説明

光照射装置及び光測定装置

【課題】マイクロプレートからの背景光ノイズを低減可能な光照射装置及び光測定装置を提供する。
【解決手段】測定対象物を収容するための複数のウェルが設けられたマイクロプレート20に対して照射光を照射するための光照射装置及び該光照射装置を備える光測定装置であって、略同一形状の複数の凸部61eが形成された主面61aと、該主面61aと反対側の面である裏面61hと、主面61aと略直交する側面61bと、を有する導光部材61と、導光部材61の側面61bから導光部材61に照射光61bを入射する光源装置62と、を備え、凸部61eは、主面61aと略平行な上面61fを有し、導光部材61は、凸部61eの上面61fがマイクロプレート20の裏面23に接するように配置可能である。また、導光部材61は、凸部61eの上面61fがマイクロプレート20のウェル21の底面に対向するように配置可能である。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、マイクロプレートに対して照射光を照射するための光照射装置、及びこの光照射装置とマイクロプレートとを備え測定対象物の測定を行う光測定装置に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、マイクロプレートのウェルに照射光を照射する技術としては、特許文献1〜3に記載の技術が知られている。特許文献1の場合、照射光は、マイクロプレートの裏面から、マイクロプレートのウェルの深さ方向に対して平行に、当該ウェルに照射される。マイクロプレートのウェルには、培養液、蛍光指示薬及び評価化合物等の溶液と細胞等の測定対象物とが注入される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開2007−108146号公報
【特許文献2】特開平10−197449号公報
【特許文献3】特開平10−281994号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
特許文献1に記載の照射光の照射方法において、照射光は、ウェルの深さ方向に対して平行に当該ウェルに照射されるので、測定対象物だけでなく溶液にも多量に照射される場合がある。この場合、溶液からの背景光ノイズが比較的大きくなる。そこで、本発明は、マイクロプレートからの背景光ノイズを低減可能な光照射装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明の光照射装置は、測定対象物を収容するための複数のウェルが設けられたマイクロプレートに対して照射光を照射するための光照射装置であって、略同一形状の複数の凸部が形成された主面と、該主面と反対側の面である裏面と、主面と略直交する側面と、を有する導光部材と、導光部材の側面から導光部材に照射光を入射する光源と、を備え、凸部は、主面と略平行な上面を有し、導光部材は、凸部の上面がマイクロプレートの裏面に接するように配置可能である、ことを特徴とする。
【0006】
また、本発明の光測定装置は、測定対象物を収容するための複数のウェルが設けられたマイクロプレートと、マイクロプレートに対して照射光を照射するための光照射装置と、を含む光測定装置であって、光照射装置は、略同一形状の複数の凸部が形成された主面、該主面と反対側の面である裏面及び主面と略直交する側面を有する導光部材と、導光部材の側面から導光部材に照射光を入射する光源と、を備え、凸部は、主面と略平行な上面を有し、導光部材は、凸部の上面がマイクロプレートの裏面に接すると共に、凸部の上面が前記マイクロプレートのウェルの底面に対向するように配置され、導光部材の側面から導光部材に入射される照射光は、導光部材の主面及び裏面において反射され、凸部の上面から射出されて、マイクロプレートのウェルの底面に入射される、ことを特徴とする。
【0007】
本発明の光照射装置及び光測定装置によれば、導光部材の側面から導光部材に入射された照射光は、導光部材の主面及び裏面において反射され、凸部に入射した後に、凸部の上面からこの上面に接するマイクロプレートのウェルの深さ方向に対し傾いてこのウェルに入射する。このため、培養液、蛍光指示薬及び評価化合物等の溶液に照射される照射光は比較的少ない。したがって、溶液に照射光が照射されることにより生じるマイクロプレートからの背景光ノイズを低減可能である。
