入力装置及び入力方法
【課題】三点同時入力がなされた場合にゴースト座標を接触点座標として検出してしまうおそれのない領域分割アナログタッチパネルを備えた入力装置を提供する。
【解決手段】第ｋ（ｋ＝１，２，３，４）領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標を（Ｘｋ，Ｙｋ）とした場合、｜Ｘ１−Ｘ２｜＜DIFF且つ｜Ｙ１−Ｙ３｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ１，Ｙ１）をゴースト座標と判断し、｜Ｘ２−Ｘ１｜＜DIFF且つ｜Ｙ２−Ｙ４｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ２，Ｙ２）をゴースト座標と判断し、｜Ｘ３−Ｘ４｜＜DIFF且つ｜Ｙ３−Ｙ１｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ３，Ｙ３）をゴースト座標と判断し、｜Ｘ４−Ｘ３｜＜DIFF且つ｜Ｙ４−Ｙ２｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ４，Ｙ４）をゴースト座標と判断する入力装置。なお、DIFFは０より大きい所定値である。
【解決手段】第ｋ（ｋ＝１，２，３，４）領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標を（Ｘｋ，Ｙｋ）とした場合、｜Ｘ１−Ｘ２｜＜DIFF且つ｜Ｙ１−Ｙ３｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ１，Ｙ１）をゴースト座標と判断し、｜Ｘ２−Ｘ１｜＜DIFF且つ｜Ｙ２−Ｙ４｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ２，Ｙ２）をゴースト座標と判断し、｜Ｘ３−Ｘ４｜＜DIFF且つ｜Ｙ３−Ｙ１｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ３，Ｙ３）をゴースト座標と判断し、｜Ｘ４−Ｘ３｜＜DIFF且つ｜Ｙ４−Ｙ２｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ４，Ｙ４）をゴースト座標と判断する入力装置。なお、DIFFは０より大きい所定値である。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法に関し、特に領域分割アナログタッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
領域分割アナログタッチパネルは、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを備え、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向している構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている。
【０００３】
ここでは、領域分割アナログタッチパネルの一例である四分割アナログタッチパネルと、その四分割アナログタッチパネルを備えた入力装置に適用される入力方法とについて説明する。なお、四分割アナログタッチパネルは、例えば特許文献１や特許文献２に開示されている。
【０００４】
四分割アナログタッチパネルの概略構成を図４に示す。図４に示す四分割アナログタッチパネルは、Ｘ軸方向に向かって並べて配置される抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２と、Ｙ軸方向に向かって並べて配置される抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２とを備えている。抵抗膜ＷＹ１のＹ軸方向の両端に電極Ｙ１Ｕ及びＹ１Ｄが設けられ、抵抗膜ＷＹ２のＹ軸方向の両端に電極Ｙ２Ｕ及びＹ２Ｄが設けられ、抵抗膜ＷＸ１のＸ軸方向の両端に電極Ｘ１Ｌ及びＸ１Ｒが設けられ、抵抗膜ＷＸ２のＸ軸方向の両端に電極Ｘ２Ｌ及びＸ２Ｒが設けられている。抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ１との対向領域を第１領域とし、抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ２との対向領域を第２領域とし、抵抗膜ＷＸ２と抵抗膜ＷＹ１との対向領域を第３領域とし、抵抗膜ＷＸ２と抵抗膜ＷＹ２との対向領域を第４領域とする。
【０００５】
第１領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ１の両端に設けられている電極Ｘ１Ｌと電極Ｘ１Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第１領域の接触点Ｘ座標を検出する。このときの四分割アナログタッチパネルの等価回路を図５（ａ）に示す。図５（ａ）中の符号Ｐは接触点を示しており、接触点Ｐにおいて、抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ１が短絡している。
【０００６】
また、第１領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ１の両端に設けられている電極Ｙ１Ｕと電極Ｙ１Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第１領域の接触点Ｙ座標を検出する。このときの四分割アナログタッチパネルの等価回路を図５（ｂ）に示す。図５（ｂ）中の符号Ｐは接触点を示しており、接触点Ｐにおいて、抵抗膜ＷＹ１と抵抗膜ＷＸ１が短絡している。
【０００７】
第２〜第４領域の接触点座標検出も第１領域の接触点座標検出と同様である。すなわち、第２領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ１の両端に設けられている電極Ｘ１Ｌと電極Ｘ１Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｘ座標を検出し、第２領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ２の両端に設けられている電極Ｙ２Ｕと電極Ｙ２Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｙ座標を検出し、第３領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ２の両端に設けられている電極Ｘ２Ｌと電極Ｘ２Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第３領域の接触点Ｘ座標を検出し、第３領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ１の両端に設けられている電極Ｙ１Ｕと電極Ｙ１Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第３領域の接触点Ｙ座標を検出し、第４領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ２の両端に設けられている電極Ｘ２Ｌと電極Ｘ２Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第４領域の接触点Ｘ座標を検出し、第４領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ２の両端に設けられている電極Ｙ２Ｕと電極Ｙ２Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第４領域の接触点Ｙ座標を検出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開平１１−１６１４２５号公報
【特許文献２】特開平９−４５１８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ここで、第１領域内の点Ａ（Ｘａ，Ｙａ）、第３領域内の点Ｂ（Ｘｂ，Ｙｂ）、及び第４領域内の点Ｃ（Ｘｃ，Ｙｃ）の三点が同時に入力されている（押されている）状態において第２領域の接触点Ｙ座標を検出する場合について、図６を参照して説明する。なお、三点同時入力は、四分割アナログタッチパネルの３つの領域にそれぞれ割り振られて表示される３つのソフトキーをユーザが同時にタッチする場合などにおいて生じる。
【００１０】
第２領域の接触点Ｙ座標を検出するので、抵抗膜ＷＹ２の両端に設けられている電極Ｙ２Ｕと電極Ｙ２Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｙ座標を検出する。点Ｃが入力されているため、点Ｃにおいて抵抗膜ＷＹ２と抵抗膜ＷＸ２とが接触しており、抵抗膜ＷＸ２に抵抗膜ＷＹ２の点Ｃにおける抵抗分圧と略同一の電圧が発生する。また、点Ｂが入力されているため、点Ｂにおいて抵抗膜ＷＸ２と抵抗膜ＷＹ１とが接触しており、抵抗膜ＷＹ１に抵抗膜ＷＸ２の電圧と略同一の電圧が発生する。さらに、点Ａが入力されているため、点Ａにおいて抵抗膜ＷＹ１と抵抗膜ＷＸ１とが接触しており、抵抗膜ＷＸ１に抵抗膜ＷＹ１の電圧と略同一の電圧が発生する。したがって、抵抗膜ＷＸ１に抵抗膜ＷＹ２の点Ｃにおける抵抗分圧と略同一の電圧が発生する。このため、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｙ座標を検出すると、その検出座標は点ＣのＹ座標（Ｙｃ）とほぼ等しくなる。なお、図５中の点線矢印は、抵抗膜ＷＹ２の点Ｃにおける抵抗分圧の流れ（伝達経路）を示している。
