基板検査装置、及び基板検査方法
【課題】基板を斜めにセットする場合でも電気検査工程における検査精度の低下を抑制することができる基板検査装置及び基板検査方法を得る。
【解決手段】ストッパーピン３６が円孔１１８の周囲に接触した状態で、レバーを操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動さて、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗して支持台１２側に移動させる。そして、ガイドピン４６の円錐部４６Ａを円孔１１８に挿入し、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持させる。円孔１１８の円縁が、接触部４０によって夫々の円錐部４６Ａに押し付けられ、基板１００を基板１００の面沿い方向に移動させることで、基板１００の位置ずれが補正されるため、電気検査工程における検査精度の低下を抑制することができる。
【解決手段】ストッパーピン３６が円孔１１８の周囲に接触した状態で、レバーを操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動さて、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗して支持台１２側に移動させる。そして、ガイドピン４６の円錐部４６Ａを円孔１１８に挿入し、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持させる。円孔１１８の円縁が、接触部４０によって夫々の円錐部４６Ａに押し付けられ、基板１００を基板１００の面沿い方向に移動させることで、基板１００の位置ずれが補正されるため、電気検査工程における検査精度の低下を抑制することができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板検査装置、及び基板検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１に記載のプリント基板検査冶具に設けられた第２可動板は、第１可動板に吊持部材を介して取り付けられることで第１可動板に対してフリー状態（水平方向に動ける状態）とされている。
【０００３】
そして、第１可動板及び第１可動板に吊り下げられた第２可動板を下降させる際には、第２可動板に固定された位置決めガイドピンの円錐柱状部が、対向して配置されたベース部材に備えられた位置決めリニヤブッシュに挿入される。これにより、第２可動板がベース部材に対して位置決めされるようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−７４８１５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の課題は、基板を斜めにセットする場合でも電気検査工程における検査精度の低下を抑制することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の請求項１に係る基板検査装置は、水平方向に対して傾斜して配置される検査対象の基板に対して鉛直方向の上方に位置させることが可能な対向台と、前記基板を挟んで前記対向台に対して対向して配置され、前記基板の板厚方向に沿って前記対向台に対して相対的に近接又は離間する近接離間方向に移動可能に支持される支持台と、前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向に移動させる移動部材と、前記支持台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられると共に、前記基板を前記基板の下面から支持する下面支持部と、前記基板における鉛直方向下側の端縁を支持する端縁支持部とを備える支持部材と、前記支持部材を前記対向台に向けて付勢する第一付勢部材と、前記対向台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられると共に、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると前記基板に形成された位置決め用の複数個の円孔の周囲に夫々接触する複数個の接触部材と、前記接触部材を前記支持台に向けて付勢する第二付勢部材と、前記支持台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられ、下端部が前記円孔の直径よりも大きい円錐状又は角錘状とされる錐部を備えると共に、前記接触部材が前記円孔の周囲に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させると、前記支持部材が前記第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動することで、前記円孔に前記錐部が挿入され、前記接触部材と前記錐部との間で前記基板を保持する保持部材と、前記保持部材を前記対向台に向けて付勢する第三付勢部材と、基端側が前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方に取り付けられ、先端側が伸縮すると共に、前記接触部材と前記錐部との間で前記基板を保持した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると、前記支持部材が前記第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動し、前記接触部材が前記第二付勢部材の付勢力に対抗して前記対向台側に移動し、前記保持部材が前記第三付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動することで、前記基板の一方の面及び他方の面のうち少なくとも一方に設けられた電気的検査を行うための接触点に接触して通電する通電部材と、前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記基板の電気的検査を行う検査部と、を備えることを特徴とする。
【０００７】
本発明の請求項２に係る基板検査装置は、請求項１に記載において、前記支持部材の下面支持部には、前記基板の下面を支持する複数個の突起が設けられ、前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると、前記突起との間で前記基板を挟み込み前記基板の歪みを抑制する複数個の抑制棒が設けられることを特徴とする。
【０００８】
本発明の請求項３に係る基板検査方法は、請求項１に記載の基板検査装置を用いて基板を検査する基板検査方法であって、前記基板の端縁を支持部材の端縁支持部に支持させ、さらに下面支持部に基板を下面から支持させる工程と、移動部材を用いて支持台及び対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させ、前記基板に形成された位置決め用の複数個の円孔の周囲に夫々の接触部材を夫々接触させる工程と、前記接触部材が前記円孔の周囲に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させ、前記支持部材を第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動させることで、前記円孔に保持部材に設けられた錐部を挿入し、前記保持部材の前記錐部と前記接触部材との間で前記基板を保持させる工程と、前記保持部材の前記錐部と前記接触部材との間で前記基板が保持された状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させ、前記支持部材を第一付勢部材の付勢力に対抗して支持台側に移動させ、前記接触部材を第二付勢部材の付勢力に対抗して前記対向台側に移動させ、前記保持部材を第三付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動させることで、前記基板の一方の面及び他方の面のうち少なくとも一方に設けられた接触点に通電部材を接触させる工程と、前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、検査部によって前記基板の電気的検査を行う工程と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
