光ディスク装置、その制御方法、プログラム及び情報記憶媒体
【課題】装置の使用中に、比較的短時間で制御パラメタの設定値を補正することのできる光ディスク装置を提供する。
【解決手段】所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置であって、装置内の温度を測定する測定部を備え、光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、制御パラメタの値を補正する第１補正処理部４１と、測定部により測定された温度と予め定められた定数値とに応じて制御パラメタの値を補正する第２補正処理部４２と、のいずれかによる補正を、光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに選択的に実行する。
【解決手段】所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置であって、装置内の温度を測定する測定部を備え、光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、制御パラメタの値を補正する第１補正処理部４１と、測定部により測定された温度と予め定められた定数値とに応じて制御パラメタの値を補正する第２補正処理部４２と、のいずれかによる補正を、光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに選択的に実行する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤや、ＤＶＤ、Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標）などの光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置、その制御方法、プログラム及び情報記憶媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、各種の光ディスク媒体が情報記録媒体として利用されている。このような光ディスク媒体に記録された情報の読み取りを行うために、光ディスク装置が用いられる。光ディスク装置は、光ディスク媒体に対して光を照射し、その光ディスク媒体での反射光を検出する光学ピックアップを備えている。そして、この光学ピックアップを光ディスク媒体の表面に対して相対移動させる駆動系を制御して、光学ピックアップを情報の読み取りが可能な位置に移動させることによって、光ディスク媒体から情報の読み取りを行う。
【０００３】
光ディスク装置が光学ピックアップや駆動系などの各部を制御して光ディスク媒体から情報の読み取りを行う際には、その制御に関して各種の制御パラメタが設定される。このような制御パラメタの一例としては、対物レンズの球面収差補正に関するパラメタ（以下、ＳＡパラメタという）が挙げられる。例えば光学ピックアップ内には、光ディスク媒体に光を集光する対物レンズの球面収差を補正するために、コリメータレンズが設けられており、このコリメータレンズの位置をＳＡパラメタの設定値に応じて適切に調整することで、対物レンズの球面収差を補正し、対物レンズからの光を光ディスク媒体に精度よく集光することができる。このように、光ディスク装置は、ＳＡパラメタなどの制御パラメタに対して適切な値を設定し、当該設定した値に応じた動作条件で装置の各部を制御することで、光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を向上させることができる。
【０００４】
これらの制御パラメタに対して設定すべき値は、読み取り対象となる光ディスク媒体の種類や個体差などにより変動する。そこで光ディスク装置は、新たに光ディスク媒体が装置内にセットされると、情報の読み取りを開始する前にまず制御パラメタの調整処理を行う（例えば特許文献１参照）。具体的に、この調整処理は、以下のような制御である。すなわち、まず光ディスク装置は、制御パラメタの設定値を設定可能な範囲で変化させて、いくつかの設定値が設定された状態で媒体からの情報の読み取りを試行し、そのときの情報の読み取り精度を評価する。そして、この複数の設定値のそれぞれに対応して得られる読み取り精度の評価値を用いて、情報の読み取り精度を向上できるような制御パラメタの設定値（調整値）を算出し、当該算出した値を制御パラメタの値として設定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第４００１０２４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述したような制御パラメタの調整処理は、通常、光ディスク媒体が新たに装置内にセットされたときに、１回だけ行われる。しかしながら、場合によっては、望ましい制御パラメタの設定値が装置の使用中に変化することもある。例えば、対物レンズの材質等によっては、光ディスク装置の使用中に温度が変化することでそのレンズ特性が変化し、その結果ＳＡパラメタの最適な設定値も変化する。しかしながら、前述したような制御パラメタの調整処理の実行にはある程度の時間がかかり、その実行中は情報の読み取り動作が中断されることもあるため、装置の使用中に何度もこのような調整処理を実行するのは好ましくない場合がある。
【０００７】
本発明は上記実情を考慮してなされたものであって、その目的の一つは、装置の使用中に、比較的短時間で制御パラメタの設定値を補正することのできる光ディスク装置、その制御方法、プログラム、及び情報記憶媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る光ディスク装置は、所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置であって、装置内の温度を測定する測定部と、前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正手段と、前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正手段と、前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに、前記第１及び第２補正手段のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を選択的に実行させる補正制御手段と、を含むことを特徴とする。
【０００９】
また、上記光ディスク装置において、前記補正制御手段は、前記測定部により測定される温度の変化に応じたタイミングごとに、前記制御パラメタの値の補正を実行させることとしてもよい。
【００１０】
さらに、前記補正制御手段は、前記測定部により所定の温度変化の後、読み取り動作に関する所定の条件を最初に満たしたタイミングごとに、前記制御パラメタの値の補正を実行させることとしてもよい。
【００１１】
また、上記光ディスク装置において、前記補正制御手段は、所定の回数だけ前記第２補正手段による補正を実行させた後に、前記第１補正手段による補正を実行させることとしてもよい。
【００１２】
また、本発明に係る光ディスク装置の制御方法は、装置内の温度を測定する測定部を備え、所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置の制御方法であって、前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正処理と、前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正処理と、のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を、前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに選択的に実行させることを特徴とする。
【００１３】
また、本発明に係るプログラムは、装置内の温度を測定する測定部を備え、所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置を制御するプログラムであって、前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正手段、前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正手段、及び前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに、前記第１及び第２補正手段のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を選択的に実行させる補正制御手段、としてコンピュータを機能させるためのプログラムである。このプログラムは、コンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体に記憶されてよい。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置の構成例を表すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置の光学ピックアップの内部構成例を表す概要図である。
【図３】制御パラメタの設定値と評価値との関係の一例を示すグラフである。
【図４】本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置の機能例を表す機能ブロック図である。
【図５】温度変化と制御パラメタの設定値との関係の一例を示すグラフである。
【図６】本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置が実行する補正処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図７】コリメータレンズ移動処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図８】ジッター値測定・比較処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図９】ジッター値測定・比較処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図１０】中心値更新処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図１１】第１、第２及び第３補正処理を組み合わせて用いる場合の処理の流れの一例を示すフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の実施の形態について、図面に基づき詳細に説明する。
【００１６】
［第１実施形態］
本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置１は、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る装置であって、図１に示すように、媒体支持部１１と、スピンドルモータ１２と、光学ピックアップ１３と、三軸アクチュエータ１４と、送りモータ１５と、駆動回路１６と、ＲＦアンプ１７と、サーボ信号処理部１８と、記録信号処理部１９と、制御部２０と、サーミスタ２１と、を備えている。
【００１７】
なお、光ディスク装置１による情報読み出しの対象となる光ディスク媒体Ｍは、情報が記録されるデータ記録層と、その両側からデータ記録層を保護する保護層と、が積層されて構成される。以下では、データ記録層の表面を信号面という。また、光ディスク装置１は、光ディスク媒体Ｍに記録された情報を読み取るだけでなく、光ディスク媒体Ｍに対して情報を書き込み可能に構成されてもよい。さらに、光ディスク装置１は、ＣＤや、ＤＶＤ、Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃなど、複数種類の光ディスク媒体Ｍに記録された情報を読み取り可能に構成されてもよい。
【００１８】
媒体支持部１１は、光ディスク媒体Ｍを回転可能に支持する。また、この媒体支持部１１は、スピンドルモータ１２から伝達される動力によって光ディスク媒体Ｍを回転させる。
【００１９】
光学ピックアップ１３は、光ディスク媒体Ｍに対して光を照射し、照射した光の光ディスク媒体Ｍでの反射光を検出して、検出した反射光に応じた出力信号を出力する。この光学ピックアップ１３は、三軸アクチュエータ１４によって光ディスク媒体Ｍの径方向、及び光ディスク媒体Ｍの表面に垂直な方向（すなわち、光ディスク媒体Ｍの回転軸に沿った方向）の２つの方向に移動可能になっており、さらに、光学ピックアップ１３の光ディスク媒体Ｍに対する相対的な傾きを変更可能になっている。三軸アクチュエータ１４が光学ピックアップ１３を媒体表面に垂直な方向に沿って移動させることにより、光学ピックアップ１３に備えられた対物レンズから光ディスク媒体Ｍの表面までの距離が変化する。
【００２０】
図２は、光学ピックアップ１３の内部構成の一例を示す図である。この図の例においては、光学ピックアップ１３は、発光素子３１と、偏光ビームスプリッタ３２と、コリメータレンズ３３と、コリメータレンズ駆動部３４と、立ち上げミラー３５と、対物レンズ３６と、フォトディテクタ３７と、を備えている。
【００２１】
発光素子３１は、所定波長のレーザー光を出力する半導体レーザー素子である。発光素子３１から出射された出射光は、偏光ビームスプリッタ３２及びコリメータレンズ３３を通過した後、立ち上げミラー３５で反射される。さらに、立ち上げミラー３５で反射された出射光は、対物レンズ３６によって、対物レンズ３６から焦点距離Ｆだけ離れた焦点位置（フォーカス位置）に集光され、光ディスク媒体Ｍによって反射される。
【００２２】
光ディスク媒体Ｍにより反射された反射光は、対物レンズ３６を通過した後、立ち上げミラー３５で反射され、偏光ビームスプリッタ３２によってフォトディテクタ３７側に導かれる。フォトディテクタ３７は、例えばＮ×Ｎのマトリクス状に配置された複数の受光素子を備えており、偏光ビームスプリッタ３２によって導かれた反射光がこれらの受光素子に到達すると、フォトディテクタ３７は、複数の受光素子のそれぞれが受光した光の強度に応じた信号を出力信号として出力する。
【００２３】
また、コリメータレンズ駆動部３４は、アクチュエータ等により構成され、コリメータレンズ３３を、レーザー光の光軸方向に沿って前後に駆動する。コリメータレンズ駆動部３４がコリメータレンズ３３を光軸方向に沿って移動させることにより、対物レンズ３６の球面収差補正が可能となる。
【００２４】
送りモータ１５は、光学ピックアップ１３及び三軸アクチュエータ１４の全体を、光ディスク媒体Ｍの径方向に沿って移動させる。この送りモータ１５の駆動によって、光学ピックアップ１３は、光ディスク媒体Ｍの中心近傍の位置から外周近傍の位置まで移動可能になっている。
【００２５】
駆動回路１６は、サーボ信号処理部１８から入力される制御信号に従って、コリメータレンズ駆動部３４、三軸アクチュエータ１４、スピンドルモータ１２、及び送りモータ１５を駆動する駆動信号を出力する。この駆動回路１６からの駆動信号に応じて、スピンドルモータ１２の回転速度が変化することによって、光ディスク媒体Ｍの回転速度が制御される。また、この駆動回路１６からの駆動信号に応じて三軸アクチュエータ１４及び送りモータ１５が駆動することによって、対物レンズ３６の媒体回転軸からの径方向に沿った距離、及び対物レンズ３６の媒体表面までの距離が制御される。
【００２６】
ＲＦアンプ１７、サーボ信号処理部１８、記録信号処理部１９、及び制御部２０は、例えば、光学ピックアップ１３からの出力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、及び当該変換により得られたディジタル信号を処理するＤＳＰ（Digital Signal Processer）やマイクロコンピュータなどによって実現される。
【００２７】
ＲＦアンプ１７は、光学ピックアップ１３が出力する、複数の受光素子それぞれの出力信号に基づいて、各種の信号を出力する。具体的に、ＲＦアンプ１７は、各受光素子からの出力信号を所与のゲインで増幅してデータ再生用のＲＦ信号として出力するとともに、この増幅された全ての受光素子の出力信号を全加算したプルイン信号（ＰＩ信号）を出力する。このＰＩ信号のレベルが、光学ピックアップ１３が出力する出力信号全体のレベルを表している。
【００２８】
また、ＲＦアンプ１７は、光ディスク媒体Ｍの信号面に対する、対物レンズ３６のフォーカス位置のずれを示すフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を算出し、出力する。一例として、ＦＥ信号は、複数の受光素子のうち、所定の対角線方向に沿って配列している受光素子の出力信号の和から、当該対角線と交差する対角線方向に沿って配列している受光素子の出力信号の和を減じることによって算出される。さらに、ＲＦアンプ１７は、データ記録層内において情報が記録されるトラックの位置と、対物レンズ３６のフォーカス位置と、の間の光ディスク媒体Ｍの径方向のずれを示すトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）を算出して、出力する。
【００２９】
サーボ信号処理部１８は、ＲＦアンプ１７が出力するＰＩ信号、ＦＥ信号、ＴＥ信号などに基づいて、サーボ制御用の各種の信号を生成し、制御部２０に出力する。また、サーボ信号処理部１８は、制御部２０から入力される指示に従って、駆動回路１６に対して三軸アクチュエータ１４やコリメータレンズ駆動部３４、送りモータ１５、スピンドルモータ１２を駆動させるための制御信号を出力する。
【００３０】
また、サーボ信号処理部１８は、制御部２０からの指示に応じてサーボ制御を実行する。具体的に、サーボ信号処理部１８は、制御部２０からサーボ制御開始の指示が入力されると、ＲＦアンプ１７から入力されるＦＥ信号に応じて三軸アクチュエータ１４を制御する制御信号を出力することにより、光学ピックアップ１３の媒体表面に垂直な方向の位置調整を行うフォーカスサーボ制御を行う。これにより、対物レンズ３６のフォーカスが光ディスク媒体Ｍの信号面に一致する状態が維持される。また、ＲＦアンプ１７から入力されるＴＥ信号に応じて三軸アクチュエータ１４を制御する制御信号を出力することにより、光学ピックアップ１３の径方向の位置を変化させるトラッキングサーボ制御を行う。これにより、対物レンズ３６のフォーカスがデータ記録層内のトラックに追従するように、光学ピックアップ１３が媒体表面に対して相対移動する。このように、サーボ信号処理部１８が実行するサーボ制御によって、光ディスク媒体Ｍの表面に対する光学ピックアップ１３の相対位置が制御されることにより、光学ピックアップ１３が光ディスク媒体Ｍから情報を読み取り可能な状態が維持され、その間に情報の読み出しが行われる。なお、サーボ信号処理部１８は、外乱の影響などによってサーボエラーが生じる（すなわち、サーボ制御が続行できない状態になる）と、サーボエラー発生を通知する信号を制御部２０に対して出力する。
