３２とを読み出し、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの入力階調値と、同じ輝度を発生させるダミー画素回路（非発光）６０９ａの換算階調値を算出する。例えば、測定情報（発光ｔ時）７３２から、入力階調値が「８００」のときの輝度値「６０９」を抽出する。そして、測定情報（非発光）７３１に基づいて、輝度値「６０９」を得る換算階調値を求める。ダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値と輝度値とは、例えば、式（５）の関係を有するとして、換算階調値を求める。図１０の例では、入力階調値「８００」に対し、換算階調値「６２４」が算出されるとしている。同様に、入力階調値「６００」、「４００」、「２００」について同様の演算を行い、換算階調値「４２８」、「２３０」、「３３」を算出する。入力階調値と、算出した換算階調値とを対応付けて階調劣化情報（階調値２００）７４２を生成し、階調劣化情報保持部２５４に供給する。階調劣化情報保持部２５４は、この階調劣化情報（階調値２００）７４２を保持し、変換効率劣化値算出部２５５及び電流量劣化値算出部２５７に供給する。
【００９６】
なお、上記の説明では、ダミー画素回路（発光）６０９ｂを階調値「２００」で駆動するとしたが、階調値はこれに限定されない。また、必要であれば、複数のダミー画素回路（発光）を用意し、複数の階調値について同様の測定情報を得る構成としてもよい。
【００９７】
［変換効率劣化特性及び電流量劣化特性の生成例］
図１１は、変換効率劣化特性情報及び電流量劣化特性情報の生成例を示した図である。図１１は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報（階調値２００）７４２に基づいて、変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１及び電流量劣化特性情報（階調値２００）７５２が生成されるまでの流れを模式的に説明している。
【００９８】
階調劣化情報保持部２５４は、図１０に示した処理によって階調劣化特性算出部２５３が生成した階調劣化情報（階調値２００）７４２を保持する。
【００９９】
変換効率劣化値算出部２５５は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報（階調値２００）７４２を用いて、変換効率劣化値を算出する。例えば、階調劣化情報（階調２００）７４２の入力階調値と換算階調値との相関関係に基づき、階調劣化特性を直線近似したときの近似直線の傾きを算出する。例えば、複数点の入力階調値から入力階調値の変化量と、その入力階調値に対応する換算階調値の変化量を算出し、入力階調値の変化量に対する換算階調値の変化量の割合を算出して階調劣化特性の近似直線の傾きを算出する。そして、式（１０）を用いて、階調劣化特性の近似直線の傾きからΔ傾き（変換効率劣化値）を算出する。算出した変換効率劣化値と、経過時間（ここではｔ時間）とに基づいて、変換効率劣化特性保持部２５６が保持する変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１を更新する。変換効率劣化特性保持部２５６には、予め変換効率劣化のマスタカーブとして、所定の階調値（図１１の例では「２００」）で画素回路を駆動したときの、初期状態からの経過時間と、その時点の予測変換効率劣化値とを対応付けた変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１を保持しておく。なお、予測変換効率劣化値は、所定の画素回路を用いて予め測定した測定データであってもよい。変換効率劣化値算出部２５５では、算出した変換効率劣化値を用いて変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１に設定されているマスタカーブを補正し、経過時間に応じた変換効率劣化値を更新する。
【０１００】
電流量劣化値算出部２５７は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報（階調値２００）７４２を用いて、変換効率劣化値を算出する。例えば、階調劣化情報（階調２００）７４２の入力階調値と換算階調値との相関関係に基づき、階調劣化特性を直線近似したときの近似直線の切片を算出する。例えば、変換効率劣化値算出部２５５が算出した近似直線の傾きと、階調劣化情報（階調値２００）７４２の値から切片の値を求める。そして、式（１０）を用いて、近似直線の傾きと切片の値からΔ階調（電流量劣化値）を算出する。算出した電流量劣化値と、経過時間（ここではｔ時間）とに基づいて、電流量劣化特性保持部２５８が保持する電流量劣化特性情報（階調値２００）７５２を更新する。電流量劣化特性保持部２５８には、予め電流量劣化のマスタカーブとして、所定の階調値（図１１の例では「２００」）で画素回路を駆動したときの、初期状態からの経過時間と、その時点の予測電流量劣化値とを対応付けた電流量劣化特性情報（階調値２００）７５２を保持しておく。なお、予測電流量劣化値は、所定の画素回路を用いて予め測定した測定データであってもよい。電流量劣化値算出部２５７では、算出した電流量劣化値を用いて電流量劣化特性情報（階調値２００）７５２に設定されているマスタカーブを補正し、経過時間に応じた電流量劣化値を更新する。
【０１０１】
こうして、変換効率劣化特性保持部２５６が保持する変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１が表わす変換効率劣化のマスタカーブは、実測値に基づいて補正される。同様に、電流量劣化特性保持部２５８が保持する電流量劣化特性情報（階調値２００）７５２が表わす電流量劣化のマスタカーブも、実測値に基づいて補正される。このように、変換効率劣化のマスタカーブ及び電流量劣化のマスタカーブは、更新周期ごとに測定する劣化状況の実測値に基づいて更新されるので、焼き付き補正部２００は、精度の高いマスタカーブを保持することができる。さらに、高い精度のマスタカーブを用いて焼き付き補正を行うことにより、より精度の高い焼き付き補正が可能となる。
【０１０２】
上記の処理手順によって更新された変換効率劣化のマスタカーブ（変換効率劣化曲線）と、電流量劣化のマスタカーブ（電流量劣化曲線）について説明する。図１２は、変換効率劣化曲線と電流量劣化曲線の一例を示した図である。（ａ）は変換効率劣化曲線の一例、（ｂ）は電流量劣化曲線の一例を示している。
【０１０３】
（ａ）変換効率劣化曲線の一例は、経過時間に応じた変換効率の劣化の度合いを階調値ごとに示している。図１２では、横軸は初期状態からの経過時間、縦軸はΔ傾き、をそれぞれ表わしている。変換効率劣化曲線（階調値１００）７５１ａは、画素回路を階調値１００で駆動させたときの経過時間と、Δ傾き（変換効率劣化値）との関係を表わしている。変換効率劣化曲線（階調値２００）７５１ｂは、画素回路を階調値２００で駆動させたときの経過時間と、Δ傾きとの関係を表わしている。変換効率劣化曲線（階調値４００）７５１ｃは、画素回路を階調値４００で駆動させたときの経過時間と、Δ傾きとの関係を表わしている。
【０１０４】