【0008】
本発明の光照射装置においては、複数の凸部は導光部材より高い屈折率を有する、ことが好ましい。この場合、凸部の屈折率が導光部材の屈折率よりも高いので、照射光は、導光部材から凸部へ通過し易い。このため、一層多くの照射光をマイクロプレートのウェルに照射することができる。
【0009】
本発明の光照射装置においては、導光部材の主面及び裏面は鏡面加工されている、ことが好ましい。この場合、導光部材に入射された照射光の一部は、導光部材の主面及び裏面において全反射される。このため、照射光が導光部材の主面及び裏面から漏れることを抑制できる。
【0010】
本発明の光照射装置においては、複数の凸部の各凸部の間の領域に充填され、凸部よりも低い屈折率を有する充填部材を更に有する、ことが好ましい。この場合、導光部材に入射されて凸部に入射した照射光が、凸部の側面から漏れることを抑制することができる。
【発明の効果】
【0011】
本発明によれば、マイクロプレートからの背景光ノイズを低減可能な光照射装置及び光測定装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0012】
【図1】本実施形態に係る光測定装置の断面構成を表す図である。
【図2】図1に示されたマイクロプレートを説明するための図である。
【図3】図1に示された光照射装置を説明するための図である。
【図4】図1に示された光照射装置を説明するための図である。
【図5】図1に示されたマイクロプレートのウェルと導光部材の凸部との関係を表す図である。
【図6】図1に示された光照射装置を説明するための図である。
【図7】図1に示された光照射装置を説明するための図である。
【図8】図1に示された光照射装置を説明するための図である。
【図9】図1に示されたマイクロプレート及び導光部材における照射光の光路を表す図である。
【発明を実施するための形態】
【0013】
以下、図面を参照して、本発明に係る好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明において、可能な場合には、同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。図1は、本実施形態に係る光測定装置の断面構成を模式的に表す図である。図1に示されるように、光測定装置10は、マイクロプレート20と、マイクロプレートストッカー30,40と、運搬ベルト50と、光照射装置60と、移動装置70と、励起光カットフィルタ80と、検出器90と、を備える。また、光照射装置60は、導光部材61と光源装置62とを含む。光測定装置10は、マイクロプレート20に保持された測定対象物に対して照射光(励起光)を照射することにより、測定対象物から発せられる測定光(蛍光)を検出する装置である。
【0014】
図2(a)は、マイクロプレート20の平面図であり、図2(b)は、図2(a)のI−I線に沿ってとられたマイクロプレート20の断面構成を表す図である。図2(a)及び図2(b)に示されるように、マイクロプレート20は、円柱形状の窪みのウェル21を複数個(例えば96個)有する。マイクロプレート20の主面22には、これら複数のウェル21の開口が、例えば、8列12行に配列されている。また、複数のウェル21のそれぞれには、細胞等の測定対象物Aと培養液、蛍光指示薬及び評価化合物等の溶液Bとが注入されて保持される。測定対象物Aは、ウェル21の底部に沈殿する。なお、マイクロプレート20のウェルは円柱形状の窪みのウェル21に限らない。例えば、マイクロプレート20のウェルは、図2(c)に示されるように角柱形状の窪みのウェル21aであってもよい。
【0015】
再び図1を参照して説明する。マイクロプレートストッカー30は、測定前のマイクロプレート20を格納する。また、マイクロプレートストッカー40は、測定後のマイクロプレート20を格納する。運搬ベルト50は、マイクロプレートストッカー30から所定の測定位置(光照射装置60と向き合う位置)まで測定前のマイクロプレート20を運搬する。さらに、運搬ベルト50は、この所定の測定位置からマイクロプレートストッカー40まで測定後のマイクロプレート20を運搬する。
【0016】