【００３１】
記録信号処理部１９は、ＲＦアンプ１７が出力するＲＦ信号に基づいて、光ディスク媒体Ｍに記録された情報を示すディジタル信号を復調して、制御部２０に出力する。また、記録信号処理部１９は、光学ピックアップ１３による光ディスク媒体Ｍに記録された情報の読み取り精度に関する評価値（ＲＦ振幅やジッター値など）を算出し、制御部２０に対して出力する。以下では具体例として、記録信号処理部１９は、基準クロックに対するＲＦ信号波形の立ち上がりタイミングの時間的なずれを示すジッター値を測定し、制御部２０に対して出力することとする。
【００３２】
制御部２０は、例えばマイクロコンピュータによって構成され、実行モジュールと記憶素子とを含む。この制御部２０の記憶素子には、実行するべきプログラムや各種パラメタが格納され、実行モジュールは、当該記憶素子に格納されたプログラムに従って処理を行う。具体的に、制御部２０は、サーボ信号処理部１８から入力される信号（ＰＩ信号のピーク検出の結果に関する信号や、ＦＥ信号に対して所定の判定を行った結果を示す信号）等の入力を受けて、これらの信号に基づき、対物レンズ３６のフォーカスが信号面に合う位置を検出し、当該位置に光学ピックアップ１３と光ディスク媒体Ｍとの距離を設定する処理（フォーカス検出処理）を実行する。この処理によってフォーカス検出がなされると、その状態を維持するため、制御部２０は、サーボ信号処理部１８に対してフォーカスサーボ制御開始を指示する命令を出力する。
【００３３】
また、制御部２０は、パーソナルコンピュータや、家庭用ゲーム機本体、ビデオデコーダなどのホストに接続され、ホストからの要求に応じて、送りモータ１５や三軸アクチュエータ１４を駆動させる命令をサーボ信号処理部１８に出力し、対物レンズ３６のフォーカス位置（すなわち、光ディスク媒体Ｍ上における情報の読み取り位置）を光ディスク媒体Ｍ上の所望の位置へ移動させる。また、併せてスピンドルモータ１２の回転速度を変更する命令をサーボ信号処理部１８に出力し、光ディスク媒体Ｍの回転速度を調整する。そして、その状態において記録信号処理部１９が出力する、光ディスク媒体Ｍから読み取られた信号から復調された信号を、ホスト側へ出力する。
【００３４】
サーミスタ２１は、光学ピックアップ１３の近傍に配置されており、光ディスク装置１内部の温度を測定する測定部として機能する。本実施形態では、光学ピックアップ１３内の対物レンズ３６はプラスチックレンズであって、そのレンズ特性が温度によって変化する。そこで、サーミスタ２１は、対物レンズ３６の温度特性に応じた補正を行うために、光学ピックアップ１３周辺の温度を測定し、その測定結果を制御部２０に対して出力する。
【００３５】
本実施形態において、光ディスク装置１は、光ディスク媒体Ｍから情報を読み取る読み取り動作の際の動作条件を規定する所定の制御パラメタについて、その望ましい設定値（調整値）を算出する初期調整処理を行う。具体的に、この初期調整処理において、光ディスク装置１は、精度よく光ディスク媒体Ｍに記録された情報を読み出すことができると想定される制御パラメタの調整値を算出する。そして、この初期調整処理によって算出された調整値を制御パラメタに対して設定し、設定された値に応じた動作条件で読み取り動作を実行する。これにより、光ディスク装置１は、読み取りエラーを生じさせずに、精度よく光ディスク媒体Ｍからの情報の読み出しを行うことができる。
【００３６】
この制御パラメタの初期調整処理は、例えば光ディスク装置１に新たに光ディスク媒体Ｍがセットされた場合や、光ディスク装置１の電源が投入された場合などに実行される。光ディスク媒体Ｍの種別や個体差などによって、制御パラメタの最適な設定値が異なるからである。
【００３７】
以下では、このような制御パラメタの一例として、対物レンズ３６の球面収差補正に用いられるコリメータレンズ３３の位置に関するパラメタ（以下、ＳＡパラメタという）を調整する場合について、説明する。ＳＡパラメタの設定値が変更されると、光ディスク装置１は、コリメータレンズ駆動部３４を制御して、当該設定値に応じた位置にコリメータレンズ３３を移動させる。このコリメータレンズ３３の位置を適切に調整することによって、光学ピックアップ１３は、対物レンズ３６の球面収差を補正して、精度よく情報の読み出しを行うことができる。
【００３８】
ここで、初期調整処理の具体例について説明する。制御パラメタの設定値と、読み取り精度の評価値（ここではジッター値）との間には、二次曲線で近似可能な関係が成立する。図３は、このような制御パラメタの設定値とジッター値との間の関係の一例を示すグラフである。この図においては、横軸（Ｘ軸）が制御パラメタの設定値を、縦軸（Ｙ軸）がジッター値を、それぞれ示している。ここでは評価値としてジッター値を用いているので、その値が小さいほど読み取り精度が高いことを示している。この図３においては、制御パラメタの設定値とジッター値との関係が下に凸の放物線によって表されており、最も読み取り精度を向上できる制御パラメタの設定値（以下、最適値Ｓｏという）は、放物線の頂点に対応するＸ軸の値になる。そのため、放物線の頂点近傍の位置に対応するＸ軸の値を制御パラメタの設定値として設定することによって、評価値を小さくする（すなわち、情報の読み取り精度を向上させる）ことができる。
【００３９】
そこで、光ディスク装置１は、サンプルデータとして、制御パラメタを少なくとも互いに異なる３個以上の設定値のそれぞれに設定した状態で、ジッター値を測定する。ここで、３個以上のサンプルデータが必要となるのは、放物線上において、図３で例示されるような、接線の傾きが負になる点Ｐａ、接線の傾きが０に近くなる点Ｐｂ、及び接線の傾きが正になる点Ｐｃの少なくとも３点が特定されないと、精度よく二次曲線の近似を行うことができないからである。３個以上のサンプルデータが測定されると、光ディスク装置１は、最小二乗法などの手法でこれらのサンプルデータを近似する二次曲線を算出し、その頂点位置に対応する制御パラメタの値を、調整値として算出する。このようにして初期調整処理が実行されると、光ディスク装置１は、当該算出された調整値に基づいてコリメータレンズ駆動部３４を駆動し、コリメータレンズ３３の位置を調整する。
【００４０】
さらに、本実施形態に係る光ディスク装置１は、以上説明したような初期調整処理によってＳＡパラメタの調整値を算出し、光ディスク媒体Ｍに対する読み取り動作を開始した後も、所定のタイミングでＳＡパラメタの設定値を補正することとする。このようなＳＡパラメタの補正を行わない場合、前述したように、時間とともに装置内の温度が上昇して対物レンズ３６のレンズ特性が変化し、ＳＡパラメタの最適値Ｓｏと初期調整処理により設定された調整値との間にずれが生じる結果、読み取りエラーが発生するおそれがあるからである。
【００４１】
以下、このＳＡパラメタの補正処理を実行するために本実施形態に係る光ディスク装置１が実現する機能について説明する。光ディスク装置１は、機能的に、図４に示すように、第１補正処理部４１と、第２補正処理部４２と、補正制御部４３と、を含んで構成される。これらの機能は、制御部２０が内蔵された記憶素子に格納しているプログラムを実行することによって実現される。このプログラムは、各種のコンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体に格納されて提供されてよい。以下に詳しく説明するように、第１補正処理部４１及び第２補正処理部４２は、互いに異なる方法によりＳＡパラメタの補正処理を行う。どのようなタイミングでどちらの補正処理部による補正処理を実行するかは、補正制御部４３によって決定される。
【００４２】
第１補正処理部４１は、互いに異なる複数個のＳＡパラメタの設定値のそれぞれについて、当該設定値が設定された状態で光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り精度を評価することにより、ＳＡパラメタの値を補正する。以下、第１補正処理部４１が実行する補正処理を第１補正処理という。具体的に、第１補正処理部４１は、前述した初期調整処理と同様の処理を第１補正処理として実行することによって、ＳＡパラメタの最適値Ｓｏを再度算出し、当該算出した最適値Ｓｏに応じてＳＡパラメタの設定値を補正する。この第１補正処理によって、光ディスク媒体Ｍの個体差などに関わりなく、補正処理を実行した時点の装置環境における最適値Ｓｏにほぼ一致する値を、補正値として設定することができる。
【００４３】
第２補正処理部４２は、サーミスタ２１により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、ＳＡパラメタの値を補正する。以下、第２補正処理部４２が実行する補正処理を第２補正処理という。対物レンズ３６周囲の温度と、ＳＡパラメタの最適値Ｓｏと、の間には、略線形な関係が成立する。そこで、第２補正処理部４２は、最初の初期調整処理、又は直近の過去に第１補正処理部４１が実行した補正処理によって設定されたＳＡパラメタの値（以下、基準設定値Ｓｒという）と、当該基準設定値Ｓｒが設定された時点においてサーミスタ２１により測定された温度（以下、基準温度Ｔｒという）を基準として、新たに設定すべきＳＡパラメタの値（以下、補正値Ｓという）を算出する。具体的に、第２補正処理部４２は、基準設定値Ｓｒ、基準温度Ｔｒ、定数値Ａ、及び当該補正処理の実行時における現在温度Ｔに基づいて、補正値Ｓを以下の計算式により算出する。
Ｓ＝Ａ・（Ｔ−Ｔｒ）＋Ｓｒ
ここで、第２補正処理部４２は、定数値Ａとして、予め装置内に記憶された値を読み出して用いることとする。
【００４４】
上記計算式から明らかなように、定数値Ａは、温度Ｔと補正値Ｓとの間の線形関係における傾きに相当する。この定数値Ａは、例えば以下のような方法により決定される。すなわち、様々な光ディスク媒体Ｍ及び光ディスク装置１の組み合わせにおいて、ＳＡパラメタの最適値Ｓｏの温度依存特性を測定し、温度変化に対する最適値Ｓｏの変化の比（傾き）を算出する。そして、算出された複数の傾きの平均値を、第２補正処理に用いる定数値Ａとして決定し、光ディスク装置１内の記憶素子に格納しておく。この場合の定数値Ａは、平均的な光ディスク媒体Ｍ及び光ディスク装置１の組み合わせにおける、温度変化に対する最適値Ｓｏの変化の比を示すことになる。
【００４５】
なお、定数値Ａは、光ディスク媒体Ｍの種類ごとに異なる値であってもよい。この場合、光ディスク装置１はまず装置にセットされた光ディスク媒体Ｍの種別を判定する処理を実行し、その判定結果に応じて、第２補正処理に用いる定数値Ａを予め記憶された複数の候補値の中から選択する。また、複数のデータ記録層を備える光ディスク媒体Ｍにおいては、当該複数のデータ記録層のそれぞれについて、互いに異なる定数値Ａが用意されることとしてもよい。
【００４６】
補正制御部４３は、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに、第１補正処理部４１及び第２補正処理部４２のいずれかによる制御パラメタの値の補正処理を選択的に実行させる制御を行う。ここでは具体的に、補正制御部４３は、サーミスタ２１により測定された温度の変化に応じて、補正処理を実行するタイミング、及び当該タイミングにおいて第１補正処理と第２補正処理のどちらを実行するかを決定する。
【００４７】
初期調整処理と同様の処理によってＳＡパラメタの調整値を算出するためには、前述したように、ＳＡパラメタの設定値を変化させて、３個以上の設定値のそれぞれに対応したジッター値を測定する必要がある。このとき、ＳＡパラメタの設定値変更に応じて、複数回コリメータレンズ３３の位置を変更する機械的な制御が行われる。そのため、第１補正処理は、第２補正処理と比較して時間がかかってしまう。その代わり、第１補正処理によれば、光ディスク媒体Ｍや光ディスク装置１の個体差などに関わりなく、補正処理を実行した時点の装置環境における最適な調整値を算出することができる。一方、第２補正処理は、コリメータレンズ３３の位置を何度も変化させることなく、演算処理によって補正値Ｓを決定することができるため、第１補正処理より短時間で完了する。しかしながら、第２補正処理に用いられる定数値Ａは、平均的な光ディスク媒体Ｍ及び光ディスク装置１の組み合わせを想定して決定された値なので、必ずしも個々の光ディスク媒体Ｍ及び光ディスク装置１に対して、第２補正処理によって最適な補正値Ｓが得られるとは限らない。
【００４８】
そこで、補正制御部４３は、初期調整処理が実行された時点からの温度変化が小さい間は第２補正処理部４２に補正処理を実行させ、温度変化がある程度大きくなった段階で、第１補正処理部４１に補正処理を実行させることとする。すなわち、光ディスク装置１は、温度変化が小さい間は簡易な第２補正処理によってＳＡパラメタの補正を行い、このような簡易な補正処理では補正値Ｓと最適値Ｓｏとの間のずれを吸収しきれなくなる前に、より高精度な第１補正処理を実行する。これにより、光ディスク装置１は、頻繁に第１補正処理を実行する場合と比較して補正処理に要する時間を抑えつつ、装置の使用を継続している間、読み取りエラーが生じないようにＳＡパラメタを補正し続けることができる。
【００４９】
具体例として、補正制御部４３は、サーミスタ２１によって測定される温度Ｔの情報を定期的に取得し、当該温度Ｔが初期調整処理又は前回の補正処理の実行時より所定量（ここでは５℃）だけ変化するごとに、第１補正処理又は第２補正処理のいずれか一方を実行させる制御を行う。このとき、初期調整処理又は第１補正処理が実行された後、３回は第２補正処理を実行させることとし、４回目には第１補正処理を実行させることとする。すなわち、初期調整処理の実行後、温度が５℃上昇するごとに補正処理が実行され、そのうち４回に１回（温度が２０℃上昇したとき）は第１補正処理が実行される。
【００５０】
図５は、補正制御部４３がこのような制御を実行した場合の、温度変化とＳＡパラメタの設定値との間の関係を示すグラフである。グラフの横軸は初期調整処理実行時の温度に対する温度変化を示しており、「０」が初期調整処理の実行タイミングに対応している。また、グラフの縦軸はＳＡパラメタの設定値を示しており、グラフ中の実線は、これまで説明した制御によるＳＡパラメタの設定値の変化の一例を示している。さらに、図中における破線の直線Ｌ１及びＬ２は、いずれも光ディスク装置１に予め記憶された定数値Ａを傾きとした温度変化とＳＡパラメタの最適値Ｓｏとの間の線形関係を示しており、直線Ｌ１は初期調整処理実行後の設定値を、直線Ｌ２は１回目の第１補正処理実行後の設定値を、それぞれ基準としている。一方、直線Ｌ３は、この図５で示した装置と媒体との組み合わせにおける、実際の温度変化とＳＡパラメタの最適値Ｓｏとの間の関係を示している。
【００５１】
同図に示されるように、光ディスク装置１は、装置内の温度が５℃上昇するごとに、第１補正処理又は第２補正処理によってＳＡパラメタの設定値を補正している。このとき、最初の３回の補正処理は第２補正処理部４２によって実行され、その結果、補正後の設定値は直線Ｌ１上の点に一致している。グラフから分かるように、第２補正処理が実行されるごとに、設定値は直線Ｌ３によって示されるＳＡパラメタの実際の最適値Ｓｏに近づいているものの、温度が上昇するにつれて、設定値と最適値Ｓｏとの間のずれは大きくなっている。その後、温度が２０℃上昇した時点で、第１補正処理が実行される。この第１補正処理によって、設定値は直線Ｌ３上の最適値Ｓｏに一致するよう補正される。その後は、再び温度が５℃上昇するごとに第２補正処理が実行され、直線Ｌ２に沿って設定値が補正されている。
【００５２】
なお、図５においては、第１補正処理が実行された後も、第２補正処理は予め装置内に記憶された定数値Ａを用いて実行されることとしている。しかしながら、光ディスク装置１は、初期調整処理及び第１補正処理の結果得られるＳＡパラメタの調整値を用いて、実際の温度変化とＳＡパラメタの最適値Ｓｏとの間の線形関係の傾き（図５における直線Ｌ３の傾き）を算出し、算出した値を新たな定数値Ａとして用いて、それ以降の第２補正処理を実行することとしてもよい。また、このような新たな定数値Ａが精度よく求められれば、それ以降の第２補正処理によって精度よくＳＡパラメタを最適値Ｓｏに近い値に補正できると考えられるので、それ以降は第１補正処理の実行を制限して、第２補正処理によってＳＡパラメタの補正を行うこととしてもよい。あるいは、第１補正処理の実行頻度を減らして、第２補正処理の実行頻度を増やすこととしてもよい。
【００５３】
また、第１補正処理及び第２補正処理それぞれの実行頻度は、光ディスク媒体Ｍの種別に応じて変更することとしてもよい。例えばＬＴＨ（Low to High）タイプのＢＤ−Ｒなど、特定の種類の光ディスク媒体Ｍは、その個体差による定数値Ａのばらつきが大きくなる。そこで、このような種類の光ディスク媒体Ｍがセットされた場合、その他の種類の光ディスク媒体Ｍと比較して、第１補正処理を実行する頻度を増やす（例えば温度が１５℃上昇するごとに第１補正処理を実行する）こととしてもよい。
【００５４】
さらに、補正制御部４３は、第１補正処理部４１や第２補正処理部４２に補正処理を実行させるタイミングを、サーミスタ２１によって測定される温度の変化だけではなく、装置の読み取り動作の制御タイミングに応じて決定することとしてもよい。具体的に、例えばホストからの命令によって光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取りを行っている最中に補正処理が実行されてしまうと、読み取り動作が中断され、ホストから見て、通常時よりも読み取りの待ち時間が長くなってしまう。そこで、補正制御部４３は、所定の温度変化（前述の例では前回補正時から５℃の温度上昇）があった後、読み取り動作に関する所定の条件が最初に満たされたタイミングで、第１補正処理又は第２補正処理を実行させることとしてもよい。
【００５５】
具体的に、補正制御部４３は、所定の温度変化があった後、最初に所定の制御動作を実行するタイミングで、補正処理を実行させることとしてもよい。一例として、光ディスク装置１は、ホストからの情報読み取り命令に応じて、指定された位置から情報の読み取りを行うために、三軸アクチュエータ１４を駆動して、光ディスク媒体Ｍの径方向に沿って光学ピックアップ１３を移動させるシーク制御を行う。そこで、補正制御部４３は、このシーク制御を開始するタイミング又は終了するタイミングで、第１補正処理又は第２補正処理を実行させることとしてもよい。
【００５６】