なお、変換効率劣化曲線（階調値１００）７５１ａ、変換効率劣化曲線（階調値２００）７５１ｂ、変換効率劣化曲線（階調値４００）７５１ｃには、相関関係がある。例えば、「階調値２００」において変換効率劣化値が所定の割合（例えば、１０パーセント）劣化するのに要する時間と、「階調値１００」において１０パーセント変換効率劣化値が同様に所定の割合劣化するのに要する時間と、には比例関係がある。したがって、１つの階調値の変換効率劣化特性情報をマスタカーブとして保持しておけば、他の階調値の変換効率劣化値を算出することができる。変換効率劣化特性保持部２５６に、例えば、変換効率劣曲線（階調値２００）７５１ｂを保持しておけば、他の階調値における変換効率劣化曲線の変換効率劣化値を算出することができる。
【０１０５】
（ｂ）電流量劣化曲線の一例は、経過時間に応じた駆動電流の電流量の劣化の度合いを階調値ごとに示している。図１２では、横軸は、初期状態からの経過時間、縦軸はΔ階調を表わしている。電流量劣化曲線（階調値１００）７５２ａは、画素回路を階調値１００で駆動させたときの経過時間と、電流量劣化値に相当するΔ階調値との関係を表わしている。電流量劣化曲線（階調値２００）７５２ｂは、画素回路を階調値２００で駆動させたときの経過時間と、Δ階調との関係を表わしている。電流量劣化曲線（階調値４００）７５２ｃは、画素回路を階調値４００で駆動させたときの経過時間と、Δ階調との関係を表わしている。
【０１０６】
なお、電流量劣化曲線（階調値１００）７５２ａ、電流量劣化曲線（階調値２００）７５２ｂ、電流量劣化曲線（階調値４００）７５２ｃは、相関関係がある。変換効率劣化曲線の場合と同様に、１つの階調値の電流量劣化特性情報をマスタカーブとして保持しておけば、他の階調値の電流量劣化値を算出することができる。例えば、電流量劣化曲線（階調値２００）７５２ｂをマスタカーブとして保持しておけば、階調値間の比例関係に基づいて、他の階調値における電流量劣化曲線の電流量劣化値を算出することができる。
【０１０７】
［変換効率劣化補正パターンの生成例］
図１３は、変換効率劣化補正パターンの生成例を示した図である。図１３は、変換効率劣化情報保持部２１１ａが保持する変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０に基づき、変換効率劣化補正パターン保持部２３１が保持する変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０が生成されるまでの流れを模式的に説明している。また、図１３では、図６に示した画素別変換効率劣化量積算部２１１及び画素別変換効率劣化値算出部２１２に加え、変換効率劣化情報を保持する記憶手段を変換効率劣化情報保持部２１１ａとして記載している。なお、便宜上、表示装置１００に備えられている画素回路を１〜ｍにより識別する。ここで、変換効率劣化補正パターンは、補正演算部２２０が映像信号の処理周期と同じ周期、またはそれよりも長い周期で生成することができる。これは、輝度が画素回路ごとにバラついたとしても、劣化はゆっくり進行するためである。例えば、変換効率劣化補正パターンを１時間間隔で更新することにより、焼き付き補正部２００の演算量を軽減することができる。しかし、以下では、補正された映像信号の階調値が画素回路に出力されるごとに変換効率劣化補正パターンを更新する場合について説明する。
【０１０８】
画素別変換効率劣化量積算部２１１は、変換効率劣化情報保持部２１１ａに保持されている変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０を、画素回路１〜ｍの変換効率の新たな劣化量を加算することによって更新する。ここで、変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０とは、例えば、画素１〜ｍの変換効率劣化の量を、特定の階調値における発光時間に換算した値である。画素別変換効率劣化量積算部２１１は、例えば、補正演算部２２０から供給された補正後の映像信号の階調値に基づいて、画素回路１〜ｍの変換効率の新たな劣化に関する情報を、効率劣化換算係数を用いて算出する。ここで、効率劣化換算係数とは、例えば、時間の経過に応じた発光素子６４０の変換効率の劣化量を、発光時間及び発光時における階調に基づいて算出するための係数である。効率劣化換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成した変換効率劣化特性情報（階調値２００）７５１に基づき、変換効率の劣化量算出の前に求めておく。
【０１０９】
変換効率劣化情報保持部２１１ａは、画素別変換効率劣化量積算部２１１が供給する画素回路１〜ｍの輝度の変換効率の劣化に関する変換効率劣化情報を画素回路ごとに保持する。変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０は、変換効率劣化情報として、ｎ−１（ｎは２以上の整数）回目の更新周期の表示に基づいて変換効率劣化情報保持部２１１ａに保持されている。この変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０は、ｎ回目の更新周期の表示を補正する変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０を生成するために用いられる。変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０の左欄には画素回路の番号である画素番号、右欄にはその画素回路の変換効率劣化情報（劣化情報）が保持されている。例えば、ここでは、変換効率劣化値を、階調値２００の発光時間（経過時間）に換算した値とする。例えば、画素番号「ｉ」に対応する変換効率劣化情報として「１６０」時間が保持され、画素番号「１」、「２」、「ｍ」に対応する変換効率劣化情報として「１００」時間が保持されている。
【０１１０】
このような変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０が変換効率劣化情報保持部２１１ａに保持されている状態で、画素別変換効率劣化値算出部２１２は、ｎ回目の変換効率劣化補正パターンを更新する。まず、補正対象となる画素回路に関する変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０を取得し、この画素回路の変換効率を算出し、対象変換効率値とする。例えば、画素番号「１」の対象変換効率値が画素別変換効率劣化値算出部２１２に供給される過程について説明する。まず、画素別変換効率劣化値算出部２１２は、変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０から画素番号「１」の劣化情報「１００」を取得し、係数変換情報を用いて変換効率を算出する。係数変換情報は、予め保持しているとする。そして、算出した画素番号「１」の画素回路の変換効率と、補正の基準となる基準効率劣化値から、この画素回路の変換効率劣化値を算出し、変換効率劣化補正パターン保持部２３１に供給する。これにより、変換効率劣化補正パターン（ｎ）のｃ１に対応する変換効率劣化値が変換効率劣化補正パターン保持部２３１に保持される。
【０１１１】