本発明の請求項４に係る基板検査方法は、請求項３に記載において、請求項２に記載の基板検査装置を用いて基板を検査する基板検査方法であって、前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させ、抑制棒と突起との間で前記基板を挟み込む前記基板の歪みを抑制する工程を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の請求項１の基板検査装置によれば、基板に設けられた位置決め用の円孔に円柱状の位置決めピンを挿入して電気的検査を行う場合と比して、基板を斜めにセットする場合でも電気検査工程における検査精度の低下を抑制することができる。
【００１１】
本発明の請求項２の基板検査装置によれば、基板の歪みを抑制するように基板を一方の面と他方の面から挟み込まない場合と比して、効果的に電気検査工程における検査精度の低下を抑制することができる。
【００１２】
本発明の請求項３の基板検査方法によれば、基板に設けられた位置決め用の円孔に円柱状の位置決めピンを挿入して電気的検査を行う場合と比して、基板を斜めにセットする場合でも電気検査工程における検査精度の低下を抑制することができる。
【００１３】
本発明の請求項４の基板検査方法によれば、基板の歪みを抑制するように基板を一方の面と他方の面から挟み込まない場合と比して、効果的に電気検査工程における検査精度の低下を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１−１】（Ａ）（Ｂ）本実施形態に係る基板検査装置を示した断面図である。
【図１−２】（Ｃ）（Ｄ）本実施形態に係る基板検査装置を示した断面図である。
【図１−３】（Ｅ）（Ｆ）本実施形態に係る基板検査装置を示した断面図である。
【図１−４】（Ｇ）本実施形態に係る基板検査装置を示した断面図である。
【図２】（Ａ）（Ｂ）本実施形態に係る基板検査装置を示した側面図である。
【図３】本実施形態に係る基板検査装置を示した分解斜視図である。
【図４】本実施形態に係る基板検査装置によって検査される基板を示した斜視図である。
【図５】本実施形態に係る基板検査装置によって検査される基板を示した斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
本発明の実施形態に係る基板検査装置、及び基板検査方法の一例について図１〜図５に従って説明する。なお、図中に示す矢印ＵＰは、鉛直方向上方を示す。
【００１６】
（全体構成）
図２（Ａ）に示されるように、基板検査装置１０は、検査対象のプリント配線基板１００（以下単に基板１００と言う）が支持される支持台１２と、基板１００を挟んで支持台１２に対して対向して配置される対向台１４とを備えている。
【００１７】
この支持台１２においては、鉛直方向上方の上面１２Ａが水平方向に対して傾斜している。これにより、この上面１２Ａが向いている方向から（図に示す左側から）作業者が、支持台１２と対抗台１４との間から基板１００を出し入れすることで、基板を水平にセットする場合と比して作業性が向上するようになっている。また、基板検査装置１０を傾斜できるので、省スペース化を図ることができる。また、支持台１２は、上面１２Ａに沿って支持した基板１００の板厚方向に沿って対向台１４に対して近接又は離間する近接離間方向（板厚方向と同一方向：図に示す矢印Ａ方向）に移動可能に支持されている。
【００１８】
具体的には、支持台１２の端部と対向台１４の端部との間には、近接離間方向に延びる案内レール１６が設けられ、この案内レール１６に案内されながら支持台１２が対向台１４に対して近接離間方向に移動するようになっている。
【００１９】
さらに、基板検査装置１０には、支持台１２を近接離間方向に移動させる移動部材の一例としてのレバー１８が設けられている。レバー１８は、側面視（図２の矢視）で、Ｌ字状とされて屈曲部に紙面奥行方向に延びる回転軸１８Ａが設けられている。さらに、レバー１８には、回転軸１８Ａから支持台１２の下面に向って延びて端部が支持台１２の下面と当る支持部１８Ｂと、回転軸１８Ａから鉛直方向斜め上方に延びて先端部に把持部２０を備える操作部１８Ｃとが備えられている。
【００２０】
この構成により、作業者が把持部２０を把持して、操作部１８Ｃを、回転軸１８Ａを中心に反時計回りに回転移動させることで、支持部１８Ｂが回転軸１８Ａを中心に反時計回りに回転移動する。これにより、支持部１８Ｂの端部が支持台１２を押し上げ、支持台１２が近接離間方向における近接側（対向台１４に近接する側、以下単に近接側という）に移動するようになっている（図２（Ｂ）参照）。
【００２１】
また、支持台１２に支持される基板１００の電気的検査を行う検査部２８が、基板検査装置１０に備えられている。
【００２２】
＜プリント配線基板＞
次に、基板１００について説明する。
【００２３】
図４、図５に示されるように、基板１００は矩形状とされ、基板１００の一方の実装面１００Ａには、表面実装タイプの電子部品１０２と、スルーホールに挿入するリード１０４を備えるスルーホール実装タイプの電子部品１０６とが実装されている。
【００２４】
電子部品１０２は一方の実装面１００Ａ側に半田付けされていて、接触点の一例としての半田フィレット１０８が一方の実装面１００Ａ側に形成されている。また、電子部品１０６は、そのリード１０４を基板１００のスルーホールに挿入して他方の実装面１００Ｂ側に半田付けされており、接触点の一例としての半田部１０９が他方の実装面１００Ｂ側に形成されている。
【００２５】
一方、基板１００の他方の実装面１００Ｂにはコネクタ１１０が実装されており、このコネクタ１１０は、そのリード１１２を基板１００のスルーホールに挿入して一方の実装面１００Ａ側に半田付けされている。そして、半田付けされた半田部１１４が一方の実装面１００Ａ側に形成されている。
【００２６】
また、矩形状とされた基板１００の四隅のうち三隅には、基板検査装置１０に対する位置決め用の円孔１１８が形成され、残りの一隅には、角孔１１９が形成されている。尚、角孔１１９は、円孔であっても良い。
【００２７】
＜支持台・対向台＞
次に、支持台１２および対向台１４に支持される部材について説明する。
【００２８】
図１−１（Ａ）（Ｂ）、図３に示されるように、支持台１２の上面１２Ａには、支持台１２に対して近接離間方向に移動可能に支持部材２２が設けられている。
【００２９】
支持部材２２は、基板１００を下側から支持する平面視矩形状の下面支持部２４と、下面支持部２４の鉛直方向下側の両隅部に設けられ、下端縁が水平方向を向くように配置され基板１００の下端縁と接触する２個の端縁支持部２６とを備えている。
【００３０】
さらに、基板１００側を向いた下面支持部２４の上面２４Ａには、基板１００の下面を支持する複数個の突起２５が設けられている。
【００３１】
また、下面支持部２４の四隅側には、支持台１２に向って近接離間方向に延びる円柱状の案内ロッド３０が夫々設けられ、案内ロッド３０の延出側は、支持台１２に形成された断面円状の凹部３２に移動可能に挿入されている。さらに、夫々の凹部３２の内部には、支持部材２２を対向台１４に向けて付勢する第一付勢部材の一例としてのバネ３４が設けられている。これにより、外力が付加されない支持部材２２は、バネ３４の付勢力で図示せぬストッパー部材と当たり支持部材２２の初期位置（図１−１（Ａ）（Ｂ）参照）に配置されるようになっている。
【００３２】
また、図１−１（Ｂ）に示されるように、対向台１４の下面には、対向台１４に対して近接離間方向に移動可能に接触部材の一例としてのストッパーピン３６が設けられている。そして、このストッパーピン３６は、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させると基板１００に形成された位置決め用の円孔１１８及び角孔１１９の周囲に夫々接触するようになっている。
【００３３】
詳細には、ストッパーピン３６は、対向台１４に向って近接離間方向に延びる円柱状の案内ロッド３８と、案内ロッド３８の端部に固定されると共に内部に段付き状の円筒凹部４０Ａが形成された円柱状の接触部４０とを備えている。そして、案内ロッド３０は、対向台１４に形成された断面円状の凹部４２に移動可能に挿入されている。
【００３４】
また、夫々の凹部４２の内部には、ストッパーピン３６を支持台１２に向けて付勢する第二付勢部材の一例としてのバネ４４が設けられている。これにより、外力が付加されないストッパーピン３６は、バネ４４の付勢力で図示せぬストッパー部材と当たり、ストッパーピン３６の初期位置（図１（Ａ）（Ｂ）参照）に配置されるようになっている。
【００３５】
この構成により、前述したように、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させると、ストッパーピン３６の接触部４０が基板１００に形成された位置決め用の円孔１１８及び角孔１１９の周囲に接触するようになっている（図１−２（Ｃ）参照）。