光照射装置60は、導光部材61と、光源装置62と、を含む。導光部材61は、例えば、石英ガラスで構成されている。光源装置62は、導光部材61の側面61bから照射光を入射する。光照射装置60は、マイクロプレート20の裏面23側からウェル21に対して照射光を照射する。移動装置70は、モータ等を含み、光照射装置60をマイクロプレート20の裏面23に垂直な方向(マイクロプレート20のウェルの深さ方向)に沿って移動させる。
【0017】
励起光カットフィルタ80は、照射光の透過を阻止し、測定対象物A等からの測定光(蛍光)を透過する。検出器90は、マイクロプレート20の裏面23側に配置され、励起光カットフィルタ80を透過した測定光を結像するための光学系(不図示)と、結像された像を撮像するための2次元CCDカメラ等の光検出装置を有しており、測定対象物A等からの測定光を検出する。なお、検出器90は、マイクロプレート20の主面22側に配置することも可能である。この場合、検出器90は、例えば、マイクロプレート20の各ウェル21に対してそれぞれ配置された複数の光電子増倍管、もしくはマイクロプレート20の複数のウェル21を撮像可能な2次元撮像装置とすることができる。また、検出器90に光電子増倍管を用いた場合、マイクロプレート20の主面22側の上方において光電子増倍管を移動させ、各ウェル21からの測定光を検出することができる。
【0018】
続いて、光照射装置60について詳細に説明する。図3(a)は図3(b)のII―II線に沿ってとられた光照射装置60の断面構成を表す図である。図3(b)は光照射装置60の平面図である。図3(a)及び図3(b)に示されるように、光照射装置60の導光部材61は、主面61aと、この主面61aに略直交し互いに対向する二つの側面61bと、主面61aに略直交し互いに対向する他の二つの側面61cと、主面61aと反対側の面である裏面61hと、を有する。また、導光部材61は、主面61aに2次元的に配列されて一体的に設けられた複数の凸部61eを有する。複数の凸部61eのそれぞれは、略同一形状である。各凸部61eは、円柱形状の突起であり、主面61aと略平行で平坦な上面61fを含む。主面61a及び裏面61hは、鏡面加工されている。
【0019】
導光部材61の側面61bには、光源装置62が配置されている。光源装置62は、フレーム62aと、光源としてのLED62bと、フィルタ62cと、を含む。LED62bは、導光部材61の側面61bに沿って複数配列されてフレーム62aにより保持されている。これら複数のLED62bは、導光部材61の側面61bからフィルタ62cを介して導光部材61に指向性を有する照射光を入射する。フィルタ62cは、特定の波長帯域の光のみを透過するショートパスフィルタやバンドパスフィルタ等であり、LED62bから出射される光から、測定に適した波長の照射光のみを透過する。このように、LED62bとフィルタ62cとを組み合わせることにより、より測定に適した波長の光を導光部材61へ入射させることができるので、測定精度を高めることができる。以上説明した導光部材61は、図1に示されるように、凸部61eの上面61fがマイクロプレート20の裏面23に接するように配置することができる。また、導光部材61は、凸部61eの上面61fがマイクロプレート20のウェル21の底面に対向するように配置することができる。
【0020】
なお、導光部材61の各凸部は円柱形状の突起の凸部61eに限らず、図3(c)に示されるように角柱形状の突起の凸部61gであってもよい。さらに凸部61e(凸部61g)は、内部を刳り貫いて中空とした円筒状(角筒状)の突起であってもよい。また、図4(a)に示されるように、凸部61eは、導光部材61とは異なる材料(例えばシリコーン等)によって形成することもできる。この凸部61eの材料は、導光部材61よりも高い屈折率を有するのが好ましい。この場合、照射光は、導光部材61から凸部61eへ通過し易くなるので、一層多くの照射光が凸部61eの上面61fから出射される。また、図4(b)に示されるように、各凸部61eの間の領域に充填部材61jを充填してもよい。充填部材61jは、凸部61eよりも低い屈折率を有することが好ましい。これにより、凸部61eに入射した照射光が、凸部61eの側面から漏れることを抑制できる。さらに、充填部材61jは、導光部材61よりも低い屈折率を有することが好ましい。これにより、導光部材61から充填部材61jへ照射光が入射されることを抑制できる。また、図4(c)に示されるように、凸部61eが複数設けられた角柱状の光ファイバ61iを複数配列することにより導光部材61を形成することもできる。