こうして、変換効率劣化補正パターン保持部２３１に保持される変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０について説明する。
【０１１２】
変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０は、画素別変換効率劣化値算出部２１２により生成される変換効率劣化補正パターンを模式的に示すものである。図１３の例では、画素別変換効率劣化値算出部２１２により生成された画素回路ごとの変換効率劣化値を、表示画面を構成する画素の配置に合わせて配置した場合に終える変換効率劣化パターンを模式的に表わしている。具体的には、変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０は、変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０に基づいて生成された変換効率劣化値により構成される補正パターンの一例であり、ｎ回目の更新周期（１分間）の間に表示される各フレームに関する映像信号の階調値を補正するための補正パターンである。
【０１１３】
この変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０における変換効率劣化値ｃ１は、変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０において示した画素番号「１」に対応する画素回路を補正するための変換効率劣化値である。また、変換効率劣化値ｃ２，ｃｉ及びｃｍも変換効率劣化値ｃ１と同様に、変換効率劣化情報（ｎ−１）７６０において示した画素番号「２」、「ｉ」及び「ｍ」に対応する画素回路に供給される映像信号の階調値を補正するための変換効率劣化値である。
【０１１４】
補正演算部２２０では、変換効率劣化補正演算部２２１が、この変換効率劣化補正パターン（ｎ）７７０に基づいて映像信号の階調値を補正する。例えば、画素番号「ｉ」の画素回路の変換効率劣化値ｃｉは、他の画素番号「１」、「２」及び「ｍ」の変換効率劣化値ｃ１、ｃ２及びｃｍよりも大きいとする。この場合、変換効率劣化補正演算部２２１は、画素番号「ｉ」に対応する画素回路の映像信号の階調値の補正量（増分）は、他の画素番号「１」、「２」及び「ｍ」の画素回路の映像信号の階調値の補正量（増分）よりも大きくする。このように、階調値を補正することによって、焼き付きを補正することができる。
【０１１５】
以上説明したように、変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａによって、画素回路ごとの変換効率劣化値の度合いに応じてその画素回路で表示される映像信号の階調値を変更するための、変換効率劣化補正パターンが生成される。変換効率劣化補正パターンに、全ての画素回路について変換効率劣化値が設定されることによって、表示画面を構成する各画素の焼き付き補正を適切に行うことができる。
【０１１６】
［電流量劣化補正パターンの生成例］
次に、電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂによる電流量劣化補正パターンの生成例について説明する。図１４は、電流量劣化補正パターンの生成例を示した図である。図１４は、電流量減少情報保持部２１４ａが保持する電流量減少情報（ｎ−１）７８０に基づき、電流量劣化補正パターン保持部２３２が保持する電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０が生成されるまでの流れを模式的に説明している。また、図１４では、図６に示した画素別電流減少量積算部２１３及び画素別電流量劣化値算出部２１４に加え、電流量減少情報を保持する記憶手段を電流量減少情報保持部２１４ａとして記載している。なお、ここでは、図１３に示した変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａと同様に、表示装置１００に備えられている画素回路を、１〜ｍにより識別するものとする。また、補正された映像信号の階調値が画素回路に出力されるごとに電流量劣化補正パターンを更新する場合について説明する。
【０１１７】
電流量減少情報（ｎ−１）７８０は、電流量減少情報保持部２１４ａに保持される各画素回路の駆動電流の減少量を示す情報である。図１４に示す例では、電流量減少情報としてｎ−１回目の更新周期の間の表示に基づいて電流量減少情報保持部２１４ａに保持される電流量減少情報を示す。この電流量減少情報（ｎ−１）７８０は、ｎ回目の更新周期の表示を補正する電流量減少補正パターン（ｎ）を生成するために用いられる。電流量減少情報（ｎ−１）７８０の左欄には画素回路の番号である画素番号、右欄にはその画素回路の電流量の減少情報が保持されている。
【０１１８】
画素別電流減少量積算部２１３は、電流量減少情報保持部２１４ａに保持されている電流量減少情報（ｎ−１）７８０に、画素回路１〜ｍの新たな駆動電流の減少量を加算することによって各画素回路の駆動電流減少量を更新する。ここで、電流量減少情報（ｎ−１）７８０とは、例えば、画素１〜ｍの駆動電流の減少量を、特定の階調値における発光時間に換算した値である。画素別電流量劣化値算出部２１４は、例えば、補正演算部２２０から供給された補正後の映像信号の階調値に基づいて、画素回路１〜ｍの駆動電流の新たな減少量に関する情報を、減少量換算係数を用いて算出する。ここで、減少量換算係数とは、例えば、時間の経過に応じた発光素子６４０の駆動電流の減少量を、発光時間及び発光時の設定した階調値に基づいて算出するための係数である。減少量換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成した電流量劣化特性情報（階調２００）７５２に基づいて算出することができる。電流量劣化特性情報（階調２００）７５２には、階調２００で画素回路を駆動したときの経過時間に応じた電流量劣化値がマスタカーブとして登録されている。このマスタカーブに基づいて、対象画素回路の発光時間と発光時の階調値とに応じた駆動電流減少量を算出する。
【０１１９】
電流量減少情報保持部２１４ａは、画素別電流減少量積算部２１３が供給する画素回路１〜ｍの駆動電流減少量に関する電流量減少情報を画素回路ごとに保持する。電流量減少情報（ｎ−１）７８０は、ｎ−１回目の更新周期の表示に基づいて電流量減少情報保持部２１４ａに保持されている。
【０１２０】
このような電流量減少情報（ｎ−１）７８０が電流量減少情報保持部２１４ａに保持されている状態で、画素別電流量劣化値算出部２１４は、ｎ回目の電流量劣化補正パターンを更新する。まず、補正対象となる画素回路に関する電流量減少情報を取得し、この画素回路の新たな駆動電流の減少量を算出し、対象電流量減少値とする。例えば、画素番号「１」の対象電流量減少値が画素別電流量劣化値算出部２１４に供給される過程について説明する。まず、画素別電流量劣化値算出部２１４は、電流量減少情報（ｎ−１）７８０から画素番号「１」の減少情報「１００」を取得し、係数変換情報を用いて電流減少値を算出する。係数変換情報は、予め保持しているとする。そして、算出した画素番号「１」の画素回路の電流減少値と、補正の基準となる基準電流減少値から、この画素回路の電流量劣化値を算出し、電流量劣化補正パターン保持部２３２に供給する。これにより、電流量劣化補正パターン（ｎ）のｃ１に対応する電流量劣化値が電流量劣化補正パターン保持部２３２に保持される。