【００１１】
同様に、第１領域内の点Ａ（Ｘａ，Ｙａ）、第３領域内の点Ｂ（Ｘｂ，Ｙｂ）、及び第４領域内の点Ｃ（Ｘｃ，Ｙｃ）の三点が同時に入力されている（押されている）状態において第２領域の接触点Ｘ座標を検出すると、その検出座標は点ＡのＸ座標（Ｘａ）とほぼ等しくなる。
【００１２】
以上により、第１領域内の点Ａ（Ｘａ，Ｙａ）、第３領域内の点Ｂ（Ｘｂ，Ｙｂ）、及び第４領域内の点Ｃ（Ｘｃ，Ｙｃ）の三点が同時に入力されると、図７に示すように、第２領域の接触点座標検出において、入力されていないゴースト座標Ｇ（Ｘａ，Ｙｃ）を接触点座標として検出してしまうという不具合が生じる。
【００１３】
本発明は、上記の状況に鑑み、三点同時入力がなされた場合にゴースト座標を接触点座標として検出してしまうおそれのない領域分割アナログタッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するために本発明に係る入力装置は、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルと、前記領域分割アナログタッチパネルを制御して前記対向領域の接触点座標を検出する接触点座標検出処理を前記対向領域それぞれについて行うコントローラとを備える入力装置であって、前記コントローラが、以下のような判断をする。
【００１５】
前記コントローラが、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つである第１領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第１方向で前記第１領域に隣接している第２領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第１領域に隣接している第３領域、及び、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第２領域に隣接し且つ前記第１方向で前記第３領域に隣接している第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出した場合に、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする。
【００１６】
同様に、前記場合に、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする。
【００１７】
また、同様に、前記場合に、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする。
【００１８】
また、同様に、前記場合に、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記前記コントローラが、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする。
【００１９】
また、上記構成の入力装置において、前記場合に、前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、及び、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の全てをゴースト座標と判断しなかったときには、前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、及び、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の全てを無効とすることが望ましい。
【００２０】
また、上記目的を達成するために本発明に係る入力方法は、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルを備える入力装置に適用される入力方法であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つである第１領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第１方向で前記第１領域に隣接している第２領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第１領域に隣接している第３領域、及び、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第２領域に隣接し且つ前記第１方向で前記第３領域に隣接している第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出したか否かを確認する確認ステップと、前記確認ステップで前記第１領域、前記第２領域、前記第３領域、前記第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出したことを確認した場合に、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第１ゴースト処理ステップと、前記場合に、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第２ゴースト処理ステップと、前記場合に、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第３ゴースト処理ステップと、前記場合に、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第４ゴースト処理ステップとを備えるようにしている。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によると、三点同時入力時に発生するゴースト座標の発生原理を考慮して、或る接触点座標と或る接触点座標に隣接する接触点座標との位置関係を利用して、或る接触点座標がゴースト座標に該当するかを判断しているので、三点同時入力がなされた場合にゴースト座標を接触点座標として検出してしまうおそれがない。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の一実施形態に係る入力装置の概略構成例を示す図である。
【図２】四分割アナログタッチパネルの接触点座標の検出動作を示すフローチャートである。
【図３】四分割アナログタッチパネルの接触点座標の検出動作における各部電圧のタイムチャートである。
【図４】四分割アナログタッチパネルの概略構成を示す図である。
【図５】第１領域の接触点座標を検出する場合の四分割アナログタッチパネルの等価回路を示す図である。
【図６】三点同時入力状態でのゴースト座標検出の様子を示す図である。
【図７】三点同時入力状態でのゴースト座標検出の様子を示す四分割アナログタッチパネルの正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
本発明の実施形態について図面を参照して以下に説明する。図１は、本発明の一実施形態に係る入力装置の概略構成例を示す図である。
【００２４】
図１に示す本発明の一実施形態に係る入力装置は、四分割アナログタッチパネル１と、タッチパネルＩ／Ｆ（インターフェース）回路２と、コントローラ３と、ホストＩ／Ｆ回路４と、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）５とを備えている。四分割アナログタッチパネル１は図４に示す構成とする。また、コントローラ３は、タッチパネルＩ／Ｆ回路２を介して四分割アナログタッチパネル１を制御し、四分割アナログタッチパネル１に入力された入力情報を出力レポートとしてホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送し、四分割アナログタッチパネル１の状態に応じてＬＥＤ５を制御するコントローラであって、例えばフラッシュメモリ、ＲＡＭ、及びＣＰＵを有するマイクロコンピュータを用いることができる。
【００２５】
次に、図１に示す本発明の一実施形態に係る入力装置が行う四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作について図２及び図３を参照して説明する。図２は四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作を示すフローチャートであり、図３は四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作時の各部電圧のタイムチャートである。なお、図３において、符号Ｙ１Ｄ、Ｙ２Ｄ、Ｘ１Ｒ、Ｘ２Ｒはそれぞれ電極Ｙ１Ｄの電圧、電極Ｙ２Ｄの電圧、電極Ｘ１Ｒの電圧、電極Ｘ２Ｒの電圧を示している。
【００２６】
図２に示すフローチャート動作は、コントローラ３からホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送される出力レポートの転送レート毎に実行される。
【００２７】
＜タッチ検出処理＞
まず、タッチ検出処理が実行される（ステップＳ１０）。タッチ検出処理は、図３中の期間Ｔ１において実行される。
【００２８】