また、光ディスク装置１は、ホストから情報読み取り命令があった場合、次の情報読み取り命令に備えて、当該命令によって指定された範囲に続く範囲に記録された情報も先読みし、キャッシュメモリに格納する場合がある。このような場合、補正制御部４３は、キャッシュメモリに所定量以上のデータがキャッシュされている状態において、第１補正処理又は第２補正処理の実行を開始することとしてもよい。こうすれば、ホストから新たな情報読み取り命令があった場合に、改めて情報の読み取り動作を行わずに、キャッシュメモリに格納した情報を提供できる可能性が高くなるので、補正処理によって読み取り動作の待ち時間が増大するのを避けることができる。
【００５７】
ただし、ホストからの命令内容などによっては、以上例示したような読み取り動作に関する所定の条件がなかなか満たされない場合もあり得る。例えば光ディスク媒体Ｍ内に連続して格納されている大量のデータの読み取り動作が実行される場合、当該読み取り動作の実行中は、上述したような条件は満たされないこととなる。しかしながら、このような場合にも温度が上昇して、制御パラメタの設定値が最適値Ｓｏからずれてしまうおそれが生じる。そこで、補正制御部４３は、所定の温度変化の後、読み取り動作に関する所定の条件が一定期間にわたって満たされない場合には、強制的に第１補正処理又は第２補正処理を実行させることとしてもよい。また、補正制御部４３は、次に実行すべき補正処理が第１補正処理か第２補正処理かに応じて、その実行タイミングを決定するための所定の条件を変えることとしてもよい。
【００５８】
以上説明した第１実施形態に係る光ディスク装置１によれば、第１補正処理だけを繰り返し実行する場合と比較して、短時間で装置の使用中に制御パラメタの補正を行うことができる。
【００５９】
［第２実施形態］
次に、本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置について、説明する。なお、この第２実施形態に係る光ディスク装置のハードウェア構成は、図１及び図２に示される第１実施形態に係る光ディスク装置のハードウェア構成と同様である。したがって、その詳細な説明は省略し、第１実施形態と同様の構成要素については、同一の参照符号を用いて参照する。
【００６０】
本実施形態に係る光ディスク装置も、第１実施形態に係る光ディスク装置と同様に、光ディスク媒体Ｍに対する情報の読み取りを開始した後、装置の環境変化に伴って変動する制御パラメタ（ここではＳＡパラメタ）の最適値Ｓｏに追従するように、その設定値を補正する。ただし、本実施形態においては、第１実施形態とは異なる方法で制御パラメタの補正処理を実行する。なお、以下では便宜上、第１実施形態における第１補正処理及び第２補正処理と区別するために、この第２実施形態における補正処理を第３補正処理という。
【００６１】
具体的に、光ディスク装置１は、制御パラメタの２つの値のそれぞれについて、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り精度を示す評価値（ここではジッター値）を取得し、当該取得した２つの評価値に応じて制御パラメタの設定値を更新する処理を実行する。この更新処理によって、制御パラメタの設定値は、最適値Ｓｏに近づくように変更される。このような処理を繰り返し実行することによって、光ディスク装置１は、制御パラメタの設定値を最適値Ｓｏに近い値に補正する。この補正処理は、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り動作中にも実行されてよい。なお、この補正処理は、制御部２０が内蔵された記憶素子に格納しているプログラムを実行することによって実現される。このプログラムは、各種のコンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体に格納されて提供されてよい。
【００６２】
ここで、第３補正処理の基本的な考え方について、説明する。光ディスク装置１は、設定値の更新処理を実行しようとする時点における、基準となるＳＡパラメタの値（以下、中心値Ｓｃという）を中心として、当該中心値Ｓｃから大小それぞれ同じ量だけ異なる２つの設定値（以下、それぞれ加算値Ｓｐ及び減算値Ｓｍという）に対応するジッター値を測定する。ここで、所定の変化量αを用いて、加算値Ｓｐ及び減算値Ｓｍは、それぞれ
Ｓｐ＝Ｓｃ＋α
Ｓｍ＝Ｓｃ−α
と表される。
【００６３】
設定値Ｓが設定されている場合のジッター値をＪ（Ｓ）と表記することとすると、図３にも示したように、ＳＡパラメタの設定値Ｓとジッター値Ｊ（Ｓ）との間には、下に凸の放物線によって近似可能な関係が成り立つ。そのため、加算値Ｓｐ及び減算値Ｓｍのそれぞれについて測定されたジッター値が理想的な放物線に従っていると仮定すると、ジッター値Ｊ（Ｓｐ）とＪ（Ｓｍ）との間の大小を比較することによって、中心値Ｓｃが最適値Ｓｏより大きいか小さいかを判別できる。すなわち、Ｊ（Ｓｍ）＜Ｊ（Ｓｐ）が成り立つ場合、Ｓｃ＞Ｓｏと推定される。そこで、制御部２０は、中心値Ｓｃをより小さな値に更新すべきと判定する。逆にＪ（Ｓｍ）＞Ｊ（Ｓｐ）が成り立てば、Ｓｃ＜Ｓｏと推定され、中心値Ｓｃをより大きな値に更新すべきと判定される。このような中心値Ｓｃの更新処理を繰り返すことによって、中心値Ｓｃは最適値Ｓｏに近づいていくことになる。たとえ装置の使用中に温度上昇などに起因して最適値Ｓｏが変化したとしても、この更新処理をある程度の頻度で繰り返せば、中心値Ｓｃが最適値Ｓｏから大きくずれないようにすることができる。
【００６４】
なお、本実施形態に係る光ディスク装置１がこの第３補正処理を実行する場合、変化量αは、読み取り精度に与える影響が大きくなりすぎないよう、小さな値にする必要がある。前述した初期調整処理においては、精度よく放物線の近似を行うために、設定値をある程度大きな範囲で変化させる必要がある。しかしながら、第３補正処理は、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り動作中に実行されるので、初期調整処理の場合と同じように設定値を大きく変化させてしまうと、読み取りエラーやサーボ制御エラーが発生するおそれが高くなってしまう。そこで、変化量αを初期調整処理における設定値の変化量より小さくすることで、このような問題を回避することができる。
【００６５】
具体的に、変化量αは、予め定められた量であってもよいが、ＳＡパラメタの初期調整処理における近似計算によって求められた、設定値と評価値との間の関係を表す係数に基づいて決定されることとしてもよい。これにより、例えばＳＡパラメタの設定値を変更可能な範囲が狭い場合には変化量αを小さくすることで、補正処理中に読み取りエラーが発生する確率を減らすことができる。
【００６６】
以下、制御部２０が実行する第３補正処理の具体例について、図６から図１０のフロー図に基づいて説明する。なお、例えば光ディスク装置１は、ホストからの情報読み取り命令に応じてシーク制御が実行された後、情報の読み取りを開始するタイミングで第３補正処理を開始する。これにより、光ディスク装置１は、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取りと並行して第３補正処理を実行することになる。また、このような情報読み取り命令が一定時間以上にわたって受け付けられず、現在の光学ピックアップの位置を維持する制御（ポーズ制御）を実行している間も、第３補正処理を実行することとしてもよい。この第３補正処理は、読み取り動作が終了するなどして、ホストからの新たな命令を受け付けるまで、繰り返し実行される。
【００６７】
図６に示されるように、まず制御部２０は、基準温度Ｔｒ１と現在温度Ｔとの差ΔＴ１が所定値（ここでは１℃）以上か否か判定する（Ｓ１）。ここで基準温度Ｔｒ１は、第３補正処理の開始時には、第１実施形態の場合と同様に、最初の初期調整処理が実行された時点においてサーミスタ２１により測定された温度である。また、現在温度Ｔは当該判定を行う時点においてサーミスタ２１により測定された温度である。ΔＴ１が所定値に満たない間は、後続する処理は実行されない。所定値以上の温度差が生じた段階で、後続する処理が開始される。
【００６８】
次に制御部２０は、変数の初期化を行う（Ｓ２）。具体的に、制御部２０は、タイマの開始時刻を示す変数ｔ１及びｔ２のそれぞれに、現在時刻ｔの情報を設定する。また、ジッター値の測定結果を格納するための配列変数Ｊｐ［ｙ］及びＪｍ［ｙ］について、その全ての値を０にリセットする。ここで、ｙは０からＮまでの整数値をとるカウンタ変数であって、配列変数Ｊｐ及びＪｍのそれぞれには最大（Ｎ＋１）個の値が格納される。さらに制御部２０は、ＳＡパラメタの更新方向（中心値Ｓｃを増加させるか、又は減少させるか）を決定するための積算値を格納する変数Ｓｅｒに０を、コリメータレンズ３３の駆動間隔を規定する時間変数ｔａに所定の初期値（ここでは７秒とする）を、前回のＳＡパラメタの更新方向を示す変数Ｄｉｒｃに０を、それぞれ代入する。
【００６９】
次に制御部２０は、ＳＡパラメタの設定値を減算値Ｓｍ（＝Ｓｃ−α）に変更して、当該減算値Ｓｍに応じた位置までコリメータレンズ３３を移動させるコリメータレンズ移動処理を行う（Ｓ３）。この処理は、具体的に、図７で示されるような処理である。
【００７０】
すなわち、まず制御部２０は、コリメータレンズ３３が他の制御処理によって移動中か否かを確認する（Ｓ２１）。この処理は、本実施形態における第３補正処理が他の処理と並行して実行される場合に、コリメータレンズ３３が想定外の駆動を行っていないことを保証するために実行される。コリメータレンズ３３が移動中の場合には、移動が終了するのを待つことになる。
【００７１】
次いで制御部２０は、現在時刻ｔが、ｔ−ｔ１≧ｔａを満たすか否かを判定する（Ｓ２２）。この判定は、コリメータレンズ３３の位置を時間変数ｔａにより示される時間以上の時間間隔で駆動するために行われる。これにより、短い時間間隔でのコリメータレンズ３３の移動に起因する発熱や機械的負荷が抑えることができる。この判定条件を満たさない場合、Ｓ２１に戻ってｔａ以上の時間が経過するのを待つことになる。
【００７２】
Ｓ２２の判定条件を満たす場合、制御部２０は、変数ｔ１を現在時刻ｔでリセットして（Ｓ２３）、ＳＡパラメタの設定値を現在時点における中心値Ｓｃより変化量αだけ小さな減算値Ｓｍに変更する（Ｓ２４）。この変更に応じて、コリメータレンズ駆動部３４がコリメータレンズ３３を駆動する。
【００７３】
その後、制御部２０は、コリメータレンズ３３の移動が完了するのを待つ（Ｓ２５）。コリメータレンズ３３の移動が完了した場合、後続するジッター値測定・比較処理のために２つのカウンタ変数ｘ及びｙを０でリセットし（Ｓ２６）、コリメータレンズ移動処理を終了する。
【００７４】
図６に戻って、次に制御部２０は、コリメータレンズ３３が減算値Ｓｍに対応する位置に移動した状態でのジッター値を複数回測定し、加算値Ｓｐに対応する位置におけるジッター値と比較するジッター値測定・比較処理を行う（Ｓ４）。なお、情報の読み取りと並行して第３補正処理が実行されている場合、このジッター値測定・比較処理においてジッター値を測定する際には、改めてジッター値測定のためだけに情報の読み取りを行う必要はなく、並行して実施される情報の読み取り動作において得られる再生信号（ＲＦ信号）に基づいて、ジッター値を算出することができる。
【００７５】
ここで、このジッター値測定・比較処理の具体例について、図８及び図９のフロー図を用いて説明する。まず制御部２０は、他の制御処理によってジッター値の測定が行われていないか確認する（Ｓ３１）。測定中であれば、その終了を待って後続する処理が実行される。
【００７６】
次に制御部２０は、ジッター値の測定開始を記録信号処理部１９に指示し（Ｓ３２）、当該指示に応じたジッター値の測定が完了するのを待つ（Ｓ３３）。ジッター値の測定が完了すると、測定に成功したか否かが判定される（Ｓ３４）。測定失敗の場合、Ｓ３１に戻って再度測定が試みられる。一方、測定に成功した場合、測定されたジッター値ＪｃがＪｍ［ｙ］に既に格納されたジッター値より小さいか否かが判定される（Ｓ３５）。新たに測定されたジッター値Ｊｃが格納済みのジッター値より小さければ、Ｊｍ［ｙ］の値は新たに測定されたジッター値Ｊｃで上書きされる（Ｓ３６）。なお、Ｓ３５においてＪｍ［ｙ］＝０だった場合（すなわち、Ｊｍ［ｙ］にまだ実際に測定されたジッター値が代入されていない場合）には、制御部２０は今回測定されたジッター値ＪｃをＪｍ［ｙ］に代入する。
【００７７】
さらに制御部２０は、カウンタ変数ｘに１を加算し（Ｓ３７）、ｘが所定値（ここでは１２）以上であるとの条件を満たすか否か判定する（Ｓ３８）。この判定条件を満たさない場合には、Ｓ３１に戻って新たなジッター値の測定が繰り返される。一方、判定条件を満たす場合には、ｘを０にリセットする（Ｓ３９）。
【００７８】
ここまでの処理によって、減算値Ｓｍが設定された状態で複数回（ここでは１２回）のジッター値測定が行われ、その結果得られる複数の測定値のうちの最小値が、変数Ｊｍ［ｙ］に格納されることになる。ここで、複数回の測定を行ってその最小値を取得しているのは、例えば光ディスク媒体Ｍの傷などによって異常に悪いジッター値が測定された場合などに、そのような異常値に基づいて後続する処理が実行されることを防ぐためである。
【００７９】
その後、制御部２０は、Ｊｐ［０］が０か否か判定する（Ｓ４０）。Ｊｐ［０］が０の場合、まだ加算値Ｓｐ（＝Ｓｃ＋α）に対応したジッター値の測定が行われておらず、これまで説明した処理によって得られるＪｍ［ｙ］と比較するデータが存在しないことになる。この場合、Ｊｐ［ｙ］とＪｍ［ｙ］との比較は行わずに、Ｓ４５の処理に進む。なお、第３補正処理の開始後、最初に当該判定が行われる際には、常にＪｐ［０］＝０になっているはずである。
【００８０】
一方、Ｊｐ［０］が０でない場合、加算値Ｓｐが設定された状態におけるジッター値測定・比較処理（後述するＳ７の処理）が既に行われ、その測定結果として２５個のジッター値が配列変数Ｊｐに格納されていることになる。この場合、制御部２０は、これまでの処理によってＪｍ［ｙ］に格納されたジッター値と、Ｊｐ［ｙ］に格納されたジッター値と、の大小を比較し、Ｊｍ［ｙ］＜Ｊｐ［ｙ］が成り立つか否か判定する（Ｓ４１）。この不等式が成り立つ場合には、変数Ｓｅｒに格納された値から１を減算する（Ｓ４２）。一方、成り立たない場合には、逆にＪｍ［ｙ］＞Ｊｐ［ｙ］が成り立つか否か判定する（Ｓ４３）。この不等式が成り立つ場合には、変数Ｓｅｒに格納された値に１を加算し（Ｓ４４）、成り立たない場合にはＪｍ［ｙ］とＪｐ［ｙ］は等しいことになるので、変数Ｓｅｒの値は更新せずに次のＳ４５の処理に進むこととする。
【００８１】
続いて制御部２０は、変数Ｓｅｒに格納された値の絶対値｜Ｓｅｒ｜が所定の閾値ｔｈ（ここでは１５とする）未満か否かを判定する（Ｓ４５）。｜Ｓｅｒ｜＜ｔｈの場合には、ｙに１を加算して（Ｓ４６）、ｙが所定値（ここでは２５とする）以上になったか否かを判定する（Ｓ４７）。ｙが２５以上になった場合には、ｙを０にリセットして（Ｓ４８）、ジッター値測定処理を終了する。一方、ｙが２５未満の場合には、Ｓ３１に戻って、新たなｙの値について、これまで説明した処理が繰り返される。
【００８２】
以上説明したように、複数回ジッター値を測定してその最小値をＪｍ［ｙ］に格納する処理（Ｓ３１〜Ｓ３９）を、ｙをインクリメントしながら２５回繰り返すことによって、配列変数Ｊｍ［ｙ］にはｙ＝０〜２４のそれぞれについて順にジッター値が格納されていく。そして、既にＪｐ［ｙ］にジッター値が格納されていれば、新たなｙの値についてジッター値がＪｍ［ｙ］に格納されるごとに、Ｓ４１及びＳ４３でＪｍ［ｙ］とＪｐ［ｙ］との大小関係が比較され、その比較結果に応じてＳ４２及びＳ４４で変数Ｓｅｒに比較結果が累積されていくことになる。ここで、減算値Ｓｍに対するジッター値Ｊ（Ｓｍ）と加算値Ｓｐに対するジッター値Ｊ（Ｓｐ）との間にＪ（Ｓｍ）＜Ｊ（Ｓｐ）の関係が成り立つ場合、変数Ｓｅｒの値を１減算する処理（Ｓ４２）が繰り返される結果、ｙについての繰り返し処理が２５回に到達するより前に、｜Ｓｅｒ｜＝ｔｈが成立し、Ｓ４５の判定条件を満たさなくなると考えられる。同様に、Ｊ（Ｓｍ）＞Ｊ（Ｓｐ）の関係が成り立つ場合も、変数Ｓｅｒの値を１加算する処理（Ｓ４４）が繰り返されて、やはり｜Ｓｅｒ｜＝ｔｈが成立し、Ｓ４５の判定条件を満たさなくなると考えられる。一方、まだＪｐ［ｙ］にジッター値が格納されておらず、Ｓ４１〜Ｓ４４の処理がスキップされる場合や、Ｊ（Ｓｍ）とＪ（Ｓｐ）との差がほとんどない場合（すなわち、中心値Ｓｃがほぼ最適値Ｓｏに一致している場合）などにおいては、Ｓ４５の判定条件を満たしたままｙが２５までインクリメントされることになる。
【００８３】
ここで、Ｊｍ［ｙ］及びＪｐ［ｙ］としてそれぞれ複数個のジッター値を測定し、その大小を比較した結果を変数Ｓｅｒの値として累積しているのは、異常なジッター値によって、Ｊ（Ｓｍ）とＪ（Ｓｐ）との間の大小関係を誤判定してしまうことを避けるためである。前述したように、この第３補正処理は、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り中にも行われる。そのため、補正処理の途中であっても、シーク制御によって補正処理が中断され、比較対象となる２つのジッター値が光ディスク媒体Ｍの互いに異なる箇所で測定される場合もあり得る。ところが、測定箇所が異なると、媒体表面の傷などの影響によって、正しくＪ（Ｓｍ）とＪ（Ｓｃ）の大小関係を評価することができなくなるおそれが生じる。そこで、本実施形態においては、Ｊ（Ｓｍ）に相当するジッター値、及びＪ（Ｓｃ）に相当するジッター値のそれぞれを、最大２５個取得し、その全体的な傾向を統計的に評価することによって、Ｊ（Ｓｍ）とＪ（Ｓｃ）の大小関係を評価することとしている。
【００８４】
以上説明したように、Ｓ４５の判定条件を満たさなくなるのは、Ｊ（Ｓｍ）とＪ（Ｓｃ）との間の大小関係を統計的に評価し、その評価結果が得られたときである。この場合、制御部２０は、以下に説明する中心値更新処理を実行して（Ｓ４９）、中心値Ｓｃを最適値Ｓｏに近い値に更新することとする。
【００８５】
図１０は、中心値更新処理の流れを示すフロー図である。同図に示されるように、まず制御部２０は、Ｓｅｒが１５以上か否かを判定する（Ｓ５１）。Ｓｅｒが１５以上であれば、Ｊ（Ｓｍ）＞Ｊ（Ｓｐ）の関係が成り立つと評価できるので、制御部２０は、中心値Ｓｃを所定の単位量ｕ（例えばコリメータレンズ３３移動の最小単位分）だけ増加させる（Ｓ５２）。
【００８６】
続いて制御部２０は、変数Ｄｉｒｃが−１か否かを判定する（Ｓ５３）。Ｄｉｒｃの現在値が−１の場合、前回の中心値更新処理では中心値Ｓｃを減少させる更新を行ったことになるので、今回の中心値更新処理では前回と逆方向に中心値Ｓｃを変化させたこととなる。この場合、中心値Ｓｃが放物線の頂点に対応する最適値Ｓｏにほぼ近づいていると想定されるので、これ以降のＳＡパラメタの更新頻度を下げることとする。具体的に、制御部２０は、時間変数ｔａの値を、初期値より大きな値（ここでは１４秒とする）に変更する（Ｓ５４）。これによって、前述したコリメータレンズ移動処理におけるＳ２２で発生する待ち時間が初期値より長くなり、コリメータレンズ３３の移動が行われる頻度が低くなる。すなわち、ＳＡパラメタの更新サイクルが長くなることになる。さらに制御部２０は、基準温度Ｔｒ１をサーミスタ２１によって測定される現在時点の温度Ｔにリセットする（Ｓ５５）。これは、中心値Ｓｃが更新された時点を基準として、後述する処理終了条件を満たすか否かの判定を行うためである。