【０１２１】
こうして、電流量劣化補正パターン保持部２３２に保持される電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０について説明する。
【０１２２】
電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０は、画素別電流量劣化値算出部２１４により生成される電流量劣化補正パターンを模式的に示すものである。図１４の例では、画素別電流量劣化値算出部２１４により生成された画素回路ごとの電流量劣化値を、表示画面を構成する画素の配置に合わせて配置した場合における電流量劣化補正パターンを模式的に表わしている。具体的には、電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０は、電流量減少情報（ｎ−１）７８０に基づいて生成された電流量劣化値により構成される補正パターンの一例であり、ｎ回目の処理期間に表示される各フレームに関する映像信号の階調値を補正するための補正パターンである。
【０１２３】
この電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０における電流量劣化値ｊ１は、電流量減少情報（ｎ−１）７８０において示した画素番号「１」に対応する画素回路を補正するための電流量劣化値である。また、電流量劣化値ｊ２，ｊｉ及びｊｍも電流量劣化値ｊ１と同様に、電流量減少情報（ｎ−１）７８０において示した画素番号「２」、「ｉ」及び「ｍ」に対応する画素回路に供給される映像信号の階調値を補正するための電流量劣化値である。
【０１２４】
補正演算部２２０では、電流量劣化補正演算部２２２が、この電流量劣化補正パターン（ｎ）７９０に基づいて映像信号の階調値を補正する。例えば、画素番号「ｉ」の画素回路の電流量劣化値ｊｉは、他の画素番号「１」、「２」及び「ｍ」よりも電流量劣化値ｊ１、ｊ２及びｊｍよりも大きいとする。この場合、電流量劣化補正演算部２２２は、画素番号「ｉ」に対応する画素回路の映像信号の階調値の補正量（増分）は、他の画素番号「１」、「２」及び「ｍ」の画素回路の映像信号の階調値の補正量（増分）よりも大きくする。このように、階調値を補正することによって、焼き付きを補正することができる。
【０１２５】
以上説明したように、電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂによって、画素回路ごとの駆動電流の減少量の度合いに応じてその画素回路で表示される映像信号の階調値を変更するための、電流量劣化補正パターンが生成される。電流量劣化補正パターンに、全ての画素回路について電流量劣化値が設定されることによって、表示画面を構成する各画素の焼き付き補正を適切に行うことができる。
【０１２６】
［焼き付き補正部の動作例］
次に、焼き付き補正部２００の動作について図面を参照して説明する。図１５は、焼き付き補正部の焼き付き補正処理の手順例を示したフローチャートである。なお、図１５の例では、映像信号の処理周期と同じ周期で補正パターンの生成処理が行われるとする。また、劣化特性情報の生成処理は、映像信号の処理周期の整数倍の更新周期で行うとする。
【０１２７】
映像信号の処理周期で、焼き付き補正部２００が起動される。
【０１２８】
［ステップＳ０１］ 劣化特性情報生成部２５０は、劣化特性情報の更新周期に到達したかどうかを判定する。更新周期であれば、処理をステップＳ０２に進める。更新周期でなければ、処理をステップＳ０３に進める。
【０１２９】
［ステップＳ０２］ 劣化特性情報生成部２５０は、劣化特性情報の更新周期であれば、ダミー画素回路６０９を用いて、ダミー画素回路６０９に関する劣化特性情報を生成する。劣化特性には、駆動電流を輝度に変換する変換効率劣化と、駆動電流が減少する電流量劣化とがある。劣化特性情報生成部２５０は、変換効率劣化に関する変換効率劣化情報と、電流量劣化に関する電流量劣化特性情報と、それぞれの劣化値を算出する。処理の詳細は後述する。
【０１３０】
［ステップＳ０３］ 変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａ及び電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂは、前回の映像信号の処理周期で補正演算部２２０から出力された補正された映像信号の階調値を取得し、それぞれの処理を開始する。
【０１３１】
［ステップＳ０４］ 変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａの画素別変換効率劣化量積算部２１１は、補正された映像信号の階調値を用いて、変換効率の新たな劣化量を算出し、変換効率劣化情報を更新する。例えば、補正された映像信号の階調値と、効率劣化換算係数とを用いて、前回の処理周期から今回の周期までの経過時間における画素回路の新たな変換効率劣化量を算出する。ここで、効率劣化換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成した変換効率劣化特性情報に基づいて予め算出しておく。そして新たに算出した変換効率劣化量を対象画素回路の変換効率劣化情報に加算し、変換効率劣化情報を更新する。
【０１３２】
［ステップＳ０５］ 変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａの画素別変換効率劣化値算出部２１２は、画素別変換効率劣化量積算部２１１によって更新された変換効率劣化情報に基づき、各画素の変換効率劣化補正パターンを生成し、変換効率劣化補正パターン保持部２３１に格納する。
【０１３３】
［ステップＳ０６］ 電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂの画素別電流減少量積算部２１３は、補正された映像信号の階調値を用いて、駆動電流の新たな減少量を算出し、電流量減少情報を更新する。例えば、補正された映像信号の階調値と、減少量換算係数とを用いて、前回の処理周期から今回の周期までの経過時間における画素回路の新たな駆動電流の減少量を算出する。ここで、減少量換算係数は、劣化特性情報生成部２５０が生成した電流量劣化特性情報に基づいて算出しておく。そして、新たに算出した駆動電流の減少量を対象画素回路の電流量減少情報に加算し、電流量減少情報を更新する。
【０１３４】
［ステップＳ０７］ 電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂの画素別電流量劣化値算出部２１４は、画素別電流減少量積算部２１３によって更新された電流量減少情報に基づき、各画素の電流量劣化補正パターンを生成し、電流量劣化補正パターン保持部２３２に格納する。
【０１３５】
［ステップＳ０８］ 補正演算部２２０は、変換効率劣化補正演算部２２１が、入力した映像信号の階調値を、変換効率劣化補正パターンを用いて補正する。そして、補正された映像信号の階調値を、電流量劣化補正演算部２２２が電流量劣化補正パターンを用いて補正する。