【0021】
図5は、複数のウェル21に対する複数の凸部61eの配置パターンのバリエーションを模式的に表す図である。図5(a)に示されるように、各凸部61eは各ウェル21と一対一に対応するように設けるのが好ましいが、図5(b)に示されるように、複数の凸部61eが一つのウェル21に対応するように設けてもよい。さらに、各凸部61eは、図5(c)に示されるように、主面61aの上方から見て、各凸部61eとウェル21とが重ならないように設けてもよい。
【0022】
光源装置62の光源としては、互いに異なる波長の光を出射する2種のLEDを用いることができる。この場合、図6(a)に示されるように、導光部材61の側面61bに沿ってLED62bを複数配列し、導光部材61の他の側面61cに沿って、LED62bとは異なる波長の光を出射するLED62dを複数配列する。これにより、光源装置62は、互いに異なる2種の波長の照射光を導光部材61に入射できる。LED62bと導光部材61との間にはフィルタ62cが配置され、LED62dと導光部材61との間には、フィルタ62cとは異なる波長の光を透過するショートパスフィルタやバンドパスフィルタ等のフィルタ62eが配置される。フィルタ62eは、LED62dから出射される光から、測定に適した波長の照射光のみを透過する。また、図6(b)に示されるように、導光部材61の側面61b及び側面61cに沿って、LED62bとLED62dとを交互に配列することも可能である。このとき、LED62b及びLED62dと導光部材61との間には、フィルタ62c及びフィルタ62eが交互に配置される。
【0023】
なお、光源装置62の光源は、LEDに限らない。光源装置62の光源としては、例えば、図7(a)に示されるように、キセノンランプ62f等の白色光源を用いることができる。この場合、キセノンランプ62fは、波長切替装置62g及び光ファイバ62hを介して、指向性を有する所定の波長の照射光を導光部材61の側面61bから導光部材61に入射する。これにより、LEDでは実現できない波長の光を照射光として用いることができる。このとき、光源としてのキセノンランプ62f自体は、図7(a)に示されるように、導光部材61の側面61bに配置されなくてもよい。また、図7(b)に示されるように、光源装置62の光源として指向性を有さない光を出射する所定の光源62kを用い、この光源62kとフィルタ62mとの間に、コリメータレンズ62nを配置してもよい。このコリメータレンズ62nは、図7(c)に示されるように、導光部材61の側面61bに導光部材61と一体的に設けることも可能である。フィルタ62mは、光源62kにより出射される光から、測定に適した波長の照射光のみを透過する。
【0024】
図8は、導光部材61に入射する照射光の範囲を表す図である。図8(a)に示されるように、照射光は、側面61bの一部(例えば、底面61h側の一部)から導光部材61に入射してもよいし、図8(b)に示されるように、側面61bの全面から入射してもよい。
【0025】
以上説明したように、光照射装置60においては、主面61aに複数の凸部61eが形成された導光部材61に対して、導光部材61の側面61bから指向性を有する照射光が入射される。導光部材61に入射した照射光の一部は、図9(a)中の破線L1によって示される光路を進行し、導光部材61の裏面61h及び主面61aにおいて全反射される。また、導光部材61に入射する照射光の一部は、図9(a)中の一点鎖線L2によって示される光路を進行し、導光部材61の主面61a及び裏面61hにおいて反射され、凸部61eに入射した後に、上面61fから出射されて凸部61eに接するマイクロプレート20の各ウェル21に照射される。これにより、凸部61eの上面61fから出射された照射光は、ウェル21の深さ方向に対し傾いてウェル21に入射する。したがって、図9(b)に示されるように、溶液Bに照射される照射光が比較的少なくなる。よって、溶液Bに照射光が照射されることにより生じる背景光ノイズを低減できる。また、導光部材61の主面61a及び裏面61hが鏡面加工されているので、導光部材61の側面61bから導光部材61に入射された照射光の一部は、導光部材61の主面61a及び裏面61hにおいて全反射される。このため、導光部材61に入射された照射光が導光部材61から漏れることを抑制できる。これに対し、図9(c)は、従来の方法によって、ウェル21の深さ方向にウェル21に照射光を照射した場合の照射光の光路を表す図である。図9(c)に示されるように、従来の方法によれば、測定対象物Aに加えて溶液Bにも多くの照射光が照射されるので、本実施形態の光照射装置60を使用した場合に比較して背景光ノイズが大きい。