【００８７】
一方、Ｓ５３でＤｉｒｃが−１でないと判定された場合、中心値Ｓｃを更新する方向は変化していないので、ＳＡパラメタの更新頻度を初期設定状態に戻すこととする。具体的に、制御部２０は、時間変数ｔａの値を初期値（７秒）に変更する（Ｓ５６）。さらにこの場合には、中心値Ｓｃが最適値Ｓｏに近づく途中であると考えられるので、基準温度Ｔｒ１をリセットすることはまだできないが、Ｓ５２で中心値Ｓｃを単位量ｕだけ最適値Ｓｏに近づけたことに対応して、基準温度Ｔｒ１をこの単位量ｕに応じた量だけ変化させることとする。具体的に、この単位量ｕに相当する温度変化は、第１実施形態の例で説明した定数値Ａを用いて、ｕ／Ａで表される。制御部２０は、この値を基準温度Ｔｒ１に加算することとする。Ｓ５５及びＳ５７のいずれかの処理が実行された後、さらに制御部２０は、変数Ｄｉｒｃの値を、今回中心値Ｓｃを補正した方向に応じて１に更新する。
【００８８】
また、前述したＳ５１の判定条件を満たさなかった場合（すなわちＳｅｒが正の値でない場合）、Ｓｅｒは負の値（−１５以下）ということになるので、逆にＪ（Ｓｍ）＜Ｊ（Ｓｐ）の関係が成り立っていると評価できる。この場合、制御部２０は、中心値Ｓｃを所定の単位量ｕだけ減少させる（Ｓ５９）。
【００８９】
続いて制御部２０は、図１０においてＳ６０からＳ６５までに示されるように、Ｓｅｒ≧１５だった場合におけるＳ５３からＳ５８までと同様の処理を実行する。ただし、Ｓ５９で中心値Ｓｃを変更する方向がＳ５２と逆であることに対応して、Ｓ６０でＤｉｒｃが１か否かを判定する点、Ｓ６４でｕ／Ａを基準温度Ｔｒ１に加算するのではなく基準温度Ｔｒ１から減算する点、及びＳ６５でＤｉｒｃを−１に更新する点が、それぞれＳ５３、Ｓ５７及びＳ５８の処理と異なっている。
【００９０】
最後に制御部２０は、中心値Ｓｃを更新したことに対応して、ジッター値測定・比較処理においてジッター値の格納及び比較に用いた各変数をリセットする。具体的に、制御部２０は、配列変数Ｊｍ［ｙ］及びＪｐ［ｙ］の全ての値を０に初期化するとともに、変数ｙ及びＳｅｒにそれぞれ０を代入して（Ｓ６６）、中心値更新処理を終了する。これにより、ジッター値測定・比較処理も終了する。
【００９１】
図６に戻って、ジッター値測定・比較処理が終了すると、続いて制御部２０は、処理終了条件を満たすか否かの判定を行う（Ｓ５）。ここで、前述したように中心値更新処理において同じ方向への中心値Ｓｃの更新が繰り返されるのではなく、異なる方向への中心値Ｓｃの更新が交互に実行される場合、中心値Ｓｃはほぼ最適値Ｓｏに一致していると想定される。このような状態がある程度の時間続いているときには、この第３補正処理を一旦終了しても構わないと考えられる。そこで、制御部２０はこのような条件を満たすか否かの判定を行う。
【００９２】
具体的に、まず制御部２０は、第１の終了判定条件として、変数ｔａの値がＳ５４又はＳ６１の処理によって初期値より大きな値（１４秒）に設定されており、かつΔＴ１（＝現在温度Ｔ−基準温度Ｔｒ１）が所定値（ここでは１℃）未満であるか否かを判定する。ここで、ΔＴ１＜１℃という条件が課されているのは、最後に中心値Ｓｃの更新が行われ、Ｓ５５又はＳ６２の処理で基準温度Ｔｒ１がリセットされた後、ある程度の温度変化が生じている場合には、やはり制御パラメタの補正処理が必要となるからである。この温度に関する条件が満たされなくなる場合としては、急激な温度変化があった場合のほか、他の制御処理などの割り込みによってこの第３補正処理が一旦中断され、処理の途中から再開された場合などが挙げられる。この第１の終了判定条件が満たされない場合には、基準時刻ｔ２を現在時刻ｔでリセットしてから、後続するＳ６の処理に進む。
【００９３】
一方、第１の終了判定条件を満足する場合、さらに制御部２０は、第２の終了判定条件として、現在時刻ｔ−基準時刻ｔ２が所定の時間（ここでは１分）以上であるか否かを判定する。ｔ−ｔ２＞１分の条件を満足する場合、異なる方向への中心値Ｓｃの更新が交互に実行される状態が、温度変化のないまま１分以上継続していることになる。この場合、制御部２０は、第３補正処理を一旦終了すると判定し、後述するＳ９の処理に進む。逆に第２の終了判定条件を満足しない場合、Ｓ６の処理に進む。
【００９４】
次に、制御部２０は、ＳＡパラメタの設定値を加算値Ｓｐ（＝Ｓｃ＋α）に変更して、当該加算値Ｓｐに応じた位置までコリメータレンズ３３を移動させるコリメータレンズ移動処理を行う（Ｓ６）。この処理は、Ｓ２４においてＳＡパラメタの設定値が減算値Ｓｍではなく加算値Ｓｐに変更される点を除いて、図７に示したＳ３のコリメータレンズ移動処理と同様の処理である。
【００９５】
コリメータレンズ３３が加算値Ｓｐに対応する位置まで移動されると、続いて制御部２０は、ジッター値測定・比較処理を行う（Ｓ７）。この処理は、Ｓ３５及びＳ３６においてジッター値の測定結果を格納する配列変数がＪｍ［ｙ］ではなくＪｐ［ｙ］になる点、及びＳ４０において判定対象となるのがＪｐ［０］ではなくＪｍ［０］になる点を除いて、図８〜図１０に示したＳ４におけるジッター値測定・比較処理と同様の処理である。これにより、加算値Ｓｐが設定された場合のジッター値測定が行われ、Ｊｍ［ｙ］に既にジッター値が格納されていれば、さらに加算値Ｓｐに応じて測定されたジッター値Ｊｐ［ｙ］と減算値Ｓｍに応じて測定されたジッター値Ｊｍ［ｙ］との比較が行われる。
【００９６】
Ｓ７のジッター値測定・比較処理が終わると、続いて制御部２０は、Ｓ５と同様に処理終了条件を満たすか否かの判定を行う（Ｓ８）。この判定処理も、Ｓ５と同じく第１の終了判定条件及び第２の終了判定条件を用いた判定である。この判定の結果、処理終了条件を満たさないと判定される場合、Ｓ３に戻って引き続き第３補正処理が繰り返される。一方、処理終了条件を満たすと判定される場合、第３補正処理を一旦終了すると判定し、Ｓ９の処理に進む。
【００９７】
Ｓ５又はＳ８で処理終了条件を満たすと判定された場合、中心値Ｓｃはほぼ最適値Ｓｏに一致すると推定されるが、その時点ではＳＡパラメタの設定値は減算値Ｓｍ又は加算値Ｓｐのどちらかに設定されているはずである。そこで制御部２０は、コリメータレンズ移動処理を実行して、ＳＡパラメタの設定値を中心値Ｓｃに戻す制御を行う（Ｓ９）。この処理は、Ｓ２４でＳＡパラメタの設定値をその時点の中心値Ｓｃに変更する点を除き、Ｓ３やＳ６で実行されるコリメータレンズ移動処理と同様の処理であってよい。この制御の後、制御部２０は、Ｓ１に戻って再び現在温度Ｔが基準温度Ｔｒ１から変化し、第３補正処理が必要となる状態を待つこととする。
【００９８】
なお、以上の説明においては、第３補正処理は連続的に実行される一連の処理であることとしたが、これまでにも説明したように、第３補正処理は装置の使用中に実行されるので、読み取り動作やポーズ制御以外の他の制御動作（例えばシーク制御）によって中断される場合がある。そこで、このような中断が発生しても、補正処理の途中から再開することができるように、処理の進行状態を示すカウンタ変数を用意し、処理ステップが進むごとにこのカウンタ変数を増加させることとしてもよい。こうすれば、処理が中断しても、その後再開するタイミングでこのカウンタ変数を参照して処理を再開させることができる。
【００９９】
また、光ディスク媒体Ｍが複数のデータ記録層を備える場合、これまで読み取りを行っていたデータ記録層とは異なるデータ記録層からの情報の読み取りがホストによって指示されることがある。このような場合、データ記録層ごとにＳＡパラメタの最適値Ｓｏが異なるため、第３補正処理は、複数のデータ記録層のそれぞれについて、互いに独立した変数を用いて、互いに独立に実行される必要がある。そこで、これまで情報の読み取りを行っていたデータ記録層（旧データ記録層）から、別の新たなデータ記録層（新データ記録層）への層間ジャンプが指示された場合には、旧データ記録層についての第３補正処理を中断し、新データ記録層についての第３補正処理を行う。この場合、前回中断した時点から再開するのではなく、図６におけるＳ１から補正処理を再実行することとしてもよい。
【０１００】
以上説明した第２実施形態に係る光ディスク装置１によれば、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り中にも、制御パラメタの設定値が最適値Ｓｏに追従するように補正処理を行うことができる。
【０１０１】
なお、以上の説明における処理フローや制御に用いられる各種の定数はいずれも例示である。また、以上の説明において所定の定数であることとした値は、光ディスク装置１の動作状態などに応じて変更されることとしてもよい。例えば単位時間あたりの装置内の温度変化量が大きい場合には、より早く設定値が最適値Ｓｏに収束するように補正を行う必要がある。逆に温度変化量が小さい場合には、頻繁にコリメータレンズ３３を移動させないほうが好ましい場合もある。そこで、ジッター値の測定回数を比較対象とするジッター値の数を規定するカウンタ変数ｘ及びｙの上限値や、１回の更新処理における中心値Ｓｃの変化量である単位量ｕ、更新処理を行うと判断するための閾値ｔｈなどを、温度の変化速度や装置使用開始時からの時間経過に応じて、変化させてもよい。また、単位時間あたりの読み取りエラーの発生頻度に応じて、ジッター値の測定回数や閾値ｔｈなどを変化させてもよい。
【０１０２】
［組み合わせ例］
以上説明した第１実施形態に係る光ディスク装置の補正処理と、第２実施形態に係る光ディスク装置の補正処理と、は、組み合わせて実行されることとしてもよい。これまで説明した第３補正処理が他の制御処理などによって長時間中断されてしまうと、その後に第３補正処理を再開したとしても、効果的に制御パラメタの補正をできない場合がある。例えば一定時間ホストからの命令がなく、光ディスク装置１がスタンバイ状態（スピンドルモータ１２や光学ピックアップ１３の動作を停止した状態）に移行した場合、その後にスタンバイ状態から復帰した際には、スタンバイ状態移行時とは温度が大きく変化している可能性がある。このような場合、第３補正処理によって徐々に中心値Ｓｃを補正しようとしても、このような補正が行われる前に、中心値Ｓｃと最適値Ｓｏとの間のずれによって読み取りエラーなどが発生する可能性がある。そこで、光ディスク装置１は、読み取り動作を開始する前に、現在温度Ｔに応じて、第１実施形態において説明したような第１又は第２補正処理を実行することとしてもよい。
【０１０３】
図１１は、このように第１、第２及び第３補正処理を組み合わせる場合の制御の一例を示すフロー図である。この図の例では、ホストから情報読み取り命令を受け付けた場合、まず制御部２０は、現在温度Ｔと第１基準温度Ｔｒ１との差ΔＴ１が所定値（ここでは１０℃）以上か否かを判定する（Ｓ７１）。そして、判定条件を満たす場合には、大きな温度変化が生じているので、高精度の補正が必要と判断し、第１補正処理を実行する（Ｓ７２）。その後、第１基準温度Ｔｒ１及び第２基準温度Ｔｒ２を、現在温度Ｔでリセットする（Ｓ７３）。なお、この例では、第１基準温度Ｔｒ１は初期調整処理又は前回の第１補正処理が実行された時点の温度に対応し、第２基準温度Ｔｒ２は、初期調整処理、第１補正処理、又は第２補正処理のいずれかが前回実行された時点の温度に対応している。
【０１０４】
一方、Ｓ７１の判定条件を満たさない場合、制御部２０は、現在温度Ｔと第２基準温度Ｔｒ２との差ΔＴ２が所定値（ここでは５℃）以上か否かを判定する（Ｓ７４）。そして、この判定条件を満たす場合には、第２補正処理を実行し（Ｓ７５）、第２基準温度Ｔｒ２だけを現在温度Ｔでリセットする（Ｓ７６）。逆に判定条件を満たさない場合には、いずれの補正処理も不要と判断し、Ｓ７７に進む。
【０１０５】
その後、ホストからの情報読み取り命令によって指定された情報の読み取り位置に光学ピックアップ１３を移動させるシーク制御を実行し（Ｓ７７）、シーク制御が完了すると、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取りを開始するとともに、第３補正処理の実行を開始する（Ｓ７８）。既に述べたように、この第３補正処理は新たな制御命令などによって中断されるまで継続して実行され、中断された後に再びホストから情報読み取り命令が発行された場合には、再度Ｓ７１から処理が実行される。そのため、中断した時間が長く、その間に温度変化が生じた場合には、温度変化の程度に応じて第１補正処理又は第２補正処理が選択的に実行されることになる。なお、ここでは第１補正処理及び第２補正処理を選択的に実行することとしたが、いずれか一方のみを温度変化に応じて実行することとしてもよい。
【０１０６】
また、制御部２０は、第３補正処理の実行中であっても、温度変化の発生等があった場合、必要に応じて第１補正処理や第２補正処理を実行することとしてもよい。例えば制御部２０は、第３補正処理の各ステップの処理を実行するごとに、現在温度Ｔが第２基準温度Ｔｒ２から所定値以上変動したか否かを判定し、所定値以上の変動があった場合には、第２補正処理を実行することとしてもよい。こうすれば、例えばジッター値の測定に何度も失敗し、図８のＳ３４において測定成功との判定がなされずに長時間が経過した場合などにおいて、第３補正処理とは異なる手法による制御パラメタの補正を行うことで、読み取りエラーなどの発生を避けることができる。なお、この例においては、第３補正処理による制御パラメタの更新が正常に行われている間は、第２補正処理を実行する必要はないので、中心値Ｓｃを更新するごとに第２基準温度Ｔｒ２をリセットする必要がある。具体的に、例えば制御部２０は、図６のＳ２において初期化を行う変数の対象に第２基準温度Ｔｒ２を含めるとともに、図１０のＳ５５、Ｓ５７、Ｓ６２及びＳ６４の各処理において、第１基準温度Ｔｒ１を更新するだけでなく、第２基準温度Ｔｒ２を当該処理の時点の現在温度Ｔでリセットすることとする。
【０１０７】
なお、これまでの各実施形態に係る光ディスク装置の説明においては、制御パラメタが球面収差補正に関するＳＡパラメタであることとしたが、本発明の実施の形態に係る光ディスク装置が補正対象とする制御パラメタは、これ以外のものであってもよい。例えば光ディスク装置は、情報の読み取りを行う間、対物レンズ３６からの光の焦点が読み取り位置に一致した状態を保つように、ＳＡパラメタを含む各種のサーボ制御パラメタによって規定される動作条件で、フォーカスサーボやトラッキングサーボなどのサーボ制御を実行する。そこで、これらのサーボ制御パラメタの設定値を、補正処理の対象としてもよい。また、読み取り精度の評価に用いる評価値も、ジッター値に限らず、例えばＲＦ振幅など、他の指標であってもよい。
【符号の説明】
【０１０８】
１ 光ディスク装置、１１ 媒体支持部、１２ スピンドルモータ、１３ 光学ピックアップ、１４ 三軸アクチュエータ、１５ 送りモータ、１６ 駆動回路、１７ ＲＦアンプ、１８ サーボ信号処理部、１９ 記録信号処理部、２０ 制御部、２１ サーミスタ、３１ 発光素子、３２ 偏光ビームスプリッタ、３３ コリメータレンズ、３４ コリメータレンズ駆動部、３５ 立ち上げミラー、３６ 対物レンズ、３７ フォトディテクタ、４１ 第１補正処理部、４２ 第２補正処理部、４３ 補正制御部。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤや、ＤＶＤ、Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標）などの光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置、その制御方法、プログラム及び情報記憶媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、各種の光ディスク媒体が情報記録媒体として利用されている。このような光ディスク媒体に記録された情報の読み取りを行うために、光ディスク装置が用いられる。光ディスク装置は、光ディスク媒体に対して光を照射し、その光ディスク媒体での反射光を検出する光学ピックアップを備えている。そして、この光学ピックアップを光ディスク媒体の表面に対して相対移動させる駆動系を制御して、光学ピックアップを情報の読み取りが可能な位置に移動させることによって、光ディスク媒体から情報の読み取りを行う。
【０００３】
光ディスク装置が光学ピックアップや駆動系などの各部を制御して光ディスク媒体から情報の読み取りを行う際には、その制御に関して各種の制御パラメタが設定される。このような制御パラメタの一例としては、対物レンズの球面収差補正に関するパラメタ（以下、ＳＡパラメタという）が挙げられる。例えば光学ピックアップ内には、光ディスク媒体に光を集光する対物レンズの球面収差を補正するために、コリメータレンズが設けられており、このコリメータレンズの位置をＳＡパラメタの設定値に応じて適切に調整することで、対物レンズの球面収差を補正し、対物レンズからの光を光ディスク媒体に精度よく集光することができる。このように、光ディスク装置は、ＳＡパラメタなどの制御パラメタに対して適切な値を設定し、当該設定した値に応じた動作条件で装置の各部を制御することで、光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を向上させることができる。
【０００４】
これらの制御パラメタに対して設定すべき値は、読み取り対象となる光ディスク媒体の種類や個体差などにより変動する。そこで光ディスク装置は、新たに光ディスク媒体が装置内にセットされると、情報の読み取りを開始する前にまず制御パラメタの調整処理を行う（例えば特許文献１参照）。具体的に、この調整処理は、以下のような制御である。すなわち、まず光ディスク装置は、制御パラメタの設定値を設定可能な範囲で変化させて、いくつかの設定値が設定された状態で媒体からの情報の読み取りを試行し、そのときの情報の読み取り精度を評価する。そして、この複数の設定値のそれぞれに対応して得られる読み取り精度の評価値を用いて、情報の読み取り精度を向上できるような制御パラメタの設定値（調整値）を算出し、当該算出した値を制御パラメタの値として設定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第４００１０２４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述したような制御パラメタの調整処理は、通常、光ディスク媒体が新たに装置内にセットされたときに、１回だけ行われる。しかしながら、場合によっては、望ましい制御パラメタの設定値が装置の使用中に変化することもある。例えば、対物レンズの材質等によっては、光ディスク装置の使用中に温度が変化することでそのレンズ特性が変化し、その結果ＳＡパラメタの最適な設定値も変化する。しかしながら、前述したような制御パラメタの調整処理の実行にはある程度の時間がかかり、その実行中は情報の読み取り動作が中断されることもあるため、装置の使用中に何度もこのような調整処理を実行するのは好ましくない場合がある。