【０１３６】
以上の処理手順が実行されることにより、それぞれの画素回路について変換効率劣化補正パターンと電流量劣化補正パターンが生成され、変換効率劣化補正と、電流量劣化補正とが行われる。なお、上記のフローチャートでは、変換効率劣化補正パターン生成部２１０ａの処理の後、電流量劣化補正パターン生成部２１０ｂが処理を行うとしたが、双方の処理を並行して行わせるとしてもよい。
【０１３７】
［劣化特性情報生成部の動作例］
次に、焼き付き補正部２００の劣化特性情報生成部２５０の動作について図面を参照して説明する。図１６は、劣化特性情報生成部の劣化特性情報生成処理の手順例を示したフローチャートである。なお、図１６では、ダミー画素回路６０９が、非発光で駆動させるダミー画素回路（非発光）６０９ａと、所定の輝度で発光させて駆動させるダミー画素回路（発光）６０９ｂと、を有するとして説明する。
【０１３８】
［ステップＳ１０１］ 測定部２５１は、予め決められた階調値パターンに基づき、複数レベルの階調値をダミー画素回路（非発光）６０９ａに設定する。そして、各レベルの階調値を設定したときのダミー画素回路（非発光）６０９ａの輝度を測定し、階調値と対応付けて測定情報保持部２５２に供給する。測定情報保持部２５２は、供給されたダミー画素回路（非発光）６０９ａに対する測定情報を保持する。
【０１３９】
［ステップＳ１０２］ 測定部２５１は、予め決められた階調値パターンに基づき、複数レベルの階調値ダミー画素回路（発光）６０９ｂに設定する。ここでは、この階調値パターンは、ステップＳ１０１の階調値パターンと同じであるとする。そして、各レベルの階調値を設定したときのダミー画素回路（発光）６０９ｂの輝度を測定し、それぞれの階調値と対応付けて測定情報保持部２５２に供給する。測定情報保持部２５２は、ダミー画素回路（発光）６０９ｂに対する測定情報（発光）と、ステップＳ１０１で生成されたダミー画素回路（非発光）６０９ａに対する測定情報（非発光）と、を保持する。
【０１４０】
［ステップＳ１０３］ 測定部２５１は、測定処理の開始前にダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂに設定されていた元の階調値を設定する。ダミー画素回路（非発光）６０９ａは、非発光を設定する。ダミー画素回路（発光）６０９ｂは、予め決められた所定の階調値を設定する。このように、劣化しない初期状態と見なすことができるダミー画素回路（非発光）６０９ａと、所定の階調値で連続して駆動することによって劣化してゆくダミー画素回路（発光）６０９ｂそれぞれの測定情報を得ることができる。
【０１４１】
［ステップＳ１０４］ 階調劣化特性算出部２５３は、測定情報保持部２５２が保持するダミー画素回路（非発光）６０９ａの測定情報と、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報とに基づき、階調劣化特性を算出する。例えば、それぞれの画素回路の輝度と階調値との関係を表わす測定情報に基づき、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの階調値（入力階調値とする）と同じ輝度が得られるダミー画素回路（非発光）６０９ａの階調値（換算階調値とする）を算出する。算出した換算階調値を入力階調値に対応付け、階調劣化情報として階調劣化情報保持部２５４に供給する。階調劣化情報保持部２５４は、供給された階調劣化特性情報を保持する。
【０１４２】
［ステップＳ１０５］ 変換効率劣化値算出部２５５は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報に基づき、入力階調値と換算階調値との関係を近似直線で表わした階調劣化特性近似直線の傾きを算出する。そして、算出した傾きを式（１０）に適用し、Δ傾きを算出し、変換効率劣化値とする。
【０１４３】
［ステップＳ１０６］ 変換効率劣化値算出部２５５は、ステップＳ１０５で算出した変換効率劣化値を用いて変換効率劣化特性保持部２５６が保持する変換効率劣化特性情報のマスタカーブを補正し、変換効率劣化特性情報を更新する。
【０１４４】
［ステップＳ１０７］ 電流量劣化値算出部２５７は、階調劣化情報保持部２５４が保持する階調劣化情報に基づき、入力階調値と換算階調値との関係を近似直線で表わした階調劣化特性近似直線の切片を算出する。そして、算出した切片と、ステップＳ１０５で算出した階調劣化特性近似直線の傾きとを式（１０）に適用し、Δ階調を算出し、電流量劣化値とする。
【０１４５】
［ステップＳ１０８］ 電流量劣化値算出部２５７は、ステップＳ１０７で算出した電流量劣化値を用いて電流量劣化特性保持部２５８が保持する電流量劣化特性情報のマスタカーブを補正し、電流量劣化特性情報を更新する。
【０１４６】
以上の処理手順が実行されることにより、ダミー画素回路（非発光）６０９ａ及びダミー画素回路（発光）６０９ｂに対して複数レベルの階調値を設定して輝度値が測定される。それぞれについて測定された輝度値に基づいて、ダミー画素回路（発光）６０９ｂの入力階調値と同じ輝度を発生させるダミー画素回路（非発光）６０９ａの換算階調値が算出される。そして、入力階調値と換算階調値との相関関係を表わす階調劣化特性情報に基づいて、変換効率劣化特性情報及び電流量劣化特性情報が更新される。これにより、実際に測定した測定値に基づく、精度の高い変換効率劣化特性情報及び電流量劣化特性情報が得られる。また、精度の高い変換効率劣化特性情報及び電流量劣化特性情報に基づいて、映像信号の階調値を補正することにより、焼き付き補正を精度よく補正することが可能となる。
【０１４７】
なお、ダミー画素回路６０９が１つのときは、このダミー画素回路６０９をダミー画素回路（発光）６０９ｂとして用いる。また、ダミー画素回路（発光）６０９ｂが初期状態のときに階調値と輝度とを測定した測定情報を予め記憶しておく。そして、この初期状態の測定情報と、測定部２５１が測定したダミー画素回路（発光）６０９ｂの測定情報とを用いて、同様の処理を行う。
【０１４８】
以上説明した表示装置１００は、フラットパネル形状を有し、様々な電子機器、例えば、デジタルカメラ、ノート型パーソナルコンピュータ、携帯電話、ビデオカメラ等、電子機器に入力された、もしくは、電子機器内で生成した映像信号を画像もしくは映像として表示するあらゆる分野の電子機器のディスプレイに適用することが可能である。以下このような表示装置１００が適用された電子機器の例を示す。
【０１４９】
［電子機器への適用例］
図１７は、実施の形態の表示装置を備えたテレビジョンセットを示す斜視図である。図１７に示したテレビジョンセットは、フロントパネル１２、フィルターガラス１３等から構成される映像表示画面１１を含み、表示装置１００をその映像表示画面１１に用いることにより作製される。
【０１５０】
図１８は、実施の形態の表示装置を備えたデジタルスチルカメラを示す斜視図である。図１８は、上段がデジタルスチルカメラの正面図を示し、下段がデジタルスチルカメラの背面図を示す。図１８に示したデジタルスチルカメラは、撮像レンズ、フラッシュ用の発光部１５、表示部１６、コントロールスイッチ、メニュースイッチ、シャッター１９等を含み、実施の形態の表示装置１００をその表示部１６に用いることにより作製される。