【００３６】
また、図１−２（Ｃ）に示されるように、支持台１２に対して近接離間方向に移動可能に取り付けられる保持部材の一例としてのガイドピン４６がストッパーピン３６と対向するように設けられている。夫々のガイドピン４６は、円孔１１８及び角孔１１９に挿入される円錐形状とされる錐部の一例としての円錐部４６Ａを備えている。さらに、ガイドピン４６は、この円錐部４６Ａを支持する円柱状の円柱部４６Ｂとを備えている。
【００３７】
そして、円柱部４６Ｂは、支持台１２に形成された断面円状の凹部４８に移動可能に挿入されている。また、夫々の凹部４８の内部には、ガイドピン４６を対向台１４に向けて付勢する第三付勢部材の一例としてのバネ５２が設けられている。これにより、外力が付加されないガイドピン４６は、バネ５２の付勢力で図示せぬストッパー部材と当たりガイドピン４６の初期位置（図１（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）参照）に配置されるようになっている。ここで、バネ４４の付勢力（全てのバネ４４の付勢力を合計した付勢力）は、バネ３４の付勢力（全てのバネ３４の付勢力を合計した付勢力）より大きく（強く）されている。また、バネ５２の付勢力（全てのバネ５２の付勢力を合計した付勢力）は、バネ３４の付勢力（全てのバネ３４の付勢力を合計した付勢力）より大きく（強く）されている。
【００３８】
この構成により、ストッパーピン３６が円孔１１８及び角孔１１９の周囲に接触した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させると、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗して支持台１２側に移動させる。これにより、ガイドピン４６の円錐部４６Ａが円孔１１８及び角孔１１９に挿入され、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持するようになっている（図１−２（Ｄ）参照）。
【００３９】
また、図１−２（Ｄ）に示されるように、基端部が対向台１４に取り付けられ、先端部が支持台１２側に延びると共に先端側が伸縮する通電部材の一例としてのプローブピン５６が設けられている。そして、このプローブピン５６は、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させると基板１００の半田フィレット１０８に先端部が接触するようになっている（図１−３（Ｅ）参照）。
【００４０】
具体的には、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗して支持台１２側にさらに移動させ、ストッパーピン３６をバネ４４の付勢力に対抗して対向台１４側にさらに移動させ、ガイドピン４６をバネ５２の付勢力に対抗して支持台１２側にさらに移動させる。そして、プローブピン５６の先端が半田フィレット１０８に接触するようになっている（図１−３（Ｅ）参照）。
【００４１】
また、図１−３（Ｅ）に示されるように、基端部が支持台１２に取り付けられ、先端部が対向台１４側に延びると共に先端側が伸縮する通電部材の一例としてのプローブピン６０が設けられている。そして、このプローブピン６０は、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させると基板１００の半田部１０９に先端部が接触するようになっている（図１−３（Ｆ）参照）。
【００４２】
具体的には、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗して支持台１２側に移動させ、ストッパーピン３６をバネ４４の付勢力に対抗して対向台１４側に移動させ、ガイドピン４６をバネ５２の付勢力に対抗して支持台１２側に移動させる。さらに、プローブピン５６の先端側が縮む。これにより、プローブピン６０の先端が、下面支持部２４に設けられた貫通孔２４Ｂを通って半田部１０９に接触するようになっている（図１−３（Ｆ）参照）。
【００４３】
また、図１−３（Ｆ）に示されるように、基端部が対向台１４に取り付けられ、先端部が支持台１２側に延びる棒状の抑制棒の一例としての押え棒６４が、下面支持部２４に備えられた突起２５と対向するように設けられている。
【００４４】
そして、プローブピン５６が半田フィレット１０８に接触し、さらにプローブピン６０が半田部１０９に接触した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、押え棒６４は、突起２５との間で基板１００を挟み込み基板１００の歪み抑制するようになっている（図１−４（Ｇ）参照）。
（作用）
次に、基板検査装置１０の作用を、基板検査装置１０を用いて基板１００を検査する基板検査方法と共に説明する。なお、下記検査工程においては、レバー１８の操作度合い（操作角度）を工程毎に説明するが、レバー１８の操作は一連の動作である。
【００４５】
先ず、図１−１（Ａ）（Ｂ）に示されるように、レバー１８（図２参照）を操作していない状態で、基板１００の端縁を支持部材２２の端縁支持部２６に接触さて下面支持部２４に基板１００の下面を支持させる。
【００４６】
次に、図１−２（Ｃ）に示されるように、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させ、ストッパーピン３６の接触部４０を基板１００に形成された位置決め用の円孔１１８及び角孔１１９の周囲に接触させる。
【００４７】
次に、図１−２（Ｄ）に示されるように、ストッパーピン３６が円孔１１８の周囲に接触した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動さて、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗して支持台１２側に移動させる。そして、ガイドピン４６の円錐部４６Ａを円孔１１８及び角孔１１９に挿入し、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持させる。
【００４８】
これにより、夫々の円孔１１８の円縁が、接触部４０によって夫々の円錐部４６Ａに押し付けられ、基板１００を基板１００の面沿い方向に移動させることで、基板１００の位置ずれが補正される（正規の位置に基板１００が位置決めされる）。
【００４９】
次に、図１−３（Ｅ）に示されるように、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持させた状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させ、ストッパーピン３６をバネ４４の付勢力に対抗させて対向台１４側に移動させ、ガイドピン４６をバネ５２の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させる。そして、プローブピン５６の先端を半田フィレット１０８に接触させる。
【００５０】
次に、図１−３（Ｆ）に示されるように、プローブピン５６の先端を半田フィレット１０８に接触させた状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させ、ストッパーピン３６をバネ４４の付勢力に対抗させて対向台１４側に移動させ、ガイドピン４６をバネ５２の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させる。さらに、プローブピン５６の先端側を縮ませ、プローブピン６０の先端を半田部１０９に接触させる。
【００５１】
次に、図１−４（Ｇ）に示されるように、プローブピン５６が半田フィレット１０８に接触し、さらにプローブピン６０が半田部１０９に接触した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させ、ストッパーピン３６をバネ４４の付勢力に対抗させて対向台１４側に移動させ、ガイドピン４６をバネ５２の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させる。また、プローブピン５６の先端側を縮ませ、さらに、プローブピン６０の先端側を縮ませる。そして、押え棒６４が突起２５との間で基板１００を挟み込んで、基板１００の歪み抑制する。
【００５２】
次に、図２（Ｂ）に示されるように、この状態で、検査部２８が、プローブピン５６及びプローブピン６０を介して基板１００の電気的検査を行う。
【００５３】