期間Ｔ１において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｒをオープンとし、さらに、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の状態が安定するのを待つ。ユーザが四分割アナログタッチパネル１をタッチしていない場合は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄが５Ｖである状態が維持される。これに対して、ユーザが四分割アナログタッチパネル１をタッチしている場合は、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２の少なくとも一つが四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触するので、電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄの少なくとも一つが５Ｖから０Ｖへと変化する。図３は、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１が四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触し、且つ、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ２が四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触している場合を図示している。なお、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌが０Ｖであるので、オープン状態である四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒは結果的に０Ｖとなる。同様に、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌが０Ｖであるので、オープン状態である四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｒは結果的に０Ｖとなる。
【００２９】
＜タッチ検出判定処理＞
次に、タッチ検出判定処理が実行される（ステップＳ２０）。タッチ検出判定処理は、図３中の期間Ｔ２において実行される。
【００３０】
期間Ｔ２において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値と、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値とを検出する。なお、Ａ／Ｄ変換は、四分割アナログタッチパネル１、タッチパネルＩ／Ｆ回路２のいずれで行われてもよい。
【００３１】
そして、コントローラ３は、検出した二つの電圧の少なくとも一つが２Ｖ以下であればタッチ有りと判定する。判定の基準となる電圧値（２Ｖ）は、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００３２】
ステップＳ２０のタッチ検出判定処理でタッチ有りと判定された場合（ステップＳ２０のＹＥＳ）、コントローラ３は、ＬＥＤ５を点灯させ（ステップＳ３０）、その後、接触点座標検出処理を実行する（ステップＳ４０）。接触点座標検出処理は、接触点Ｘ座標検出処理と接触点Ｙ座標検出処理からなる。
【００３３】
＜接触点Ｘ座標検出処理＞
期間Ｔ３において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄに０Ｖを印加する。期間Ｔ３の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００３４】
期間Ｔ３に続く期間Ｔ４において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕ、Ｙ２Ｕ、Ｙ１Ｄ、及びＹ２Ｄをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２の状態が安定するまで待機する。期間Ｔ４の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００３５】
期間Ｔ４に続く期間Ｔ５において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第１領域の接触点Ｘ座標とする。
【００３６】
また、期間Ｔ５において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｄに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｕに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第２領域の接触点Ｘ座標とする。
【００３７】
期間Ｔ５に続く期間Ｔ６において、コントローラ３は、期間Ｔ３〜期間Ｔ５での処理の電極Ｘ１Ｌ、Ｘ１Ｒに印加する電圧と電極Ｘ２Ｌ、Ｘ２Ｒに印加する電圧を交換した処理を行う。これにより、第３領域の接触点Ｘ座標及び第４領域の接触点Ｘ座標を得る。
【００３８】
＜接触点Ｙ座標検出処理＞
接触点Ｘ座標検出処理と同様の手法を用いて、接触点Ｙ座標検出処理が実行される。
【００３９】
期間Ｔ６に続く期間Ｔ７において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒ及びＸ２Ｒに０Ｖを印加する。期間Ｔ７の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００４０】
期間Ｔ７に続く期間Ｔ８において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌ、Ｘ２Ｌ、Ｘ１Ｒ、及びＸ２Ｒをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の状態が安定するまで待機する。期間Ｔ８の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００４１】
期間Ｔ８に続く期間Ｔ９において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第１領域の接触点Ｙ座標とする。
【００４２】
また、期間Ｔ９において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第３領域の接触点Ｙ座標とする。
【００４３】
期間Ｔ９に続く期間Ｔ１０において、コントローラ３は、期間Ｔ７〜期間Ｔ９での処理の電極Ｙ１Ｕ、Ｙ１Ｄに印加する電圧と電極Ｙ２Ｕ、Ｙ２Ｄに印加する電圧とを交換した処理を行う。これにより、第２領域の接触点Ｙ座標及び第４領域の接触点Ｙ座標を得る。
【００４４】
その後、コントローラ３は、上述した接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理を再び実行する（期間Ｔ１０に続く期間Ｔ１１以降）。ただし、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理においては、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理での０Ｖを印加する電極と５Ｖを印加する電極を入れ替える。
【００４５】
１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標との比が予め設定している閾値以下であれば、コントローラ３は、その或る接触点座標に対応する領域の状態を「安定」にセットして記憶する。また、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標との比が予め設定している閾値以下でなければ、コントローラ３は、その或る接触点座標に対応する領域の状態を「少し不安定」にセットして記憶する。また、コントローラ３は、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理のいずれか一方のみによって得られた或る接触点座標に対応する領域の状態を「不安定」にセットして記憶する。また、コントローラ３は、接触点座標が存在しない領域の状態を「非接触」にセットして記憶する。
【００４６】
コントローラ３は、「安定」とセットした領域についてのみ、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標とを平均化し、接触点座標として記憶する。
【００４７】
上述したステップＳ４０での接触点座標検出処理が終了すると、後述するステップＳ７０に移行する。
【００４８】
一方、ステップＳ２０のタッチ検出判定処理でタッチ有りと判定されなかった場合（ステップＳ２０のＮＯ）、コントローラ３は、ＬＥＤ５を消灯させ（ステップＳ５０）、その後、第１〜第４領域の状態を全て「非接触」にセットして記憶し（ステップＳ６０）、後述するステップＳ７０に移行する。
【００４９】
＜ゴースト処理＞
ステップＳ７０では、ゴースト処理が実行される。ゴースト処理において、コントローラ３は、接触点座標の個数が４未満か４のいずれであるかを確認し、接触点座標の個数が４未満であれば直ちに後述するステップＳ８０に移行し、接触点座標の個数が４であればゴースト判断処理を実行する。なお、接触点座標の個数が４である場合、第１〜第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標が一つずつ検出されている。