【０１５１】
図１９は、実施の形態の表示装置を備えたノート型パーソナルコンピュータを示す斜視図である。図１９に示したノート型パーソナルコンピュータは、本体２０には文字等を入力するとき操作されるキーボード２１を含み、本体カバーには画像を表示する表示部２２を含み、実施の形態の表示装置１００をその表示部２２に用いることにより作製される。
【０１５２】
図２０は、実施の形態の表示装置を備えた携帯端末装置を示す模式図である。図２０では、左側に携帯端末装置が開いた状態を示し、右側に携帯端末装置が閉じた状態を示している。図２０に示した携帯端末装置は、上側筐体２３、下側筐体２４、連結部（ここではヒンジ部）２５、ディスプレイ２６、サブディスプレイ２７、ピクチャーライト２８、カメラ２９等を含み、実施の形態の表示装置１００をそのディスプレイ２６やサブディスプレイ２７に用いることにより作製される。
【０１５３】
図２１は、実施の形態の表示装置を備えたビデオカメラを示す斜視図である。図２１に示したビデオカメラは、本体部３０、前方を向いた側面に被写体撮影用のレンズ３４、撮影時のスタート／ストップスイッチ３５、モニター３６等を含み、実施の形態の表示装置１００をそのモニター３６に用いることにより作製される。
【０１５４】
上記の電子機器によれば、特に、変換効率の劣化成分を高い精度で得ることができるので、焼き付きを精度よく解消することができる。
【０１５５】
なお、上記の処理機能は、コンピュータによって実現することができる。その場合、信号処理装置、表示装置及び電子機器が有すべき機能の処理内容を記述したプログラムが提供される。そのプログラムをコンピュータで実行することにより、上記処理機能がコンピュータ上で実現される。処理内容を記述したプログラムは、コンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録しておくことができる。コンピュータで読み取り可能な記録媒体としては、磁気記憶装置、光ディスク、光磁気記録媒体、半導体メモリなどがある。磁気記憶装置には、ハードディスク装置（ＨＤＤ）、フレキシブルディスク（ＦＤ）、磁気テープなどがある。光ディスクには、ＤＶＤ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ／ＲＷなどがある。光磁気記録媒体には、ＭＯ（Magneto-Optical disk）などがある。
【０１５６】
プログラムを流通させる場合には、例えば、そのプログラムが記録されたＤＶＤ、ＣＤ−ＲＯＭなどの可搬型記録媒体が販売される。また、プログラムをサーバコンピュータの記憶装置に格納しておき、ネットワークを介して、サーバコンピュータから他のコンピュータにそのプログラムを転送することもできる。
【０１５７】
プログラムを実行するコンピュータは、例えば、可搬型記録媒体に記録されたプログラムもしくはサーバコンピュータから転送されたプログラムを、自己の記憶装置に格納する。そして、コンピュータは、自己の記憶装置からプログラムを読み取り、プログラムに従った処理を実行する。なお、コンピュータは、可搬型記録媒体から直接プログラムを読み取り、そのプログラムに従った処理を実行することもできる。また、コンピュータは、ネットワークを介して接続されたサーバコンピュータからプログラムが転送されるごとに、逐次、受け取ったプログラムに従った処理を実行することもできる。
【０１５８】
また、上記の処理機能の少なくとも一部を、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、ＡＳＩＣ、ＰＬＤ（Programmable Logic Device）などの電子回路で実現することもできる。
【符号の説明】
【０１５９】
１００・・・表示装置、 ２００・・・焼き付き補正部、 ２１０・・・補正パターン生成部、 ２１０ａ・・・変換効率劣化補正パターン生成部、 ２１０ｂ・・・電流量劣化補正パターン生成部 ２１１・・・画素別変換効率劣化量積算部、 ２１２・・・画素別変換効率劣化値算出部、 ２１３・・・画素別電流減少量積算部、 ２１４・・・画素別電流量劣化値算出部、 ２２０・・・補正演算部、 ２２１・・・変換効率劣化補正演算部、 ２２２・・・電流量劣化補正演算部、 ２３０・・・補正パターン保持部、 ２３１・・・変換効率劣化補正パターン保持部、 ２３２・・・電流量劣化補正パターン保持部、 ２５０・・・劣化特性情報生成部、 ２５１・・・測定部、 ２５２・・・測定情報保持部、 ２５３・・・階調劣化特性算出部、 ２５４・・・階調劣化情報保持部、 ２５５・・・変換効率劣化値算出部、 ２５６・・・変換効率劣化特性保持部、 ２５７・・・電流量劣化値算出部、 ２５８・・・電流量劣化特性保持部、 ５００・・・画素アレイ部、 ６００・・・画素回路、 ６１０・・・書込みトランジスタ、 ６２０・・・駆動トランジスタ、 ６３０・・・保持容量、 ６４０・・・発光素子
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の更新時間ごとに、発光素子を有する所定の画素回路に対し、該発光素子の発光の度合いを指示する階調値を複数レベルに設定して実際の輝度を測定し、階調値と測定した輝度値とを対応付けた測定情報を生成する測定部と、
前記測定情報と、予め登録された前記所定の画素回路が補正の基準状態にあるときの階調値と輝度値との関係と、に基づいて、同一の輝度値が得られる測定時の階調値と前記補正の基準状態における階調値とを対応付けた階調劣化特性を算出する階調劣化特性算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の発光素子が階調値に応じて供給される駆動電流を輝度に変換する変換効率の劣化に関する変換効率劣化値を算出して該所定の画素回路に関する変換効率劣化特性情報を生成する変換効率劣化値算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の駆動電流の劣化に関する電流量劣化値を算出し、該所定の画素回路に関する電流量劣化特性情報を生成する電流量劣化値算出部と、
を有する信号処理装置。
【請求項２】
前記変換効率劣化値算出部は、前記階調劣化特性を直線で近似し、前記階調劣化特性の近似直線の傾きに基づいて前記変換効率劣化値を算出し、
前記電流量劣化値算出部は、前記階調劣化特性の近似直線の切片に基づいて前記電流量劣化値を算出する、
請求項１記載の信号処理装置。
【請求項３】
前記変換効率劣化値算出部は、前記所定の画素回路が前記補正の基準状態にあったときを起点として該所定の画素回路を一定の階調値で駆動したときに、前記補正の基準状態から累積した経過時間と、前記所定の更新時間における変換効率劣化値の予測値とを対応付けた変換効率劣化特性情報を予め変換効率劣化特性保持部に保持しておき、算出した前記変換効率劣化値に基づいて、前記変換効率劣化特性保持部に保持されている前記変換効率劣化特性情報を該変換効率劣化値に合わせて更新し、
前記電流量劣化値算出部は、該所定の画素回路が前記経過時間と、前記所定の更新時間における電流量劣化値の予測値とを対応付けた電流量劣化特性情報を予め電流量劣化特性保持部に保持しておき、算出した前記電流量劣化値に基づいて、前記電流量劣化特性保持部に保持されている前記電流量劣化特性情報を該電流量劣化値に合わせて更新する、