以上説明したように、夫々の円孔１１８の円縁が、接触部４０によって夫々の円錐部４６Ａに押し付けられることで、円柱状の位置決めピンを位置決め孔に挿入する場合と比して、基板１００を斜めにセットする場合でも基板１００の位置ずれが補正される（正規の位置に基板１００が配置される）。
【００５４】
また、基板１００の位置ずれが補正されるため、基板１００を斜めにセットした場合でも電気検査工程における検査精度の低下が抑制される。
【００５５】
また、押え棒６４が突起２５との間で基板１００を挟み込むことで、基板１００の歪みが抑制される。
【００５６】
なお、本発明を特定の実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内にて他の種々の実施形態が可能であることは当業者にとって明らかである。例えば、上記実施形態では、錐部の一例として円錐状の円錐部４６Ａを例にとって説明したが、三角以上の角錐形状であってもよい。また、頂部を有さない錐台形状であってもよい。
【００５７】
また、上記実施形態では、支持台１２を近接離間方向に移動させることで、支持台１２と対向台１４とを相対的に近接させたが、対向台１４を近接離間方向に移動させることで、支持台１２と対向台１４とを相対的に近接させてもよい。さらには、両方を移動させることで、支持台１２と対向台１４とを相対的に近接させてもよい。
【００５８】
また、上記実施形態では、位置決め用の円孔１１８を３個設けたが、特に３個に限定されず、２個であったり、４個以上であってもよい。
【００５９】
また、上記実施形態では、基板１００の一方の実装面１００Ａに接触するプローブピン５６と、基板１００の他方の実装面１００Ｂに接触するプローブピン６０とを設けたが、どちらか一方のプローブピンだけであってもよい。
【００６０】
また、上記実施形態では、対向台１４が基板１００の厚さ方向に移動するものを示したが、本発明は、これに限定されるものではない。例えば、特開平０７−１４６３３６号公報における上面ユニットのように、対向台１４がダンパーを介して案内レール１６に回動自在に装着された構成であっても良い。つまり、対向台１４は、水平方向に対して傾斜して配置される検査対象の基板１００に対して鉛直方向の上方に位置させることが可能な構成であれば良い。かかる構成においては、対向台１４を回動させて閉じた状態（特開平０７−１４６３３６号公報の図１の状態）が、図１−１（Ａ）に示した状態に相当する。
【符号の説明】
【００６１】
１０ 基板検査装置
１２ 支持台
１２Ａ 上面
１４ 対向台
１８ レバー（移動部材の一例）
２２ 支持部材
２４ 下面支持部
２５ 突起
２６ 端縁支持部
２８ 検査部
３４ バネ（第一付勢部材の一例）
３６ ストッパーピン（接触部材の一例）
４４ バネ（第二付勢部材の一例）
４６ ガイドピン（保持部材の一例）
４６Ａ 円錐部（錐部の一例）
５２ バネ（第三付勢部材の一例）
５６ プローブピン（通電部材の一例）
６０ プローブピン（通電部材の一例）
６４ 押え棒（抑制棒の一例）
１００ プリント配線基板
１００Ａ 一方の実装面（一方の面の一例）
１００Ｂ 他方の実装面（他方の面の一例）
１０８ 半田フィレット（接触点の一例）
１０９ 半田部（接触点の一例）
１１８ 円孔
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板検査装置、及び基板検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１に記載のプリント基板検査冶具に設けられた第２可動板は、第１可動板に吊持部材を介して取り付けられることで第１可動板に対してフリー状態（水平方向に動ける状態）とされている。
【０００３】
そして、第１可動板及び第１可動板に吊り下げられた第２可動板を下降させる際には、第２可動板に固定された位置決めガイドピンの円錐柱状部が、対向して配置されたベース部材に備えられた位置決めリニヤブッシュに挿入される。これにより、第２可動板がベース部材に対して位置決めされるようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−７４８１５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の課題は、基板を斜めにセットする場合でも電気検査工程における検査精度の低下を抑制することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の請求項１に係る基板検査装置は、水平方向に対して傾斜して配置される検査対象の基板に対して鉛直方向の上方に位置させることが可能な対向台と、前記基板を挟んで前記対向台に対して対向して配置され、前記基板の板厚方向に沿って前記対向台に対して相対的に近接又は離間する近接離間方向に移動可能に支持される支持台と、前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向に移動させる移動部材と、前記支持台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられると共に、前記基板を前記基板の下面から支持する下面支持部と、前記基板における鉛直方向下側の端縁を支持する端縁支持部とを備える支持部材と、前記支持部材を前記対向台に向けて付勢する第一付勢部材と、前記対向台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられると共に、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると前記基板に形成された位置決め用の複数個の円孔の周囲に夫々接触する複数個の接触部材と、前記接触部材を前記支持台に向けて付勢する第二付勢部材と、前記支持台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられ、下端部が前記円孔の直径よりも大きい円錐状又は角錘状とされる錐部を備えると共に、前記接触部材が前記円孔の周囲に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させると、前記支持部材が前記第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動することで、前記円孔に前記錐部が挿入され、前記接触部材と前記錐部との間で前記基板を保持する保持部材と、前記保持部材を前記対向台に向けて付勢する第三付勢部材と、基端側が前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方に取り付けられ、先端側が伸縮すると共に、前記接触部材と前記錐部との間で前記基板を保持した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると、前記支持部材が前記第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動し、前記接触部材が前記第二付勢部材の付勢力に対抗して前記対向台側に移動し、前記保持部材が前記第三付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動することで、前記基板の一方の面及び他方の面のうち少なくとも一方に設けられた電気的検査を行うための接触点に接触して通電する通電部材と、前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記基板の電気的検査を行う検査部と、を備えることを特徴とする。
【０００７】
本発明の請求項２に係る基板検査装置は、請求項１に記載において、前記支持部材の下面支持部には、前記基板の下面を支持する複数個の突起が設けられ、前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると、前記突起との間で前記基板を挟み込み前記基板の歪みを抑制する複数個の抑制棒が設けられることを特徴とする。
【０００８】