【００５０】
ゴースト判断処理において、コントローラ３は、ゴースト座標を接触点座標から削除し、ゴースト座標が検出された領域の状態を「非接触」にセットし直して記憶する。すなわち、第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標を（Ｘ１，Ｙ１）とし、第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標を（Ｘ２，Ｙ２）とし、第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標を（Ｘ３，Ｙ３）とし、第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標を（Ｘ４，Ｙ４）とした場合、｜Ｘ１−Ｘ２｜＜DIFF且つ｜Ｙ１−Ｙ３｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ１，Ｙ１）をゴースト座標と判断して無効とし（接触点座標から削除して）第１領域の状態を「非接触」にセットし直し、｜Ｘ２−Ｘ１｜＜DIFF且つ｜Ｙ２−Ｙ４｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ２，Ｙ２）をゴースト座標と判断して無効とし（接触点座標から削除して）第２領域の状態を「非接触」にセットし直し、｜Ｘ３−Ｘ４｜＜DIFF且つ｜Ｙ３−Ｙ１｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ３，Ｙ３）をゴースト座標と判断して無効とし（接触点座標から削除して）第３領域の状態を「非接触」にセットし直し、｜Ｘ４−Ｘ３｜＜DIFF且つ｜Ｙ４−Ｙ２｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ４，Ｙ４）をゴースト座標と判断して無効とし（接触点座標から削除して）第４領域の状態を「非接触」にセットし直す。なお、DIFFは０より大きい所定値である。DIFFを０より大きい所定値にしている理由は、ゴースト座標が発生する際に、電圧の流れ（伝達経路）（図６中の点線矢印参照）においてノイズ等の影響により電圧が一定値を保持できるとは限らないためである。また、所定値DIFFは上記各条件式において同一の値であっても、上記各条件式の一部において他と異なる値を設定してもよく、上記各条件式で異なる値を設定してもよい。
【００５１】
接触点座標の個数が４となり、かつ、ゴースト判断処理においてゴースト座標が見つからなかった場合、コントローラ３は、第１〜第４領域それぞれに１つずつ接触点が存在するように四点同時入力がなされたと判断し、全ての接触点座標を無効とし、第１〜第４領域の状態を全て「非接触」にセットし直して記憶する。このような処理を行う理由は、第１〜第４領域それぞれに１つずつ接触点が存在するように四点同時入力がなされた場合、電流の流れ込みが発生し、第１〜第４領域全てで接触点の正確な座標値を取得できないためである。
【００５２】
＜座標安定化判断＞
ステップＳ７０に続くステップＳ８０では、座標安定化判断が実行される。ステップＳ７０迄の処理において、第１〜第４領域それぞれの状態が、「安定」、「少し不安定」、「不安定」、「非接触」のいずれかに確定している。
【００５３】
座標安定化判断において、コントローラ３は、「少し不安定」又は「不安定」の領域に対して、「不安定」であると判断し、その判断結果を記憶する。また、座標安定化判断において、コントローラ３は、「非接触」の領域に対して、「非接触」であると判断し、その判断結果を記憶する。また、座標安定化判断において、コントローラ３は、「安定」の領域に対して、当該領域の前回フロー処理での状態を参照し、前回フロー処理での状態が「安定」でなかった場合には「最初の接触」であると判断し、前回フロー処理での状態も「安定」であった場合には「接触継続中」であると判断し、その判断結果を記憶する。
【００５４】
＜出力レポート生成＞
ステップＳ８０に続くステップＳ９０では、出力レポートが生成される。生成された出力レポートは、ホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送される。
【００５５】
コントローラ３は、ステップＳ８０での判断結果と接触点座標が存在する場合は接触点座標の値とから、「四分割アナログタッチパネル１がタッチされた状態」、「四分割アナログタッチパネル１へのタッチが解除された状態」、「接触点座標が既定距離以上移動した状態」、「接触点座標が既定距離未満の移動にとどまっており既定時間以上存在し続けている状態」のいずれであるかを決定し、その決定内容を出力レポートとする。また、接触点座標が存在する場合は接触点座標の値も出力レポートに含める。
【００５６】
以上、本発明に係る実施形態について説明したが、本発明の範囲はこれに限定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えて実行することができる。例えば、検出した接触点座標をそのままホスト側に出力するのではなく、検出した接触点座標に補正処理を施してからホスト側に出力するようにしてもよい。
【符号の説明】
【００５７】
１ 四分割アナログタッチパネル
２ タッチパネルＩ／Ｆ回路
３ コントローラ
４ ホストＩ／Ｆ回路
５ ＬＥＤ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法に関し、特に領域分割アナログタッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
領域分割アナログタッチパネルは、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを備え、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向している構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている。
【０００３】
ここでは、領域分割アナログタッチパネルの一例である四分割アナログタッチパネルと、その四分割アナログタッチパネルを備えた入力装置に適用される入力方法とについて説明する。なお、四分割アナログタッチパネルは、例えば特許文献１や特許文献２に開示されている。
【０００４】
四分割アナログタッチパネルの概略構成を図４に示す。図４に示す四分割アナログタッチパネルは、Ｘ軸方向に向かって並べて配置される抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２と、Ｙ軸方向に向かって並べて配置される抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２とを備えている。抵抗膜ＷＹ１のＹ軸方向の両端に電極Ｙ１Ｕ及びＹ１Ｄが設けられ、抵抗膜ＷＹ２のＹ軸方向の両端に電極Ｙ２Ｕ及びＹ２Ｄが設けられ、抵抗膜ＷＸ１のＸ軸方向の両端に電極Ｘ１Ｌ及びＸ１Ｒが設けられ、抵抗膜ＷＸ２のＸ軸方向の両端に電極Ｘ２Ｌ及びＸ２Ｒが設けられている。抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ１との対向領域を第１領域とし、抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ２との対向領域を第２領域とし、抵抗膜ＷＸ２と抵抗膜ＷＹ１との対向領域を第３領域とし、抵抗膜ＷＸ２と抵抗膜ＷＹ２との対向領域を第４領域とする。
【０００５】
第１領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ１の両端に設けられている電極Ｘ１Ｌと電極Ｘ１Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第１領域の接触点Ｘ座標を検出する。このときの四分割アナログタッチパネルの等価回路を図５（ａ）に示す。図５（ａ）中の符号Ｐは接触点を示しており、接触点Ｐにおいて、抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ１が短絡している。
【０００６】
また、第１領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ１の両端に設けられている電極Ｙ１Ｕと電極Ｙ１Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第１領域の接触点Ｙ座標を検出する。このときの四分割アナログタッチパネルの等価回路を図５（ｂ）に示す。図５（ｂ）中の符号Ｐは接触点を示しており、接触点Ｐにおいて、抵抗膜ＷＹ１と抵抗膜ＷＸ１が短絡している。
【０００７】