【０００７】
本発明は上記実情を考慮してなされたものであって、その目的の一つは、装置の使用中に、比較的短時間で制御パラメタの設定値を補正することのできる光ディスク装置、その制御方法、プログラム、及び情報記憶媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る光ディスク装置は、所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置であって、装置内の温度を測定する測定部と、前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正手段と、前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正手段と、前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに、前記第１及び第２補正手段のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を選択的に実行させる補正制御手段と、を含むことを特徴とする。
【０００９】
また、上記光ディスク装置において、前記補正制御手段は、前記測定部により測定される温度の変化に応じたタイミングごとに、前記制御パラメタの値の補正を実行させることとしてもよい。
【００１０】
さらに、前記補正制御手段は、前記測定部により所定の温度変化の後、読み取り動作に関する所定の条件を最初に満たしたタイミングごとに、前記制御パラメタの値の補正を実行させることとしてもよい。
【００１１】
また、上記光ディスク装置において、前記補正制御手段は、所定の回数だけ前記第２補正手段による補正を実行させた後に、前記第１補正手段による補正を実行させることとしてもよい。
【００１２】
また、本発明に係る光ディスク装置の制御方法は、装置内の温度を測定する測定部を備え、所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置の制御方法であって、前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正処理と、前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正処理と、のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を、前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに選択的に実行させることを特徴とする。
【００１３】
また、本発明に係るプログラムは、装置内の温度を測定する測定部を備え、所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置を制御するプログラムであって、前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正手段、前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正手段、及び前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに、前記第１及び第２補正手段のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を選択的に実行させる補正制御手段、としてコンピュータを機能させるためのプログラムである。このプログラムは、コンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体に記憶されてよい。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置の構成例を表すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置の光学ピックアップの内部構成例を表す概要図である。
【図３】制御パラメタの設定値と評価値との関係の一例を示すグラフである。
【図４】本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置の機能例を表す機能ブロック図である。
【図５】温度変化と制御パラメタの設定値との関係の一例を示すグラフである。
【図６】本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置が実行する補正処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図７】コリメータレンズ移動処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図８】ジッター値測定・比較処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図９】ジッター値測定・比較処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図１０】中心値更新処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図１１】第１、第２及び第３補正処理を組み合わせて用いる場合の処理の流れの一例を示すフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の実施の形態について、図面に基づき詳細に説明する。
【００１６】
［第１実施形態］
本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置１は、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る装置であって、図１に示すように、媒体支持部１１と、スピンドルモータ１２と、光学ピックアップ１３と、三軸アクチュエータ１４と、送りモータ１５と、駆動回路１６と、ＲＦアンプ１７と、サーボ信号処理部１８と、記録信号処理部１９と、制御部２０と、サーミスタ２１と、を備えている。
【００１７】
なお、光ディスク装置１による情報読み出しの対象となる光ディスク媒体Ｍは、情報が記録されるデータ記録層と、その両側からデータ記録層を保護する保護層と、が積層されて構成される。以下では、データ記録層の表面を信号面という。また、光ディスク装置１は、光ディスク媒体Ｍに記録された情報を読み取るだけでなく、光ディスク媒体Ｍに対して情報を書き込み可能に構成されてもよい。さらに、光ディスク装置１は、ＣＤや、ＤＶＤ、Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃなど、複数種類の光ディスク媒体Ｍに記録された情報を読み取り可能に構成されてもよい。
【００１８】
媒体支持部１１は、光ディスク媒体Ｍを回転可能に支持する。また、この媒体支持部１１は、スピンドルモータ１２から伝達される動力によって光ディスク媒体Ｍを回転させる。
【００１９】
光学ピックアップ１３は、光ディスク媒体Ｍに対して光を照射し、照射した光の光ディスク媒体Ｍでの反射光を検出して、検出した反射光に応じた出力信号を出力する。この光学ピックアップ１３は、三軸アクチュエータ１４によって光ディスク媒体Ｍの径方向、及び光ディスク媒体Ｍの表面に垂直な方向（すなわち、光ディスク媒体Ｍの回転軸に沿った方向）の２つの方向に移動可能になっており、さらに、光学ピックアップ１３の光ディスク媒体Ｍに対する相対的な傾きを変更可能になっている。三軸アクチュエータ１４が光学ピックアップ１３を媒体表面に垂直な方向に沿って移動させることにより、光学ピックアップ１３に備えられた対物レンズから光ディスク媒体Ｍの表面までの距離が変化する。
【００２０】
図２は、光学ピックアップ１３の内部構成の一例を示す図である。この図の例においては、光学ピックアップ１３は、発光素子３１と、偏光ビームスプリッタ３２と、コリメータレンズ３３と、コリメータレンズ駆動部３４と、立ち上げミラー３５と、対物レンズ３６と、フォトディテクタ３７と、を備えている。
【００２１】
発光素子３１は、所定波長のレーザー光を出力する半導体レーザー素子である。発光素子３１から出射された出射光は、偏光ビームスプリッタ３２及びコリメータレンズ３３を通過した後、立ち上げミラー３５で反射される。さらに、立ち上げミラー３５で反射された出射光は、対物レンズ３６によって、対物レンズ３６から焦点距離Ｆだけ離れた焦点位置（フォーカス位置）に集光され、光ディスク媒体Ｍによって反射される。
【００２２】
光ディスク媒体Ｍにより反射された反射光は、対物レンズ３６を通過した後、立ち上げミラー３５で反射され、偏光ビームスプリッタ３２によってフォトディテクタ３７側に導かれる。フォトディテクタ３７は、例えばＮ×Ｎのマトリクス状に配置された複数の受光素子を備えており、偏光ビームスプリッタ３２によって導かれた反射光がこれらの受光素子に到達すると、フォトディテクタ３７は、複数の受光素子のそれぞれが受光した光の強度に応じた信号を出力信号として出力する。
【００２３】
また、コリメータレンズ駆動部３４は、アクチュエータ等により構成され、コリメータレンズ３３を、レーザー光の光軸方向に沿って前後に駆動する。コリメータレンズ駆動部３４がコリメータレンズ３３を光軸方向に沿って移動させることにより、対物レンズ３６の球面収差補正が可能となる。
【００２４】
送りモータ１５は、光学ピックアップ１３及び三軸アクチュエータ１４の全体を、光ディスク媒体Ｍの径方向に沿って移動させる。この送りモータ１５の駆動によって、光学ピックアップ１３は、光ディスク媒体Ｍの中心近傍の位置から外周近傍の位置まで移動可能になっている。
【００２５】
駆動回路１６は、サーボ信号処理部１８から入力される制御信号に従って、コリメータレンズ駆動部３４、三軸アクチュエータ１４、スピンドルモータ１２、及び送りモータ１５を駆動する駆動信号を出力する。この駆動回路１６からの駆動信号に応じて、スピンドルモータ１２の回転速度が変化することによって、光ディスク媒体Ｍの回転速度が制御される。また、この駆動回路１６からの駆動信号に応じて三軸アクチュエータ１４及び送りモータ１５が駆動することによって、対物レンズ３６の媒体回転軸からの径方向に沿った距離、及び対物レンズ３６の媒体表面までの距離が制御される。
【００２６】
ＲＦアンプ１７、サーボ信号処理部１８、記録信号処理部１９、及び制御部２０は、例えば、光学ピックアップ１３からの出力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、及び当該変換により得られたディジタル信号を処理するＤＳＰ（Digital Signal Processer）やマイクロコンピュータなどによって実現される。
【００２７】
ＲＦアンプ１７は、光学ピックアップ１３が出力する、複数の受光素子それぞれの出力信号に基づいて、各種の信号を出力する。具体的に、ＲＦアンプ１７は、各受光素子からの出力信号を所与のゲインで増幅してデータ再生用のＲＦ信号として出力するとともに、この増幅された全ての受光素子の出力信号を全加算したプルイン信号（ＰＩ信号）を出力する。このＰＩ信号のレベルが、光学ピックアップ１３が出力する出力信号全体のレベルを表している。
【００２８】
また、ＲＦアンプ１７は、光ディスク媒体Ｍの信号面に対する、対物レンズ３６のフォーカス位置のずれを示すフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を算出し、出力する。一例として、ＦＥ信号は、複数の受光素子のうち、所定の対角線方向に沿って配列している受光素子の出力信号の和から、当該対角線と交差する対角線方向に沿って配列している受光素子の出力信号の和を減じることによって算出される。さらに、ＲＦアンプ１７は、データ記録層内において情報が記録されるトラックの位置と、対物レンズ３６のフォーカス位置と、の間の光ディスク媒体Ｍの径方向のずれを示すトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）を算出して、出力する。
【００２９】
サーボ信号処理部１８は、ＲＦアンプ１７が出力するＰＩ信号、ＦＥ信号、ＴＥ信号などに基づいて、サーボ制御用の各種の信号を生成し、制御部２０に出力する。また、サーボ信号処理部１８は、制御部２０から入力される指示に従って、駆動回路１６に対して三軸アクチュエータ１４やコリメータレンズ駆動部３４、送りモータ１５、スピンドルモータ１２を駆動させるための制御信号を出力する。
【００３０】
また、サーボ信号処理部１８は、制御部２０からの指示に応じてサーボ制御を実行する。具体的に、サーボ信号処理部１８は、制御部２０からサーボ制御開始の指示が入力されると、ＲＦアンプ１７から入力されるＦＥ信号に応じて三軸アクチュエータ１４を制御する制御信号を出力することにより、光学ピックアップ１３の媒体表面に垂直な方向の位置調整を行うフォーカスサーボ制御を行う。これにより、対物レンズ３６のフォーカスが光ディスク媒体Ｍの信号面に一致する状態が維持される。また、ＲＦアンプ１７から入力されるＴＥ信号に応じて三軸アクチュエータ１４を制御する制御信号を出力することにより、光学ピックアップ１３の径方向の位置を変化させるトラッキングサーボ制御を行う。これにより、対物レンズ３６のフォーカスがデータ記録層内のトラックに追従するように、光学ピックアップ１３が媒体表面に対して相対移動する。このように、サーボ信号処理部１８が実行するサーボ制御によって、光ディスク媒体Ｍの表面に対する光学ピックアップ１３の相対位置が制御されることにより、光学ピックアップ１３が光ディスク媒体Ｍから情報を読み取り可能な状態が維持され、その間に情報の読み出しが行われる。なお、サーボ信号処理部１８は、外乱の影響などによってサーボエラーが生じる（すなわち、サーボ制御が続行できない状態になる）と、サーボエラー発生を通知する信号を制御部２０に対して出力する。
【００３１】
記録信号処理部１９は、ＲＦアンプ１７が出力するＲＦ信号に基づいて、光ディスク媒体Ｍに記録された情報を示すディジタル信号を復調して、制御部２０に出力する。また、記録信号処理部１９は、光学ピックアップ１３による光ディスク媒体Ｍに記録された情報の読み取り精度に関する評価値（ＲＦ振幅やジッター値など）を算出し、制御部２０に対して出力する。以下では具体例として、記録信号処理部１９は、基準クロックに対するＲＦ信号波形の立ち上がりタイミングの時間的なずれを示すジッター値を測定し、制御部２０に対して出力することとする。
【００３２】
制御部２０は、例えばマイクロコンピュータによって構成され、実行モジュールと記憶素子とを含む。この制御部２０の記憶素子には、実行するべきプログラムや各種パラメタが格納され、実行モジュールは、当該記憶素子に格納されたプログラムに従って処理を行う。具体的に、制御部２０は、サーボ信号処理部１８から入力される信号（ＰＩ信号のピーク検出の結果に関する信号や、ＦＥ信号に対して所定の判定を行った結果を示す信号）等の入力を受けて、これらの信号に基づき、対物レンズ３６のフォーカスが信号面に合う位置を検出し、当該位置に光学ピックアップ１３と光ディスク媒体Ｍとの距離を設定する処理（フォーカス検出処理）を実行する。この処理によってフォーカス検出がなされると、その状態を維持するため、制御部２０は、サーボ信号処理部１８に対してフォーカスサーボ制御開始を指示する命令を出力する。
【００３３】
また、制御部２０は、パーソナルコンピュータや、家庭用ゲーム機本体、ビデオデコーダなどのホストに接続され、ホストからの要求に応じて、送りモータ１５や三軸アクチュエータ１４を駆動させる命令をサーボ信号処理部１８に出力し、対物レンズ３６のフォーカス位置（すなわち、光ディスク媒体Ｍ上における情報の読み取り位置）を光ディスク媒体Ｍ上の所望の位置へ移動させる。また、併せてスピンドルモータ１２の回転速度を変更する命令をサーボ信号処理部１８に出力し、光ディスク媒体Ｍの回転速度を調整する。そして、その状態において記録信号処理部１９が出力する、光ディスク媒体Ｍから読み取られた信号から復調された信号を、ホスト側へ出力する。
【００３４】
サーミスタ２１は、光学ピックアップ１３の近傍に配置されており、光ディスク装置１内部の温度を測定する測定部として機能する。本実施形態では、光学ピックアップ１３内の対物レンズ３６はプラスチックレンズであって、そのレンズ特性が温度によって変化する。そこで、サーミスタ２１は、対物レンズ３６の温度特性に応じた補正を行うために、光学ピックアップ１３周辺の温度を測定し、その測定結果を制御部２０に対して出力する。
【００３５】
本実施形態において、光ディスク装置１は、光ディスク媒体Ｍから情報を読み取る読み取り動作の際の動作条件を規定する所定の制御パラメタについて、その望ましい設定値（調整値）を算出する初期調整処理を行う。具体的に、この初期調整処理において、光ディスク装置１は、精度よく光ディスク媒体Ｍに記録された情報を読み出すことができると想定される制御パラメタの調整値を算出する。そして、この初期調整処理によって算出された調整値を制御パラメタに対して設定し、設定された値に応じた動作条件で読み取り動作を実行する。これにより、光ディスク装置１は、読み取りエラーを生じさせずに、精度よく光ディスク媒体Ｍからの情報の読み出しを行うことができる。
【００３６】
この制御パラメタの初期調整処理は、例えば光ディスク装置１に新たに光ディスク媒体Ｍがセットされた場合や、光ディスク装置１の電源が投入された場合などに実行される。光ディスク媒体Ｍの種別や個体差などによって、制御パラメタの最適な設定値が異なるからである。
【００３７】
以下では、このような制御パラメタの一例として、対物レンズ３６の球面収差補正に用いられるコリメータレンズ３３の位置に関するパラメタ（以下、ＳＡパラメタという）を調整する場合について、説明する。ＳＡパラメタの設定値が変更されると、光ディスク装置１は、コリメータレンズ駆動部３４を制御して、当該設定値に応じた位置にコリメータレンズ３３を移動させる。このコリメータレンズ３３の位置を適切に調整することによって、光学ピックアップ１３は、対物レンズ３６の球面収差を補正して、精度よく情報の読み出しを行うことができる。
【００３８】