本発明の請求項３に係る基板検査方法は、請求項１に記載の基板検査装置を用いて基板を検査する基板検査方法であって、前記基板の端縁を支持部材の端縁支持部に支持させ、さらに下面支持部に基板を下面から支持させる工程と、移動部材を用いて支持台及び対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させ、前記基板に形成された位置決め用の複数個の円孔の周囲に夫々の接触部材を夫々接触させる工程と、前記接触部材が前記円孔の周囲に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させ、前記支持部材を第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動させることで、前記円孔に保持部材に設けられた錐部を挿入し、前記保持部材の前記錐部と前記接触部材との間で前記基板を保持させる工程と、前記保持部材の前記錐部と前記接触部材との間で前記基板が保持された状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させ、前記支持部材を第一付勢部材の付勢力に対抗して支持台側に移動させ、前記接触部材を第二付勢部材の付勢力に対抗して前記対向台側に移動させ、前記保持部材を第三付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動させることで、前記基板の一方の面及び他方の面のうち少なくとも一方に設けられた接触点に通電部材を接触させる工程と、前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、検査部によって前記基板の電気的検査を行う工程と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
本発明の請求項４に係る基板検査方法は、請求項３に記載において、請求項２に記載の基板検査装置を用いて基板を検査する基板検査方法であって、前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させ、抑制棒と突起との間で前記基板を挟み込む前記基板の歪みを抑制する工程を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の請求項１の基板検査装置によれば、基板に設けられた位置決め用の円孔に円柱状の位置決めピンを挿入して電気的検査を行う場合と比して、基板を斜めにセットする場合でも電気検査工程における検査精度の低下を抑制することができる。
【００１１】
本発明の請求項２の基板検査装置によれば、基板の歪みを抑制するように基板を一方の面と他方の面から挟み込まない場合と比して、効果的に電気検査工程における検査精度の低下を抑制することができる。
【００１２】
本発明の請求項３の基板検査方法によれば、基板に設けられた位置決め用の円孔に円柱状の位置決めピンを挿入して電気的検査を行う場合と比して、基板を斜めにセットする場合でも電気検査工程における検査精度の低下を抑制することができる。
【００１３】
本発明の請求項４の基板検査方法によれば、基板の歪みを抑制するように基板を一方の面と他方の面から挟み込まない場合と比して、効果的に電気検査工程における検査精度の低下を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１−１】（Ａ）（Ｂ）本実施形態に係る基板検査装置を示した断面図である。
【図１−２】（Ｃ）（Ｄ）本実施形態に係る基板検査装置を示した断面図である。
【図１−３】（Ｅ）（Ｆ）本実施形態に係る基板検査装置を示した断面図である。
【図１−４】（Ｇ）本実施形態に係る基板検査装置を示した断面図である。
【図２】（Ａ）（Ｂ）本実施形態に係る基板検査装置を示した側面図である。
【図３】本実施形態に係る基板検査装置を示した分解斜視図である。
【図４】本実施形態に係る基板検査装置によって検査される基板を示した斜視図である。
【図５】本実施形態に係る基板検査装置によって検査される基板を示した斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
本発明の実施形態に係る基板検査装置、及び基板検査方法の一例について図１〜図５に従って説明する。なお、図中に示す矢印ＵＰは、鉛直方向上方を示す。
【００１６】
（全体構成）
図２（Ａ）に示されるように、基板検査装置１０は、検査対象のプリント配線基板１００（以下単に基板１００と言う）が支持される支持台１２と、基板１００を挟んで支持台１２に対して対向して配置される対向台１４とを備えている。
【００１７】
この支持台１２においては、鉛直方向上方の上面１２Ａが水平方向に対して傾斜している。これにより、この上面１２Ａが向いている方向から（図に示す左側から）作業者が、支持台１２と対抗台１４との間から基板１００を出し入れすることで、基板を水平にセットする場合と比して作業性が向上するようになっている。また、基板検査装置１０を傾斜できるので、省スペース化を図ることができる。また、支持台１２は、上面１２Ａに沿って支持した基板１００の板厚方向に沿って対向台１４に対して近接又は離間する近接離間方向（板厚方向と同一方向：図に示す矢印Ａ方向）に移動可能に支持されている。
【００１８】
具体的には、支持台１２の端部と対向台１４の端部との間には、近接離間方向に延びる案内レール１６が設けられ、この案内レール１６に案内されながら支持台１２が対向台１４に対して近接離間方向に移動するようになっている。
【００１９】
さらに、基板検査装置１０には、支持台１２を近接離間方向に移動させる移動部材の一例としてのレバー１８が設けられている。レバー１８は、側面視（図２の矢視）で、Ｌ字状とされて屈曲部に紙面奥行方向に延びる回転軸１８Ａが設けられている。さらに、レバー１８には、回転軸１８Ａから支持台１２の下面に向って延びて端部が支持台１２の下面と当る支持部１８Ｂと、回転軸１８Ａから鉛直方向斜め上方に延びて先端部に把持部２０を備える操作部１８Ｃとが備えられている。
【００２０】
この構成により、作業者が把持部２０を把持して、操作部１８Ｃを、回転軸１８Ａを中心に反時計回りに回転移動させることで、支持部１８Ｂが回転軸１８Ａを中心に反時計回りに回転移動する。これにより、支持部１８Ｂの端部が支持台１２を押し上げ、支持台１２が近接離間方向における近接側（対向台１４に近接する側、以下単に近接側という）に移動するようになっている（図２（Ｂ）参照）。
【００２１】
また、支持台１２に支持される基板１００の電気的検査を行う検査部２８が、基板検査装置１０に備えられている。
【００２２】
＜プリント配線基板＞
次に、基板１００について説明する。
【００２３】
図４、図５に示されるように、基板１００は矩形状とされ、基板１００の一方の実装面１００Ａには、表面実装タイプの電子部品１０２と、スルーホールに挿入するリード１０４を備えるスルーホール実装タイプの電子部品１０６とが実装されている。
【００２４】
電子部品１０２は一方の実装面１００Ａ側に半田付けされていて、接触点の一例としての半田フィレット１０８が一方の実装面１００Ａ側に形成されている。また、電子部品１０６は、そのリード１０４を基板１００のスルーホールに挿入して他方の実装面１００Ｂ側に半田付けされており、接触点の一例としての半田部１０９が他方の実装面１００Ｂ側に形成されている。
【００２５】
一方、基板１００の他方の実装面１００Ｂにはコネクタ１１０が実装されており、このコネクタ１１０は、そのリード１１２を基板１００のスルーホールに挿入して一方の実装面１００Ａ側に半田付けされている。そして、半田付けされた半田部１１４が一方の実装面１００Ａ側に形成されている。
【００２６】
また、矩形状とされた基板１００の四隅のうち三隅には、基板検査装置１０に対する位置決め用の円孔１１８が形成され、残りの一隅には、角孔１１９が形成されている。尚、角孔１１９は、円孔であっても良い。
【００２７】
＜支持台・対向台＞
次に、支持台１２および対向台１４に支持される部材について説明する。
【００２８】
図１−１（Ａ）（Ｂ）、図３に示されるように、支持台１２の上面１２Ａには、支持台１２に対して近接離間方向に移動可能に支持部材２２が設けられている。
【００２９】
支持部材２２は、基板１００を下側から支持する平面視矩形状の下面支持部２４と、下面支持部２４の鉛直方向下側の両隅部に設けられ、下端縁が水平方向を向くように配置され基板１００の下端縁と接触する２個の端縁支持部２６とを備えている。
【００３０】
さらに、基板１００側を向いた下面支持部２４の上面２４Ａには、基板１００の下面を支持する複数個の突起２５が設けられている。
【００３１】
また、下面支持部２４の四隅側には、支持台１２に向って近接離間方向に延びる円柱状の案内ロッド３０が夫々設けられ、案内ロッド３０の延出側は、支持台１２に形成された断面円状の凹部３２に移動可能に挿入されている。さらに、夫々の凹部３２の内部には、支持部材２２を対向台１４に向けて付勢する第一付勢部材の一例としてのバネ３４が設けられている。これにより、外力が付加されない支持部材２２は、バネ３４の付勢力で図示せぬストッパー部材と当たり支持部材２２の初期位置（図１−１（Ａ）（Ｂ）参照）に配置されるようになっている。
【００３２】