請求項１記載の信号処理装置。
【請求項４】
任意の大きさの階調値を設定して駆動させることができるダミー画素回路を有し、
前記測定部は、該ダミー画素回路を前記所定の画素回路として用いる、
請求項１記載の信号処理装置。
【請求項５】
前記測定部は、輝度を測定する期間を除いて第１の画素回路を所定の階調値を設定して駆動し、前記更新時間において設定した前記複数レベルの階調値に対応する輝度値を測定して第１の測定情報を生成し、
前記第１の画素回路と同じ構成の第２の画素回路を、前記輝度を測定する期間を除いて非発光で駆動し、前記更新時間において設定した前記複数レベルの階調値に対応する輝度値を測定して第２の測定情報を生成し、該第２の測定情報を前記第１の画素回路が前記補正の基準状態にあるときの階調値と輝度値と見なす、
請求項１記載の信号処理装置。
【請求項６】
少なくとも２つのダミー画素回路を有し、
前記測定部は、少なくとも１つの前記ダミー画素回路を、前記輝度を測定する期間を除いて前記所定の階調値で駆動する前記第１の画素回路として用い、
前記所定の階調値で駆動するダミー画素回路とは異なるダミー画素回路を、前記輝度を測定する期間を除いて非発光の状態で駆動する前記第２の画素回路として用いる、
請求項５記載の信号処理装置。
【請求項７】
所定の更新時間ごとに、発光素子を有する所定の画素回路に対し、該発光素子の発光の度合いを指示する階調値を複数レベルに設定して実際の輝度を測定し、階調値と測定した輝度値とを対応付けた測定情報を生成する手順と、
前記測定情報と、予め登録された前記所定の画素回路が補正の基準状態にあるときの輝度値と階調値との関係と、に基づいて、同一の輝度値が得られる測定時の階調値と前記補正の基準状態における階調値とを対応付けた階調劣化特性を算出する手順と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の発光素子が階調値に応じて供給される駆動電流を輝度に変換する変換効率の劣化に関する変換効率劣化値を算出して該所定の画素回路に関する変換効率劣化特性情報を生成する手順と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の駆動電流の劣化に関する電流量劣化値を算出し、該所定の画素回路に関する電流量劣化特性情報を生成する手順と、
を有する信号処理方法。
【請求項８】
それぞれが発光素子を有する複数の画素回路と、
所定の更新時間ごとに、発光素子を有する所定の画素回路に対し、該発光素子の発光の度合いを指示する階調値を複数レベルに設定して実際の輝度を測定し、階調値と測定した輝度値とを対応付けた測定情報を生成する測定部と、
前記測定情報と、予め登録された前記所定の画素回路が補正の基準状態にあるときの階調値と輝度値との関係と、に基づいて、同一の輝度値が得られる測定時の階調値と前記補正の基準状態における階調値とを対応付けた階調劣化特性を算出する階調劣化特性算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の発光素子が階調値に応じて供給される駆動電流を輝度に変換する変換効率の劣化に関する変換効率劣化値を算出して該所定の画素回路に関する変換効率劣化特性情報を生成する変換効率劣化値算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の駆動電流の劣化に関する電流量劣化値を算出し、該所定の画素回路に関する電流量劣化特性情報を生成する電流量劣化値算出部と、
前記変換効率劣化特性情報に基づき、前記複数の画素回路の変換効率劣化量を算出し、該変換効率劣化量に基づいて前記複数の画素回路に対して指示された映像信号の階調値を補正するとともに、前記電流量劣化特性情報に基づき、前記複数の画素回路の電流量劣化量を算出し、該電流量劣化量に基づいて、前記変換効率劣化量に基づく補正が施された映像信号の階調値を補正する補正演算部と、
を有する表示装置。
【請求項９】
それぞれが発光素子を有する複数の画素回路と、
所定の更新時間ごとに、発光素子を有する所定の画素回路に対し、該発光素子の発光の度合いを指示する階調値を複数レベルに設定して実際の輝度を測定し、階調値と測定した輝度値とを対応付けた測定情報を生成する測定部と、
前記測定情報と、予め登録された前記所定の画素回路が補正の基準状態にあるときの階調値と輝度値との関係と、に基づいて、同一の輝度値が得られる測定時の階調値と前記補正の基準状態における階調値とを対応付けた階調劣化特性を算出する階調劣化特性算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の発光素子が階調値に応じて供給される駆動電流を輝度に変換する変換効率の劣化に関する変換効率劣化値を算出して該所定の画素回路に関する変換効率劣化特性情報を生成する変換効率劣化値算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の駆動電流の劣化に関する電流量劣化値を算出し、該所定の画素回路に関する電流量劣化特性情報を生成する電流量劣化値算出部と、
前記変換効率劣化特性情報に基づき、前記複数の画素回路の変換効率劣化量を算出し、該変換効率劣化量に基づいて前記複数の画素回路に対して指示された映像信号の階調値を補正するとともに、前記電流量劣化特性情報に基づき、前記複数の画素回路の電流量劣化量を算出し、該電流量劣化量に基づいて、前記変換効率劣化量に基づく補正が施された映像信号の階調値を補正する補正演算部と、
を有する電子機器。
【請求項１】
所定の更新時間ごとに、発光素子を有する所定の画素回路に対し、該発光素子の発光の度合いを指示する階調値を複数レベルに設定して実際の輝度を測定し、階調値と測定した輝度値とを対応付けた測定情報を生成する測定部と、
前記測定情報と、予め登録された前記所定の画素回路が補正の基準状態にあるときの階調値と輝度値との関係と、に基づいて、同一の輝度値が得られる測定時の階調値と前記補正の基準状態における階調値とを対応付けた階調劣化特性を算出する階調劣化特性算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の発光素子が階調値に応じて供給される駆動電流を輝度に変換する変換効率の劣化に関する変換効率劣化値を算出して該所定の画素回路に関する変換効率劣化特性情報を生成する変換効率劣化値算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の駆動電流の劣化に関する電流量劣化値を算出し、該所定の画素回路に関する電流量劣化特性情報を生成する電流量劣化値算出部と、
を有する信号処理装置。
【請求項２】
前記変換効率劣化値算出部は、前記階調劣化特性を直線で近似し、前記階調劣化特性の近似直線の傾きに基づいて前記変換効率劣化値を算出し、
前記電流量劣化値算出部は、前記階調劣化特性の近似直線の切片に基づいて前記電流量劣化値を算出する、
請求項１記載の信号処理装置。
【請求項３】