ここで、初期調整処理の具体例について説明する。制御パラメタの設定値と、読み取り精度の評価値（ここではジッター値）との間には、二次曲線で近似可能な関係が成立する。図３は、このような制御パラメタの設定値とジッター値との間の関係の一例を示すグラフである。この図においては、横軸（Ｘ軸）が制御パラメタの設定値を、縦軸（Ｙ軸）がジッター値を、それぞれ示している。ここでは評価値としてジッター値を用いているので、その値が小さいほど読み取り精度が高いことを示している。この図３においては、制御パラメタの設定値とジッター値との関係が下に凸の放物線によって表されており、最も読み取り精度を向上できる制御パラメタの設定値（以下、最適値Ｓｏという）は、放物線の頂点に対応するＸ軸の値になる。そのため、放物線の頂点近傍の位置に対応するＸ軸の値を制御パラメタの設定値として設定することによって、評価値を小さくする（すなわち、情報の読み取り精度を向上させる）ことができる。
【００３９】
そこで、光ディスク装置１は、サンプルデータとして、制御パラメタを少なくとも互いに異なる３個以上の設定値のそれぞれに設定した状態で、ジッター値を測定する。ここで、３個以上のサンプルデータが必要となるのは、放物線上において、図３で例示されるような、接線の傾きが負になる点Ｐａ、接線の傾きが０に近くなる点Ｐｂ、及び接線の傾きが正になる点Ｐｃの少なくとも３点が特定されないと、精度よく二次曲線の近似を行うことができないからである。３個以上のサンプルデータが測定されると、光ディスク装置１は、最小二乗法などの手法でこれらのサンプルデータを近似する二次曲線を算出し、その頂点位置に対応する制御パラメタの値を、調整値として算出する。このようにして初期調整処理が実行されると、光ディスク装置１は、当該算出された調整値に基づいてコリメータレンズ駆動部３４を駆動し、コリメータレンズ３３の位置を調整する。
【００４０】
さらに、本実施形態に係る光ディスク装置１は、以上説明したような初期調整処理によってＳＡパラメタの調整値を算出し、光ディスク媒体Ｍに対する読み取り動作を開始した後も、所定のタイミングでＳＡパラメタの設定値を補正することとする。このようなＳＡパラメタの補正を行わない場合、前述したように、時間とともに装置内の温度が上昇して対物レンズ３６のレンズ特性が変化し、ＳＡパラメタの最適値Ｓｏと初期調整処理により設定された調整値との間にずれが生じる結果、読み取りエラーが発生するおそれがあるからである。
【００４１】
以下、このＳＡパラメタの補正処理を実行するために本実施形態に係る光ディスク装置１が実現する機能について説明する。光ディスク装置１は、機能的に、図４に示すように、第１補正処理部４１と、第２補正処理部４２と、補正制御部４３と、を含んで構成される。これらの機能は、制御部２０が内蔵された記憶素子に格納しているプログラムを実行することによって実現される。このプログラムは、各種のコンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体に格納されて提供されてよい。以下に詳しく説明するように、第１補正処理部４１及び第２補正処理部４２は、互いに異なる方法によりＳＡパラメタの補正処理を行う。どのようなタイミングでどちらの補正処理部による補正処理を実行するかは、補正制御部４３によって決定される。
【００４２】
第１補正処理部４１は、互いに異なる複数個のＳＡパラメタの設定値のそれぞれについて、当該設定値が設定された状態で光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り精度を評価することにより、ＳＡパラメタの値を補正する。以下、第１補正処理部４１が実行する補正処理を第１補正処理という。具体的に、第１補正処理部４１は、前述した初期調整処理と同様の処理を第１補正処理として実行することによって、ＳＡパラメタの最適値Ｓｏを再度算出し、当該算出した最適値Ｓｏに応じてＳＡパラメタの設定値を補正する。この第１補正処理によって、光ディスク媒体Ｍの個体差などに関わりなく、補正処理を実行した時点の装置環境における最適値Ｓｏにほぼ一致する値を、補正値として設定することができる。
【００４３】
第２補正処理部４２は、サーミスタ２１により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、ＳＡパラメタの値を補正する。以下、第２補正処理部４２が実行する補正処理を第２補正処理という。対物レンズ３６周囲の温度と、ＳＡパラメタの最適値Ｓｏと、の間には、略線形な関係が成立する。そこで、第２補正処理部４２は、最初の初期調整処理、又は直近の過去に第１補正処理部４１が実行した補正処理によって設定されたＳＡパラメタの値（以下、基準設定値Ｓｒという）と、当該基準設定値Ｓｒが設定された時点においてサーミスタ２１により測定された温度（以下、基準温度Ｔｒという）を基準として、新たに設定すべきＳＡパラメタの値（以下、補正値Ｓという）を算出する。具体的に、第２補正処理部４２は、基準設定値Ｓｒ、基準温度Ｔｒ、定数値Ａ、及び当該補正処理の実行時における現在温度Ｔに基づいて、補正値Ｓを以下の計算式により算出する。
Ｓ＝Ａ・（Ｔ−Ｔｒ）＋Ｓｒ
ここで、第２補正処理部４２は、定数値Ａとして、予め装置内に記憶された値を読み出して用いることとする。
【００４４】
上記計算式から明らかなように、定数値Ａは、温度Ｔと補正値Ｓとの間の線形関係における傾きに相当する。この定数値Ａは、例えば以下のような方法により決定される。すなわち、様々な光ディスク媒体Ｍ及び光ディスク装置１の組み合わせにおいて、ＳＡパラメタの最適値Ｓｏの温度依存特性を測定し、温度変化に対する最適値Ｓｏの変化の比（傾き）を算出する。そして、算出された複数の傾きの平均値を、第２補正処理に用いる定数値Ａとして決定し、光ディスク装置１内の記憶素子に格納しておく。この場合の定数値Ａは、平均的な光ディスク媒体Ｍ及び光ディスク装置１の組み合わせにおける、温度変化に対する最適値Ｓｏの変化の比を示すことになる。
【００４５】
なお、定数値Ａは、光ディスク媒体Ｍの種類ごとに異なる値であってもよい。この場合、光ディスク装置１はまず装置にセットされた光ディスク媒体Ｍの種別を判定する処理を実行し、その判定結果に応じて、第２補正処理に用いる定数値Ａを予め記憶された複数の候補値の中から選択する。また、複数のデータ記録層を備える光ディスク媒体Ｍにおいては、当該複数のデータ記録層のそれぞれについて、互いに異なる定数値Ａが用意されることとしてもよい。
【００４６】
補正制御部４３は、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに、第１補正処理部４１及び第２補正処理部４２のいずれかによる制御パラメタの値の補正処理を選択的に実行させる制御を行う。ここでは具体的に、補正制御部４３は、サーミスタ２１により測定された温度の変化に応じて、補正処理を実行するタイミング、及び当該タイミングにおいて第１補正処理と第２補正処理のどちらを実行するかを決定する。
【００４７】
初期調整処理と同様の処理によってＳＡパラメタの調整値を算出するためには、前述したように、ＳＡパラメタの設定値を変化させて、３個以上の設定値のそれぞれに対応したジッター値を測定する必要がある。このとき、ＳＡパラメタの設定値変更に応じて、複数回コリメータレンズ３３の位置を変更する機械的な制御が行われる。そのため、第１補正処理は、第２補正処理と比較して時間がかかってしまう。その代わり、第１補正処理によれば、光ディスク媒体Ｍや光ディスク装置１の個体差などに関わりなく、補正処理を実行した時点の装置環境における最適な調整値を算出することができる。一方、第２補正処理は、コリメータレンズ３３の位置を何度も変化させることなく、演算処理によって補正値Ｓを決定することができるため、第１補正処理より短時間で完了する。しかしながら、第２補正処理に用いられる定数値Ａは、平均的な光ディスク媒体Ｍ及び光ディスク装置１の組み合わせを想定して決定された値なので、必ずしも個々の光ディスク媒体Ｍ及び光ディスク装置１に対して、第２補正処理によって最適な補正値Ｓが得られるとは限らない。
【００４８】
そこで、補正制御部４３は、初期調整処理が実行された時点からの温度変化が小さい間は第２補正処理部４２に補正処理を実行させ、温度変化がある程度大きくなった段階で、第１補正処理部４１に補正処理を実行させることとする。すなわち、光ディスク装置１は、温度変化が小さい間は簡易な第２補正処理によってＳＡパラメタの補正を行い、このような簡易な補正処理では補正値Ｓと最適値Ｓｏとの間のずれを吸収しきれなくなる前に、より高精度な第１補正処理を実行する。これにより、光ディスク装置１は、頻繁に第１補正処理を実行する場合と比較して補正処理に要する時間を抑えつつ、装置の使用を継続している間、読み取りエラーが生じないようにＳＡパラメタを補正し続けることができる。
【００４９】
具体例として、補正制御部４３は、サーミスタ２１によって測定される温度Ｔの情報を定期的に取得し、当該温度Ｔが初期調整処理又は前回の補正処理の実行時より所定量（ここでは５℃）だけ変化するごとに、第１補正処理又は第２補正処理のいずれか一方を実行させる制御を行う。このとき、初期調整処理又は第１補正処理が実行された後、３回は第２補正処理を実行させることとし、４回目には第１補正処理を実行させることとする。すなわち、初期調整処理の実行後、温度が５℃上昇するごとに補正処理が実行され、そのうち４回に１回（温度が２０℃上昇したとき）は第１補正処理が実行される。
【００５０】
図５は、補正制御部４３がこのような制御を実行した場合の、温度変化とＳＡパラメタの設定値との間の関係を示すグラフである。グラフの横軸は初期調整処理実行時の温度に対する温度変化を示しており、「０」が初期調整処理の実行タイミングに対応している。また、グラフの縦軸はＳＡパラメタの設定値を示しており、グラフ中の実線は、これまで説明した制御によるＳＡパラメタの設定値の変化の一例を示している。さらに、図中における破線の直線Ｌ１及びＬ２は、いずれも光ディスク装置１に予め記憶された定数値Ａを傾きとした温度変化とＳＡパラメタの最適値Ｓｏとの間の線形関係を示しており、直線Ｌ１は初期調整処理実行後の設定値を、直線Ｌ２は１回目の第１補正処理実行後の設定値を、それぞれ基準としている。一方、直線Ｌ３は、この図５で示した装置と媒体との組み合わせにおける、実際の温度変化とＳＡパラメタの最適値Ｓｏとの間の関係を示している。
【００５１】
同図に示されるように、光ディスク装置１は、装置内の温度が５℃上昇するごとに、第１補正処理又は第２補正処理によってＳＡパラメタの設定値を補正している。このとき、最初の３回の補正処理は第２補正処理部４２によって実行され、その結果、補正後の設定値は直線Ｌ１上の点に一致している。グラフから分かるように、第２補正処理が実行されるごとに、設定値は直線Ｌ３によって示されるＳＡパラメタの実際の最適値Ｓｏに近づいているものの、温度が上昇するにつれて、設定値と最適値Ｓｏとの間のずれは大きくなっている。その後、温度が２０℃上昇した時点で、第１補正処理が実行される。この第１補正処理によって、設定値は直線Ｌ３上の最適値Ｓｏに一致するよう補正される。その後は、再び温度が５℃上昇するごとに第２補正処理が実行され、直線Ｌ２に沿って設定値が補正されている。
【００５２】
なお、図５においては、第１補正処理が実行された後も、第２補正処理は予め装置内に記憶された定数値Ａを用いて実行されることとしている。しかしながら、光ディスク装置１は、初期調整処理及び第１補正処理の結果得られるＳＡパラメタの調整値を用いて、実際の温度変化とＳＡパラメタの最適値Ｓｏとの間の線形関係の傾き（図５における直線Ｌ３の傾き）を算出し、算出した値を新たな定数値Ａとして用いて、それ以降の第２補正処理を実行することとしてもよい。また、このような新たな定数値Ａが精度よく求められれば、それ以降の第２補正処理によって精度よくＳＡパラメタを最適値Ｓｏに近い値に補正できると考えられるので、それ以降は第１補正処理の実行を制限して、第２補正処理によってＳＡパラメタの補正を行うこととしてもよい。あるいは、第１補正処理の実行頻度を減らして、第２補正処理の実行頻度を増やすこととしてもよい。
【００５３】
また、第１補正処理及び第２補正処理それぞれの実行頻度は、光ディスク媒体Ｍの種別に応じて変更することとしてもよい。例えばＬＴＨ（Low to High）タイプのＢＤ−Ｒなど、特定の種類の光ディスク媒体Ｍは、その個体差による定数値Ａのばらつきが大きくなる。そこで、このような種類の光ディスク媒体Ｍがセットされた場合、その他の種類の光ディスク媒体Ｍと比較して、第１補正処理を実行する頻度を増やす（例えば温度が１５℃上昇するごとに第１補正処理を実行する）こととしてもよい。
【００５４】
さらに、補正制御部４３は、第１補正処理部４１や第２補正処理部４２に補正処理を実行させるタイミングを、サーミスタ２１によって測定される温度の変化だけではなく、装置の読み取り動作の制御タイミングに応じて決定することとしてもよい。具体的に、例えばホストからの命令によって光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取りを行っている最中に補正処理が実行されてしまうと、読み取り動作が中断され、ホストから見て、通常時よりも読み取りの待ち時間が長くなってしまう。そこで、補正制御部４３は、所定の温度変化（前述の例では前回補正時から５℃の温度上昇）があった後、読み取り動作に関する所定の条件が最初に満たされたタイミングで、第１補正処理又は第２補正処理を実行させることとしてもよい。
【００５５】
具体的に、補正制御部４３は、所定の温度変化があった後、最初に所定の制御動作を実行するタイミングで、補正処理を実行させることとしてもよい。一例として、光ディスク装置１は、ホストからの情報読み取り命令に応じて、指定された位置から情報の読み取りを行うために、三軸アクチュエータ１４を駆動して、光ディスク媒体Ｍの径方向に沿って光学ピックアップ１３を移動させるシーク制御を行う。そこで、補正制御部４３は、このシーク制御を開始するタイミング又は終了するタイミングで、第１補正処理又は第２補正処理を実行させることとしてもよい。
【００５６】
また、光ディスク装置１は、ホストから情報読み取り命令があった場合、次の情報読み取り命令に備えて、当該命令によって指定された範囲に続く範囲に記録された情報も先読みし、キャッシュメモリに格納する場合がある。このような場合、補正制御部４３は、キャッシュメモリに所定量以上のデータがキャッシュされている状態において、第１補正処理又は第２補正処理の実行を開始することとしてもよい。こうすれば、ホストから新たな情報読み取り命令があった場合に、改めて情報の読み取り動作を行わずに、キャッシュメモリに格納した情報を提供できる可能性が高くなるので、補正処理によって読み取り動作の待ち時間が増大するのを避けることができる。
【００５７】
ただし、ホストからの命令内容などによっては、以上例示したような読み取り動作に関する所定の条件がなかなか満たされない場合もあり得る。例えば光ディスク媒体Ｍ内に連続して格納されている大量のデータの読み取り動作が実行される場合、当該読み取り動作の実行中は、上述したような条件は満たされないこととなる。しかしながら、このような場合にも温度が上昇して、制御パラメタの設定値が最適値Ｓｏからずれてしまうおそれが生じる。そこで、補正制御部４３は、所定の温度変化の後、読み取り動作に関する所定の条件が一定期間にわたって満たされない場合には、強制的に第１補正処理又は第２補正処理を実行させることとしてもよい。また、補正制御部４３は、次に実行すべき補正処理が第１補正処理か第２補正処理かに応じて、その実行タイミングを決定するための所定の条件を変えることとしてもよい。
【００５８】
以上説明した第１実施形態に係る光ディスク装置１によれば、第１補正処理だけを繰り返し実行する場合と比較して、短時間で装置の使用中に制御パラメタの補正を行うことができる。
【００５９】
［第２実施形態］
次に、本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置について、説明する。なお、この第２実施形態に係る光ディスク装置のハードウェア構成は、図１及び図２に示される第１実施形態に係る光ディスク装置のハードウェア構成と同様である。したがって、その詳細な説明は省略し、第１実施形態と同様の構成要素については、同一の参照符号を用いて参照する。
【００６０】
本実施形態に係る光ディスク装置も、第１実施形態に係る光ディスク装置と同様に、光ディスク媒体Ｍに対する情報の読み取りを開始した後、装置の環境変化に伴って変動する制御パラメタ（ここではＳＡパラメタ）の最適値Ｓｏに追従するように、その設定値を補正する。ただし、本実施形態においては、第１実施形態とは異なる方法で制御パラメタの補正処理を実行する。なお、以下では便宜上、第１実施形態における第１補正処理及び第２補正処理と区別するために、この第２実施形態における補正処理を第３補正処理という。
【００６１】
具体的に、光ディスク装置１は、制御パラメタの２つの値のそれぞれについて、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り精度を示す評価値（ここではジッター値）を取得し、当該取得した２つの評価値に応じて制御パラメタの設定値を更新する処理を実行する。この更新処理によって、制御パラメタの設定値は、最適値Ｓｏに近づくように変更される。このような処理を繰り返し実行することによって、光ディスク装置１は、制御パラメタの設定値を最適値Ｓｏに近い値に補正する。この補正処理は、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り動作中にも実行されてよい。なお、この補正処理は、制御部２０が内蔵された記憶素子に格納しているプログラムを実行することによって実現される。このプログラムは、各種のコンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体に格納されて提供されてよい。
【００６２】
ここで、第３補正処理の基本的な考え方について、説明する。光ディスク装置１は、設定値の更新処理を実行しようとする時点における、基準となるＳＡパラメタの値（以下、中心値Ｓｃという）を中心として、当該中心値Ｓｃから大小それぞれ同じ量だけ異なる２つの設定値（以下、それぞれ加算値Ｓｐ及び減算値Ｓｍという）に対応するジッター値を測定する。ここで、所定の変化量αを用いて、加算値Ｓｐ及び減算値Ｓｍは、それぞれ
Ｓｐ＝Ｓｃ＋α
Ｓｍ＝Ｓｃ−α
と表される。
【００６３】
設定値Ｓが設定されている場合のジッター値をＪ（Ｓ）と表記することとすると、図３にも示したように、ＳＡパラメタの設定値Ｓとジッター値Ｊ（Ｓ）との間には、下に凸の放物線によって近似可能な関係が成り立つ。そのため、加算値Ｓｐ及び減算値Ｓｍのそれぞれについて測定されたジッター値が理想的な放物線に従っていると仮定すると、ジッター値Ｊ（Ｓｐ）とＪ（Ｓｍ）との間の大小を比較することによって、中心値Ｓｃが最適値Ｓｏより大きいか小さいかを判別できる。すなわち、Ｊ（Ｓｍ）＜Ｊ（Ｓｐ）が成り立つ場合、Ｓｃ＞Ｓｏと推定される。そこで、制御部２０は、中心値Ｓｃをより小さな値に更新すべきと判定する。逆にＪ（Ｓｍ）＞Ｊ（Ｓｐ）が成り立てば、Ｓｃ＜Ｓｏと推定され、中心値Ｓｃをより大きな値に更新すべきと判定される。このような中心値Ｓｃの更新処理を繰り返すことによって、中心値Ｓｃは最適値Ｓｏに近づいていくことになる。たとえ装置の使用中に温度上昇などに起因して最適値Ｓｏが変化したとしても、この更新処理をある程度の頻度で繰り返せば、中心値Ｓｃが最適値Ｓｏから大きくずれないようにすることができる。