第２〜第４領域の接触点座標検出も第１領域の接触点座標検出と同様である。すなわち、第２領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ１の両端に設けられている電極Ｘ１Ｌと電極Ｘ１Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｘ座標を検出し、第２領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ２の両端に設けられている電極Ｙ２Ｕと電極Ｙ２Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｙ座標を検出し、第３領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ２の両端に設けられている電極Ｘ２Ｌと電極Ｘ２Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第３領域の接触点Ｘ座標を検出し、第３領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ１の両端に設けられている電極Ｙ１Ｕと電極Ｙ１Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第３領域の接触点Ｙ座標を検出し、第４領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ２の両端に設けられている電極Ｘ２Ｌと電極Ｘ２Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第４領域の接触点Ｘ座標を検出し、第４領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ２の両端に設けられている電極Ｙ２Ｕと電極Ｙ２Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第４領域の接触点Ｙ座標を検出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開平１１−１６１４２５号公報
【特許文献２】特開平９−４５１８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ここで、第１領域内の点Ａ（Ｘａ，Ｙａ）、第３領域内の点Ｂ（Ｘｂ，Ｙｂ）、及び第４領域内の点Ｃ（Ｘｃ，Ｙｃ）の三点が同時に入力されている（押されている）状態において第２領域の接触点Ｙ座標を検出する場合について、図６を参照して説明する。なお、三点同時入力は、四分割アナログタッチパネルの３つの領域にそれぞれ割り振られて表示される３つのソフトキーをユーザが同時にタッチする場合などにおいて生じる。
【００１０】
第２領域の接触点Ｙ座標を検出するので、抵抗膜ＷＹ２の両端に設けられている電極Ｙ２Ｕと電極Ｙ２Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｙ座標を検出する。点Ｃが入力されているため、点Ｃにおいて抵抗膜ＷＹ２と抵抗膜ＷＸ２とが接触しており、抵抗膜ＷＸ２に抵抗膜ＷＹ２の点Ｃにおける抵抗分圧と略同一の電圧が発生する。また、点Ｂが入力されているため、点Ｂにおいて抵抗膜ＷＸ２と抵抗膜ＷＹ１とが接触しており、抵抗膜ＷＹ１に抵抗膜ＷＸ２の電圧と略同一の電圧が発生する。さらに、点Ａが入力されているため、点Ａにおいて抵抗膜ＷＹ１と抵抗膜ＷＸ１とが接触しており、抵抗膜ＷＸ１に抵抗膜ＷＹ１の電圧と略同一の電圧が発生する。したがって、抵抗膜ＷＸ１に抵抗膜ＷＹ２の点Ｃにおける抵抗分圧と略同一の電圧が発生する。このため、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｙ座標を検出すると、その検出座標は点ＣのＹ座標（Ｙｃ）とほぼ等しくなる。なお、図５中の点線矢印は、抵抗膜ＷＹ２の点Ｃにおける抵抗分圧の流れ（伝達経路）を示している。
【００１１】
同様に、第１領域内の点Ａ（Ｘａ，Ｙａ）、第３領域内の点Ｂ（Ｘｂ，Ｙｂ）、及び第４領域内の点Ｃ（Ｘｃ，Ｙｃ）の三点が同時に入力されている（押されている）状態において第２領域の接触点Ｘ座標を検出すると、その検出座標は点ＡのＸ座標（Ｘａ）とほぼ等しくなる。
【００１２】
以上により、第１領域内の点Ａ（Ｘａ，Ｙａ）、第３領域内の点Ｂ（Ｘｂ，Ｙｂ）、及び第４領域内の点Ｃ（Ｘｃ，Ｙｃ）の三点が同時に入力されると、図７に示すように、第２領域の接触点座標検出において、入力されていないゴースト座標Ｇ（Ｘａ，Ｙｃ）を接触点座標として検出してしまうという不具合が生じる。
【００１３】
本発明は、上記の状況に鑑み、三点同時入力がなされた場合にゴースト座標を接触点座標として検出してしまうおそれのない領域分割アナログタッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するために本発明に係る入力装置は、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルと、前記領域分割アナログタッチパネルを制御して前記対向領域の接触点座標を検出する接触点座標検出処理を前記対向領域それぞれについて行うコントローラとを備える入力装置であって、前記コントローラが、以下のような判断をする。
【００１５】
前記コントローラが、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つである第１領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第１方向で前記第１領域に隣接している第２領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第１領域に隣接している第３領域、及び、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第２領域に隣接し且つ前記第１方向で前記第３領域に隣接している第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出した場合に、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする。
【００１６】
同様に、前記場合に、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする。
【００１７】
また、同様に、前記場合に、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする。
【００１８】
また、同様に、前記場合に、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記前記コントローラが、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする。
【００１９】
また、上記構成の入力装置において、前記場合に、前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、及び、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の全てをゴースト座標と判断しなかったときには、前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、及び、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の全てを無効とすることが望ましい。
【００２０】
また、上記目的を達成するために本発明に係る入力方法は、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルを備える入力装置に適用される入力方法であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つである第１領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第１方向で前記第１領域に隣接している第２領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第１領域に隣接している第３領域、及び、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第２領域に隣接し且つ前記第１方向で前記第３領域に隣接している第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出したか否かを確認する確認ステップと、前記確認ステップで前記第１領域、前記第２領域、前記第３領域、前記第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出したことを確認した場合に、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第１ゴースト処理ステップと、前記場合に、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第２ゴースト処理ステップと、前記場合に、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第３ゴースト処理ステップと、前記場合に、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第４ゴースト処理ステップとを備えるようにしている。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によると、三点同時入力時に発生するゴースト座標の発生原理を考慮して、或る接触点座標と或る接触点座標に隣接する接触点座標との位置関係を利用して、或る接触点座標がゴースト座標に該当するかを判断しているので、三点同時入力がなされた場合にゴースト座標を接触点座標として検出してしまうおそれがない。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の一実施形態に係る入力装置の概略構成例を示す図である。
【図２】四分割アナログタッチパネルの接触点座標の検出動作を示すフローチャートである。