【符号の説明】
【0026】
10…光測定装置、20…マイクロプレート、21,21a…ウェル、22,61a…主面、23,61h…裏面、30,40…マイクロプレートストッカー、50…運搬ベルト、60…光照射装置、61…導光部材、61b,61c…側面、61e,61g…凸部、61f…上面、61j…充填部材、62…光源装置、62a…フレーム、62b,62d…LED、62c,62e,62m…フィルタ、62f…キセノンランプ、62g…波長切替装置、61i,62h…光ファイバ、62k…光源、62n…コリメータレンズ、70…移動装置、80…励起光カットフィルタ、90…検出器。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
測定対象物を収容するための複数のウェルが設けられたマイクロプレートに対して照射光を照射するための光照射装置であって、
略同一形状の複数の凸部が形成された主面と、該主面と反対側の面である裏面と、前記主面と略直交する側面と、を有する導光部材と、
前記導光部材の前記側面から前記導光部材に前記照射光を入射する光源と、
を備え、
前記凸部は、前記主面と略平行な上面を有し、
前記導光部材は、前記凸部の前記上面が前記マイクロプレートの裏面に接するように配置可能である、
ことを特徴とする光照射装置。
【請求項2】
前記複数の凸部は前記導光部材より高い屈折率を有する、
ことを特徴とする請求項1に記載の光照射装置。
【請求項3】
前記導光部材の前記主面及び前記裏面は鏡面加工されている、
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光照射装置。
【請求項4】
前記複数の凸部の各凸部の間の領域に充填され、前記凸部よりも低い屈折率を有する充填部材を更に有する、
ことを特徴とする請求項1〜請求項3の何れか一項に記載の光照射装置。
【請求項5】
測定対象物を収容するための複数のウェルが設けられたマイクロプレートと、前記マイクロプレートに対して照射光を照射するための光照射装置と、を含む光測定装置であって、
前記光照射装置は、略同一形状の複数の凸部が形成された主面、該主面と反対側の面である裏面及び前記主面と略直交する側面を有する導光部材と、前記導光部材の前記側面から前記導光部材に前記照射光を入射する光源と、を備え、
前記凸部は、前記主面と略平行な上面を有し、
前記導光部材は、前記凸部の前記上面が前記マイクロプレートの裏面に接すると共に、前記凸部の前記上面が前記マイクロプレートの前記ウェルの底面に対向するように配置され、
前記導光部材の前記側面から前記導光部材に入射される前記照射光は、前記導光部材の前記主面及び前記裏面において反射され、前記凸部の前記上面から射出されて、前記マイクロプレートの前記ウェルの前記底面に入射される、
ことを特徴とする光測定装置。

【図1】
image rotate

【図2】
image rotate

【図3】
image rotate

【図4】
image rotate

【図5】
image rotate

【図6】
image rotate

【図7】
image rotate

【図8】
image rotate

【図9】
image rotate


【公開番号】特開2010−230397(P2010−230397A)
【公開日】平成22年10月14日(2010.10.14)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2009−76601(P2009−76601)
【出願日】平成21年3月26日(2009.3.26)
【出願人】(000236436)浜松ホトニクス株式会社 (1,479)
【Fターム(参考)】