【００６４】
なお、本実施形態に係る光ディスク装置１がこの第３補正処理を実行する場合、変化量αは、読み取り精度に与える影響が大きくなりすぎないよう、小さな値にする必要がある。前述した初期調整処理においては、精度よく放物線の近似を行うために、設定値をある程度大きな範囲で変化させる必要がある。しかしながら、第３補正処理は、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り動作中に実行されるので、初期調整処理の場合と同じように設定値を大きく変化させてしまうと、読み取りエラーやサーボ制御エラーが発生するおそれが高くなってしまう。そこで、変化量αを初期調整処理における設定値の変化量より小さくすることで、このような問題を回避することができる。
【００６５】
具体的に、変化量αは、予め定められた量であってもよいが、ＳＡパラメタの初期調整処理における近似計算によって求められた、設定値と評価値との間の関係を表す係数に基づいて決定されることとしてもよい。これにより、例えばＳＡパラメタの設定値を変更可能な範囲が狭い場合には変化量αを小さくすることで、補正処理中に読み取りエラーが発生する確率を減らすことができる。
【００６６】
以下、制御部２０が実行する第３補正処理の具体例について、図６から図１０のフロー図に基づいて説明する。なお、例えば光ディスク装置１は、ホストからの情報読み取り命令に応じてシーク制御が実行された後、情報の読み取りを開始するタイミングで第３補正処理を開始する。これにより、光ディスク装置１は、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取りと並行して第３補正処理を実行することになる。また、このような情報読み取り命令が一定時間以上にわたって受け付けられず、現在の光学ピックアップの位置を維持する制御（ポーズ制御）を実行している間も、第３補正処理を実行することとしてもよい。この第３補正処理は、読み取り動作が終了するなどして、ホストからの新たな命令を受け付けるまで、繰り返し実行される。
【００６７】
図６に示されるように、まず制御部２０は、基準温度Ｔｒ１と現在温度Ｔとの差ΔＴ１が所定値（ここでは１℃）以上か否か判定する（Ｓ１）。ここで基準温度Ｔｒ１は、第３補正処理の開始時には、第１実施形態の場合と同様に、最初の初期調整処理が実行された時点においてサーミスタ２１により測定された温度である。また、現在温度Ｔは当該判定を行う時点においてサーミスタ２１により測定された温度である。ΔＴ１が所定値に満たない間は、後続する処理は実行されない。所定値以上の温度差が生じた段階で、後続する処理が開始される。
【００６８】
次に制御部２０は、変数の初期化を行う（Ｓ２）。具体的に、制御部２０は、タイマの開始時刻を示す変数ｔ１及びｔ２のそれぞれに、現在時刻ｔの情報を設定する。また、ジッター値の測定結果を格納するための配列変数Ｊｐ［ｙ］及びＪｍ［ｙ］について、その全ての値を０にリセットする。ここで、ｙは０からＮまでの整数値をとるカウンタ変数であって、配列変数Ｊｐ及びＪｍのそれぞれには最大（Ｎ＋１）個の値が格納される。さらに制御部２０は、ＳＡパラメタの更新方向（中心値Ｓｃを増加させるか、又は減少させるか）を決定するための積算値を格納する変数Ｓｅｒに０を、コリメータレンズ３３の駆動間隔を規定する時間変数ｔａに所定の初期値（ここでは７秒とする）を、前回のＳＡパラメタの更新方向を示す変数Ｄｉｒｃに０を、それぞれ代入する。
【００６９】
次に制御部２０は、ＳＡパラメタの設定値を減算値Ｓｍ（＝Ｓｃ−α）に変更して、当該減算値Ｓｍに応じた位置までコリメータレンズ３３を移動させるコリメータレンズ移動処理を行う（Ｓ３）。この処理は、具体的に、図７で示されるような処理である。
【００７０】
すなわち、まず制御部２０は、コリメータレンズ３３が他の制御処理によって移動中か否かを確認する（Ｓ２１）。この処理は、本実施形態における第３補正処理が他の処理と並行して実行される場合に、コリメータレンズ３３が想定外の駆動を行っていないことを保証するために実行される。コリメータレンズ３３が移動中の場合には、移動が終了するのを待つことになる。
【００７１】
次いで制御部２０は、現在時刻ｔが、ｔ−ｔ１≧ｔａを満たすか否かを判定する（Ｓ２２）。この判定は、コリメータレンズ３３の位置を時間変数ｔａにより示される時間以上の時間間隔で駆動するために行われる。これにより、短い時間間隔でのコリメータレンズ３３の移動に起因する発熱や機械的負荷が抑えることができる。この判定条件を満たさない場合、Ｓ２１に戻ってｔａ以上の時間が経過するのを待つことになる。
【００７２】
Ｓ２２の判定条件を満たす場合、制御部２０は、変数ｔ１を現在時刻ｔでリセットして（Ｓ２３）、ＳＡパラメタの設定値を現在時点における中心値Ｓｃより変化量αだけ小さな減算値Ｓｍに変更する（Ｓ２４）。この変更に応じて、コリメータレンズ駆動部３４がコリメータレンズ３３を駆動する。
【００７３】
その後、制御部２０は、コリメータレンズ３３の移動が完了するのを待つ（Ｓ２５）。コリメータレンズ３３の移動が完了した場合、後続するジッター値測定・比較処理のために２つのカウンタ変数ｘ及びｙを０でリセットし（Ｓ２６）、コリメータレンズ移動処理を終了する。
【００７４】
図６に戻って、次に制御部２０は、コリメータレンズ３３が減算値Ｓｍに対応する位置に移動した状態でのジッター値を複数回測定し、加算値Ｓｐに対応する位置におけるジッター値と比較するジッター値測定・比較処理を行う（Ｓ４）。なお、情報の読み取りと並行して第３補正処理が実行されている場合、このジッター値測定・比較処理においてジッター値を測定する際には、改めてジッター値測定のためだけに情報の読み取りを行う必要はなく、並行して実施される情報の読み取り動作において得られる再生信号（ＲＦ信号）に基づいて、ジッター値を算出することができる。
【００７５】
ここで、このジッター値測定・比較処理の具体例について、図８及び図９のフロー図を用いて説明する。まず制御部２０は、他の制御処理によってジッター値の測定が行われていないか確認する（Ｓ３１）。測定中であれば、その終了を待って後続する処理が実行される。
【００７６】
次に制御部２０は、ジッター値の測定開始を記録信号処理部１９に指示し（Ｓ３２）、当該指示に応じたジッター値の測定が完了するのを待つ（Ｓ３３）。ジッター値の測定が完了すると、測定に成功したか否かが判定される（Ｓ３４）。測定失敗の場合、Ｓ３１に戻って再度測定が試みられる。一方、測定に成功した場合、測定されたジッター値ＪｃがＪｍ［ｙ］に既に格納されたジッター値より小さいか否かが判定される（Ｓ３５）。新たに測定されたジッター値Ｊｃが格納済みのジッター値より小さければ、Ｊｍ［ｙ］の値は新たに測定されたジッター値Ｊｃで上書きされる（Ｓ３６）。なお、Ｓ３５においてＪｍ［ｙ］＝０だった場合（すなわち、Ｊｍ［ｙ］にまだ実際に測定されたジッター値が代入されていない場合）には、制御部２０は今回測定されたジッター値ＪｃをＪｍ［ｙ］に代入する。
【００７７】
さらに制御部２０は、カウンタ変数ｘに１を加算し（Ｓ３７）、ｘが所定値（ここでは１２）以上であるとの条件を満たすか否か判定する（Ｓ３８）。この判定条件を満たさない場合には、Ｓ３１に戻って新たなジッター値の測定が繰り返される。一方、判定条件を満たす場合には、ｘを０にリセットする（Ｓ３９）。
【００７８】
ここまでの処理によって、減算値Ｓｍが設定された状態で複数回（ここでは１２回）のジッター値測定が行われ、その結果得られる複数の測定値のうちの最小値が、変数Ｊｍ［ｙ］に格納されることになる。ここで、複数回の測定を行ってその最小値を取得しているのは、例えば光ディスク媒体Ｍの傷などによって異常に悪いジッター値が測定された場合などに、そのような異常値に基づいて後続する処理が実行されることを防ぐためである。
【００７９】
その後、制御部２０は、Ｊｐ［０］が０か否か判定する（Ｓ４０）。Ｊｐ［０］が０の場合、まだ加算値Ｓｐ（＝Ｓｃ＋α）に対応したジッター値の測定が行われておらず、これまで説明した処理によって得られるＪｍ［ｙ］と比較するデータが存在しないことになる。この場合、Ｊｐ［ｙ］とＪｍ［ｙ］との比較は行わずに、Ｓ４５の処理に進む。なお、第３補正処理の開始後、最初に当該判定が行われる際には、常にＪｐ［０］＝０になっているはずである。
【００８０】
一方、Ｊｐ［０］が０でない場合、加算値Ｓｐが設定された状態におけるジッター値測定・比較処理（後述するＳ７の処理）が既に行われ、その測定結果として２５個のジッター値が配列変数Ｊｐに格納されていることになる。この場合、制御部２０は、これまでの処理によってＪｍ［ｙ］に格納されたジッター値と、Ｊｐ［ｙ］に格納されたジッター値と、の大小を比較し、Ｊｍ［ｙ］＜Ｊｐ［ｙ］が成り立つか否か判定する（Ｓ４１）。この不等式が成り立つ場合には、変数Ｓｅｒに格納された値から１を減算する（Ｓ４２）。一方、成り立たない場合には、逆にＪｍ［ｙ］＞Ｊｐ［ｙ］が成り立つか否か判定する（Ｓ４３）。この不等式が成り立つ場合には、変数Ｓｅｒに格納された値に１を加算し（Ｓ４４）、成り立たない場合にはＪｍ［ｙ］とＪｐ［ｙ］は等しいことになるので、変数Ｓｅｒの値は更新せずに次のＳ４５の処理に進むこととする。
【００８１】
続いて制御部２０は、変数Ｓｅｒに格納された値の絶対値｜Ｓｅｒ｜が所定の閾値ｔｈ（ここでは１５とする）未満か否かを判定する（Ｓ４５）。｜Ｓｅｒ｜＜ｔｈの場合には、ｙに１を加算して（Ｓ４６）、ｙが所定値（ここでは２５とする）以上になったか否かを判定する（Ｓ４７）。ｙが２５以上になった場合には、ｙを０にリセットして（Ｓ４８）、ジッター値測定処理を終了する。一方、ｙが２５未満の場合には、Ｓ３１に戻って、新たなｙの値について、これまで説明した処理が繰り返される。
【００８２】
以上説明したように、複数回ジッター値を測定してその最小値をＪｍ［ｙ］に格納する処理（Ｓ３１〜Ｓ３９）を、ｙをインクリメントしながら２５回繰り返すことによって、配列変数Ｊｍ［ｙ］にはｙ＝０〜２４のそれぞれについて順にジッター値が格納されていく。そして、既にＪｐ［ｙ］にジッター値が格納されていれば、新たなｙの値についてジッター値がＪｍ［ｙ］に格納されるごとに、Ｓ４１及びＳ４３でＪｍ［ｙ］とＪｐ［ｙ］との大小関係が比較され、その比較結果に応じてＳ４２及びＳ４４で変数Ｓｅｒに比較結果が累積されていくことになる。ここで、減算値Ｓｍに対するジッター値Ｊ（Ｓｍ）と加算値Ｓｐに対するジッター値Ｊ（Ｓｐ）との間にＪ（Ｓｍ）＜Ｊ（Ｓｐ）の関係が成り立つ場合、変数Ｓｅｒの値を１減算する処理（Ｓ４２）が繰り返される結果、ｙについての繰り返し処理が２５回に到達するより前に、｜Ｓｅｒ｜＝ｔｈが成立し、Ｓ４５の判定条件を満たさなくなると考えられる。同様に、Ｊ（Ｓｍ）＞Ｊ（Ｓｐ）の関係が成り立つ場合も、変数Ｓｅｒの値を１加算する処理（Ｓ４４）が繰り返されて、やはり｜Ｓｅｒ｜＝ｔｈが成立し、Ｓ４５の判定条件を満たさなくなると考えられる。一方、まだＪｐ［ｙ］にジッター値が格納されておらず、Ｓ４１〜Ｓ４４の処理がスキップされる場合や、Ｊ（Ｓｍ）とＪ（Ｓｐ）との差がほとんどない場合（すなわち、中心値Ｓｃがほぼ最適値Ｓｏに一致している場合）などにおいては、Ｓ４５の判定条件を満たしたままｙが２５までインクリメントされることになる。
【００８３】
ここで、Ｊｍ［ｙ］及びＪｐ［ｙ］としてそれぞれ複数個のジッター値を測定し、その大小を比較した結果を変数Ｓｅｒの値として累積しているのは、異常なジッター値によって、Ｊ（Ｓｍ）とＪ（Ｓｐ）との間の大小関係を誤判定してしまうことを避けるためである。前述したように、この第３補正処理は、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り中にも行われる。そのため、補正処理の途中であっても、シーク制御によって補正処理が中断され、比較対象となる２つのジッター値が光ディスク媒体Ｍの互いに異なる箇所で測定される場合もあり得る。ところが、測定箇所が異なると、媒体表面の傷などの影響によって、正しくＪ（Ｓｍ）とＪ（Ｓｃ）の大小関係を評価することができなくなるおそれが生じる。そこで、本実施形態においては、Ｊ（Ｓｍ）に相当するジッター値、及びＪ（Ｓｃ）に相当するジッター値のそれぞれを、最大２５個取得し、その全体的な傾向を統計的に評価することによって、Ｊ（Ｓｍ）とＪ（Ｓｃ）の大小関係を評価することとしている。
【００８４】
以上説明したように、Ｓ４５の判定条件を満たさなくなるのは、Ｊ（Ｓｍ）とＪ（Ｓｃ）との間の大小関係を統計的に評価し、その評価結果が得られたときである。この場合、制御部２０は、以下に説明する中心値更新処理を実行して（Ｓ４９）、中心値Ｓｃを最適値Ｓｏに近い値に更新することとする。
【００８５】
図１０は、中心値更新処理の流れを示すフロー図である。同図に示されるように、まず制御部２０は、Ｓｅｒが１５以上か否かを判定する（Ｓ５１）。Ｓｅｒが１５以上であれば、Ｊ（Ｓｍ）＞Ｊ（Ｓｐ）の関係が成り立つと評価できるので、制御部２０は、中心値Ｓｃを所定の単位量ｕ（例えばコリメータレンズ３３移動の最小単位分）だけ増加させる（Ｓ５２）。
【００８６】
続いて制御部２０は、変数Ｄｉｒｃが−１か否かを判定する（Ｓ５３）。Ｄｉｒｃの現在値が−１の場合、前回の中心値更新処理では中心値Ｓｃを減少させる更新を行ったことになるので、今回の中心値更新処理では前回と逆方向に中心値Ｓｃを変化させたこととなる。この場合、中心値Ｓｃが放物線の頂点に対応する最適値Ｓｏにほぼ近づいていると想定されるので、これ以降のＳＡパラメタの更新頻度を下げることとする。具体的に、制御部２０は、時間変数ｔａの値を、初期値より大きな値（ここでは１４秒とする）に変更する（Ｓ５４）。これによって、前述したコリメータレンズ移動処理におけるＳ２２で発生する待ち時間が初期値より長くなり、コリメータレンズ３３の移動が行われる頻度が低くなる。すなわち、ＳＡパラメタの更新サイクルが長くなることになる。さらに制御部２０は、基準温度Ｔｒ１をサーミスタ２１によって測定される現在時点の温度Ｔにリセットする（Ｓ５５）。これは、中心値Ｓｃが更新された時点を基準として、後述する処理終了条件を満たすか否かの判定を行うためである。
【００８７】
一方、Ｓ５３でＤｉｒｃが−１でないと判定された場合、中心値Ｓｃを更新する方向は変化していないので、ＳＡパラメタの更新頻度を初期設定状態に戻すこととする。具体的に、制御部２０は、時間変数ｔａの値を初期値（７秒）に変更する（Ｓ５６）。さらにこの場合には、中心値Ｓｃが最適値Ｓｏに近づく途中であると考えられるので、基準温度Ｔｒ１をリセットすることはまだできないが、Ｓ５２で中心値Ｓｃを単位量ｕだけ最適値Ｓｏに近づけたことに対応して、基準温度Ｔｒ１をこの単位量ｕに応じた量だけ変化させることとする。具体的に、この単位量ｕに相当する温度変化は、第１実施形態の例で説明した定数値Ａを用いて、ｕ／Ａで表される。制御部２０は、この値を基準温度Ｔｒ１に加算することとする。Ｓ５５及びＳ５７のいずれかの処理が実行された後、さらに制御部２０は、変数Ｄｉｒｃの値を、今回中心値Ｓｃを補正した方向に応じて１に更新する。
【００８８】
また、前述したＳ５１の判定条件を満たさなかった場合（すなわちＳｅｒが正の値でない場合）、Ｓｅｒは負の値（−１５以下）ということになるので、逆にＪ（Ｓｍ）＜Ｊ（Ｓｐ）の関係が成り立っていると評価できる。この場合、制御部２０は、中心値Ｓｃを所定の単位量ｕだけ減少させる（Ｓ５９）。
【００８９】
続いて制御部２０は、図１０においてＳ６０からＳ６５までに示されるように、Ｓｅｒ≧１５だった場合におけるＳ５３からＳ５８までと同様の処理を実行する。ただし、Ｓ５９で中心値Ｓｃを変更する方向がＳ５２と逆であることに対応して、Ｓ６０でＤｉｒｃが１か否かを判定する点、Ｓ６４でｕ／Ａを基準温度Ｔｒ１に加算するのではなく基準温度Ｔｒ１から減算する点、及びＳ６５でＤｉｒｃを−１に更新する点が、それぞれＳ５３、Ｓ５７及びＳ５８の処理と異なっている。
【００９０】
最後に制御部２０は、中心値Ｓｃを更新したことに対応して、ジッター値測定・比較処理においてジッター値の格納及び比較に用いた各変数をリセットする。具体的に、制御部２０は、配列変数Ｊｍ［ｙ］及びＪｐ［ｙ］の全ての値を０に初期化するとともに、変数ｙ及びＳｅｒにそれぞれ０を代入して（Ｓ６６）、中心値更新処理を終了する。これにより、ジッター値測定・比較処理も終了する。
【００９１】
図６に戻って、ジッター値測定・比較処理が終了すると、続いて制御部２０は、処理終了条件を満たすか否かの判定を行う（Ｓ５）。ここで、前述したように中心値更新処理において同じ方向への中心値Ｓｃの更新が繰り返されるのではなく、異なる方向への中心値Ｓｃの更新が交互に実行される場合、中心値Ｓｃはほぼ最適値Ｓｏに一致していると想定される。このような状態がある程度の時間続いているときには、この第３補正処理を一旦終了しても構わないと考えられる。そこで、制御部２０はこのような条件を満たすか否かの判定を行う。
【００９２】
具体的に、まず制御部２０は、第１の終了判定条件として、変数ｔａの値がＳ５４又はＳ６１の処理によって初期値より大きな値（１４秒）に設定されており、かつΔＴ１（＝現在温度Ｔ−基準温度Ｔｒ１）が所定値（ここでは１℃）未満であるか否かを判定する。ここで、ΔＴ１＜１℃という条件が課されているのは、最後に中心値Ｓｃの更新が行われ、Ｓ５５又はＳ６２の処理で基準温度Ｔｒ１がリセットされた後、ある程度の温度変化が生じている場合には、やはり制御パラメタの補正処理が必要となるからである。この温度に関する条件が満たされなくなる場合としては、急激な温度変化があった場合のほか、他の制御処理などの割り込みによってこの第３補正処理が一旦中断され、処理の途中から再開された場合などが挙げられる。この第１の終了判定条件が満たされない場合には、基準時刻ｔ２を現在時刻ｔでリセットしてから、後続するＳ６の処理に進む。
【００９３】
一方、第１の終了判定条件を満足する場合、さらに制御部２０は、第２の終了判定条件として、現在時刻ｔ−基準時刻ｔ２が所定の時間（ここでは１分）以上であるか否かを判定する。ｔ−ｔ２＞１分の条件を満足する場合、異なる方向への中心値Ｓｃの更新が交互に実行される状態が、温度変化のないまま１分以上継続していることになる。この場合、制御部２０は、第３補正処理を一旦終了すると判定し、後述するＳ９の処理に進む。逆に第２の終了判定条件を満足しない場合、Ｓ６の処理に進む。
【００９４】
次に、制御部２０は、ＳＡパラメタの設定値を加算値Ｓｐ（＝Ｓｃ＋α）に変更して、当該加算値Ｓｐに応じた位置までコリメータレンズ３３を移動させるコリメータレンズ移動処理を行う（Ｓ６）。この処理は、Ｓ２４においてＳＡパラメタの設定値が減算値Ｓｍではなく加算値Ｓｐに変更される点を除いて、図７に示したＳ３のコリメータレンズ移動処理と同様の処理である。