また、図１−１（Ｂ）に示されるように、対向台１４の下面には、対向台１４に対して近接離間方向に移動可能に接触部材の一例としてのストッパーピン３６が設けられている。そして、このストッパーピン３６は、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させると基板１００に形成された位置決め用の円孔１１８及び角孔１１９の周囲に夫々接触するようになっている。
【００３３】
詳細には、ストッパーピン３６は、対向台１４に向って近接離間方向に延びる円柱状の案内ロッド３８と、案内ロッド３８の端部に固定されると共に内部に段付き状の円筒凹部４０Ａが形成された円柱状の接触部４０とを備えている。そして、案内ロッド３０は、対向台１４に形成された断面円状の凹部４２に移動可能に挿入されている。
【００３４】
また、夫々の凹部４２の内部には、ストッパーピン３６を支持台１２に向けて付勢する第二付勢部材の一例としてのバネ４４が設けられている。これにより、外力が付加されないストッパーピン３６は、バネ４４の付勢力で図示せぬストッパー部材と当たり、ストッパーピン３６の初期位置（図１（Ａ）（Ｂ）参照）に配置されるようになっている。
【００３５】
この構成により、前述したように、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させると、ストッパーピン３６の接触部４０が基板１００に形成された位置決め用の円孔１１８及び角孔１１９の周囲に接触するようになっている（図１−２（Ｃ）参照）。
【００３６】
また、図１−２（Ｃ）に示されるように、支持台１２に対して近接離間方向に移動可能に取り付けられる保持部材の一例としてのガイドピン４６がストッパーピン３６と対向するように設けられている。夫々のガイドピン４６は、円孔１１８及び角孔１１９に挿入される円錐形状とされる錐部の一例としての円錐部４６Ａを備えている。さらに、ガイドピン４６は、この円錐部４６Ａを支持する円柱状の円柱部４６Ｂとを備えている。
【００３７】
そして、円柱部４６Ｂは、支持台１２に形成された断面円状の凹部４８に移動可能に挿入されている。また、夫々の凹部４８の内部には、ガイドピン４６を対向台１４に向けて付勢する第三付勢部材の一例としてのバネ５２が設けられている。これにより、外力が付加されないガイドピン４６は、バネ５２の付勢力で図示せぬストッパー部材と当たりガイドピン４６の初期位置（図１（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）参照）に配置されるようになっている。ここで、バネ４４の付勢力（全てのバネ４４の付勢力を合計した付勢力）は、バネ３４の付勢力（全てのバネ３４の付勢力を合計した付勢力）より大きく（強く）されている。また、バネ５２の付勢力（全てのバネ５２の付勢力を合計した付勢力）は、バネ３４の付勢力（全てのバネ３４の付勢力を合計した付勢力）より大きく（強く）されている。
【００３８】
この構成により、ストッパーピン３６が円孔１１８及び角孔１１９の周囲に接触した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させると、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗して支持台１２側に移動させる。これにより、ガイドピン４６の円錐部４６Ａが円孔１１８及び角孔１１９に挿入され、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持するようになっている（図１−２（Ｄ）参照）。
【００３９】
また、図１−２（Ｄ）に示されるように、基端部が対向台１４に取り付けられ、先端部が支持台１２側に延びると共に先端側が伸縮する通電部材の一例としてのプローブピン５６が設けられている。そして、このプローブピン５６は、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させると基板１００の半田フィレット１０８に先端部が接触するようになっている（図１−３（Ｅ）参照）。
【００４０】
具体的には、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗して支持台１２側にさらに移動させ、ストッパーピン３６をバネ４４の付勢力に対抗して対向台１４側にさらに移動させ、ガイドピン４６をバネ５２の付勢力に対抗して支持台１２側にさらに移動させる。そして、プローブピン５６の先端が半田フィレット１０８に接触するようになっている（図１−３（Ｅ）参照）。
【００４１】
また、図１−３（Ｅ）に示されるように、基端部が支持台１２に取り付けられ、先端部が対向台１４側に延びると共に先端側が伸縮する通電部材の一例としてのプローブピン６０が設けられている。そして、このプローブピン６０は、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させると基板１００の半田部１０９に先端部が接触するようになっている（図１−３（Ｆ）参照）。
【００４２】
具体的には、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗して支持台１２側に移動させ、ストッパーピン３６をバネ４４の付勢力に対抗して対向台１４側に移動させ、ガイドピン４６をバネ５２の付勢力に対抗して支持台１２側に移動させる。さらに、プローブピン５６の先端側が縮む。これにより、プローブピン６０の先端が、下面支持部２４に設けられた貫通孔２４Ｂを通って半田部１０９に接触するようになっている（図１−３（Ｆ）参照）。
【００４３】
また、図１−３（Ｆ）に示されるように、基端部が対向台１４に取り付けられ、先端部が支持台１２側に延びる棒状の抑制棒の一例としての押え棒６４が、下面支持部２４に備えられた突起２５と対向するように設けられている。
【００４４】
そして、プローブピン５６が半田フィレット１０８に接触し、さらにプローブピン６０が半田部１０９に接触した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、押え棒６４は、突起２５との間で基板１００を挟み込み基板１００の歪み抑制するようになっている（図１−４（Ｇ）参照）。
（作用）
次に、基板検査装置１０の作用を、基板検査装置１０を用いて基板１００を検査する基板検査方法と共に説明する。なお、下記検査工程においては、レバー１８の操作度合い（操作角度）を工程毎に説明するが、レバー１８の操作は一連の動作である。
【００４５】
先ず、図１−１（Ａ）（Ｂ）に示されるように、レバー１８（図２参照）を操作していない状態で、基板１００の端縁を支持部材２２の端縁支持部２６に接触さて下面支持部２４に基板１００の下面を支持させる。
【００４６】
次に、図１−２（Ｃ）に示されるように、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させ、ストッパーピン３６の接触部４０を基板１００に形成された位置決め用の円孔１１８及び角孔１１９の周囲に接触させる。
【００４７】
次に、図１−２（Ｄ）に示されるように、ストッパーピン３６が円孔１１８の周囲に接触した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動さて、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗して支持台１２側に移動させる。そして、ガイドピン４６の円錐部４６Ａを円孔１１８及び角孔１１９に挿入し、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持させる。
【００４８】
これにより、夫々の円孔１１８の円縁が、接触部４０によって夫々の円錐部４６Ａに押し付けられ、基板１００を基板１００の面沿い方向に移動させることで、基板１００の位置ずれが補正される（正規の位置に基板１００が位置決めされる）。
【００４９】
次に、図１−３（Ｅ）に示されるように、ストッパーピン３６と円錐部４６Ａとの間で基板１００を保持させた状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させ、ストッパーピン３６をバネ４４の付勢力に対抗させて対向台１４側に移動させ、ガイドピン４６をバネ５２の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させる。そして、プローブピン５６の先端を半田フィレット１０８に接触させる。
【００５０】