【図３】四分割アナログタッチパネルの接触点座標の検出動作における各部電圧のタイムチャートである。
【図４】四分割アナログタッチパネルの概略構成を示す図である。
【図５】第１領域の接触点座標を検出する場合の四分割アナログタッチパネルの等価回路を示す図である。
【図６】三点同時入力状態でのゴースト座標検出の様子を示す図である。
【図７】三点同時入力状態でのゴースト座標検出の様子を示す四分割アナログタッチパネルの正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
本発明の実施形態について図面を参照して以下に説明する。図１は、本発明の一実施形態に係る入力装置の概略構成例を示す図である。
【００２４】
図１に示す本発明の一実施形態に係る入力装置は、四分割アナログタッチパネル１と、タッチパネルＩ／Ｆ（インターフェース）回路２と、コントローラ３と、ホストＩ／Ｆ回路４と、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）５とを備えている。四分割アナログタッチパネル１は図４に示す構成とする。また、コントローラ３は、タッチパネルＩ／Ｆ回路２を介して四分割アナログタッチパネル１を制御し、四分割アナログタッチパネル１に入力された入力情報を出力レポートとしてホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送し、四分割アナログタッチパネル１の状態に応じてＬＥＤ５を制御するコントローラであって、例えばフラッシュメモリ、ＲＡＭ、及びＣＰＵを有するマイクロコンピュータを用いることができる。
【００２５】
次に、図１に示す本発明の一実施形態に係る入力装置が行う四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作について図２及び図３を参照して説明する。図２は四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作を示すフローチャートであり、図３は四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作時の各部電圧のタイムチャートである。なお、図３において、符号Ｙ１Ｄ、Ｙ２Ｄ、Ｘ１Ｒ、Ｘ２Ｒはそれぞれ電極Ｙ１Ｄの電圧、電極Ｙ２Ｄの電圧、電極Ｘ１Ｒの電圧、電極Ｘ２Ｒの電圧を示している。
【００２６】
図２に示すフローチャート動作は、コントローラ３からホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送される出力レポートの転送レート毎に実行される。
【００２７】
＜タッチ検出処理＞
まず、タッチ検出処理が実行される（ステップＳ１０）。タッチ検出処理は、図３中の期間Ｔ１において実行される。
【００２８】
期間Ｔ１において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｒをオープンとし、さらに、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の状態が安定するのを待つ。ユーザが四分割アナログタッチパネル１をタッチしていない場合は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄが５Ｖである状態が維持される。これに対して、ユーザが四分割アナログタッチパネル１をタッチしている場合は、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２の少なくとも一つが四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触するので、電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄの少なくとも一つが５Ｖから０Ｖへと変化する。図３は、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１が四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触し、且つ、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ２が四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触している場合を図示している。なお、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌが０Ｖであるので、オープン状態である四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒは結果的に０Ｖとなる。同様に、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌが０Ｖであるので、オープン状態である四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｒは結果的に０Ｖとなる。
【００２９】
＜タッチ検出判定処理＞
次に、タッチ検出判定処理が実行される（ステップＳ２０）。タッチ検出判定処理は、図３中の期間Ｔ２において実行される。
【００３０】
期間Ｔ２において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値と、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値とを検出する。なお、Ａ／Ｄ変換は、四分割アナログタッチパネル１、タッチパネルＩ／Ｆ回路２のいずれで行われてもよい。
【００３１】
そして、コントローラ３は、検出した二つの電圧の少なくとも一つが２Ｖ以下であればタッチ有りと判定する。判定の基準となる電圧値（２Ｖ）は、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００３２】
ステップＳ２０のタッチ検出判定処理でタッチ有りと判定された場合（ステップＳ２０のＹＥＳ）、コントローラ３は、ＬＥＤ５を点灯させ（ステップＳ３０）、その後、接触点座標検出処理を実行する（ステップＳ４０）。接触点座標検出処理は、接触点Ｘ座標検出処理と接触点Ｙ座標検出処理からなる。
【００３３】
＜接触点Ｘ座標検出処理＞
期間Ｔ３において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄに０Ｖを印加する。期間Ｔ３の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００３４】
期間Ｔ３に続く期間Ｔ４において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕ、Ｙ２Ｕ、Ｙ１Ｄ、及びＹ２Ｄをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２の状態が安定するまで待機する。期間Ｔ４の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００３５】
期間Ｔ４に続く期間Ｔ５において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第１領域の接触点Ｘ座標とする。
【００３６】
また、期間Ｔ５において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｄに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｕに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第２領域の接触点Ｘ座標とする。
【００３７】
期間Ｔ５に続く期間Ｔ６において、コントローラ３は、期間Ｔ３〜期間Ｔ５での処理の電極Ｘ１Ｌ、Ｘ１Ｒに印加する電圧と電極Ｘ２Ｌ、Ｘ２Ｒに印加する電圧を交換した処理を行う。これにより、第３領域の接触点Ｘ座標及び第４領域の接触点Ｘ座標を得る。
【００３８】
＜接触点Ｙ座標検出処理＞
接触点Ｘ座標検出処理と同様の手法を用いて、接触点Ｙ座標検出処理が実行される。
【００３９】
期間Ｔ６に続く期間Ｔ７において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒ及びＸ２Ｒに０Ｖを印加する。期間Ｔ７の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００４０】
期間Ｔ７に続く期間Ｔ８において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌ、Ｘ２Ｌ、Ｘ１Ｒ、及びＸ２Ｒをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の状態が安定するまで待機する。期間Ｔ８の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００４１】
期間Ｔ８に続く期間Ｔ９において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第１領域の接触点Ｙ座標とする。
【００４２】
また、期間Ｔ９において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第３領域の接触点Ｙ座標とする。
【００４３】