【００９５】
コリメータレンズ３３が加算値Ｓｐに対応する位置まで移動されると、続いて制御部２０は、ジッター値測定・比較処理を行う（Ｓ７）。この処理は、Ｓ３５及びＳ３６においてジッター値の測定結果を格納する配列変数がＪｍ［ｙ］ではなくＪｐ［ｙ］になる点、及びＳ４０において判定対象となるのがＪｐ［０］ではなくＪｍ［０］になる点を除いて、図８〜図１０に示したＳ４におけるジッター値測定・比較処理と同様の処理である。これにより、加算値Ｓｐが設定された場合のジッター値測定が行われ、Ｊｍ［ｙ］に既にジッター値が格納されていれば、さらに加算値Ｓｐに応じて測定されたジッター値Ｊｐ［ｙ］と減算値Ｓｍに応じて測定されたジッター値Ｊｍ［ｙ］との比較が行われる。
【００９６】
Ｓ７のジッター値測定・比較処理が終わると、続いて制御部２０は、Ｓ５と同様に処理終了条件を満たすか否かの判定を行う（Ｓ８）。この判定処理も、Ｓ５と同じく第１の終了判定条件及び第２の終了判定条件を用いた判定である。この判定の結果、処理終了条件を満たさないと判定される場合、Ｓ３に戻って引き続き第３補正処理が繰り返される。一方、処理終了条件を満たすと判定される場合、第３補正処理を一旦終了すると判定し、Ｓ９の処理に進む。
【００９７】
Ｓ５又はＳ８で処理終了条件を満たすと判定された場合、中心値Ｓｃはほぼ最適値Ｓｏに一致すると推定されるが、その時点ではＳＡパラメタの設定値は減算値Ｓｍ又は加算値Ｓｐのどちらかに設定されているはずである。そこで制御部２０は、コリメータレンズ移動処理を実行して、ＳＡパラメタの設定値を中心値Ｓｃに戻す制御を行う（Ｓ９）。この処理は、Ｓ２４でＳＡパラメタの設定値をその時点の中心値Ｓｃに変更する点を除き、Ｓ３やＳ６で実行されるコリメータレンズ移動処理と同様の処理であってよい。この制御の後、制御部２０は、Ｓ１に戻って再び現在温度Ｔが基準温度Ｔｒ１から変化し、第３補正処理が必要となる状態を待つこととする。
【００９８】
なお、以上の説明においては、第３補正処理は連続的に実行される一連の処理であることとしたが、これまでにも説明したように、第３補正処理は装置の使用中に実行されるので、読み取り動作やポーズ制御以外の他の制御動作（例えばシーク制御）によって中断される場合がある。そこで、このような中断が発生しても、補正処理の途中から再開することができるように、処理の進行状態を示すカウンタ変数を用意し、処理ステップが進むごとにこのカウンタ変数を増加させることとしてもよい。こうすれば、処理が中断しても、その後再開するタイミングでこのカウンタ変数を参照して処理を再開させることができる。
【００９９】
また、光ディスク媒体Ｍが複数のデータ記録層を備える場合、これまで読み取りを行っていたデータ記録層とは異なるデータ記録層からの情報の読み取りがホストによって指示されることがある。このような場合、データ記録層ごとにＳＡパラメタの最適値Ｓｏが異なるため、第３補正処理は、複数のデータ記録層のそれぞれについて、互いに独立した変数を用いて、互いに独立に実行される必要がある。そこで、これまで情報の読み取りを行っていたデータ記録層（旧データ記録層）から、別の新たなデータ記録層（新データ記録層）への層間ジャンプが指示された場合には、旧データ記録層についての第３補正処理を中断し、新データ記録層についての第３補正処理を行う。この場合、前回中断した時点から再開するのではなく、図６におけるＳ１から補正処理を再実行することとしてもよい。
【０１００】
以上説明した第２実施形態に係る光ディスク装置１によれば、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取り中にも、制御パラメタの設定値が最適値Ｓｏに追従するように補正処理を行うことができる。
【０１０１】
なお、以上の説明における処理フローや制御に用いられる各種の定数はいずれも例示である。また、以上の説明において所定の定数であることとした値は、光ディスク装置１の動作状態などに応じて変更されることとしてもよい。例えば単位時間あたりの装置内の温度変化量が大きい場合には、より早く設定値が最適値Ｓｏに収束するように補正を行う必要がある。逆に温度変化量が小さい場合には、頻繁にコリメータレンズ３３を移動させないほうが好ましい場合もある。そこで、ジッター値の測定回数を比較対象とするジッター値の数を規定するカウンタ変数ｘ及びｙの上限値や、１回の更新処理における中心値Ｓｃの変化量である単位量ｕ、更新処理を行うと判断するための閾値ｔｈなどを、温度の変化速度や装置使用開始時からの時間経過に応じて、変化させてもよい。また、単位時間あたりの読み取りエラーの発生頻度に応じて、ジッター値の測定回数や閾値ｔｈなどを変化させてもよい。
【０１０２】
［組み合わせ例］
以上説明した第１実施形態に係る光ディスク装置の補正処理と、第２実施形態に係る光ディスク装置の補正処理と、は、組み合わせて実行されることとしてもよい。これまで説明した第３補正処理が他の制御処理などによって長時間中断されてしまうと、その後に第３補正処理を再開したとしても、効果的に制御パラメタの補正をできない場合がある。例えば一定時間ホストからの命令がなく、光ディスク装置１がスタンバイ状態（スピンドルモータ１２や光学ピックアップ１３の動作を停止した状態）に移行した場合、その後にスタンバイ状態から復帰した際には、スタンバイ状態移行時とは温度が大きく変化している可能性がある。このような場合、第３補正処理によって徐々に中心値Ｓｃを補正しようとしても、このような補正が行われる前に、中心値Ｓｃと最適値Ｓｏとの間のずれによって読み取りエラーなどが発生する可能性がある。そこで、光ディスク装置１は、読み取り動作を開始する前に、現在温度Ｔに応じて、第１実施形態において説明したような第１又は第２補正処理を実行することとしてもよい。
【０１０３】
図１１は、このように第１、第２及び第３補正処理を組み合わせる場合の制御の一例を示すフロー図である。この図の例では、ホストから情報読み取り命令を受け付けた場合、まず制御部２０は、現在温度Ｔと第１基準温度Ｔｒ１との差ΔＴ１が所定値（ここでは１０℃）以上か否かを判定する（Ｓ７１）。そして、判定条件を満たす場合には、大きな温度変化が生じているので、高精度の補正が必要と判断し、第１補正処理を実行する（Ｓ７２）。その後、第１基準温度Ｔｒ１及び第２基準温度Ｔｒ２を、現在温度Ｔでリセットする（Ｓ７３）。なお、この例では、第１基準温度Ｔｒ１は初期調整処理又は前回の第１補正処理が実行された時点の温度に対応し、第２基準温度Ｔｒ２は、初期調整処理、第１補正処理、又は第２補正処理のいずれかが前回実行された時点の温度に対応している。
【０１０４】
一方、Ｓ７１の判定条件を満たさない場合、制御部２０は、現在温度Ｔと第２基準温度Ｔｒ２との差ΔＴ２が所定値（ここでは５℃）以上か否かを判定する（Ｓ７４）。そして、この判定条件を満たす場合には、第２補正処理を実行し（Ｓ７５）、第２基準温度Ｔｒ２だけを現在温度Ｔでリセットする（Ｓ７６）。逆に判定条件を満たさない場合には、いずれの補正処理も不要と判断し、Ｓ７７に進む。
【０１０５】
その後、ホストからの情報読み取り命令によって指定された情報の読み取り位置に光学ピックアップ１３を移動させるシーク制御を実行し（Ｓ７７）、シーク制御が完了すると、光ディスク媒体Ｍからの情報の読み取りを開始するとともに、第３補正処理の実行を開始する（Ｓ７８）。既に述べたように、この第３補正処理は新たな制御命令などによって中断されるまで継続して実行され、中断された後に再びホストから情報読み取り命令が発行された場合には、再度Ｓ７１から処理が実行される。そのため、中断した時間が長く、その間に温度変化が生じた場合には、温度変化の程度に応じて第１補正処理又は第２補正処理が選択的に実行されることになる。なお、ここでは第１補正処理及び第２補正処理を選択的に実行することとしたが、いずれか一方のみを温度変化に応じて実行することとしてもよい。
【０１０６】
また、制御部２０は、第３補正処理の実行中であっても、温度変化の発生等があった場合、必要に応じて第１補正処理や第２補正処理を実行することとしてもよい。例えば制御部２０は、第３補正処理の各ステップの処理を実行するごとに、現在温度Ｔが第２基準温度Ｔｒ２から所定値以上変動したか否かを判定し、所定値以上の変動があった場合には、第２補正処理を実行することとしてもよい。こうすれば、例えばジッター値の測定に何度も失敗し、図８のＳ３４において測定成功との判定がなされずに長時間が経過した場合などにおいて、第３補正処理とは異なる手法による制御パラメタの補正を行うことで、読み取りエラーなどの発生を避けることができる。なお、この例においては、第３補正処理による制御パラメタの更新が正常に行われている間は、第２補正処理を実行する必要はないので、中心値Ｓｃを更新するごとに第２基準温度Ｔｒ２をリセットする必要がある。具体的に、例えば制御部２０は、図６のＳ２において初期化を行う変数の対象に第２基準温度Ｔｒ２を含めるとともに、図１０のＳ５５、Ｓ５７、Ｓ６２及びＳ６４の各処理において、第１基準温度Ｔｒ１を更新するだけでなく、第２基準温度Ｔｒ２を当該処理の時点の現在温度Ｔでリセットすることとする。
【０１０７】
なお、これまでの各実施形態に係る光ディスク装置の説明においては、制御パラメタが球面収差補正に関するＳＡパラメタであることとしたが、本発明の実施の形態に係る光ディスク装置が補正対象とする制御パラメタは、これ以外のものであってもよい。例えば光ディスク装置は、情報の読み取りを行う間、対物レンズ３６からの光の焦点が読み取り位置に一致した状態を保つように、ＳＡパラメタを含む各種のサーボ制御パラメタによって規定される動作条件で、フォーカスサーボやトラッキングサーボなどのサーボ制御を実行する。そこで、これらのサーボ制御パラメタの設定値を、補正処理の対象としてもよい。また、読み取り精度の評価に用いる評価値も、ジッター値に限らず、例えばＲＦ振幅など、他の指標であってもよい。
【符号の説明】
【０１０８】
１ 光ディスク装置、１１ 媒体支持部、１２ スピンドルモータ、１３ 光学ピックアップ、１４ 三軸アクチュエータ、１５ 送りモータ、１６ 駆動回路、１７ ＲＦアンプ、１８ サーボ信号処理部、１９ 記録信号処理部、２０ 制御部、２１ サーミスタ、３１ 発光素子、３２ 偏光ビームスプリッタ、３３ コリメータレンズ、３４ コリメータレンズ駆動部、３５ 立ち上げミラー、３６ 対物レンズ、３７ フォトディテクタ、４１ 第１補正処理部、４２ 第２補正処理部、４３ 補正制御部。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置であって、
装置内の温度を測定する測定部と、
前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正手段と、
前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正手段と、
前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに、前記第１及び第２補正手段のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を選択的に実行させる補正制御手段と、
を含むことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記補正制御手段は、前記測定部により測定される温度の変化に応じたタイミングごとに、前記制御パラメタの値の補正を実行させる
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク装置において、
前記補正制御手段は、前記測定部により所定の温度変化の後、読み取り動作に関する所定の条件を最初に満たしたタイミングごとに、前記制御パラメタの値の補正を実行させる
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１からの３のいずれか一項に記載の光ディスク装置において、
前記補正制御手段は、所定の回数だけ前記第２補正手段による補正を実行させた後に、前記第１補正手段による補正を実行させる
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
装置内の温度を測定する測定部を備え、所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置の制御方法であって、
前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正処理と、
前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正処理と、
のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を、
前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに選択的に実行させる
ことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項６】
装置内の温度を測定する測定部を備え、所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置を制御するプログラムであって、
前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正手段、
前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正手段、及び
前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに、前記第１及び第２補正手段のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を選択的に実行させる補正制御手段、
としてコンピュータを機能させるためのプログラム。
【請求項７】
請求項６記載のプログラムが記憶されたコンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体。
【請求項１】
所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置であって、
装置内の温度を測定する測定部と、
前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正手段と、
前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正手段と、
前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに、前記第１及び第２補正手段のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を選択的に実行させる補正制御手段と、
を含むことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記補正制御手段は、前記測定部により測定される温度の変化に応じたタイミングごとに、前記制御パラメタの値の補正を実行させる
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク装置において、
前記補正制御手段は、前記測定部により所定の温度変化の後、読み取り動作に関する所定の条件を最初に満たしたタイミングごとに、前記制御パラメタの値の補正を実行させる
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１からの３のいずれか一項に記載の光ディスク装置において、
前記補正制御手段は、所定の回数だけ前記第２補正手段による補正を実行させた後に、前記第１補正手段による補正を実行させる
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
装置内の温度を測定する測定部を備え、所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置の制御方法であって、
前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正処理と、
前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正処理と、
のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を、
前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに選択的に実行させる
ことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項６】
装置内の温度を測定する測定部を備え、所定の制御パラメタに対して設定される値に応じた動作条件で、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置を制御するプログラムであって、
前記光ディスク媒体からの情報の読み取り精度を評価することにより、前記制御パラメタの値を補正する第１補正手段、
前記測定部により測定された温度と、予め定められた定数値と、に応じて、前記制御パラメタの値を補正する第２補正手段、及び
前記光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始した後、所定のタイミングごとに、前記第１及び第２補正手段のいずれかによる前記制御パラメタの値の補正を選択的に実行させる補正制御手段、
としてコンピュータを機能させるためのプログラム。
【請求項７】
請求項６記載のプログラムが記憶されたコンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【公開番号】特開２０１０−２０５３２０（Ｐ２０１０−２０５３２０Ａ）
【公開日】平成２２年９月１６日（２０１０．９．１６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−４７６９０（Ｐ２００９−４７６９０）
【出願日】平成２１年３月２日（２００９．３．２）
【出願人】（３９５０１５３１９）株式会社ソニー・コンピュータエンタテインメント (871)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年９月１６日（２０１０．９．１６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年３月２日（２００９．３．２）
【出願人】（３９５０１５３１９）株式会社ソニー・コンピュータエンタテインメント (871)
【Ｆターム（参考）】
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