次に、図１−３（Ｆ）に示されるように、プローブピン５６の先端を半田フィレット１０８に接触させた状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させ、ストッパーピン３６をバネ４４の付勢力に対抗させて対向台１４側に移動させ、ガイドピン４６をバネ５２の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させる。さらに、プローブピン５６の先端側を縮ませ、プローブピン６０の先端を半田部１０９に接触させる。
【００５１】
次に、図１−４（Ｇ）に示されるように、プローブピン５６が半田フィレット１０８に接触し、さらにプローブピン６０が半田部１０９に接触した状態で、レバー１８（図２参照）を操作して支持台１２を近接離間方向の近接側に移動させる。これにより、支持部材２２をバネ３４の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させ、ストッパーピン３６をバネ４４の付勢力に対抗させて対向台１４側に移動させ、ガイドピン４６をバネ５２の付勢力に対抗させて支持台１２側に移動させる。また、プローブピン５６の先端側を縮ませ、さらに、プローブピン６０の先端側を縮ませる。そして、押え棒６４が突起２５との間で基板１００を挟み込んで、基板１００の歪み抑制する。
【００５２】
次に、図２（Ｂ）に示されるように、この状態で、検査部２８が、プローブピン５６及びプローブピン６０を介して基板１００の電気的検査を行う。
【００５３】
以上説明したように、夫々の円孔１１８の円縁が、接触部４０によって夫々の円錐部４６Ａに押し付けられることで、円柱状の位置決めピンを位置決め孔に挿入する場合と比して、基板１００を斜めにセットする場合でも基板１００の位置ずれが補正される（正規の位置に基板１００が配置される）。
【００５４】
また、基板１００の位置ずれが補正されるため、基板１００を斜めにセットした場合でも電気検査工程における検査精度の低下が抑制される。
【００５５】
また、押え棒６４が突起２５との間で基板１００を挟み込むことで、基板１００の歪みが抑制される。
【００５６】
なお、本発明を特定の実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内にて他の種々の実施形態が可能であることは当業者にとって明らかである。例えば、上記実施形態では、錐部の一例として円錐状の円錐部４６Ａを例にとって説明したが、三角以上の角錐形状であってもよい。また、頂部を有さない錐台形状であってもよい。
【００５７】
また、上記実施形態では、支持台１２を近接離間方向に移動させることで、支持台１２と対向台１４とを相対的に近接させたが、対向台１４を近接離間方向に移動させることで、支持台１２と対向台１４とを相対的に近接させてもよい。さらには、両方を移動させることで、支持台１２と対向台１４とを相対的に近接させてもよい。
【００５８】
また、上記実施形態では、位置決め用の円孔１１８を３個設けたが、特に３個に限定されず、２個であったり、４個以上であってもよい。
【００５９】
また、上記実施形態では、基板１００の一方の実装面１００Ａに接触するプローブピン５６と、基板１００の他方の実装面１００Ｂに接触するプローブピン６０とを設けたが、どちらか一方のプローブピンだけであってもよい。
【００６０】
また、上記実施形態では、対向台１４が基板１００の厚さ方向に移動するものを示したが、本発明は、これに限定されるものではない。例えば、特開平０７−１４６３３６号公報における上面ユニットのように、対向台１４がダンパーを介して案内レール１６に回動自在に装着された構成であっても良い。つまり、対向台１４は、水平方向に対して傾斜して配置される検査対象の基板１００に対して鉛直方向の上方に位置させることが可能な構成であれば良い。かかる構成においては、対向台１４を回動させて閉じた状態（特開平０７−１４６３３６号公報の図１の状態）が、図１−１（Ａ）に示した状態に相当する。
【符号の説明】
【００６１】
１０ 基板検査装置
１２ 支持台
１２Ａ 上面
１４ 対向台
１８ レバー（移動部材の一例）
２２ 支持部材
２４ 下面支持部
２５ 突起
２６ 端縁支持部
２８ 検査部
３４ バネ（第一付勢部材の一例）
３６ ストッパーピン（接触部材の一例）
４４ バネ（第二付勢部材の一例）
４６ ガイドピン（保持部材の一例）
４６Ａ 円錐部（錐部の一例）
５２ バネ（第三付勢部材の一例）
５６ プローブピン（通電部材の一例）
６０ プローブピン（通電部材の一例）
６４ 押え棒（抑制棒の一例）
１００ プリント配線基板
１００Ａ 一方の実装面（一方の面の一例）
１００Ｂ 他方の実装面（他方の面の一例）
１０８ 半田フィレット（接触点の一例）
１０９ 半田部（接触点の一例）
１１８ 円孔
【特許請求の範囲】
【請求項１】
水平方向に対して傾斜して配置される検査対象の基板に対して鉛直方向の上方に位置させることが可能な対向台と、
前記基板を挟んで前記対向台に対して対向して配置され、前記基板の板厚方向に沿って前記対向台に対して相対的に近接又は離間する近接離間方向に移動可能に支持される支持台と、
前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向に移動させる移動部材と、
前記支持台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられると共に、前記基板を前記基板の下面から支持する下面支持部と、前記基板における鉛直方向下側の端縁を支持する端縁支持部とを備える支持部材と、
前記支持部材を前記対向台に向けて付勢する第一付勢部材と、
前記対向台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられると共に、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると前記基板に形成された位置決め用の複数個の円孔の周囲に夫々接触する複数個の接触部材と、
前記接触部材を前記支持台に向けて付勢する第二付勢部材と、
前記支持台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられ、下端部が前記円孔の直径よりも大きい円錐状又は角錘状とされる錐部を備えると共に、前記接触部材が前記円孔の周囲に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させると、前記支持部材が前記第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動することで、前記円孔に前記錐部が挿入され、前記接触部材と前記錐部との間で前記基板を保持する保持部材と、
前記保持部材を前記対向台に向けて付勢する第三付勢部材と、
基端側が前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方に取り付けられ、先端側が伸縮すると共に、前記接触部材と前記錐部との間で前記基板を保持した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると、前記支持部材が前記第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動し、前記接触部材が前記第二付勢部材の付勢力に対抗して前記対向台側に移動し、前記保持部材が前記第三付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動することで、前記基板の一方の面及び他方の面のうち少なくとも一方に設けられた電気的検査を行うための接触点に接触して通電する通電部材と、
前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記基板の電気的検査を行う検査部と、
を備える基板検査装置。
【請求項２】
前記支持部材の下面支持部には、前記基板の下面を支持する複数個の突起が設けられ、
前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると、前記突起との間で前記基板を挟み込み前記基板の歪みを抑制する複数個の抑制棒が設けられる請求項１に記載の基板検査装置。
【請求項３】
請求項１に記載の基板検査装置を用いて基板を検査する基板検査方法であって、
前記基板の端縁を支持部材の端縁支持部に支持させ、さらに下面支持部に基板を下面から支持させる工程と、
移動部材を用いて支持台及び対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させ、前記基板に形成された位置決め用の複数個の円孔の周囲に夫々の接触部材を夫々接触させる工程と、