期間Ｔ９に続く期間Ｔ１０において、コントローラ３は、期間Ｔ７〜期間Ｔ９での処理の電極Ｙ１Ｕ、Ｙ１Ｄに印加する電圧と電極Ｙ２Ｕ、Ｙ２Ｄに印加する電圧とを交換した処理を行う。これにより、第２領域の接触点Ｙ座標及び第４領域の接触点Ｙ座標を得る。
【００４４】
その後、コントローラ３は、上述した接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理を再び実行する（期間Ｔ１０に続く期間Ｔ１１以降）。ただし、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理においては、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理での０Ｖを印加する電極と５Ｖを印加する電極を入れ替える。
【００４５】
１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標との比が予め設定している閾値以下であれば、コントローラ３は、その或る接触点座標に対応する領域の状態を「安定」にセットして記憶する。また、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標との比が予め設定している閾値以下でなければ、コントローラ３は、その或る接触点座標に対応する領域の状態を「少し不安定」にセットして記憶する。また、コントローラ３は、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理のいずれか一方のみによって得られた或る接触点座標に対応する領域の状態を「不安定」にセットして記憶する。また、コントローラ３は、接触点座標が存在しない領域の状態を「非接触」にセットして記憶する。
【００４６】
コントローラ３は、「安定」とセットした領域についてのみ、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標とを平均化し、接触点座標として記憶する。
【００４７】
上述したステップＳ４０での接触点座標検出処理が終了すると、後述するステップＳ７０に移行する。
【００４８】
一方、ステップＳ２０のタッチ検出判定処理でタッチ有りと判定されなかった場合（ステップＳ２０のＮＯ）、コントローラ３は、ＬＥＤ５を消灯させ（ステップＳ５０）、その後、第１〜第４領域の状態を全て「非接触」にセットして記憶し（ステップＳ６０）、後述するステップＳ７０に移行する。
【００４９】
＜ゴースト処理＞
ステップＳ７０では、ゴースト処理が実行される。ゴースト処理において、コントローラ３は、接触点座標の個数が４未満か４のいずれであるかを確認し、接触点座標の個数が４未満であれば直ちに後述するステップＳ８０に移行し、接触点座標の個数が４であればゴースト判断処理を実行する。なお、接触点座標の個数が４である場合、第１〜第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標が一つずつ検出されている。
【００５０】
ゴースト判断処理において、コントローラ３は、ゴースト座標を接触点座標から削除し、ゴースト座標が検出された領域の状態を「非接触」にセットし直して記憶する。すなわち、第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標を（Ｘ１，Ｙ１）とし、第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標を（Ｘ２，Ｙ２）とし、第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標を（Ｘ３，Ｙ３）とし、第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標を（Ｘ４，Ｙ４）とした場合、｜Ｘ１−Ｘ２｜＜DIFF且つ｜Ｙ１−Ｙ３｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ１，Ｙ１）をゴースト座標と判断して無効とし（接触点座標から削除して）第１領域の状態を「非接触」にセットし直し、｜Ｘ２−Ｘ１｜＜DIFF且つ｜Ｙ２−Ｙ４｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ２，Ｙ２）をゴースト座標と判断して無効とし（接触点座標から削除して）第２領域の状態を「非接触」にセットし直し、｜Ｘ３−Ｘ４｜＜DIFF且つ｜Ｙ３−Ｙ１｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ３，Ｙ３）をゴースト座標と判断して無効とし（接触点座標から削除して）第３領域の状態を「非接触」にセットし直し、｜Ｘ４−Ｘ３｜＜DIFF且つ｜Ｙ４−Ｙ２｜＜DIFFの条件を満たせば接触点座標（Ｘ４，Ｙ４）をゴースト座標と判断して無効とし（接触点座標から削除して）第４領域の状態を「非接触」にセットし直す。なお、DIFFは０より大きい所定値である。DIFFを０より大きい所定値にしている理由は、ゴースト座標が発生する際に、電圧の流れ（伝達経路）（図６中の点線矢印参照）においてノイズ等の影響により電圧が一定値を保持できるとは限らないためである。また、所定値DIFFは上記各条件式において同一の値であっても、上記各条件式の一部において他と異なる値を設定してもよく、上記各条件式で異なる値を設定してもよい。
【００５１】
接触点座標の個数が４となり、かつ、ゴースト判断処理においてゴースト座標が見つからなかった場合、コントローラ３は、第１〜第４領域それぞれに１つずつ接触点が存在するように四点同時入力がなされたと判断し、全ての接触点座標を無効とし、第１〜第４領域の状態を全て「非接触」にセットし直して記憶する。このような処理を行う理由は、第１〜第４領域それぞれに１つずつ接触点が存在するように四点同時入力がなされた場合、電流の流れ込みが発生し、第１〜第４領域全てで接触点の正確な座標値を取得できないためである。
【００５２】
＜座標安定化判断＞
ステップＳ７０に続くステップＳ８０では、座標安定化判断が実行される。ステップＳ７０迄の処理において、第１〜第４領域それぞれの状態が、「安定」、「少し不安定」、「不安定」、「非接触」のいずれかに確定している。
【００５３】
座標安定化判断において、コントローラ３は、「少し不安定」又は「不安定」の領域に対して、「不安定」であると判断し、その判断結果を記憶する。また、座標安定化判断において、コントローラ３は、「非接触」の領域に対して、「非接触」であると判断し、その判断結果を記憶する。また、座標安定化判断において、コントローラ３は、「安定」の領域に対して、当該領域の前回フロー処理での状態を参照し、前回フロー処理での状態が「安定」でなかった場合には「最初の接触」であると判断し、前回フロー処理での状態も「安定」であった場合には「接触継続中」であると判断し、その判断結果を記憶する。
【００５４】
＜出力レポート生成＞
ステップＳ８０に続くステップＳ９０では、出力レポートが生成される。生成された出力レポートは、ホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送される。
【００５５】
コントローラ３は、ステップＳ８０での判断結果と接触点座標が存在する場合は接触点座標の値とから、「四分割アナログタッチパネル１がタッチされた状態」、「四分割アナログタッチパネル１へのタッチが解除された状態」、「接触点座標が既定距離以上移動した状態」、「接触点座標が既定距離未満の移動にとどまっており既定時間以上存在し続けている状態」のいずれであるかを決定し、その決定内容を出力レポートとする。また、接触点座標が存在する場合は接触点座標の値も出力レポートに含める。
【００５６】
以上、本発明に係る実施形態について説明したが、本発明の範囲はこれに限定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えて実行することができる。例えば、検出した接触点座標をそのままホスト側に出力するのではなく、検出した接触点座標に補正処理を施してからホスト側に出力するようにしてもよい。
【符号の説明】
【００５７】
１ 四分割アナログタッチパネル
２ タッチパネルＩ／Ｆ回路
３ コントローラ
４ ホストＩ／Ｆ回路
５ ＬＥＤ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルと、
前記領域分割アナログタッチパネルを制御して前記対向領域の接触点座標を検出する接触点座標検出処理を前記対向領域それぞれについて行うコントローラとを備える入力装置であって、
前記コントローラが、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つである第１領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第１方向で前記第１領域に隣接している第２領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第１領域に隣接している第３領域、及び、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第２領域に隣接し且つ前記第１方向で前記第３領域に隣接している第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出した場合に、
前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とし、