前記変換効率劣化値算出部は、前記所定の画素回路が前記補正の基準状態にあったときを起点として該所定の画素回路を一定の階調値で駆動したときに、前記補正の基準状態から累積した経過時間と、前記所定の更新時間における変換効率劣化値の予測値とを対応付けた変換効率劣化特性情報を予め変換効率劣化特性保持部に保持しておき、算出した前記変換効率劣化値に基づいて、前記変換効率劣化特性保持部に保持されている前記変換効率劣化特性情報を該変換効率劣化値に合わせて更新し、
前記電流量劣化値算出部は、該所定の画素回路が前記経過時間と、前記所定の更新時間における電流量劣化値の予測値とを対応付けた電流量劣化特性情報を予め電流量劣化特性保持部に保持しておき、算出した前記電流量劣化値に基づいて、前記電流量劣化特性保持部に保持されている前記電流量劣化特性情報を該電流量劣化値に合わせて更新する、
請求項１記載の信号処理装置。
【請求項４】
任意の大きさの階調値を設定して駆動させることができるダミー画素回路を有し、
前記測定部は、該ダミー画素回路を前記所定の画素回路として用いる、
請求項１記載の信号処理装置。
【請求項５】
前記測定部は、輝度を測定する期間を除いて第１の画素回路を所定の階調値を設定して駆動し、前記更新時間において設定した前記複数レベルの階調値に対応する輝度値を測定して第１の測定情報を生成し、
前記第１の画素回路と同じ構成の第２の画素回路を、前記輝度を測定する期間を除いて非発光で駆動し、前記更新時間において設定した前記複数レベルの階調値に対応する輝度値を測定して第２の測定情報を生成し、該第２の測定情報を前記第１の画素回路が前記補正の基準状態にあるときの階調値と輝度値と見なす、
請求項１記載の信号処理装置。
【請求項６】
少なくとも２つのダミー画素回路を有し、
前記測定部は、少なくとも１つの前記ダミー画素回路を、前記輝度を測定する期間を除いて前記所定の階調値で駆動する前記第１の画素回路として用い、
前記所定の階調値で駆動するダミー画素回路とは異なるダミー画素回路を、前記輝度を測定する期間を除いて非発光の状態で駆動する前記第２の画素回路として用いる、
請求項５記載の信号処理装置。
【請求項７】
所定の更新時間ごとに、発光素子を有する所定の画素回路に対し、該発光素子の発光の度合いを指示する階調値を複数レベルに設定して実際の輝度を測定し、階調値と測定した輝度値とを対応付けた測定情報を生成する手順と、
前記測定情報と、予め登録された前記所定の画素回路が補正の基準状態にあるときの輝度値と階調値との関係と、に基づいて、同一の輝度値が得られる測定時の階調値と前記補正の基準状態における階調値とを対応付けた階調劣化特性を算出する手順と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の発光素子が階調値に応じて供給される駆動電流を輝度に変換する変換効率の劣化に関する変換効率劣化値を算出して該所定の画素回路に関する変換効率劣化特性情報を生成する手順と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の駆動電流の劣化に関する電流量劣化値を算出し、該所定の画素回路に関する電流量劣化特性情報を生成する手順と、
を有する信号処理方法。
【請求項８】
それぞれが発光素子を有する複数の画素回路と、
所定の更新時間ごとに、発光素子を有する所定の画素回路に対し、該発光素子の発光の度合いを指示する階調値を複数レベルに設定して実際の輝度を測定し、階調値と測定した輝度値とを対応付けた測定情報を生成する測定部と、
前記測定情報と、予め登録された前記所定の画素回路が補正の基準状態にあるときの階調値と輝度値との関係と、に基づいて、同一の輝度値が得られる測定時の階調値と前記補正の基準状態における階調値とを対応付けた階調劣化特性を算出する階調劣化特性算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の発光素子が階調値に応じて供給される駆動電流を輝度に変換する変換効率の劣化に関する変換効率劣化値を算出して該所定の画素回路に関する変換効率劣化特性情報を生成する変換効率劣化値算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の駆動電流の劣化に関する電流量劣化値を算出し、該所定の画素回路に関する電流量劣化特性情報を生成する電流量劣化値算出部と、
前記変換効率劣化特性情報に基づき、前記複数の画素回路の変換効率劣化量を算出し、該変換効率劣化量に基づいて前記複数の画素回路に対して指示された映像信号の階調値を補正するとともに、前記電流量劣化特性情報に基づき、前記複数の画素回路の電流量劣化量を算出し、該電流量劣化量に基づいて、前記変換効率劣化量に基づく補正が施された映像信号の階調値を補正する補正演算部と、
を有する表示装置。
【請求項９】
それぞれが発光素子を有する複数の画素回路と、
所定の更新時間ごとに、発光素子を有する所定の画素回路に対し、該発光素子の発光の度合いを指示する階調値を複数レベルに設定して実際の輝度を測定し、階調値と測定した輝度値とを対応付けた測定情報を生成する測定部と、
前記測定情報と、予め登録された前記所定の画素回路が補正の基準状態にあるときの階調値と輝度値との関係と、に基づいて、同一の輝度値が得られる測定時の階調値と前記補正の基準状態における階調値とを対応付けた階調劣化特性を算出する階調劣化特性算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の発光素子が階調値に応じて供給される駆動電流を輝度に変換する変換効率の劣化に関する変換効率劣化値を算出して該所定の画素回路に関する変換効率劣化特性情報を生成する変換効率劣化値算出部と、
前記階調劣化特性に基づき、前記所定の画素回路の駆動電流の劣化に関する電流量劣化値を算出し、該所定の画素回路に関する電流量劣化特性情報を生成する電流量劣化値算出部と、
前記変換効率劣化特性情報に基づき、前記複数の画素回路の変換効率劣化量を算出し、該変換効率劣化量に基づいて前記複数の画素回路に対して指示された映像信号の階調値を補正するとともに、前記電流量劣化特性情報に基づき、前記複数の画素回路の電流量劣化量を算出し、該電流量劣化量に基づいて、前記変換効率劣化量に基づく補正が施された映像信号の階調値を補正する補正演算部と、
を有する電子機器。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【公開番号】特開２０１２−１４１３３２（Ｐ２０１２−１４１３３２Ａ）
【公開日】平成２４年７月２６日（２０１２．７．２６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−２９１８４０（Ｐ２０１０−２９１８４０）
【出願日】平成２２年１２月２８日（２０１０．１２．２８）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年７月２６日（２０１２．７．２６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１２月２８日（２０１０．１２．２８）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
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