前記接触部材が前記円孔の周囲に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させ、前記支持部材を第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動させることで、前記円孔に保持部材に設けられた錐部を挿入し、前記保持部材の前記錐部と前記接触部材との間で前記基板を保持させる工程と、
前記保持部材の前記錐部と前記接触部材との間で前記基板が保持された状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させ、前記支持部材を第一付勢部材の付勢力に対抗して支持台側に移動させ、前記接触部材を第二付勢部材の付勢力に対抗して前記対向台側に移動させ、前記保持部材を第三付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動させることで、前記基板の一方の面及び他方の面のうち少なくとも一方に設けられた接触点に通電部材を接触させる工程と、
前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、検査部によって前記基板の電気的検査を行う工程と、
を備える基板検査方法。
【請求項４】
請求項２に記載の基板検査装置を用いて基板を検査する基板検査方法であって、
前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させ、抑制棒と突起との間で前記基板を挟み込む前記基板の歪みを抑制する工程を備える請求項３に記載の基板検査方法。
【請求項１】
水平方向に対して傾斜して配置される検査対象の基板に対して鉛直方向の上方に位置させることが可能な対向台と、
前記基板を挟んで前記対向台に対して対向して配置され、前記基板の板厚方向に沿って前記対向台に対して相対的に近接又は離間する近接離間方向に移動可能に支持される支持台と、
前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向に移動させる移動部材と、
前記支持台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられると共に、前記基板を前記基板の下面から支持する下面支持部と、前記基板における鉛直方向下側の端縁を支持する端縁支持部とを備える支持部材と、
前記支持部材を前記対向台に向けて付勢する第一付勢部材と、
前記対向台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられると共に、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると前記基板に形成された位置決め用の複数個の円孔の周囲に夫々接触する複数個の接触部材と、
前記接触部材を前記支持台に向けて付勢する第二付勢部材と、
前記支持台に対して前記近接離間方向に移動可能に取り付けられ、下端部が前記円孔の直径よりも大きい円錐状又は角錘状とされる錐部を備えると共に、前記接触部材が前記円孔の周囲に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させると、前記支持部材が前記第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動することで、前記円孔に前記錐部が挿入され、前記接触部材と前記錐部との間で前記基板を保持する保持部材と、
前記保持部材を前記対向台に向けて付勢する第三付勢部材と、
基端側が前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方に取り付けられ、先端側が伸縮すると共に、前記接触部材と前記錐部との間で前記基板を保持した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると、前記支持部材が前記第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動し、前記接触部材が前記第二付勢部材の付勢力に対抗して前記対向台側に移動し、前記保持部材が前記第三付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動することで、前記基板の一方の面及び他方の面のうち少なくとも一方に設けられた電気的検査を行うための接触点に接触して通電する通電部材と、
前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記基板の電気的検査を行う検査部と、
を備える基板検査装置。
【請求項２】
前記支持部材の下面支持部には、前記基板の下面を支持する複数個の突起が設けられ、
前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させると、前記突起との間で前記基板を挟み込み前記基板の歪みを抑制する複数個の抑制棒が設けられる請求項１に記載の基板検査装置。
【請求項３】
請求項１に記載の基板検査装置を用いて基板を検査する基板検査方法であって、
前記基板の端縁を支持部材の端縁支持部に支持させ、さらに下面支持部に基板を下面から支持させる工程と、
移動部材を用いて支持台及び対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させ、前記基板に形成された位置決め用の複数個の円孔の周囲に夫々の接触部材を夫々接触させる工程と、
前記接触部材が前記円孔の周囲に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させ、前記支持部材を第一付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動させることで、前記円孔に保持部材に設けられた錐部を挿入し、前記保持部材の前記錐部と前記接触部材との間で前記基板を保持させる工程と、
前記保持部材の前記錐部と前記接触部材との間で前記基板が保持された状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を前記近接離間方向の近接側に移動させ、前記支持部材を第一付勢部材の付勢力に対抗して支持台側に移動させ、前記接触部材を第二付勢部材の付勢力に対抗して前記対向台側に移動させ、前記保持部材を第三付勢部材の付勢力に対抗して前記支持台側に移動させることで、前記基板の一方の面及び他方の面のうち少なくとも一方に設けられた接触点に通電部材を接触させる工程と、
前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、検査部によって前記基板の電気的検査を行う工程と、
を備える基板検査方法。
【請求項４】
請求項２に記載の基板検査装置を用いて基板を検査する基板検査方法であって、
前記通電部材が前記接触点に接触した状態で、前記移動部材を用いて前記支持台及び前記対向台のうち少なくとも一方を近接離間方向の近接側に移動させ、抑制棒と突起との間で前記基板を挟み込む前記基板の歪みを抑制する工程を備える請求項３に記載の基板検査方法。
【図１−１】
【図１−２】
【図１−３】
【図１−４】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図１−２】
【図１−３】
【図１−４】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【公開番号】特開２０１３−４０７８０（Ｐ２０１３−４０７８０Ａ）
【公開日】平成２５年２月２８日（２０１３．２．２８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１７５９７９（Ｐ２０１１−１７５９７９）
【出願日】平成２３年８月１１日（２０１１．８．１１）
【特許番号】特許第４８５８６５７号（Ｐ４８５８６５７）
【特許公報発行日】平成２４年１月１８日（２０１２．１．１８）
【出願人】（０００００５４９６）富士ゼロックス株式会社 (21,908)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年２月２８日（２０１３．２．２８）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年８月１１日（２０１１．８．１１）
【特許番号】特許第４８５８６５７号（Ｐ４８５８６５７）
【特許公報発行日】平成２４年１月１８日（２０１２．１．１８）
【出願人】（０００００５４９６）富士ゼロックス株式会社 (21,908)
【Ｆターム（参考）】
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