前記場合に、
前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とし、
前記場合に、
前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とし、
前記場合に、
前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とすることを特徴とする入力装置。
【請求項２】
前記場合に、
前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、及び、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の全てをゴースト座標と判断しなかったときには、
前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、及び、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の全てを無効とする請求項１に記載の入力装置。
【請求項３】
第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルを備える入力装置に適用される入力方法であって、
前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つである第１領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第１方向で前記第１領域に隣接している第２領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第１領域に隣接している第３領域、及び、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第２領域に隣接し且つ前記第１方向で前記第３領域に隣接している第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出したか否かを確認する確認ステップと、
前記確認ステップで前記第１領域、前記第２領域、前記第３領域、前記第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出したことを確認した場合に、
前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第１ゴースト処理ステップと、
前記場合に、
前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第２ゴースト処理ステップと、
前記場合に、
前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第３ゴースト処理ステップと、
前記場合に、
前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第４ゴースト処理ステップとを備えることを特徴とする入力方法。
【請求項１】
第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルと、
前記領域分割アナログタッチパネルを制御して前記対向領域の接触点座標を検出する接触点座標検出処理を前記対向領域それぞれについて行うコントローラとを備える入力装置であって、
前記コントローラが、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つである第１領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第１方向で前記第１領域に隣接している第２領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第１領域に隣接している第３領域、及び、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第２領域に隣接し且つ前記第１方向で前記第３領域に隣接している第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出した場合に、
前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とし、
前記場合に、
前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とし、
前記場合に、
前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とし、
前記場合に、
前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記コントローラが、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とすることを特徴とする入力装置。
【請求項２】
前記場合に、
前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、及び、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の全てをゴースト座標と判断しなかったときには、
前記コントローラが、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標、及び、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の全てを無効とする請求項１に記載の入力装置。
【請求項３】
第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルを備える入力装置に適用される入力方法であって、
前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つである第１領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第１方向で前記第１領域に隣接している第２領域、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第１領域に隣接している第３領域、及び、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つであって前記第２方向で前記第２領域に隣接し且つ前記第１方向で前記第３領域に隣接している第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出したか否かを確認する確認ステップと、
前記確認ステップで前記第１領域、前記第２領域、前記第３領域、前記第４領域それぞれの接触点座標検出処理で接触点座標を一つずつ検出したことを確認した場合に、
前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第１ゴースト処理ステップと、
前記場合に、
前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第２ゴースト処理ステップと、
前記場合に、
前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第１領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第３ゴースト処理ステップと、
前記場合に、
前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値と前記第３領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第１方向の座標値との差が所定値より小さく且つ前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値と前記第２領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標の前記第２方向の座標値との差が所定値より小さいときには、前記第４領域の接触点座標検出処理で検出された接触点座標をゴースト座標と判断して無効とする第４ゴースト処理ステップとを備えることを特徴とする入力方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２０１１−１４５７５２（Ｐ２０１１−１４５７５２Ａ）
【公開日】平成２３年７月２８日（２０１１．７．２８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−３９３９（Ｐ２０１０−３９３９）
【出願日】平成２２年１月１２日（２０１０．１．１２）
【出願人】（０００１３４１０９）株式会社デジタル (224)
【出願人】（５０１１６０８６３）株式会社ユニテック (5)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年７月２８日（２０１１．７．２８）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１月１２日（２０１０．１．１２）
【出願人】（０００１３４１０９）株式会社デジタル (224)
【出願人】（５０１１６０８６３）株式会社ユニテック (5)
【Ｆターム（参考）】
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